JSTS:Journal of Semiconductor Technology and Science
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v.12
no.3
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pp.278-285
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2012
A digital readout IC for capacitive sensors is presented. Digital capacitance readout circuits suffer from static capacitance of sensors, especially single-ended sensors, and require large passive elements to cancel such DC offset signal. For this reason, to maximize a dynamic range with a small die area, the proposed circuit features digital filters having a coarse and fine compensation steps. Moreover, by employing switched-capacitor circuit for the front-end, correlated double sampling (CDS) technique can be adopted to minimize low-frequency device noise. The proposed circuit targeted 8-kHz signal bandwidth and oversampling ratio (OSR) of 64, thus a $3^{rd}$-order ${\Delta}{\Sigma}$ modulator operating at 1 MH was used for pulse-density-modulated (PDM) output. The proposed IC was designed in a 0.18-${\mu}m$ CMOS mixed-mode process, and occupied $0.86{\times}1.33mm^2$. The measurement results shows suppressed DC power under about -30 dBFS with minimized device flicker noise.
Since the digital TV signal band is very wide ($54{\sim}806MHz$), the VCO used in the frequency synthesizer must also have a wide frequency tuning range. Multiple LC VCOs have been used to cover such wide frequency band. However, the chip area increases due to the increased number of integrated inductors. A general method for achieving both reduced VCO gain(Kvco) and wide frequency band is to use the switched-capacitor bank LC VCO. In this paper, a scheme is proposed to cover the full band using only one VCO. The RF VCO block designed using a 0.18um CMOS process consists of a wideband LC VCO with reduced variation of VCO gain and frequency steps. Buffers, divide-by-2 circuits and control logics the simulation results show that the designed circuit has a phase noise at 100kHz better than -106dBc/Hz throughout the signal band and consumes $9.5{\sim}13mA$ from a 1.8V supply.
This paper describes a l0b CMOS A/D converter (ADC) for HDTV applications. The proposed ADC adopts a typical multi-step pipelined architecture. The proposed circuit design techniques are as fo1lows: A selective channel-length adjustment technique for a bias circuit minimizes the mismatch of the bias current due to the short channel effect by supply voltage variations. A power reduction technique for a high-speed two-stage operational amplifier decreases the power consumption of amplifiers with wide bandwidths by turning on and off bias currents in the suggested sequence. A typical capacitor scaling technique optimizes the chip area and power dissipation of the ADC. The proposed ADC is designed and fabricated in s 0.8 um double-poly double-metal n-well CMOS technology. The measured differential and integral nonlinearities of the prototype ADC show less than ${\pm}0.6LSB\;and\;{\pm}2.0LSB$, respectively. The typical ADC power consumption is 119 mW at 3 V with a 40 MHz sampling rate, and 320 mW at 5 V with a 50 MHz sampling rate.
Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea SD
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v.44
no.6
s.360
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pp.19-27
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2007
This paper presents power supply-insensitive Gbps low power LVDS I/O circuits. The proposed LVDS I/O has been designed and simulated using 1.8V, $0.18\;{\mu}m$ TSMC CMOS Process. The LVDS I/O includes transmitter and receiver parts. The transmitter circuits consist of a differential phase splitter and an output stage with the switched capacitor common mode feedback(SC-CMFB). The differential phase splitter generates a pair of differential signals which provides a balanced duty $cycle(50{\pm}2%)$ and phase difference$(180{\pm}0.2^{\circ})$ over a wide supply voltage range. Also, $V_{OD}$ voltage is 250 mV which is the smallest value of the permissible $V_{OD}$ range for low power operation. The output buffer maintains the required $V_{CM}$ within the permissible range$(1.2{\pm}0.1V)$ due to the SC-CMFB. The receiver covers a wide input DC offset $range(0.2{\sim}2.6\;V)$ with 38 mV hysteresis and Produces a rail-to-rail output over a wide supply voltage range. Beside, the designed receiver has 38.9 dB gain at 1 GHz, which is higher than conventional receivers.
Journal of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers
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v.19
no.9
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pp.800-807
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2006
To enhance the conversion speed more fast, we separate the determination process of MSB and LSB with the two independent ADC circuits of the Incremental Sigma Delta ADC. After the 1st Incremental Sigma Delta ADC conversion finished, the 2nd Incremental Sigma Delta ADC conversion start while the 1st Incremental Sigma Delta ADC work on the next input. By determining the MSB and the LSB independently, the ADC conversion speed is improved by two times better than the conventional Extended Counting Incremental Sigma Delta ADC. In processing the 2nd Incremental Sigma Delta ADC, the inverting sample/hold circuit inverts the input the 2nd Incremental Sigma Delta ADC, which is the output of switched capacitor integrator within the 1st Incremental Sigma Delta ADC block. The increased active area is relatively small by the added analog circuit, because the digital circuit area is more large than analog. In this paper, a 14 bit Extended Counting Incremental Sigma-Delta ADC is implemented in $0.25{\mu}m$ CMOS process with a single 2.5 V supply voltage. The conversion speed is about 150 Ksamples/sec at a clock rate of 25 MHz. The 1 MSB is 0.02 V. The active area is $0.50\;x\;0.35mm^{2}$. The averaged power consumption is 1.7 mW.
JSTS:Journal of Semiconductor Technology and Science
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v.13
no.2
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pp.98-107
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2013
This work describes a 13b 100 MS/s 0.13 um CMOS four-stage pipeline ADC for 3G communication systems. The proposed SHA-free ADC employs a range-scaling technique based on switched-capacitor circuits to properly handle a wide input range of $2V_{P-P}$ using a single on-chip reference of $1V_{P-P}$. The proposed range scaling makes the reference buffers keep a sufficient voltage headroom and doubles the offset tolerance of a latched comparator in the flash ADC1 with a doubled input range. A two-step reference selection technique in the back-end 5b flash ADC reduces both power dissipation and chip area by 50%. The prototype ADC in a 0.13 um CMOS demonstrates the measured differential and integral nonlinearities within 0.57 LSB and 0.99 LSB, respectively. The ADC shows a maximum signal-to-noise-and-distortion ratio of 64.6 dB and a maximum spurious-free dynamic range of 74.0 dB at 100 MS/s, respectively. The ADC with an active die area of 1.2 $mm^2$ consumes 145.6 mW including high-speed reference buffers and 91 mW excluding buffers at 100 MS/s and a 1.3 V supply voltage.
The Journal of Korea Institute of Information, Electronics, and Communication Technology
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v.13
no.1
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pp.8-16
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2020
In this paper, a single-bit 2nd-order delta-sigma modulator with the architecture of cascaded-of-integrator feedforward (CIFF) is proposed for column-parallel analog-to-digital converter (ADC) array used in a low noise CMOS image sensor. The proposed modulator implements two switched capacitor integrators and a single-bit comparator within only 10-㎛ column-pitch for column-parallel ADC array. Also, peripheral circuits for driving all column modulators include a non-overlapping clock generator and a bias circuit. The proposed delta-sigma modulator has been implemented in a 110-nm CMOS process. It achieves 88.1-dB signal-to-noise-and-distortion ratio (SNDR), 88.6-dB spurious-free dynamic range (SFDR), and 14.3-bit effective-number-of-bits (ENOB) with an oversampling ratio (OSR) of 418 for 12-kHz bandwidth. The area and power consumption of the delta-sigma modulator are 970×10 ㎛2 and 248 ㎼, respectively.
Park, Yong-Hyun;Lee, Kyung-Hoon;Choi, Hee-Cheol;Lee, Seung-Hoon
Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea SD
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v.43
no.12
s.354
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pp.65-73
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2006
This work presents a 14b 200KS/s $0.87mm^2$ 1.2mW 0.18um CMOS algorithmic A/D converter (ADC) for intelligent sensors control systems, battery-powered system applications simultaneously requiring high resolution, low power, and small area. The proposed algorithmic ADC not using a conventional sample-and-hold amplifier employs efficient switched-bias power-reduction techniques in analog circuits, a clock selective sampling-capacitor switching in the multiplying D/A converter, and ultra low-power on-chip current and voltage references to optimize sampling rate, resolution, power consumption, and chip area. The prototype ADC implemented in a 0.18um 1P6M CMOS process shows a measured DNL and INL of maximum 0.98LSB and 15.72LSB, respectively. The ADC demonstrates a maximum SNDR and SFDR of 54dB and 69dB, respectively, and a power consumption of 1.2mW at 200KS/s and 1.8V. The occupied active die area is $0.87mm^2$.
Journal of the Institute of Electronics and Information Engineers
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v.50
no.11
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pp.70-77
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2013
We suggest a low area and high efficiency switched-mode power supply (SMPS) with a pulse width modulation (PWM) generator based on a pseudo relaxation-oscillating technique. In the proposed circuit, the PWM duty ratio is determined by the voltage slope control of an internal capacitor according to amount of charging current in a PWM generator. Compared to conventional SMPSs, the proposed control method consists of a simple structure without the filter circuits needed for an analog-controlled SMPS or the digital compensator used by a digitally-controlled SMPS. The proposed circuit is able to operate at switching frequency of 1MHz~10MHz, as this frequency can be controlled from the selection of one of the internal capacitors in a PWM generator. The maximum current of the core circuit is 2.7 mA, and the total current of the entire circuit including output buffer driver is 15 mA at 10 MHz switching frequency. The proposed SMPS has a simulated maximum ripple voltage of 7mV. In this paper, to verify the operation of the proposed circuit, we performed simulation using Dongbu Hitek BCD $0.35{\mu}m$ technology and measured the proposed circuit.
The Journal of Korea Institute of Information, Electronics, and Communication Technology
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v.13
no.3
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pp.184-196
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2020
In this paper, a single-bit 2nd-order delta-sigma modulator with the architecture of cascaded-of-integrator feedforward (CIFF) is proposed for precision measurement of current flowing through a secondary cell battery in a battery management system (BMS). The proposed modulator implements two switched capacitor integrators and a single-bit comparator with peripheral circuits such as a non-overlapping clock generator and a bias circuit. The proposed structure is designed to be applied to low-side current sensing method with low common mode input voltage. Using the low-side current measurement method has the advantage of reducing the burden on the circuit design. In addition, the ±30mV input voltage is resolved by the ADC with 15-bit resolution, eliminating the need for an additional programmable gain amplifier (PGA). The proposed a single-bit 2nd-order delta-sigma modulator has been implemented in a 350-nm CMOS process. It achieves 95.46-dB signal-to-noise-and-distortion ratio (SNDR), 96.01-dB spurious-free dynamic range (SFDR), and 15.56-bit effective-number-of-bits (ENOB) with an oversampling ratio (OSR) of 400 for 5-kHz bandwidth. The area and power consumption of the delta-sigma modulator are 670×490 ㎛2 and 414 ㎼, respectively.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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