Efficient robust path delay fault test generation for combinational circuits using the testability measure (테스트 용이도를 이용한 조합회로의 효율적인 로보스트 경로 지연 고장 테스트 생성)
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- Journal of the Korean Institute of Telematics and Electronics A
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- v.33A no.2
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- pp.205-216
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- 1996