Proceedings of the Polymer Society of Korea Conference
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2006.10a
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pp.192-192
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2006
Organic/organic and organic/inorganic multilayer films composed of organic polyelectrolytes (PE) and inorganic nanoparticles/platelets were prepared from the layer-by-layer (LbL) deposition using both spinning and dipping. The difference in both LbL methods is quantitatively compared in terms of internal layer ordering and physical properties of the multilayered films. Additionally, we suggest that the patterned multilayer films can be easily prepared by the combination of the spin SA and the lift-off method. Freestanding films were also prepared with the LbL deposition on low energy substrates, which allows the detailed analysis of composition within the films. Other LbL thin films prepared with block copolymer micelles will be discussed.
Proceedings of the Polymer Society of Korea Conference
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2006.10a
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pp.282-282
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2006
Nanoporous organosilicate thin films were realized by the microphase separation of pore generating components mixed with an organosilicate matrix. The refractive index of such nanoporous organosilicate films can be tuned in the range of $1.40{\sim}1.22$. With a nanoporous single layer with n ${\sim}1.225,\;99.85\;%$ transmittance in the visible range was achieved. In order to overcome the limitation on the narrow wavelength for high transmittance imposed by single nanoporous thin films, bilayer thin films with different reflectance for each layer were prepared by inserting high refractive index layer with a refractive index of 1.447. It is demonstrated that the novel broadband antireflection coating with improved transmittance can be easily achieved by the nanoporous bilayer thin films described in present study.
We fabricated durable anti-reflective(AR) layer with silica globular coating on polymer by two steps. Firstly, nano-protrusions of polymer were formed by plasma etching known as R.I.E(reactive ion etching) process. Secondly, silica globular coating was deposited on polymer nano-protrusions for mechanically protective and optically enhancing AR layers by RF magnetron sputter. And then durable antireflective polymers were synthesized adjusting plasma power and time, working pressures of RIE and RF sputtering processes. Consequently, we acquired the average transmission (94.10%) in the visible spectral range 400-800 nm and the durability of AR layer was verified to sustain its transmission until 5,000 numbers by rubber test at a load of 500 gf.
In this paper, the LiF and polymer thin film as passivation layer have been evaporated on green OLED devices. HDPE, polyacenaphthylene, polytetrafluoroethylene, poly(2,6-dimethyl-1,4-pheneylene oxide), poly sulfone and poly(dimer-acid-co-alkyl poly-amine) have been used as polymer materials. The optical transmittance of evaporated polymer thin film was very good as an above 90% in visible range. The morphology of polymer thin film was measured by AFM. As a result of the measurement average roughness($R_a$) value of the polysulfone was very low as 2.2 nm. The green OLED devices with a structure of ITO/HIL/HTL/EML/Buffer/Al in series of various passivation films were fabricated and analyzed. It was observed that an OLED device with LiF as first passivation film has shown the good electrical and optical property, and all kind of polymer films did not influence on the I-V-L characteristics and the life time of OLED devices. Therefore, we found that polymer layer played a key role as a buffer layer between the inorganic passivation layers to relieve the stress of the inorganic layers.
Surface properties are important for determining the functions and uses of materials. So modification of materials with polymer thin films has emerged as an important method to control the physical and chemical properties of the surface layer. We report a simple and effective method to photochemically attach thin polymeric layers to solid surface without chemical derivatization of the substrate and/or the polymer. The system is based on a photoreactive poly(4-vinylpyridine) (P4VP) thin film which is formed on the $SiO_{2}$ surface via spin coating. This substrate is then covered with another polymer film that is reacted with the benzyl radical moieties by UV irradiation. As a result of photochemical reaction, a thin layer of the later polymer is covalently bound to the surface of P4VP. Unbounded polymer is removed by sonication. The thickness of the attached film is a function of the irradiation time and the molecular weight of the polymer. Spatially defined polymer thin films can be fabricated by way of photolithography.
Femtosecond laser ablation of ultrathin polymer films on quartz glass using laser pulses of 100 fs and centered at ${\lambda}=400nm$ wavelength has been investigated for nanometer precision thin film patterning. Single-shot ablation craters on films of various thicknesses have been examined by atomic force microscopy, and beam spot diameters and ablation threshold fluences have been determined by square diameter-regression technique. The ablation thresholds of polymer film are about 1.5 times smaller than that of quartz substrate, which results in patterning crater arrays without damaging the substrate. In particular, at a $1/e^2$ laser spot diameter of $0.86{\mu}m$, the smallest craters of 150-nm diameter are fabricated on 15-nm thick film. The ablation thresholds are not influenced by the film thickness, but diameters of the ablated crater are bigger on thicker films than on thinner films. The ablation efficiency is also influenced by the laser beam spot size, following a $w_{0q}{^{-0.45}}$ dependence.
Shin, P.K.;Lee, D.C.;Park, G.B.;Park, C.B.;Yun, M.S.
Proceedings of the KIEE Conference
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1991.07a
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pp.198-200
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1991
In this study we fabricated thin organic polymer films on the comb-electrode by plasma polymerization methode in electrode gas flow type reactor. The dielectric constant of polymer films were increased by increasing relative humidity and we used free volume theory in order to explain the mechanism of water absorption phenomena of polymer films.
Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference
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2004.11a
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pp.535-538
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2004
Zinc Oxide (ZnO) films have attracted considerable attention for transparent conducting films, because of their high conductivity, good optical transmittance from UV to near IR as well as a low-cost fabrication. To increase the conductivity of ZnO, doping of group III elements (Al, Ga, In and B) has been carried out. Transparent conducting films have been applied for optoelectric devices, the development of the transparent conducting thin films on flexible light-weight substrates are required. In this research, the transparent conducting ZnO thin films doped with Aluminum (Al) on polymer substrates were deposited by the RF magnetron suputtering method, and the structural, optical and electrical properties were investigated.
Proceedings of the Polymer Society of Korea Conference
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2006.10a
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pp.333-333
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2006
We synthesized two novel polynorbornene derivatives, chiral poly(norbornene acid methyl ester) (C-PNME) and racemic poly(norbornene acid n-butyl ester) (R-PNME), which are potential low dielectric constant materials for applications in advanced microelectronic and display devices. Thin films of these polymers deposited on substrates were investigated by structural analyses using synchrotron grazing incidence X-ray scattering, specular reflectivity and ellipsometry. These analyses provided important information on the structure, electron density gradient across film thickness, chain orientation, refractive index and thermal expansion of the polymers in substrate-supported thin films. The structural characteristics and properties of the thin films were first dependent on the polymer chain' tacticity and further influenced by film thickness and thermal annealing.
Proceedings of the Materials Research Society of Korea Conference
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2011.10a
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pp.22.1-22.1
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2011
In this study, off-axis RF magnetron sputtering was used for the crystallized ITO thin films at a low temperature of about $120^{\circ}C$ instead of the conventional RF sputtering because the off-axis sputtering can avoid the damage for the plasma as well as fabrication of thin films with a high quality. The structural, optical and electrical properties of the obtained films depending on deposition parameters, such as sputtering power, gas flow and working pressure, have been investigated. The ITO thin films grown on PET substrate at $120^{\circ}C$ were crystallized with a (222) preferred orientation. 100-nm thick ITO films showed a resistivity of about $4.2{\times}10^{-4}{\Omega}-cm$ and a transmittance of about 81% at a wavelength of 550nm. The transmittance of the ITO thin films by an insertion of $SiO_2$ thin films on ITO films was improved.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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