화학 기상 증착법에 의해 제작한 단층 그래핀을 300 nm $SiO_2$/Si와 석영기판 위에 전사한 후 도핑하기 위해 그래핀 표면에 $AuCl_3$ 용액의 농도를 1에서 10 mM까지 변화시키면서 스핀코팅 하였다. 도핑농도에 따른 그래핀의 특성을 여러 구조적, 광학적, 및 전기적 실험기법으로 분석한 결과, 도핑 농도가 증가함에 따라 그래핀의 p형 특성이 더욱 강해진다는 것을 라만 주파수/최고점 세기 비율, 면저항, 일함수, 및 디락점 등의 변화로 확인할 수 있었다. 특히, 그래핀 전계효과 트랜지스터의 드레인 전류-게이트 전압 곡선 측정을 통해 처음으로 도핑농도의 증가에 따라 전하 이동도를 자세히 측정한 결과, 도핑농도가 증가할 때 전자의 이동도는 크게 감소한 것에 비해 정공의 이동도는 매우 적게 변화하였다. 이 결과는 $AuCl_3$가 그래핀의 p형 도핑 불순물로서 매우 우수하다는 것을 의미하여 향후 도핑된 그래핀의 소자활용에 있어 매우 유용할 것으로 전망된다.
Silicon Carbide (SiC) power device possesses attractive features, such as high breakdown voltage, high-speed switching capability, and high temperature operation. In general, device design has a significant effect on the switching characteristics. In this paper, we report the effect of the P-base doping concentration ($N_{PBASE}$) on the transient characteristics of 4H-SiC DMOSFETs. By reducing $N_{PBASE}$, switching time also decreases, primarily due to the lowered channel resistance. It is found that improvement of switching speed in 4H-SiC DMOSFETs is essential to reduce the and channel resistance. Therefore, accurate modeling of the operating conditions are essential for the optimization of superior switching performance.
Statistical design of experiments was successfully employed to investigate the effect of alternating magnetic field on activation of polycrystalline Si (p-Si) doped as n-type using $\textrm{PH}_3$, by full factorial design of three factors with two levels. In this design, the input variables are graphite size, alternating current, and activation time. The output parameter, sheet resistance, is analyzed in terms of the primary effects and multi-factor interactions. Notably, the three-factor interaction is calculated to be a dominant interaction. The interaction between graphite size and activation time and the main effect of current are important effects compared to the other variables and relevant interactions. Alternating magnetic flux activation is proved a significantly beneficial processing technique.
n형과 p형 GaAs의 도핑에 따른 형광과 시간 분해 형광특성을 조사하였다. 도핑의 농도가 증가할수록 형광의 피크 위치는 p형은 낮은 에너지 쪽으로, n형은 높은 에너지 쪽으로 이동함을 관찰하였다. 이것은 p형은 띠간격 좁아짐 효과가 우세하게 작용하며, n형은 Burstein-Moss효과가 지배적으로 작용하기 때문인 것으로 해석된다. 또한, 도핑의 농도가 증가하면 형광의 소멸시간과 상승시간이 감소하며, p형의 형광소멸시간과 상승시간이 n형보다 더 빠르게 나타났다. 따라서 도핑된 GaAs에서 형광소멸시간과 상승시간은 다수 운반자의 종류와 농도에 의존함을 알 수 있으며, 운반자-운반자 상호작용이 에너지 이완 과정에 중요한 역할을 함을 알 수 있었다.
High performance SiGe heterostructure metal-oxide-semiconductor field effect transistors(MOSFETs) were fabricated using well-controlled delta-doping of boron and SiGe/Si heterostructure epitaxal layers grown by reduced pressure chemical vapor deposition. In this paper, we report 1/f noise characteristics of the SiGe MOSFETs measured under various bias conditions of the gate and drain voltages changing in linear operation regions. From the noise spectral density, we found that the gate and drain voltage dependence of the noise represented same features, as usually scaled with $f^1$. However, 1/f noise was found to be much lower in the device with boron delta-doped layer, by a factor of $10^{-1}\sim10^{-2}$ in comparion with the device fabricated without delta-doped layer. 1/f noise property of delta-doped device looks important because the device may replace bipolar transistors most commonly embedded in high-frequency oscillator circuits.
CdTe thin-film solar cell technology is well known that it can theoretically improve its conversion efficiency and manufacturing costs compared to the conventional silicon solar cell technology, due to its optical band gap energy (about 1.45eV) for solar energy absorption, high light absorption capability and low cost requirements for producing solar cells. Although the prior studies obtained the high light absorption, CdTe thin film solar cell has not been come up to the sufficient efficiency yet. So, doping method was selected for the improvement of the electrical characteristics in CdTe solar cells. Some elements including Cu, Ag, Cd and Te were generally used for the p-dopant as substitutional acceptors in CdTe thin film. In this study, the sputtering-deposited CdTe thin film was immersed in $AgNO_3$ solution for ion exchange method to dope Ag ions. The effects of immersion temperature and Ag-concentration were investigated on the optical properties and electrical characteristics of CdTe thin film by using Auger electron spectroscopy depth-profile, UV-visible spectrophotometer, and a Hall effect measurement system. The best optical and electrical characteristics were sucessfully obtained by Ag doping at high temperature and concentration. The larger and more uniform diffusion of Ag ions made increase of the Ag ion density in CdTe thin film to decrease the series resistance as well as mede the faster diffusion of light by the metal ions to enhance the light absorption.
$Bi_2Te_3$-based alloys have been intensively investigated as active materials for thermoelectric power generation devices from low-temperature (< $250^{\circ}C$) waste heat. In the present study, we fabricated Pb-doped, p-type $Bi_{0.48}Sb_{1.52}Te_3$ polycrystalline bulks by using meltsolidification and spark plasma sintering techniques, and evaluated their thermoelectric transport properties in an effort to develop optimized composition for low-temperature power generation applications. The electronic and thermal transport properties of $Bi_{0.48}Sb_{1.52}Te_3$ could be manipulated by Pb doping. As a result, the temperature for a peak thermoelectric performance (zT) gradually shifted toward higher temperatures with Pb content, suggesting that thermoelectric power generation efficiency can be enhanced by controlled Pb doping.
JSTS:Journal of Semiconductor Technology and Science
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제12권4호
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pp.482-491
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2012
In the present work, comprehensive investigation of the ambipolar characteristics of two silicon (Si) tunnel field-effect transistor (TFET) architectures (i.e. p-i-n and p-n-p-n) has been carried out. The impact of architectural modifications such as heterogeneous gate (HG) dielectric, gate drain underlap (GDU) and asymmetric source/drain doping on the ambipolar behavior is quantified in terms of physical parameters proposed for ambipolarity characterization. Moreover, the impact on the miller capacitance is also taken into consideration since ambipolarity is directly related to reliable logic circuit operation and miller capacitance is related to circuit performance.
The effect of H+ and OH- ion concentrations at doped Si semiconductor/pH buffer solution interfaces were investigated in terms of cyclic current-voltage characteristics. The effects of space charge on oppositely doped Si semiconductors, i.e., p-and n-Si semiconductors, can be effectively applied to study the pH effects and the slow surface states at the interfaces. The adsorptions of H+ and OH- inons on the doped Si semiconductor surfaces are physical adsorption rather than chemical adsorption. Adsorptive processes and charging effects of the slow surface states can be explained as the potential barrier variations and the related current-voltage characteristics at the interfaces. Under forward bias, the charged slow surface states on the p-and n-si semiconductor surface are donor and acceptor slow surface states, respectively. The effects of minority carriers on the slow surface states can be neglected at the doped Si semiconductor interfaces.
Kim, Jun-Kwan;Lim, Jung-Wook;Kim, Hyun-Tak;Kim, Sang-Hun;Yun, Sun-Jin
한국정보디스플레이학회:학술대회논문집
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한국정보디스플레이학회 2007년도 7th International Meeting on Information Display 제7권2호
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pp.1622-1624
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2007
In order to realize effective p-type doping in ZnO thin films, ZnO films were deposited on P-doped Silayers by RF-magnetron sputter deposition technique and annealed at various temperatures. The result indicated that ZnO film annealed at $700^{\circ}C$ showed p-type conduction with a high carrier concentration in the order of $10^{19}\;cm^{-3}$.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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