Among many material processing related issues for successful scaling down of devices for the next 10 years or so, the advanced gate stack and interconnect technology are two most critical research areas, which need technical innovation. The introduction of new metallic films and appropriate processing technologies are required more than ever. Especially, as the device downscaling continues well into sub 50 nm regime, the paradigm for metal nano film deposition technique research has been shifted to high conformality, low growth temperature, high quality with uniformity at large area wafers. Regarding these, ALD has sparked a lot of interests for a number of reasons. The process is intrinsically atomic in nature, resulting in the controlled deposition of films in sub-monolayer units with excellent conformality. In this paper, the overview on the current issues and the future trends in device processing technologies related to metal nano films as well as the R&D trends in these applications will be discussed. The focus will be on the applications for metal gate, capacitor electrode for DRAM, and diffusion barriers/seed layers for Cu interconnect technology.
Proceedings of the Korean Institute of Information and Commucation Sciences Conference
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2004.05b
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pp.687-690
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2004
The preparation of A1203-SiO2 thin films from less than one micron to several tens of microns in thickness had been Prepared from metal alkoxide sols. Two methods, dip-withdrawal and electrophoretic deposition, were employed for thin films and sheets formation. The requirements to be satisfied by the solution for preparing uniform and strong films and by the factors affecting thickness and other properties of the films were examined. For the preparation of thin, continuous A12O3-SiO2 films, therefore, metal-organic-derived precursor solutions contained Si and Al in a chemically polymerized form has been developed and produced in a clear liquid state.
We synthesized the conducting diamond-like carbon films using plasma-enhanced chemical vapor deposition and analysized its characteristics. We obtained the metal-containing diamond-like carbon films using $CH_4$, Ar gas and aluminum target. We observed the changes of electrical conductivity, microhardness and surface morphology according to $Ar/CH_4$ ratio, substrate bias and target bias. As the target bias and $Ar/CH_4$ ratio increase and the substrate bias decreases, the electrical conductivity and surface roughness increase. The increase of hardness involves decrease of the electrical conductivity. Metal-containing amorphous hydrogenated carbon films show improved adhesion on metal substrates compared to pure diamond-like carbon films and better electrical conductivity.
Recently, considerable progress and many breakthroughs have been achieved in the growth of two-dimensional materials, especially transition metal dichalcogenides (TMDCs), which attract significant attention owing to their unique properties originating from their atomically thin layered structure. Chemical vapor deposition (CVD) has shown great promise to fabricate large-scale and high-quality TMDC films with exceptional electronic and optical properties. However, the scalable growth of high-quality TMDCs by CVD is yet to meet industrial criteria. Therefore, growth mechanisms should be unveiled for a deeper understanding and further improvement of growth methods are required. This review summarizes the recent progress in the growth methods of TMDCs through CVD and other modified approaches to gain insights into the growth of large-scale and high-quality TMDCs.
Kim, Da Hye;Park, Bo Keun;Jeone, Dong Ju;Kim, Chang Gyoun;Son, Seung Uk;Chung, Taek-Mo
Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference
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2014.02a
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pp.303.2-303.2
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2014
The oxides of group IV transition metals such as titanium, zirconium, hafnium have many important current and future application, including protective coatings, sensors and dielectric layers in thin film electroluminescent (TFEL) devices. Recently, group IV transition metal oxide films have been intensively investigated as replacements for SiO2. Due to high permittivities (k~14-25) compared with SiO2 (k~3.9), large band-gaps, large band offsets and high thermodynamic stability on silicon. Herein, we report the synthesis of new group IV transition metal complexes as useful precursors to deposit their oxide thin films using chemical vapor deposition technique. The complexes were characterized by FT-IR, 1H NMR, 13C NMR and thermogravimetric analysis (TGA). Newly synthesised compounds show high volatility and thermal stability, so we are trying to deposit metal oxide thin films using the complexes by Atomic Layer Deposition (ALD).
Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference
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2007.11a
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pp.9-10
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2007
In this paper, Thin films of $HfO_2$/Hf were deposited on p-type wafer by Atomic Layer Deposition(ALD). And we studied the electrical characterization of $HfO_2$/Hf/Si MOS capacitor depending on thickness of Hf metal layer. $HfO_2$ films were deposited using TEMAH and $O_3\;at\;350^{\circ}C$. Samples were then annealed using furnace heating to $500^{\circ}C$. The MOS capacitor of round-type was fabricated on Si substrates. Through TEM(Transmission Electron Microscope), XRD(X-ray Diffraction), capacitance-voltage(C-V) and current-voltage(I-V) analysis, the role of thin Hf metal layer for the better $HfO_2$/Si interface property was investigated.
Dental restorative materials must have the physical properties to withstand wear and corrosion. Base metal alloys possess better mechanical properties and lower price than the gold alloys. For these reasons such alloys have largely replaced the precious metal alloys. One aspect to con-sider is the release of metal substances to oral environment. The release of elements from dental alloys is a continuing concern because the elements may have the potentially harmful biological effects on local tissues. The purpose of this study was to minimize metal release on the nonprecious metal surfaces by ion beam assisted deposition(IBAD) of titanium nitride (TiN) Ni-Cr-Be alloys with and without TiN coatings were secured in an wear test machine opposing ruby ball to determine their relative resistance to wear with loom, 200m, 300m and 400m sliding distance. And the corrosion behavior of the Ni-Cr-Be alloys with and without TiN coatings and 3 dental noble alloys have been studied. Potentiodynamic curves were used to analyse the corrosion characteristics of the alloys. The measurement of the released Ni and Cr ions was conducted by analysis of the electrolyte solution with atomic absorption spectroscopy. The results were as follows : 1. The critical sliding distance that wore down TiN coatings of $2.5{\mu}m$ thickness in this study condition was 300m. 2. Ion beam assisted deposition of TiN showed a good surface modification with respect to the properties of wear and corrosion resistance. 3. X-ray diffraction showed that the strongest peak of TiN is TiN(111) in the coatings. 4. The release of Ni and Cr ions from alloys measured by means of atomic absorption spectroscopy was reduced by ion beam assisted deposition of TiN.
$LiGaO_2$ films have been grown on Si (100) substrates using a new single precursor $[Li(OCH_2CH_2OCH_3)_2-Ga(CH_3)_2]_2$ under high vacuum conditions $(5{\times}10^{-6}Torr)$. The $[Li(OCH_2CH_2OCH_3)_2Ga(CH_3)_2]_2$ was synthe-sized and characterized by using spectroscopic methods and single-crystal X-ray diffraction analysis. The chemical composition, crystalline structure, and morphology of the deposited films were investigated by X-ray photoelectron spectroscopy, X-ray diffraction, and scanning electron microscopy. The results show that polycrystalline $LiGaO_2$ films preferentially oriented in the [010] direction can be deposited on Si (100) at 500-550$^{\circ}C$ by metal organic chemical vapor deposition (MOCVD). The single precursor $[LiOCH_2CH_2OCH_3)_2-Ga(CH_3)_2]_2$ has been found suitable for chemical vapor deposition of $LiGaO_2$ thin films on Si substrates.
A study on the semiconductor laser-based atomic absorption spectroscopy was performed for monitoring physical vapor deposition process. Gadolinium metal was vaporized with a high evaporation rate by electron beam heating. Real-time atomic absorption spectra were measured by using tunable semiconductor laser beam at 770-794 nm (center wavelength of 780 nm) and its second harmonic at 388-396 nm. Atomic densities of metal vapor can be calculated from the absorption spectra measured. We plot the atomic densities as a function of the electron beam power and compare with the evaporation rates measured by quartz crystal monitor. We demonstrate that the semiconductor laser-based spectroscopic system developed in this study can be applied to monitor the physical vapor deposition process for other metals such as titanium.
This study reports on the synthesis of carbon nanofibers via chemical vapor deposition using Co and Cu as catalysts. In order to investigate the suitability of their catalytic activity for the growth of nanofibers, we prepared catalysts for the synthesis of carbon nanofibers with Cobalt nitrate and Copper nitrate, and found the optimum concentration of each respective catalyst. Then we made them react with Aluminum nitrate and Ammonium Molybdate to form precipitates. The precipitates were dried at a temperature of $110^{\circ}C$ in order to be prepared into catalyst powder. The catalyst was sparsely and thinly spread on a quartz tube boat to grow carbon nanofibers via thermal chemical vapor deposition. The characteristics of the synthesized carbon nanofibers were analyzed through SEM, EDS, XRD, Raman, XPS, and TG/DTA, and the specific surface area was measured via BET. Consequently, the characteristics of the synthesized carbon nanofibers were greatly influenced by the concentration ratio of metal catalysts. In particular, uniform carbon nanofibers of 27 nm in diameter grew when the concentration ratio of Co and Cu was 6:4 at $700^{\circ}C$ of calcination temperature; carbon nanofibers synthesized under such conditions showed the best crystallizability, compared to carbon nanofibers synthesized with metal catalysts under different concentration ratios, and revealed 1.26 high amorphicity as well as $292m^2g^{-1}$ high specific surface area.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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