• 제목/요약/키워드: ion chip

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초음파 처리 활용 실시간 투과전자현미경 관찰용 금속 시편 전사 방법에 관한 연구 (A Study on the Method of Transferring Metal Specimens for Real-time Transmission Electron Microscopy using Ultrasonic Treatment)

  • 김황선
    • 소성∙가공
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    • 제33권2호
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    • pp.118-122
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    • 2024
  • Micro-electromechanical systems (MEMS) based in-situ heating holders have been developed to enable high resolution imaging of heat treatment analysis. However, unlike the standard 3 mm metal disk specimens used in the furnace-based heating holder and general transmission electron microscopy holder, the MEMS-based in-situ heating holder requires thin specimens that can be penetrated by electrons to be transferred onto the MEMS chip. Previously, focused ion beam milling was used to transfer metal specimens, but it has the disadvantage of being expensive and the risk of specimen damage due to gallium ions. Therefore, in this study, we devised a method of transferring metallic materials by ultrasonic treatment using a transmission electron microscopy specimen made by electro jet polishing. A 3mm electropolished metal disk was placed in an appropriate solution, ultrasonicated, and then drop casted. The transfer of the specimen was successful, but it was confirmed that dislocations were formed inside the specimen due to ultrasonic treatment. This study provides a novel method for transferring metallic materials onto MEMS chips, which is cost-effective and less gallium ion damaging to the specimen. The results of this study can be used to improve the efficiency of heat treatment analysis using MEMS-based in-situ heating holders.

Exposure to low concentrations of mycotoxins triggers unique responses from the pig gut microbiome

  • Moon, Sung-Hyun;Koh, Sang-Eog;Oh, Yeonsu;Cho, Ho-Seong
    • 한국동물위생학회지
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    • 제43권1호
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    • pp.39-44
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    • 2020
  • The aim of this study is to investigate how the gut microbiome shifts when pigs were exposed with low concentrations of mycotoxins, deoxynivalenol (DON) and zearalenone (ZEN) in feed. Fifteen of pigs, 15 kg in weight which were negative for PRRSV and PCV2 were purchased, acclimatized until 20 kg in weight, and randomly divided into 3 groups; the DON group (DON treated), the ZEN group (ZEN treated) and the CTL (untreated negative control). DON and ZEN administered to each group for 30 days at 0.8 mg/kg (800 ppb) and 0.20 mg/kg (200 ppb) in feed, respectively. After extraction of microbial DNA from intestine and fecal samples, sequencing procedures were performed in the Ion PGM using an Ion 316 V2 chip and Ion PGM sequencing 400 kit. The results suggested that the bacterial communities in duodenum, jejunum and ileum of the DON and ZEN groups presented low-abundant OTUs compared with the CTL group. OTUs in cecum, colon and feces were determined more than in small intestine of all three groups. However, the CTL group yielded more OTUs than other two groups in inter-group comparison. It is not fully clarified how the richness and abundance in microbiome functions in the health condition of animals, however, the exposure to DON and ZEN has caused microbial population shifts representing microbial succession and changes following the diversity and abundance of porcine gut microbiome. The metabolomic analysis correlate with microbiome analysis is needed for further study.

원격 방사선 측정을 위한 ZigBee 원칩형 통신 모듈 설계에 대한 연구 (A Study On Design of ZigBee Chip Communication Module for Remote Radiation Measurement)

  • 이주현;이승호
    • 전기전자학회논문지
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    • 제18권4호
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    • pp.552-558
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    • 2014
  • 본 논문에서는 원격 방사선 측정을 위한 ZigBee 원칩형 통신 모듈 설계방법을 제안한다. 제안된 ZigBee 원칩형 통신모듈 설계는 ZigBee 시스템 구성을 위해 일반적으로 사용되는 2개의 칩 제어 프로세서와 ZigBee RF 디바이스로 구성되는 방식을 한 개의 칩 모듈로 설계한다. 원격 방사선 측정을 위한 ZigBee 원칩형 통신 모듈은 무선통신 통합제어부, 센서 및 고전압 발생부, 충전 및 전원회로부, 유선통신부, RF 회로부 및 안테나부 등으로 구성된다. 무선통신 통합제어부는 ZigBee를 위한 무선통신 제어 기능 및 방사선 측정 및 제어를 위한 기능을 수행한다. 센서 및 고전압 발생부는 2차에 걸쳐 500V의 고전압을 생성하여 GM Tube를 통해 감지된 방사선에 대한 펄스를 증폭 필터링 하는 기능을 수행한다. 충전 및 전원회로부는 리튬이온 배터리의 충전 및 원칩 프로세서에 전원을 공급하는 기능을 수행한다. 유선통신부는 PC와의 인터페이스 및 디버깅을 위한 USB 인터페이스 및 원거리 유선 통신이 가능하도록 RS-485/422 인터페이스 기능을 수행한다. RF 회로부 및 안테나부는 칩안테나를 적용할 수 있도록 RLC 수동소자를 적용하여 BALUN 및 안테나 임피던스 매칭 회로를 구성하여 무선통신이 가능하도록 한다. 제안된 원격 방사선 측정을 위한 ZigBee 원칩형 통신 모듈을 설계 실험한 결과, 10m, 100m 구간에서 모두 데이터가 정상적으로 전송되어서 원격 방사선량 측정이 되었음을 확인할 수가 있었다. 또한 낮은 소비전류와 적은 비용으로 원격 방사선량 측정환경을 구축할 수 있었다. 따라서 방사선 측정장치의 선형성 확보 및 장치의 소형화를 통해 안정적인 방사선 측정 및 실시간 모니터링 환경을 구축할 수가 있었다.

$75{\mu}m$ Cu via가 형성된 3D 스택 패키지용 interconnection 공정 및 접합부의 전기적 특성 (Interconnection Process and Electrical Properties of the Interconnection Joints for 3D Stack Package with $75{\mu}m$ Cu Via)

  • 이광용;오택수;원혜진;이재호;오태성
    • 마이크로전자및패키징학회지
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    • 제12권2호
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    • pp.111-119
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    • 2005
  • 직경 $75{\mu}m$ 높이 $90{\mu}m$$150{\mu}m$ 피치의 Cu via를 통한 삼차원 배선구조를 갖는 스택 시편을 deep RIE를 이용한 via hole 형성공정 , 펄스-역펄스 전기도금법에 의한 Cu via filling 공정, CMP를 이용한 Si thinning 공정, photholithography, 금속박막 스퍼터링, 전기도금법에 의한 Cu/Sn 범프 형성공정 및 플립칩 공정을 이용하여 제작하였다. Cu via를 갖는 daisy chain 시편에서 측정한 접속범프 개수에 따른 daisy chain의 저항 그래프의 기울기로부터 Cu/Sn 범프 접속저항과 Cu via 저항을 구하는 것이 가능하였다. $270^{\circ}C$에서 2분간 유지하여 플립칩 본딩시 $100{\times}100{\mu}m$크기의 Cu/Sn 범프 접속저항은 6.7 m$\Omega$이었으며, 직경 $75 {\mu}m$, 높이 $90{\mu}m$인 Cu via의 저항은 2.3m$\Omega$이었다.

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리튬이차전지를 위한 배터리 보호회로 원칩 IC (One Chip IC of Battery Protection Module for Li-ion Battery)

  • 남종하;박승욱;강덕하;황호석
    • 전력전자학회:학술대회논문집
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    • 전력전자학회 2012년도 추계학술대회 논문집
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    • pp.67-68
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    • 2012
  • 최근 스마트폰 시장은 기하급수적인 성장세를 지속하고 있다. 또한 소비자들의 사용패턴 또한 기존의 음성통화에서 데이터 통신으로 변화되면서 소비전류 및 사용시간이 증대되고 있는 실정이다. 이러한 사용자의 불만을 해소하기 위해서는 배터리의 용량 증대가 필요하나 공간상의 제약으로 인해 한계점에 도달한 상태이다. 따라서 제한된 체적내에서 최대의 용량을 사용하기 위해 배터리팩의 과충전 차단전압은 점차 높아지고 과방전 차단전압은 점차 낮아져서 배터리팩의 가용영역을 확대하고 있는 추세에 있다. 이러한 사용전압영역의 확대는 배터리팩의 안전성 및 수명 등에 악영향을 미치나 배터리의 신소재 개발, 보호회로의 채용 등으로 이러한 단점을 보완하고 있다.

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사각 채널 내에서 열원이 부착된 수평 평판에서 자연대류의 수치해석 (A Numerical Analysis on the Natural Convect ion of the Square Channel inner from the Horizontal Plate with Protruding Heat Source)

  • 김병철;주동인
    • 대한기계학회:학술대회논문집
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    • 대한기계학회 2002년도 학술대회지
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    • pp.487-490
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    • 2002
  • The real chip and similarity model were used to investigate the thermal behavior and velocity distribution of air from the heat source with the location and the amount of heat experimentally and numerically, and compared. The heat generated in the block is not cooled by convection and show the high temperature by the stagnation of heat flow. After maintaining the high temperature of block by the natural convection, the sudden drop of temperature with the air flow was shown in the channel but the decreasing rate was small with the time. The inward block was effected by infinitesimal air flow generated between block and channel and outward block was effected by the entry condition.

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농도분극현상을 이용한 담수화 과정에서의 나노채널 개수 및 운전조건 영향에 대한 실험 적 연구 (Experimental study on effect of nanochannel numbers and working conditions for concentration polarization based desalination process)

  • 이용남;김대중
    • 한국가시화정보학회지
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    • 제13권2호
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    • pp.16-21
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    • 2015
  • Concentration polarization(CP) phenomena show great potential on desalination technology. As we can control the dimension of silicon based nanochannel system, it can be used to model ion exchange membrane. In this study, to investigate the effect of nanochannel number and working conditions on the CP based desalination process, nanochannel based microfluidic system is fabricated. First, we optimized nanochannel number and working conditions to conduct visualization study on CP based desalination process. Second, we visualized the desalination process with fluorescent dye in the desalination chip. We also visualized that the particles also can be removed by the CP based desalination process.

Reverse-Conducting IGBT Using MEMS Technology on the Wafer Back Side

  • Won, Jongil;Koo, Jin Gun;Rhee, Taepok;Oh, Hyung-Seog;Lee, Jin Ho
    • ETRI Journal
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    • 제35권4호
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    • pp.603-609
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    • 2013
  • In this paper, we present a 600-V reverse conducting insulated gate bipolar transistor (RC-IGBT) for soft and hard switching applications, such as general purpose inverters. The newly developed RC-IGBT uses the deep reactive-ion etching trench technology without the thin wafer process technology. Therefore, a freewheeling diode (FWD) is monolithically integrated in an IGBT chip. The proposed RC-IGBT operates as an IGBT in forward conducting mode and as an FWD in reverse conducting mode. Also, to avoid the destructive failure of the gate oxide under the surge current and abnormal conditions, a protective Zener diode is successfully integrated in the gate electrode without compromising the operation performance of the IGBT.

저유전율 물질인 Methylsilsesquioxane의 반응 이온 식각 공정 (Reactive Ion Etching Process of Low-K Methylsisesquioxane Insulator Film)

  • 정도현;이용수;이길헌;김대엽;김광훈;이희우;최종선
    • 한국전기전자재료학회:학술대회논문집
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    • 한국전기전자재료학회 1999년도 추계학술대회 논문집
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    • pp.173-176
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    • 1999
  • Continuing improvement of microprocessor performance involves in the devece size. This allow greater device speed, an increase in device packing density, and an increase in the number of functions that can reside on a single chip. However this has led to propagation delay, crosstalk noise, and power dissipation due to resistance-capacitance(RC) coupling become significant due to increased wiring capacitance, especially interline capacitance between the metal lines on the same metal level. Becase of pattering MSSQ (Methylsilsequioxane), we use RIE(Reactive ton Etching) which is a good anisotrgpy. In this study, according as we control a flow rate of CF$_4$/O$_2$ gas, RF power, we analysis by using ${\alpha}$ -step, SEM and AFM,

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3차원 실장용 TSV 고속 Cu 충전 및 Non-PR 범핑 (High-Speed Cu Filling into TSV and Non-PR Bumping for 3D Chip Packaging)

  • 홍성철;김원중;정재필
    • 마이크로전자및패키징학회지
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    • 제18권4호
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    • pp.49-53
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    • 2011
  • TSV(through-silicon-via)를 이용한 3차원 Si 칩 패키징 공정 중 전기 도금을 이용한 비아 홀 내 Cu 고속 충전과 범핑 공정 단순화에 관하여 연구하였다. DRIE(deep reactive ion etching)법을 이용하여 TSV를 제조하였으며, 비아홀 내벽에 $SiO_2$, Ti 및 Au 기능 박막층을 형성하였다. 전도성 금속 충전에서는 비아 홀 내 Cu 충전율을 향상시키기 위하여 PPR(periodic-pulse-reverse) 전류 파형을 인가하였으며, 범프 형성 공정에서는 리소그라피(lithography) 공정을 사용하지 않는 non-PR 범핑법으로 Sn-3.5Ag 범프를 형성하였다. 전기 도금 후, 충전된 비아의 단면 및 범프의 외형을 FESEM(field emission scanning electron microscopy)으로 관찰하였다. 그 결과, Cu 충전에서는 -9.66 $mA/cm^2$의 전류밀도에서 60분간의 도금으로 비아 입구의 도금층 과성장에 의한 결함이 발생하였고, -7.71 $mA/cm^2$에서는 비아의 중간 부분에서의 도금층 과성장에 의한 결함이 발생하였다. 또한 결함이 생성된 Cu 충전물 위에 전기 도금을 이용하여 범프를 형성한 결과, 범프의 모양이 불규칙하고, 균일도가 감소함을 나타내었다.