A method for optimizing lifetime prediction of a storage device using the frequency of occurrence of defects in NAND flash memory (낸드 플래시 메모리의 불량 발생빈도를 이용한 저장장치의 수명 예측 최적화 방법)
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- Journal of Internet of Things and Convergence
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- v.7 no.4
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- pp.9-14
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- 2021