Transactions on Electrical and Electronic Materials
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v.16
no.5
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pp.280-284
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2015
Among many the oxynitrides, TiNO and AlCrNO, have diverse applications in different technological fields. We prepared TiNO/AlCrNO/Al thin films on aluminum substrates using the method of dc reactive magnetron sputtering. The reactive gas flow, gas mixture, and target potential were applied as the sputtering conditions during the deposition in order to control the chemical composition. The multi-layer films have been prepared in an Ar and O2+N2 gas mixture rate. The surface properties were estimated by performing scanning electron microscopy (SEM). At a wavelength range of 0.3~2.5 μm, the exact composition and optical properties of thin films were measured by Auger electron spectroscopy (AES) and Ultraviolet-visible-near infrared (UV-Vis-NIR) spectrophotometry. The optimal absorptance of multi-layer films was exhibited above 95.5% in the visible region of the electromagnetic spectrum, and the reflectance was achieved below 1.89%.
Park, Soo-Young;Han, Sang-Uk;Kim, Hyun-Hoo;Jang, Gun-Eik;Lee, Yong-Jun
Transactions on Electrical and Electronic Materials
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v.16
no.5
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pp.264-267
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2015
AlCrNO cermet films were prepared on aluminum substrates using a DC-reactive magnetron sputtering method and a water-cooled Al:Cr target. The Al2O3/AlCrNO (LMVF)/AlCrNO (MMVF)/AlCrNO (HMVF)/Al/substrate of the 5 multi-layers was prepared according to the Ar and (N2 + O2) gas-mixture rates. The Al2O3 of the top layer is the anti-reflection layer of triple AlCrNO (LMVF)/AlCrNO (MMVF)/AlCrNO (HMVF) layers, and an Al metal forms the infrared reflection layer. In this study, the crystallinity and surface properties of the AlCrNO thin films were estimated using X-ray diffraction (XRD) and field-emission scanning electron microscopy (FESEM), while the composition of the thin films was systematically investigated using Auger electron spectroscopy (AES). The optical properties of the wavelength spectrum were recorded using UH4150 spectrophotometry (UV-Vis-NIR) at a range of 0.3 μm to 2.5 μm.
Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference
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2010.08a
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pp.54-55
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2010
Vacancy defects in graphene can be created by electron or ion irradiation and those induce ripples which can change the electronic properties of graphene. Recently, the formation of defect structures such as vacancy defects and non-hexagonal rings has been reported in the high resolution transmission electron microscope (HR-TEM) of reduced graphene oxide [1]. In those HR-TEM images, it is noticed that the dislocations with pentagon-heptagon (5-7) pairs are formed and diffuses. Interestingly, it is also observed that two 5-7 pairs are separated and diffuse far away from each other. The separation of 5-7 pairs has been known to be due to their self-diffusion. However, from our tight-binding molecular dynamics simulation, it is found that the separation of 5-7 pairs is due to the diffusion of single vacancy defects and coalescence with 5-7 pairs. The diffusion and coalescence of single vacancy defects is too fast to be observed even in HR-TEM. We also implemented Van der Waals interaction in our tight-binding carbon model to describe correctly bi-layer and multi-layer graphene. The compressibility of graphite along c-axis in our tight-binding calculation is found to be in excellent agreement with experiment. We also discuss the difference between single layer and bi-layer graphene about vacancy diffusion and reconstruction.
Lee, Cheol Ui;Lee, Chang Hun;Kim, Jun Hyeong;Kim, Gun Seok;Kim, Geon
Journal of the Korean Chemical Society
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v.38
no.9
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pp.628-631
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1994
We have studied the paramagnetic $CuF_2$ using the techniques of pulsed nuclear magnetic resonance (NMR). The powder sample revealed two well-separated lines from the distinct $^{19}F$ sites at room temperature. One of the lines showed little frequency shift. However, the other showed a large frequency shift, suggesting electron transfers. Furthermore, the two sites have very short spin-lattice relaxation times $(T_1).$ The frequency-shifted site has the shorter $T_1$ than the unshifted one, reflecting the difference of the electron environments of the two sites.
Conducting polyaniline-poly($\varepsilon$-caprolactone) polymer composites were synthesized via in situ deposition techniques. By dissolving different weight percentages of poly($\varepsilon$-caprolactone) (PCL) (10%, 20%, 30%, 40%, and 50%), the oxidative polymerization of aniline was achieved using ammonium persulfate as an oxidant. FTIR, UV-vis spectra, and X-ray diffraction studies support a strong interaction between polyaniline (PANI) and PCL. Structural morphology of the PANI-PCL polymer composites was studied using scanned electron microscopy (SEM) and transmittance electron microscopy (TEM), and thermal stability was analyzed by thermogravimetric analysis (TGA) technique. The temperature-dependent DC conductivity of PANI-PCL polymer composite films was studied in the range of 305-475 K, which revealed a semiconducting behavior in the transport properties of the polymer films. Conductivity increased with the increase of PCL in below critical level, however conductivity of the polymer film was decreased with increase of PCL concentration higher than the critical value.
Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference
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2008.06a
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pp.172-172
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2008
By thermal evaporation method, well-aligned ZnO nanowires were synthesized on sapphire substrate at $1000^{\circ}C$ with different oxygen flow rate by using pure ZnO powder (99.999 %). The as-synthesized ZnO nanowires were characterized by field emission scanning electron microscopy (FESEM) and transmission electron microscopy (TEM). The well-aligned nanowires are single crystalline in nature and perpendicularly grown along the c-axis. Also the growth rate of nanowires, such as diameter and length, had a tendency to increase as oxygen flow rate increased. Based on the PL measurement of ZnO nanowires, we found that the near band edge of emission redshifted with the increasing intensity of the defect-related green emission in proportion to the increase of oxygen flow rate. "This research was supported by the Korea Research Foundation Grant funded by the Korean Government(MOEHRD)" (The Regional Research Universities Program/Chungbuk BIT Research-Oriented University Consortium).
Kim Hong-Gun;Kim Yoo-Shin;Yang Sung-Mo;Nah Seok-Chan
Transactions of the Korean Society of Machine Tool Engineers
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v.14
no.4
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pp.104-109
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2005
The catalyst layer design is one of the most important factors to enhance the performance of PEMFC(Proton Exchange Membrane Fuel Cell) system. The hydrophobic and ion conductive type is studied for the MEA(Membrane Electrolyte Assembly). It is found that those have some limitations for performance enhancement when they are used separately. Thus, the dual catalyst type, a mixed model, is developed for the better MEA performance. In the meantime, the design of flow field plate is subsequently carried out in order to give more enhanced output during its operation. The conductivity of flow field plate showed better performance in the case of manufactured by the more compressed process(20MPa) than by the less compressed process(10MPa). The micro-structure of the flow field plate is examined in details using SEM(Scanning Electron Microscope) to analyse the effects on the different compression processes.
The ultrastructure of the gills of Oplegnathus fasciatus was examined by means of light and transmission electron microscopes. The gills have primary and secondary filaments (lamellae). The following cells are identified and described : epithelial cell, pillar cell, chloride cell and mucose cell. The simple epithelial layer consists of squamous epithelium containing a large nucleus and the surface is covered with some of microridges. The lamella pillar structures are characterized by axial microtubules and lateral membrane interdigitations. Chloride cells contain a lot of mitochondria and specifically developed tubular systems. The rough endoplasimic reticulum and golgi complex, and some of mucous granules were observed in immature mucous cells. The mature mucous cells were AB-PAS positive, globular in shape, and had mucous granules of similar size with various electron densities.
Park, Kyeong-Seok;Lee, Kyu-Seok;Lee, Sung-Wook;Park, Min-Woo;Kwak, Dong-Joo;Lim, Dong-Gun
Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference
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2005.07a
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pp.500-501
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2005
Aluminum doped zinc oxide films (ZnO:Al) were deposited on glass substrate by DC magnetron sputtering from a ZnO target mixed with 2 wt% $Al_2O_3$. The effects of substrate bias on the electrical properties and film structure were studied. Films deposited with positive bias have been annealed at $600^{\circ}C$ using rapid thermal anneal (RTA) process. The effects of RTA on the evolution of film microstructure are to be also studied using X-ray diffraction, transmission electron microscopy, and atomic force microscopy. Positive bias sputtering may induce lattice defects caused by electron bombardments during deposition. The as-deposited film microstructure evolves from the film with high defect density to more stable film condition. The electrical properties of the films after RTA process were also studied and the results were correlated with the evolution of film microstructures.
Seo, Jae-Keun;Ko, Ki-Han;Cho, Hyung-Jun;Choi, Won-Seok;Park, Mun-Gi;Seo, Kyung-Han;Park, Young;Lim, Dong-Gun
Transactions on Electrical and Electronic Materials
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v.11
no.1
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pp.29-32
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2010
In this study, transparent and conductive Al-doped zinc oxide (AZO) films were prepared on a glass substrate by an radio frequency (RF) magnetron sputtering method using a 150-nm-thick AZO target (Al: 2 wt.%) at room temperature. We investigated the effects of RF power between 100-350 W (in steps of 50 W) on the structural, electrical, and optical properties of the AZO films. The thickness and cross-sectional images of the films were observed by field emission scanning electron microscopy. The thicknesses of all films were kept constant at 150 nm and grown on a glass substrate. The grain sizes of the AZO films were determined with the X-ray diffraction by using the Scherrer' equation, and their electrical properties were investigated using a Hall effect electronic transport measurement system. The transmittance of the AZO films was also measured by an ultraviolet-visible spectrometer.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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