• 제목/요약/키워드: capacitorless

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Strained-Silicon-on-Insulator (sSOI) 기판을 이용한 Capacitorless 1-Transistor DRAM 소자 (A Capacitorless 1-Transistor DRAM Device using Strained-Silicon-on-Insulator (sSOI) Substrate)

  • 김민수;오준석;정종완;이영희;정홍배;조원주
    • 한국전기전자재료학회:학술대회논문집
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    • 한국전기전자재료학회 2009년도 하계학술대회 논문집
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    • pp.95-96
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    • 2009
  • A fully depleted capacitorless 1-transistor dynamic random access memory (FD 1T-DRAM) based on a sSOI strained-silicon-on-insulator) wafer was investigated. The fabricated device showed excellent electrical characteristics of transistor such as low leakage current, low subthreshold swing, large on/off current ratio, and high electron mobility. The FD sSOI 1T-DRAM can be operated as memory device by the floating body effect when the substrate bias of -15 V is applied, and the FD sSOI 1T-DRAM showed large sensing margin and several milli seconds data retention time.

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SGOI 기판을 이용한 1T-DRAM에 관한 연구 (Performance of capacitorless 1T-DRAM cell on silicon-germanium-on-insulator (SGOI) substrate)

  • 정승민;오준석;김민수;조원주
    • 한국전기전자재료학회:학술대회논문집
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    • 한국전기전자재료학회 2010년도 하계학술대회 논문집
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    • pp.346-346
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    • 2010
  • A capacitorless one transistor dynamic random access memory (1T-DRAM) on silicon-germanium-on-insulator substrate was investigated. SGOI technology can make high effective mobility because of lattice mismatch between the Si channel and the SiGe buffer layer. To evaluate memory characteristics of 1T-DRAM, the floating body effect is generated by impact ionization (II) and gate induced drain leakage (GIDL) current. Compared with use of impact ionization current, the use of GIDL current leads to low power consumption and larger sense margin.

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1단 전력변환기를 가진 3상 절연형 커패시터리스 충전기 (Three-Phase Isolated Capacitorless Charger with a Single-Stage Power Converter)

  • 채수용;홍순찬
    • 조명전기설비학회논문지
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    • 제28권11호
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    • pp.84-92
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    • 2014
  • In this paper, we propose a three-phase isolated electrolytic capacitorless charger available for quick charger. In the proposed charger, electrolytic capacitor in DC link is eliminated by direct conversion from AC input to DC output. Conventional chargers are two stage structure including AC-DC and DC-DC converters, but the proposed charger can be simplified into single stage converter by using a matrix converter. And the waveform of input currents is improved by giving the weighting factor to the duty ratio of auxiliary switches. In order to verify the effectiveness of the proposed charger, simulations are carried out and a 1.2kW charger was constructed and experimented.

Development of a 170kV 50kA Capacitorless Gas Circuit Breaker

  • Park, K. Y.;K. D. Song;Y. H. Oh;W. P. Song;J. H. Kang;Park, S. W.
    • KIEE International Transactions on Electrophysics and Applications
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    • 제3C권3호
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    • pp.73-76
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    • 2003
  • In modern EHV (Extra High Voltage) class GCBs (Gas Circuit Breakers), the interruption capability for SLF (Short Line Fault) is one of the most important aspects of performance required for GCBs. Up to now, the SLF interruption capability of EHV class GCBs was partially assisted by the adoption of capacitors able to decrease the dV/dt of the TRV (Transient Recovery Voltage), particularly the TRV on the line side. This paper describes the technique to increase the SLF interruption capability of EHV class GCBs as well as the procedure to develop capacitorless l70kV 50kA GCB.

후속열처리 공정을 이용한 FD Strained-SOI 1T-DRAM 소자의 동작특성 개선에 관한 연구

  • 김민수;오준석;정종완;조원주
    • 한국전기전자재료학회:학술대회논문집
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    • 한국전기전자재료학회 2009년도 추계학술대회 논문집
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    • pp.35-35
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    • 2009
  • Capacitorless one transistor dynamic random access memory (1T-DRAM) cells were fabricated on the fully depleted strained-silicon-on-insulator (FD sSOI) and the effects of silicon back interface state on buried oxide (BOX) layer on the memory properties were evaluated. As a result, the fabricated 1T-DRAM cells showed superior electrical characteristics and a large sensing current margin (${\Delta}I_s$) between "1" state and "0" state. The back interface of SOI based capacitorless 1T-DRAM memory cell plays an important role on the memory performance. As the back interface properties were degraded by increase rapid thermal annealing (RTA) process, the performance of 1T-DRAM was also degraded. On the other hand, the properties of back interface and the performance of 1T-DRAM were considerably improved by post RTA annealing process at $450^{\circ}C$ for 30 min in a 2% $H_2/N_2$ ambient.

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75[kW]급 캐패시터리스 인버터 개발 (Development of 75kW Rated Capacitorless Inverter)

  • 김선자;김정하;김경서;유안노;설승기
    • 전력전자학회:학술대회논문집
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    • 전력전자학회 2008년도 추계학술대회 논문집
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    • pp.178-180
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    • 2008
  • 직류단 전원(DC link)에 대용량의 전해 캐패시터(Electrolytic capacitor)를 사용하지 않는 전해 캐패시터리스(Electrolytic-Capacitorless) 인버터는 기존의 인버터에 비해서 가격, 부피 면에서 장점을 갖는다. 하지만 인버터의 용량이 커질수록 입력 저역 통과 필터(Low Pass Filter : LPF)와 주기적인 맥동을 가지는 직류단 전원의 영향을 받는다. 본 논문에서는 75[kW]급 캐패시터리스 인버터를 개발하여 이러한 영향을 억제할 수 있는 방법을 제시하고, 실험 결과를 통하여 개발한 인버터의 타당성을 검증한다.

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응답 시간을 향상 시킨 외부 커패시터가 없는 Low-Dropout 레귤레이터 회로 (A Capacitorless Low-Dropout Regulator With Enhanced Response Time)

  • 여재진;노정진
    • 전기전자학회논문지
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    • 제19권4호
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    • pp.506-513
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    • 2015
  • 본 논문에서는 외부 커패시터가 없는 low-dropout (LDO) 레귤레이터를 설계하였으며, 대기 전류는 $4.5{\mu}A$ 이다. 제안하는 LDO 레귤레이터는 정밀한 로드 레귤레이션과 빠른 응답 속도를 만족하기 위해 두 개의 증폭기를 사용 하였고, 높은 이득을 갖는 증폭기와 빠른 속도 및 높은 슬루율을 가지는 증폭기로 구성 되어 있다. 이와 함께 패스 트랜지스터의 게이트에 존재하는 큰 기생 커패시터에 전류를 빠르게 충 방전시키기 위해, 전류 부스팅 회로를 추가하였다. 이를 통해 부하 전류 변화 시 응답 시간을 향상 시키게 된다. 설계된 회로는 $0.11-{\mu}m$ CMOS 공정으로 제작되었다. 최대 200mA 의 부하 전류를 구동할 수 있으며, 출력 전압 변동은 260mV, 회복 시간은 $0.8{\mu}s$ 을 측정하였다.

캐패시터리스 인버터의 입력 전류 공진 억제 (Resonance Suppression Control of Input Current for Capacitorless Inverter)

  • 유안노;이학준;이욱진;설승기;;김선자;나승호;김정하
    • 대한전기학회:학술대회논문집
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    • 대한전기학회 2008년도 제39회 하계학술대회
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    • pp.888-889
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    • 2008
  • 본 논문은 직류단 전원(DC link)에 대용량의 전해 캐패시터(Electrolytic capacitor)를 사용하지 않는 전해 캐패시터리스 (Electrolytic-Capacitorless) 인버터의 입력 전류와 직류단 전원 공진(resonance) 억제에 대한 것이다. 직류단 전원의 순시적인 에너지원으로 사용되는 전해 캐패시터를 사용하지 않는 캐패시터리스 인버터는 기존의 인버터에 비해서 가격, 부피 면에서 장점을 가지지만, 직류단 전원의 캐패시터 용량이 작아서 부하 단 스위칭의 영향이 입력 전류에 직접적으로 나타나게 된다. 이에 따라서 캐패시터리스 인버터는 필연적으로 입력 단에 저역 통과 필터(Low Pass Filter : LPF)가 필요하다. 입력 단의 필터는 간단한 구조와 가격적 측면을 고려하여 LC 필터가 주로 사용되는데, LC필터는 직류단 전류에 의한 공진의 원인이 된다. 본 논문에서는 캐패시터리스 인버터의 입력 필터의 영향을 분석하여 입력 전류와 직류단 전압의 공진을 억제 할 수 있는 방법을 제시하고, 실험 결과를 통하여 제안된 방법의 유효성을 확인한다.

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