Two different wet etching solutions, NaOH 40% and Acid, were used for etching in tri-crystalline Silicon(Tri-Si) solar cell fabrication. The wafers etched in NaOH40% solution showed higher reflectance compared to the wafers etched in Acid solution after $SiN_x$ deposition. In light current-voltage results, the cells etched in Acid solution exhibited higher short circuit current and open circuit voltage than those of the cells etched in NaOH 40% solution. We have obtained 16.70% conversion efficiency in large area($156cm^2$) Tri-Si solar cells etched in Acid solution.
Journal of the Microelectronics and Packaging Society
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v.11
no.4
s.33
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pp.61-67
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2004
The structural, electrical properties of the electrolytic capacitors were examined. By the addition of additives to hydrochloric acid solution increased the dielectric aluminum surface layer. For etch tunnels formed in hydrochloric acid, the away and density of the tunnels was not uniform, while for those formed in hydrochloric acid with additives the distribution presented relative uniformity. When the etched surface formed in hydrochloric acid with $5\%$ ethylene glycol, the enlargement of specific surface area was more effective.
The characteristics of the wet-etching of ZnO thin films were investigated using hydrochloric and phosphoric acid solutions as etchants. The etch rate of ZnO films, using highly diluted hydrochloric acid solutions at a concentration of 0.25% in deionized water, was determined to be about 120 nm/min, and linearly increased with increasing the acid concentration, resulting in $1.17{\mu}m/min$ when a 2% HCl solution was used. The surface of ZnO etched by an HCl solution, observed by scanning electron microscopy, showed a rough morphology with a high density of hexagonal pyramids or cones with sidewall angles of about ${\sim}45^{\circ}C$. Moreover, the sidewall angles of the masked area were similar to those of the pyramids on the surface. In comparison, the surface of ZnO etched by a phosphoric acid had a smooth surface morphology. The origin of this difference is from the very initial stage of etching, indicating that the etch-mechanism is different for each solution. Furthermore, when $H_3PO_4$ was added to the HCl aqueous solution, the morphology of the etched surface was greatly enhanced and the sidewall angle was also increased to about $65^{\circ}C$.
Journal of the Korean Applied Science and Technology
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v.21
no.4
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pp.306-312
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2004
An acid cleaning agent (AACA) for aluminum was prepared by blending of sorbitol, n-octanoic acid, MJU-100A, Tetronix T-701, PPA-23, C8-83 and phosphoric acid. With the prepared AACA, degreasing, foam height, etching and derusting tests were carried out. As a result, AACA-4 and AACA-7 showed better cleaning ability than commercial acid cleaning agents.
Park, Jae Hwa;Hong, Yoon Pyo;Park, Cheol Woo;Kim, Hyun Mi;Oh, Dong Keun;Choi, Bong Geun;Lee, Seong Kuk;Shim, Kwang Bo
Journal of the Korean Crystal Growth and Crystal Technology
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v.24
no.4
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pp.135-139
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2014
The hydride vapor phase epitaxy (HVPE) grown GaN samples to precisely measure the surface characteristics was applied to a molten KOH/NaOH wet chemical etching. The etching rate by molten KOH/NaOH wet chemical etching method was slower than that by conventional etching methods, such as phosphoric and sulfuric acid etching, which may be due to the formation of insoluble coating layer. Therefore, the molten KOH/NaOH wet chemical etching is a better efficient method for the evaluation of etch pits density. The grown GaN single crystals were characterized by using X-ray diffraction (XRD) and X-ray rocking curve (XRC). The etching characteristics and surface morphologies were studied by scanning electron microscopy (SEM). From etching results, the optimum etching condition that the etch pits were well independently separated in space and clearly showed their shape, was $410^{\circ}C$ and 25 min. The etch pits density obtained by molten KOH/NaOH wet chemical etching under optimum etching condition was around $2.45{\times}10^6cm^{-2}$, which is commercially an available materials.
The purpose of this in vitro study was to evaluate the effects of different acid etching times on the enamel surface morphology, shear bond strength and debonding failure mode of orthodontic attachment. Ninety six extracted human mandibular premolars were divided into eight groups of twelve teeth. The buccal surfaces were etched with $37\%$, phosphoric acid for 5, 10, 15, 30, 45, 60, 90 and 120 seconds, respectively. Two teeth from each group were used for scanning electron microscope examination. On the etched buccal surfaces of remaining teeth, orthodontic attachments(lingual buttons) were bonded with light cured orthodontic adhesive. Twenty foot hours after bonding, a Instron universal testing machine was used to determine shear bond strength of orthodontic attachment to enamel. After debonding, bases of orthodontic attachments and enamel surfaces were examined under stereoscopic microscope to determine failure mode. Statistical analysis of the data was carried out with one nay ANOVA and Duncan's multiple range test The results were as follows; 1. There was no statistically significant difference in shear bond strengths between the various etching times(p<0.05). 2. The failure modes of orthodontic attachments had some differences. In 5, 10 and 15 seconds etching groups, the percentage of adhesive/enamel interface failure was higher than that of adhesive/attachment interface failure. On the contrary, in 30, 45, 60, 90 and 120 seconds etching groups, the results were reversed. 3. The etching patterns of enamel surfaces had a great variation. So, we could not find any correlation between etching pattern and bond strength. 4. The findings in this study indicate that in vitro reduction of the etching me to 5 seconds maintains clinically acceptable bond strength. However, further study is required to determine the cause of failure mode in 5, 10 and 15 seconds groups.
In this study, semi-aqueous solutions containing carboxylic acids such as oxalic acid (OA), lactic acid (LA) and citric acid (CA) were formulated for the removal of copper etching residues produced at the interconnection process, and their characteristics were analyzed. Carboxylic acids in the solutions were apt to form various copper complexes according to the value of pH. Semi-aqueous solution containing 10 wt% CA showed the lowest etching rate of copper in the range from pH2 to pH7 and the highest selectivity in the range of pH 2 to pH 4. However, the cleaning solution containing 10 wt% LA revealed the superior selectivity at the range from pH 5 to pH 7. Appropriate selection of carboxylic acid should be required to improve the performance of cleaning solution. In the case of CA, the etching selectivity of copper oxide complex to copper was increased with the concentration of CA in the solution, when the solutions contain over 5 wt% CA, the copper interconnection layer has a metallic copper surface more than 88% in the area. The result shows that CA contained semi-aqueous solution has a relatively good cleaning ability.
Various etching methods of optical fiber and formation of metal nano particles on the optical fiber have been proposed for fabrication of fiber optic localized surface plasmon resonance (FO LSPR) biosensors. Different types of etched optical fiber are possible by removing the cladding of optical fiber using HF (hydrofluoric acid) solution and BHF (buffered hydrofluoric acid) solution, which results in improved surface roughness when BHF solution is used. Localized surface plasmon can be formed and measured by formation of silver and gold nano particles on the etched optical fiber. The characteristics of the etched optical fiber and metal nano particles on the etched surface of the optical fiber play a key role in dictating the sensitivity of the LSPR sensors, so that the proposed results can be expected to be applied for related research on fiber optic based biosensors.
Journal of the Korean Crystal Growth and Crystal Technology
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v.11
no.3
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pp.106-111
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2001
The freestanding GaN substrates were grown by hydride vapor phase epitaxy (HVPE) on (0001) sapphire substrate and prepared by using laser induced lift-off. After a mechanical polishing on both Ga and N-surfaces of GaN films with 100$\mu\textrm{m}$ thick, their polarities have been investigated by using chemical etching in phosphoric acid solution, 3 dimensional surface profiler and Auger electron spectroscopy (AES). The composition of the GaN film measured by AES indicted that Ga and N terminated surfaces have the different N/Ga peak ratio of 0.74 and 0.97, respectively. Ga-face and N-face of GaN revealed quite different chemical properties: the polar surfaces corresponding to (0001) plane are resistant to a phosphoric acid etching whereas N-polar surfaces corresponding to(0001) are chemically active.
The purpose of this study was to evaluate the marginal sealing ability of "Silar". Using freshly extracted human teeth and 2% acquous methylene blue, the marginal leakage of dye in restorative materials such as Silar, Silar with acid etching technique, Hi-Pol, Hi-Pol Enamel Bond system, Adaptic and Amalgam were investigated at $37^{\circ}C$ and under temperature cycling in range of $4^{\circ}C-60^{\circ}C$. The results as follows; 1. All filling materials showed some degree of marginal penetration by 2% methylene blue dye. 2. Silar with acid etching technique revealed effective marginal sealing ability, but under temperature cycling it showed increased marginal leakage. 3. All composite resins showed greater marginal leakage than amalgam restoration. 4. Silar had the most effective marginal sealing ability in experimented composite resins.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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