• Nuclear Engineering and Technology
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• 제53권4호
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• pp.1297-1303
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• 2021

Most thickness measurement techniques using X-ray radiation are unsuitable in field processes involving fast-moving organic films. Herein, we propose a Compton scattering X-ray radiation method, which probes the light elements in organic materials, and a new simple, non-destructive, and non-contact calibration-free real-time film thickness measurement technique by setting up a bench-top X-ray thickness measurement system simulating a field process dealing with thin flexible organic films. The use of X-ray fluorescence and Compton scattering X-ray radiation reflectance signals from films in close contact with a roller produced accurate thickness measurements. In a high-thickness range, the contribution of X-ray fluorescence is negligible, whereas that of Compton scattering is negligible in a low-thickness range. X-ray fluorescence and Compton scattering show good correlations with the organic film thickness (R² = 0.997 and 0.999 for X-ray fluorescence and Compton scattering, respectively, in the thickness range 0-0.5 mm). Although the sensitivity of X-ray fluorescence is approximately 4.6 times higher than that of Compton scattering, Compton scattering signals are useful for thick films (e.g., thicker than ca. 1-5 mm under our present experiment conditions). Thus, successful calibration-free thickness monitoring is possible for fast-moving films, as demonstrated in our experiments.

• 대한방사선기술학회지:방사선기술과학
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• 제20권2호
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• pp.28-33
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• 1997

For the Evaluation of X-ray image intensifier, we measured radiation dose at input of I. I., brightness and fluorescence at output of I. I. by using X-ray exposure meter, optometer and fluorescence meter for the relative conversion factor. Especially, by using fluorescence meter, we could easily get relative conversion factor without having regulated machine by JIS. Since using, the quality of image intensifier is going down. Consequently, it needs continuous quality maintenance.

• 대한방사선기술학회지:방사선기술과학
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• 제18권1호
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• pp.71-75
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• 1995

In order to establish the photographic effects and sensitivity of various screens, fluorescence meter is used with convenience. When the radiation quality has been fixed the fluorescence has increased in proportion to X-ray dose. However, the response of fluorescence meter has the dependency of X-ray quality in accordance with KVP. as well as the difference of screen and scatter fraction can influence on the response of fluorescence meter. Using accurate fluorescence meter as a radiation detecter and as for a proper supervision the sensitive materials, we have to aware of the meter's dependency of X-ray quality and the scatter fraction.

• 한국지반공학회:학술대회논문집
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• 한국지반공학회 2003년도 봄 학술발표회 논문집
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• pp.773-780
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• 2003

The characteristics of soft clays is very important for the land development plan. This study is to investigate correlations between the engineering properties and the characteristics of clay minerals of the disturbed clay samples obtained from Sihwa area. This study included X-Ray Diffraction Analysis, X-Ray Fluorescence Spectrometer Analysis, Scanning Electron Microscopy Analysis and Energy Dispersive X-Ray Spectrometer Analysis. The correlations between the clay mineral properties and the laboratory and field testing results were investigated.

• 한국산학기술학회논문지
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• 제13권5호
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• pp.2298-2304
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• 2012

형광 X-선 스펙트럼을 분석 방법은 RoHS 성분 및 중금속 함량 분석 등 여러 분야에 응용이 가능하며 비교적 빠른 시간 안에 함량 분석 결과를 얻을 수 있다. 형광 X-선 스펙트럼에는 잡음 및 여러 요인이 포함되어 있어 분석 정확도를 떨어뜨린다. 본 논문에서는 여러 요인 중 잡음의 특징을 분석하여 형광 X-선 스펙트럼 분석의 정확도를 높이고자 한다. 형광 X-선 스펙트럼은 산탄잡음(푸아송 잡음)의 특징을 가지고 있으며, 따라서 작은 신호에서는 잡음의 크기가 상대적으로 크고, 큰 신호에서는 잡음의 크기가 상대적으로 작은 특징을 가지고 있다. 기존에 잡음을 분석하고 제거하는 방법 및 알고리즘은 이러한 특징을 반영하지 않은 일반적인 목적으로 사용되는 방법으로 일반적인 알고리즘을 사용하여 잡음을 제거하게 되면 왜곡된 결과를 얻게 된다. 정확한 잡음 분석을 기반으로 효율적인 잡음 제거 알고리즘을 설계할 수 있고, 또한 높은 정확도의 원소 함량 분석 결과를 기대할 수 있다.

• 한국진공학회지
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• 제17권3호
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• pp.247-252
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• 2008

휴대용 XRF(X-Ray Fluorescence) 장치에 적용하기 위하여 개발한 투과 양극형 x-ray tube를 이용하여 XRF 실험을 하고, x-ray tube가 XRF data에 미치는 영향을 조사하였다. W-target tube와 Rh-target tube를 이용하여 측정한 XRF data는 알려진 결과와 잘 일치하였다. 35 kV와 관전압과 $40{\mu}A$의 관전류에서 W-target tube로 측정한 Fe $K_{\alpha}$-line의 FWHM은 약 180 eV로써, 이 값은 물질의 성분분석을 하기에 충분한 것으로 확인하였다. XRF data와 x-ray tube의 적분강도 곡선을 비교 분석해 본 결과, 휴대용 XRF 장치에는 W-Target tube보다는 Rh-Target tube를 사용하는 것이 더 유리함을 밝혀내었다.

• 한국진공학회지
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• 제17권3호
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• pp.234-239
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• 2008

휴대용 XRF (X-Ray Fluorescence) 장치에 적용할 수 있는 40 kV용 투과 양극형 W-Target tube와 Rh-Target tube를 개발하고 특성을 조사하였다. 특성 x-ray의 에너지와 연속 x-ray의 선량특성은 알려진 결과와 잘 일치함을 확인하였고, 최대 선량을 추출하기 위한 양극금속 박막의 최적 두께는 W-target tube의 경우 약 $2.6{\mu}m$, Rh-target tube의 경우 약 $2.7{\mu}m$ 임을 밝혀내었다. 또한 관전압 40 kV, 관전류 $60{\mu}A$로 30분 동안 연속적으로 작동시켰을 때 양극에서의 온도는 $50^{\circ}C$를 넘지 않아 휴대용 XRF장치에 적용할 수 있음을 확인하였다.

• 한국방사선학회논문지
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• 제17권1호
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• pp.107-114
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• 2023

엑스선형광분석은 비파괴적으로 시료에 포함된 원소와 농도를 분석할 수 있는 기법으로 과학 및 산업 분야에 광범위하게 사용되고 있다. 다양한 물질을 포함한 혼합물 또는 화합물 분석의 정밀도 향상을 위해 10 keV 근방의 저에너지와 20 keV 근방의 에너지 영역에 높은 강도 분포를 갖는 엑스선관이 요구된다. 두 에너지 영역에서 높은 강도 분포를 갖는 스펙트럼을 얻기 위하여 9.65 keV의 특성엑스선을 가지는 텅스텐과 17.48 keV의 몰리브덴 두 물질을 적층한 구조의 표적을 가지는 투과형 엑스선관을 몬테카를로 전산모사를 통해 스펙트럼을 분석하였다. W-Mo 구조의 표적을 통해 10 keV와 20 keV 근방의 강한 강도를 갖는 특성엑스선을 얻었다. 또한 4 ㎛ 두께의 Mo-W multilayers 구조의 표적을 통해 최적의 강도 분포를 갖는 스펙트럼을 얻을 수 있음을 확인하였다. 다양한 표적 물질을 선택 조합하고 두께 최적화를 통해 원하는 에너지 대역에서 높은 강도 분포를 갖는 스펙트럼을 얻는 것이 가능하다.

• Journal of Radiation Protection and Research
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• 제10권1호
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• pp.14-28
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• 1985

고순도 물질의 $K_{\alpha}$형광 X-선을 이용하여 100 keV 이하에서의 단색 Photon 선원을 개발하였다. 단색 Photon은 방사선 측정기기의 교정에 매우 유용한 것으로 얇은 금속박막의 Radiator에 제동복사선을 조사하여 얻을 수 있다. 본 실험에서는 $_{47}Ag,\;_{50}Sn,\;_{68}Er,\;_{70}Yb,\;_{82}Pb$, 등의 Radiator를 사용하여 20 keV 에서 80 keV의 범위에서 단색 Photon을 얻어내어 고순도 HpGe LEPS로 0.64-0.94에 이르는 단색도를 얻어내었고 600cc 얇은창이온전리함을 사용하여 8.3mR/h 에서 232. 5mR/h에 이르는 선량률을 얻어 내였다.

• 대한화학회지
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• 제37권10호
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• pp.861-866
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• 1993

X-선 형광분광 분석에서 매트릭스 효과를 줄이거나 보정을 해야만 보다 정확한 분석원소의 함량을 구할 수 있다. 매트릭스 계수를 구하기 위하여 표준물질을 이용해야 하는데, 괴상시편(ingot)을 임의의 성분함량별로 제작하려면 고온의 열처리로 어려움이 많으므로 금속산화물의 미세한 분말을 각 성분 함량비로 혼합해서 일정 압력을 가해서 시편을 만들었다. 이 시편의 X-선 형광세기와 농도로서 매트릭스 계수를 구해서 미지물질의 성분함량을 구하였다. 그 결과 Ni에 대해서 Fe와 Cr은 흡수 효과가 우세하고 Cr에 대해서 Fe와 Ni는 증강 효과가 우세하였으며 Fe에 대해서 Ni는 증강 효과가 강하고, Cr은 흡수 효과가 강했다. 그리고 또 이 금속산화물과 괴상시편에서 얻은 X-선 형광세기를 비교 검토하였다.