In present much CMOS devices used in VLSI circuit and Logic circuit. With increasing a number of device in VLSI, the confidence becomes more serious. This paper describe the mechanism of breakdown on CMOS, especially n-MOS, based on Hydro Dynamic model with device self-heating. Additionally, illustrate the CMOS latch-up characteristics on simplified device structure on this paper.
This paper presents a new high-performance VLSI architecture and VLSI implementation for full-search block matching algorithm. The proposed VLSI architecture has the feature of two directional parallel and pipeline processing, thereby reducing the PE idle time at which the direction of block matching operation within the search area is changed. Therfore, the proposed architecture is faster than the existing architectures under the same clock frequency. Based on HSPICE circuit simulation, it is verified that the implemented procesing element is operated successfully within 13 ns for 75 MHz operation.
The transmission line effects of IC interconnects have a substantial effect on a hish-speed VLSI circuit performance. The effective transmission lime parameters are changed with the increase of the operation frequency because of the skin of the skin effect, proximity effect, and silicon substrate. A new signal delay estimation methodology based on the RLC-distributed circuit model is presented [2]. The methodology is demonstrated by using SPICE simulation and a high-frequency experiment technique.
Power Dissipation and circuit speed become the most importance parameters in VLSI system maximum power dissipation for VLSI system design. We remodeled CMOS inverter according to the operating region, saturation region or linear regin, and calculate maximum power dissipation point of CMOS inverter. The result of proposed maximum power dissipation model compared with those from SPICE simulation which results that the proposed maximum power dissipation model has the error rate within 10% to SPICE simulation.
As the density of VLSI increases, the conventional logic testing is not sufficient to completely detect the new faults generated in design and fabrication processing. Recently, IDDQ testing becomes very attractive since it can overcome the limitations of logic testing. In this paper, G-ATPG (gyeongsang automatic test pattern genrator) is designed which is able to be adapted to IDDQ testing for combinational CMOS VLSI. In G-ATPG, stuck-at, transistor stuck-on, GOS (gate oxide short)or bridging faults which can occur within priitive gate or XOR is modelled to primitive fault patterns and the concept of a fault-sensitizing gate is used to simulate only gates that need to sensitize the faulty gate because IDDQ test does not require the process of fault propagation. Primitive fault patterns are graded to reduce CPU time for the gates in a circuit whenever a test pattern is generated. the simulation results in bench mark circuits show that CPU time and fault coverage are enhanced more than the conventional ATPG using IDDQ test.
This paper proposes a functional simulation algorithm which decrease the internal memory space and run time in simulation of VLSI. Flip-flop, register, ram, rom, ic and fun are described as functional elements in the simulator. Especially icf is made as new functional element by combining the gate and the functional element, therefore icf is used efficiently in simulation of VLSI. The proposed algorithm is implemented on PC-AT(MS-DOS) in by Prolog-1.
VLSI 회로의 복잡도 및 집적도가 증가함에 따라서 이들의 검증에 사용되는 논리 시뮬레이션을 위해서 시간이 많이걸린다. 본 논문에서는 SIMD 병렬처리 컴퓨터 상에서 빠른 논리 시뮬레이션 구현을 위한 병렬처리 기법, 자료구조, 알고리즘을 제시한다. 대표적인 병렬처리 컴퓨터인 CM-2상에서 수행한 결과를 제시하고 이를 분석하고자 한다.
본 논문에서는 쿼드-트리 방식을 이용한 프랙탈 영상압축 알고리즘의 고속화를 위한 1-차원 VLSI 어레이를 제안한다. 먼저, 순차적 Fisher 알고리즘을 단일할당코드 알고리즘으로 변환하여 데이터의존 그래프를 구현하였다. 구해진 데이터의존 그래프를 최적의 방향으로 투영시켜 2-차원 어레이를 설계하고, 구해진 2-차원 어레이를 변형하여 1-차원 VLSI 어레이를 설계하였다. 설계한 1-차원 VLSI 어레이에서 치역블록 및 정의블록을 입력하는 핀과 처리요소의 내부 연산장치를 고유함으로써 입출력 핀의 수를 줄이고 처리요소의 구조를 간단하게 했다. 또한 각 블록크기에 대한 연산을 위한 처리요소를 재사용하여 처리요소의 이용률을 높였다. 512$\times$512 그레이-스케일 영상의 프랙탈 1-차원 VSLI 어레이의 동작은 컴퓨터 시뮬레이션을 통하여 검증하였다.
본 논문에서는 프랙탈 영상압축에서 일차원 VLSI 어레이의 입력편의 수를 줄이기 위한 방법을 제안했다. 제안한 VLSI 어레이 구조에서는 쿼드-트리 분할방식을 사용하였으며 치역과 정의역의 데이터 입력핀을 공유함으로써 입력핀의 수를 50% 줄일 수 있었다. 또한 입력 데이터의 가중치가 낮은 하위의 몇 비트를 생략함으로써 데이터 입력핀의 수를 줄이고 처리요소의 내부 연산회로를 간단히 할 수 있었다. 이 방법의 성능을 검증하기 위하여 256x256 및 512$\times$512 Lena 영상을 사용하여 시뮬레이션을 수행했다. 그 결과, 원 입력 데이터의 최하위 2-비트를 제거하여도 신호대 잡음비가 약 32dB로 원 영상을 복원할 수 있었으며 치역과 정의역의 데이터 입력핀을 공유하는 VLSI 어레이에서 보다 입력핀을 추가로 25% 정도 줄일 수 있었다.
본 논문에서는 3차원 인터커넥트(3D interconnect) 구조를 해석하기 위하여 ADI-유한차분시간영역(ADI-FDTD: Alternating Direction Implicit Finite Difference Time Domain)법으로 맥스웰 회전 방정식(Maxwell's curl equation)을 계산하는 수치 해석 모델을 개발하였고, 개발한 ADI-유한차분시간영역법을 이용하여 3.3 V CMOS 기술로 설계된 샘플러 회로의 일부의 영역에 대해 컴퓨터 모의 실험 결과하여 입력된 구형 전압 신호가 금속 배선을 거치면서 5∼10 ps의 신호 지연과 0.1∼0.2 V의 신호 왜곡이 발생되는 것을 확인하였다. 결론적으로 ADI-유한차분시간영역법을 이용한 풀-웨이브 해석을 통하여 고속의 VLSI 인터커넥트에서의 전자기 현상을 정확하게 분석할 수 있음을 제시하였다.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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