• Title/Summary/Keyword: Surface passivation

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The Effects of Fluorine Passivation on $SF_6$ Treatment for Anti-corrosion after Al(Cu 1%) Plasma Etching (Al(Cu 1%)막의 플라즈마 식각후 부식 억제를 위한 $SF_6$ 처리시 fluorine passivation 효과)

  • 김창일;권광호;백규하;윤용선;김상기;남기수
    • Journal of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers
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    • v.11 no.3
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    • pp.203-207
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    • 1998
  • After etching Al-Cu alloy films using $SiCl_4/Cl_2/He/CHF_3$ plasma, a corrosion phenomenon on the metal surface has been studied with XPS (X-ray photoelectron spectroscopy) and SEM (Scanning electron microscopy). In Al-Cu alloy system, the corrosion occurs rapidly on the etched surface by residual chlorine atoms. To prevent the corrosion, the $SF_6$ plasma treatment subsequent to the etch has been carried out. A passivation layer is formed by fluorine-related compounds on etched Al-Cu alloy surface after $SF_6$ treatment, and the layer suppresses effectively the corrosion on the surface as the RF power of $SF_6$ treatment increases. The corrosion could be suppressed successfully with $SF_6$ treatment in the RF power of 150watts.

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The Properties of Passivation Films on Al2O3/SiNX Stack Layer in Crystalline Silicon Solar Cells (결정질 실리콘 태양전지의 Al2O3/SiNX 패시베이션 특성 분석)

  • Hyun, Ji Yeon;Song, In Seol;Kim, Jae Eun;Bae, Soohyun;Kang, Yoonmook;Lee, Hae-Seok;Kim, Donghwan
    • Current Photovoltaic Research
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    • v.5 no.2
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    • pp.63-67
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    • 2017
  • Aluminum oxide ($Al_2O_3$) film deposited by atomic layer deposition (ALD) is known to supply excellent surface passivation properties on crystalline Si surface. The quality of passivation layer is important for high-efficiency silicon solar cell. double-layer structures have many advantages over single-layer materials. $Al_2O_3/SiN_X$ passivation stacks have been widely adopted for high- efficiency silicon solar cells. The first layer, $Al_2O_3$, passivates the surface, while $SiN_X$ acts as a hydrogen source that saturates silicon dangling bonds during annealing treatment. We explored the properties on passivation film of $Al_2O_3/SiN_X$ stack layer with changing the conditions. For the post annealing temperature, it was found that $500^{\circ}C$ is the most suitable temperature to improvement surface passivation.

A study of rear surface passivation by $Al_2O_3$ thin film for ultra thin silicon solar cells (초박형 태양전지를 위한 후면 패시베이션 막의 특성 연구)

  • Park, Sung-Eun;Kim, Young-Do;Tark, Sung-Ju;Kang, Min-Gu;Kwon, Soon-Woo;Yoon, Se-Wang;Kim, Dong-Hwan
    • 한국신재생에너지학회:학술대회논문집
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    • 2009.06a
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    • pp.94-94
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    • 2009
  • 최근 실리콘 태양전지는 점점 얇아 지는 추세에 있다. 실리콘 태양전지에 있어 실리콘의 두께를 감소시키는 것은 실리콘 소모량을 줄이는데 있어 필수적인 조건이 되었다. 이에 따라 실리콘 표면의 passivation도 더욱 중요하게 여겨지고 있다. 실리콘 태양전지의 passivation막의 한 종류인 $Al_2O_3$는 다른 산화막 물질들과는 달리 negative fixed charge를 가지고 있고 charge의 양이 다른 산화막의 density보다 높아 p-type 실리콘의 경우 후면 passivation막으로 이용이 고려되고 있다. 본 연구에서는 atomic layer deposition으로 $Al_2O_3$막을 실리콘 위에 증착하여 열처리에 따른 그 특성을 비교하고 태양전지를 제작하였다. $Al_2O_3$막을 rapid thermal annealing을 통해 서로 다른 분위기에서 열처리 한 결과를 capacitance-voltage를 통해 측정하여 비교, 분석하였고 ellipsomety 분석을 통해 광학적 특성을 비교하였다. 또한 열처리 온도의 변화에 따른 $Al_2O_3$내에 charge에 변화가 있다는 것을 관찰하였다. 이러한 charge의 변화가 태양전지의 passivation에 영향을 주는지 관찰하기 위해 Quasi-steady state photoconductace를 통해 lifetime의 변화를 관찰 하였다. 이러한 실험결과로부터 열처리 분위기와 온도를 최적화 하여 태양전지 passivation 특성을 증가시킬 수 있었다.

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The formation of the passivation layer by the flourine layer by the fluorine treatment after Al(Cu 1%) plasma etching (Al(Cu 1%) 플라트마 식각후 fluorine 처리에 의한 passivation 막 형성)

  • 김창일;최광호;김상기;백규하;윤용선;남기수;장의구
    • Journal of the Korean Institute of Telematics and Electronics D
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    • v.35D no.1
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    • pp.27-33
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    • 1998
  • In this study, chlorine(Cl)-based gas chemistry is generally used to etching for AlCu films metallization.The corrosion phenomena of AlCu films were examined with XPS (X-ray photoelectron spectroscopy), SEM 9Scanning electron microscopy), and TEM (Transmission electron microscopy). SF$_{6}$ plasma treatment sulbsequent to the etching process preventas the corrosion effectively in the pressure of 300 mTorr. It is found that the cholrine atoms on the etched surface are not substituted for fluorine atoms during SF$_{6}$ treatment, but a passivation layer on the surface by fluorine-related compounds would be formed. The passivation layer prevents the moisture penetration on the SF$_{6}$ treated surface and suppresses the corrsion sucessfully.fully.

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Switching of the Dimer-row Direction through Sb-passivation on Vicinal Si(001) Surface of a Single Domain

  • Dugerjav, Otgonbayar;Kim, Hui-Dong;Seo, Jae-Myeong
    • Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference
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    • 2011.08a
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    • pp.186-186
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    • 2011
  • [100] 방향으로 4$^{\circ}$ 기울어진 Si(001)-2${\times}$1(vicinal surface)을 초고진공하(UHV)에서 청결하게 하고 열처리하면 rebonded-atom을 가진 DB double step과 이 step에 나란한 아홉 개의 dimer를 가진 평균 폭이 4.0 nm인 single-domain의 (001)-2${\times}$1 테라스의 면으로 재구조된다 [그림 a]. 본 연구에서는 이 표면 위에 Sb을 상온에서 증착하여 덮고 후열처리하면(2 ML, 500$^{\circ}C$ 10 분), Sb-dimer가 Si 표면을 한 층 덮고 (001) 테라스의 Sb-dimer 방향이 DA double-step과 수직을 이루는 1${\times}$2 구조를 이룬다는 사실을 STM으로 확인하였다 [그림 b]. 이러한 Sb-passivation의 효과는 표면 Si-dimer의 부분적으로 채워진 dangling-bond를 Sb-dimer의 완전히 채워진 고립쌍(lone-pair)으로 바꿈으로써 표면 자유 에너지를 줄이고, 나아가 계면 Si 층은 bulk에 유사하게 되는 데에 있다. 이 passivation 된 표면은 Ge/Si 등의 heteroepitaxy에 사용할 수 있고, 특히 single-domain을 유지하며 step 방향에 대해 평행인 dimer-row로 이루어져 있어서 원자나 전자의 이동에 비등방적 효과를 증가시킬 것이 예측된다.

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Effect of cleaning process and surface morphology of silicon wafer for surface passivation enhancement of a-Si/c-Si heterojunction solar cells (실리콘 기판 습식 세정 및 표면 형상에 따른 a-Si:H/c-Si 이종접합 태양전지 패시배이션 특성)

  • Song, JunYong;Jeong, Daeyoung;Kim, Chan Seok;Park, Sang Hyun;Cho, Jun-Sik;Yun, Kyounghun;Song, Jinsoo;Lee, JeongChul
    • 한국신재생에너지학회:학술대회논문집
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    • 2010.06a
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    • pp.99.2-99.2
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    • 2010
  • This paper investigates the dependence of a-Si:H/c-Si passivation and heterojunction solar cell performances on various cleaning processes of silicon wafer and surface morphology. It is observed that passivation quality of a-Si:H thin-films on c-Si wafer highly depends on wafer surface conditions. The MCLT(Minority carrier life time) of wafer incorporating intrinsic (i) a-Si:H as a passivation layer shows sensitive variation with cleaning process and surface morpholgy. By applying improved cleaning processes and surface morphology we can obtain the MCLT of $200{\mu}sec$ after H-termination and above 1.5msec after i a-Si:H thin film deposition, which has implied open circuit voltage of 0.720V.

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Atomic Layer Etching of interface Passivation Layer for III-V compound semiconductor devices (III-V족 반도체 소자의 Interface Passivation Layer을 위한 원자층 식각)

  • Yun, Deok-Hyeon;Kim, Hwa-Seong;Park, Jin-U;Yeom, Geun-Yeong
    • Proceedings of the Korean Institute of Surface Engineering Conference
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    • 2014.11a
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    • pp.196-196
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    • 2014
  • 플라즈마 건식 식각 기술은 반도체 식각공정에서 효과적으로 이용되고 있으며, 반도체 소자의 크기가 줄어듬에 따라 미세하고 정확하게 식각 깊이를 제어할 수 있는 원자층 식각 기술이 개발되었다. 3-5족 반도체 소자의 Interface Passivation Layer 로 이용되는 $Al_2O_3$ 와 BeO 의 원자층 식각을 하였으며, 각각의 원자층 식각 조건과 식각 후의 표면 거칠기 변화에 대한 영향을 확인 할 수 있었다.

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The $Al_2O_3$ Passivation Mechanism for c-Si Surface Deposited by ALD Using $O_3$ Oxidant

  • Jo, Yeong-Jun;Jang, Hyo-Sik
    • Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference
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    • 2013.08a
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    • pp.320.1-320.1
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    • 2013
  • We have investigated the effect of surface passivation for crystalline silicon solar cell using ozone-based atomic layer deposited (ALD) $Al_2O_3$. We examined passivation properties such as uniformity, carrier lifetime, thickness, negative fixed charge density at AlOx/Si interface, and reflectance. The influences of process temperature and heat treatment were investigated using microwave photoconductance decay (PCD). Ozone-based ALD $Al_2O_3$ film shows the best carrier lifetime at lower deposition temperature than $H_2O$-based ALD.

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A study on Characteristics of crystalline solar cell on local back contact according to passivation (결정질 태양전지 국부적 후면 접촉 Passivation에 따른 특성 연구)

  • Kim, Hyunyup;Choi, Jaewoo;Yi, Junsin
    • 한국신재생에너지학회:학술대회논문집
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    • 2011.05a
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    • pp.122.2-122.2
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    • 2011
  • 결정질 태양전지 제작에서, passavtion은 표면의 반사도를 줄여주는 반사 방지막의 역할과 표면의 dangling bond를 감소시켜, 표면 재결합 속도를 줄이고 minority carrier lifetime을 증가하는 데 큰 영향을 미친다. 그렇기 때문에 저가형 고효율 태양전지 제작에서 우수한 특성을 가지는 passivation막은 매우 중요한 이슈이다. 본 연구에서는 LBC(local back contact) 구조를 가지는 단결정 태양전지 후면에, 기존의 Full Al-BSF의 passivation 막을 SiNx와 ONO passivation 막으로 각각 대체하여, LBC 구조에서 더 적합한 passivation 막을 찾고자 하였다. SiNx와 ONO passivation 막은 단결정 LBC 구조 태양전지 후면에 각각 형성되었고 $800^{\circ}C$, 20 sec 조건으로 소성되었다. 실험결과는 minority carrier lifetime과 surface recombination velocity로 관찰하였다. 그 결과, SiNx passivation 막의 표면 재결합 속도는 29.7cm/s이고, ONO passivation 막의 표면 재결합 속도는 24.5cm/s로, Full Al-BSF 표면 재결합 속도 750cm/s에 비해 더 적합한 passivation 막으로 확인할 수 있었다. 결과적으로 SiNx,ONO passivation 막이 Full Al-BSF보다 전극에 수집되는 캐리어의 양이 많아짐에 따라 효율향상을 가져올 수 있을 것이다.

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Pt-AlGaN/GaN HEMT-based hydrogen gas sensors with and without SiNx post-passivation

  • Vuong, Tuan Anh;Kim, Hyungtak
    • Journal of IKEEE
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    • v.23 no.3
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    • pp.1033-1037
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    • 2019
  • GaN-based sensors have been widely investigated thanks to its potential in detecting the presence of hydrogen. In this study, we fabricated hydrogen gas sensors with AlGaN/GaN heterojunction and investigated how the sensing performance to be affected by SiN surface passivation. The gas sensor employed a high electron mobility transistors (HEMTs) with 30 nm platinum catalyst as a gate to detect the hydrogen presence. SiN layer was deposited by inductively-coupled chemical vapor deposition as post-passivation. The sensors with SiN passivation exhibited hydrogen sensing characteristics with various gas flow rates and concentrations of hydrogen in inert background gas at $200^{\circ}C$ similar to the ones without passivation. Aside from quick response time for both sensors, there are differences in sensitivity and recovery time because of the existence of the passivation layer. The results also confirmed the dependence of sensing performance on gas flow rate and gas concentration.