Journal of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers
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v.15
no.4
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pp.344-348
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2002
As microelectronics technology continues to progress, there is also a continuous demand on highly integration and miniaturization of systems. For example, it is desirable to package several integrated circuits together in multilayer structure, such as multichip modules, to achieve higher levels of compactness and higher performance. Passive components (i.e., capacitors, resistors, and inductors) are very important fort many MCM applications. In addition, the low-temperature co-fired ceramic (LTCC) process has considerable potential for embedding passive components in a small area at a low cost. In this paper, we investigate a method of statistically modeling integrated passive devices from just a small number of test structures. A set of LTCC inductors is fabricated and their scattering parameters (s-parameters) are measured for a range of frequencies from 50MHz to 5GHz. An accurate model for each test structure is obtained by using a building block based modeling methodology and circuit parameter optimization using the HSPICE circuit simulator.
Transformer is widely used element on power system and industrial area. Especially the transformers installed at power system are exposed to an environment of arbitrary changed. Thus the prediction of degradation and the analysis of response to impulse are important. To conduct those works, the electrical characteristics of system should be analyzed, effectively. But the analysis of electrical characteristic in electric machine level such as pole and pad-mounted transformer is almost no, thus commercial VNA (Vector Network Analyzer) is used to getting the response in wide frequency range. However, the output power of VNA is usually under 10mW, so verification for effectiveness of measuring electrically large component should be conducted, firstly. Next, after getting total S-parameter of transformer, predicting impulse response can be performed in time-domain with circuit simulator. In this paper, it is introduced that verification effectiveness of VNA using transfer function from SFRA (Sweep Frequency Response Analyzer), firstly. Next, total S-parameter, six by six matix form, was built using measured 2 port S-parameter from vector network analyzer. To get the response to impulse which is defined by IEC 60060-1, time-domain simulation is conducted to ADS (Advenced Design System) circuit simulator.
Si-based electromagnetic noise suppressors on coplanar waveguide transmission lines incorporated with a $SiO_2$ dielectric layer and a nanogranular Co-Fe-Al-O magnetic thin film are reported. Unlike glass-based devices, large signal attenuation is observed even in the bare structure without coating the magnetic thin film. Much larger signal attenuation is achieved in fully integrated devices. The transmission scattering parameter ($S_{21}$) is as small as -90 dB at 20 GHz at the following device dimensions; the thicknesses of the $SiO_2$ and Co-Fe-Al-O thin films are 0.1 $\mu$m and 1 $\mu$m, respectively, the length of the transmission line is 15 mm, and the width of the magnetic thin film is 2000 $\mu$m. In all cases, the reflection scattering parameter ($S_{11}$) is below -10 dB over the whole frequency band. Additional distributed capacitance formed by the Cu transmission line/$SiO_2$/Si substrate is responsible for these characteristics. It is considered that the present noise suppressors based on the Si substrate are a first important step to the realization of MMIC noise suppressors.
Yun, Il-Gu;Carastro, Lawrence A.;Poddar, Ravi;Brooke, Martin A.;May, Gary S.;Hyun, Kyung-Sook;Pyun, Kwang-Eui
ETRI Journal
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v.22
no.1
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pp.38-46
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2000
The extraction of model parameters for embedded passive components is crucial for designing and characterizing the performance of multichip module (MCM) substrates. In this paper, a method for optimizing the extraction of these parameters using genetic algorithms is presented. The results of this method are compared with optimization using the Levenberg-Marquardt (LM) algorithm used in the HSPICE circuit modeling tool. A set of integrated resistor structures are fabricated, and their scattering parameters are measured for a range of frequencies from 45 MHz to 5 GHz. Optimal equivalent circuit models for these structures are derived from the s-parameter measurements using each algorithm. Predicted s-parameters for the optimized equivalent circuit are then obtained from HSPICE. The difference between the measured and predicted s-parameters in the frequency range of interest is used as a measure of the accuracy of the two optimization algorithms. It is determined that the LM method is extremely dependent upon the initial starting point of the parameter search and is thus prone to become trapped in local minima. This drawback is alleviated and the accuracy of the parameter values obtained is improved using genetic algorithms.
The Henyey-Greenstein (H-G) phase function, which is characterized by a single parameter, has been generally used to approximate the realistic dust-scattering phase function in investigating scattering properties of the interstellar dust. Draine (2003) proposed a new analytic phase function with two parameters and showed that the realistic phase function is better represented by his phase function. If the H-G and Draine's phase functions are significantly different, using the H-G phase function in radiative transfer models may lead to wrong conclusions about the dust-scattering properties. Here, we investigate whether the H-G and Draine's phase functions would indeed produce significant differences in radiative transfer calculations for two simple configurations. For the uniformly distributed dust with an illuminating star at the center, no significant difference is found. However, up to ~ 20% of difference is found when the central star is surrounded by a spherical-shell dust medium and the radiation of $\lambda$ < $2000\;{\AA}$ is considered. It would mean that the investigation of dust-scattering properties using the H-G phase function may produce errors of up to ~ 20% depending on the geometry of dust medium and the radiation wavelength. This amount of uncertainty would be, however, unavoidable since the configurations of dust density and radiation sources are only approximately available.
This paper proposes a simple yet accurate method for estimating the antenna correlation coefficient (ACC) of a high-order multiple-input multiple-output (MIMO) antenna. The conventional method employed to obtain the ACC from three-dimensional radiation patterns is costly and difficult to measure. An alternate method is to use the S-parameters, which can be easily measured using a network analyzer. However, this method assumes that the antennas are highly efficient, and it is therefore not suitable for lossy MIMO antenna arrays. To overcome this limitation, we define and utilize the non-coupled radiation efficiency in the S-parameter-based ACC formula. The accuracy of the proposed method is verified by the simulation results of a 4-port highly coupled lossy MIMO array. Further, the proposed method can be applied to N-port arrays by expanding the calculation matrix.
Journal of the Korean Institute of Telematics and Electronics
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v.14
no.3
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pp.6-11
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1977
The noise behavior of the Schottky Barrier Gate FET has been investigated by the use of noise equivalent circuit. It has been found that an additional noise source has to be taken into account in the GaAs SBGFET's biased in the pinch-off region; the intervalley scattering noise and the hot electron noise. In this paper, a noise equivalent circuit has been used to determine the noise parameter which was taken into account influence of the saturation velocity of carrier and parasitic resistance.
JSTS:Journal of Semiconductor Technology and Science
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v.11
no.1
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pp.15-22
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2011
Interconnect lines with inter-layer vias are experimentally characterized by using high-frequency S-parameter measurements. Test patterns are designed and fabricated using a package process. Then they are measured using Vector Network Analyzer (VNA) up to 25 GHz. Modeling a via as a circuit, its model parameters are determined. It is shown that the circuit model has excellent agreement with the measured S-parameters. The signal integrity of the lines with inter-layer vias is evaluated by using the developed circuit model. Thereby, it is shown that via may have a substantially deteriorative effect on the signal integrity of high-speed integrated circuits.
Surface albedo is an important parameter of the surface energy budget, and its accurate quantification is of major interest to the global climate modeling community. Therefore, in this paper, we consider the direct solution of kernel based bidirectional reflectance distribution function (BRDF) models for retrieval of normalized reflectance of high resolution satellite. The BRD effects can be seen in satellite data having a wide swath such as SPOT/VGT (VEGETATION) have sufficient angular sampling, but high resolution satellites are impossible to obtain sufficient angular sampling over a pixel during short period because of their narrow swath scanning when applying semi-empirical model. This gives a difficulty to run BRDF model inferring the reflectance normalization of high resolution satellites. The principal purpose of the study is to estimate normalized reflectance of high resolution satellite (RapidEye) through BRDF components from SPOT/VGT. We use semi-empirical BRDF model to estimated BRDF components from SPOT/VGT and reflectance normalization of RapidEye. This study used SPOT/VGT satellite data acquired in the S1 (daily) data, and within this study is the multispectral sensor RapidEye. Isotropic value such as the normalized reflectance was closely related to the BRDF parameters and the kernels. Also, we show scatter plot of the SPOT/VGT and RapidEye isotropic value relationship. The linear relationship between the two linear regression analysis is performed by using the parameters of SPOTNGT like as isotropic value, geometric value and volumetric scattering value, and the kernel values of RapidEye like as geometric and volumetric scattering kernel Because BRDF parameters are difficult to directly calculate from high resolution satellites, we use to BRDF parameter of SPOT/VGT. Also, we make a decision of weighting for geometric value, volumetric scattering value and error through regression models. As a result, the weighting through linear regression analysis produced good agreement. For all sites, the SPOT/VGT isotropic and RapidEye isotropic values had the high correlation (RMSE, bias), and generally are very consistent.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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