• 제목/요약/키워드: R패키지

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RHadoop을 이용한 빅데이터 분산처리 시스템 (Big data distributed processing system using RHadoop)

  • 신지은;정병호;임동훈
    • Journal of the Korean Data and Information Science Society
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    • 제26권5호
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    • pp.1155-1166
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    • 2015
  • 기하급수적으로 증가하는 대용량 데이터를 저장, 분석하는데 기존 방식으로는 거의 불가능하여 이를 가능케 해 주는 기술이 바로 하둡이다. 최근에 R은 하둡기술을 활용하여 분산처리에 기반한 빅데이터 분석 엔진으로 활용되고 있다. 본 논문에서는 R과 하둡의 통합환경인 RHadoop을 이용하여 실제 데이터와 모의실험 데이터에서 다양한 데이터 크기에 따라 병렬 다중 회귀분석을 구현하고자 한다. 또한, 제안된 RHadoop 플랫폼의 성능을 평가하기 위해 기본 R 패키지의 lm 함수, bigmemory 상에서 유용한 biglm 패키지와 처리 속도를 비교하였다. 실험결과 RHadoop은 데이터 노드가 많을수록 병렬처리로 인해 빠른 처리속도를 보였고 또한 대용량의 데이터에 대해 다른 패키지들보다 빠른 처리속도를 보였다.

RHadoop을 이용한 보건의료 빅데이터 분석의 유효성 (Usefulness of RHadoop in Case of Healthcare Big Data Analysis)

  • 류우석
    • 한국정보통신학회:학술대회논문집
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    • 한국정보통신학회 2017년도 추계학술대회
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    • pp.115-117
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    • 2017
  • R은 강력한 분석과 가시화 기능을 제공함에 따라 빅데이터 시대에서의 기본 분석 플랫폼으로 각광받고 있음에도 불구하고 규모 확장성 미비에 따른 성능 제약이라는 단점을 가지고 있다. 이를 해결하기 위한 방법으로 RHadoop 패키지가 공개되어 있으며 이를 통해 R로 개발된 프로그램이 하둡을 통해 병렬 분산 처리가 가능한 특징이 있다. 본 논문에서는 공공데이터의 개방에 따라 인터넷을 통해 공개된 각종 보건의료 빅데이터의 분석에서 RHadoop 패키지의 활용이 얼마나 유효한 지를 검증하고자 하였다. 이를 위해 국민건강보험공단에서 제공한 2015년 진료내역정보를 이용하여 R과 RHadoop의 분석 성능을 비교 검증한 결과 RHadoop이 효과적으로 분석 성능을 개선시킬 수 있음을 입증하였다.

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NCP 적용 COF 플립칩 패키지의 신뢰성 (Reliability of COF Flip-chip Package using NCP)

  • 민경은;이준식;전제석;김목순;김준기
    • 대한용접접합학회:학술대회논문집
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    • 대한용접접합학회 2010년도 춘계학술발표대회 초록집
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    • pp.74-74
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    • 2010
  • 모바일 정보통신기기를 중심으로 전자패키지의 초소형화, 고집적화를 위해 플립칩 공법의 적용이 증가되고 있는 추세이다. 플립칩 패키징 접합소재로는 솔더, ICA(Isotropic Conductive Adhesive), ACA(Anisotropic Conductive Adhesive), NCA(Non Conductive Adhesive) 등과 같은 다양한 접합소재가 사용되고 있다. 최근에는 언더필을 사용하는 플립칩 공법보다 미세피치 대응성을 위해 NCP를 이용한 플립칩 공법에 대한 요구가 증가되고 있는데, NCP의 상용화를 위해서는 공정성과 함께 신뢰성 확보가 필요하다. 본 연구에서는 LDI(LCD drive IC) 모듈을 위한 COF(Chip-on-Film) 플립칩 패키징용 NCP 포뮬레이션을 개발하고 이를 적용한 COF 패키지의 신뢰성을 조사하였다. 테스트베드는 면적 $1.2{\times}0.9mm$, 두께 $470{\mu}m$, 접속피치 $25{\mu}m$의 Au범프가 형성된 플리칩 실리콘다이와 접속패드가 Sn으로 finish된 폴리이미드 재질의 flexible 기판을 사용하였다. NCP는 에폭시 레진과 산무수물계 경화제, 이미다졸계 촉매제를 사용하여 다양하게 포뮬레이션을 하였다. DSC(Differential Scanning Calorimeter), TGA(Thermogravimetric Analysis), DEA(Dielectric Analysis) 등의 열분석장비를 이용하여 NCP의 물성과 경화거동을 확인하였으며, 본딩 후에는 보이드를 평가하고 Peel 강도를 측정하였다. 최적의 공정으로 제작된 COF 패키지에 대한 HTS (High Temperature Stress), TC (Thermal Cycling), PCT (Pressure Cooker Test)등의 신뢰성 시험을 수행한 결과 양산 적용 가능 수준의 신뢰성을 갖는 것을 확인할 수 있었다.

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형광체 변환 고출력 백색 LED 패키지의 가속 열화 스트레스 (Accelerated Degradation Stress of High Power Phosphor Converted LED Package)

  • 천성일;장중순
    • 마이크로전자및패키징학회지
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    • 제17권4호
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    • pp.19-26
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    • 2010
  • 포화 수증기압이 고출력 형광체 변환 백색 LED 패키지의 열화현상에 미치는 주요 스트레스 인자임을 확인하였다. 또한 LED 패키지의 가속 수명시험을 통하여 포화 수증기압이 효과적인 가속 스트레스 인자임을 확인하였다. 실험조건은 350 mA 전류를 인가한 것과 인가하지 않은 2가지 조건에 대해 $121^{\circ}C$, 100% R.H. 환경에서 최대 168 시간동안 진행하였다. 실험결과 두 실험 모두 광 출력 감소, 스펙트럼 세기의 감소, 누설전류 및 열 저항이 증가하였다. 고장분석 결과 광 특성의 열화는 봉지재의 변색과 기포에 의해 발생한 것으로 나타났다. LED 패키지의 변색과 흡습에 의해 유발되는 기계적 (hygro-mechanical) 스트레스에 의한 기포 발생은 패키지 열화의 중요한 인자로써, 포화 수증기압이 고출력 LED의 수명시험 시간을 단축하기 위한 스트레스 인자로 적합함을 알 수 있었다.

coin 패키지를 이용한 독립성 검정 (Independence tests using coin package in R)

  • 김진흠;이정동
    • Journal of the Korean Data and Information Science Society
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    • 제25권5호
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    • pp.1039-1055
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    • 2014
  • 검정통계량의 영가설 분포는 모집단 분포에 의존하는데 모집단의 분포를 모를 때 영가설 분포를 검정통계량의 조건부 분포로 대체하여 검정하는 방법을 순열 검정이라고 한다. Strasser와 Weber (1999)는 순열 검정을 통합하는 이론을 마련하였고, Hothorn 등 (2006, 2008)은 그 이론을 R에 내장된 coin 패키지에 구현하였다. coin 패키지에서 조건부 독립성 검정은 총괄적인 형태의 함수인 independence test를 통해서 할 수 있지만 대표적인 독립성 검정은 사용자가 편리하도록 간편한 함수를 별도로 제공하고 있다. 본 논문에서는 Strasser와 Weber (1999)의 순열 검정 방법에 대해 소개하고, coin 패키지에 내장된 15개의 간편 함수에 대해 independence test 함수로 변환하는 절차를 설명하고자 한다. 또한, 정의한 independence test 함수를 써서 실제 자료의 점근 분포와 순열 검정, 정확 검정에 기초한 p-값을 서로 비교하고자 한다.

통계패키지와 Active Server Page를 이용한 통계 분석 웹 컨텐츠 개발 (Development of Web Contents for Statistical Analysis Using Statistical Package and Active Server Page)

  • 강태구;이재관;김미아;박찬근;허태영
    • 한국산업정보학회논문지
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    • 제15권1호
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    • pp.109-114
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    • 2010
  • 본 논문에서는 통계패키지와 Active Server Page(ASP)를 이용하여 통계분석을 위한 웹 컨텐츠를 개발하였다. 통계패키지는 통계비전공자에게 사용하기도 어렵고 배우기도 매우 어렵지만, 통계비전공자들은 SAS, S-plus, R 등과 같은 통계패키지에 대한 학습 없이 자료를 분석하기를 원하고 있다. 따라서 본 연구에서는 통계패키지로 많이 활용되고 있는 S-plus와 ASP를 이용하여 통계분석 웹 컨텐츠를 개발하였다. 실제 응용으로, 수질오염자료에 대하여 웹 상에서 탐색적 자료 분석, 분산분석, 시계열 분석 등과 같은 다양한 분석에 대한 웹 컨텐츠를 개발하였다. 개발된 웹 통계분석은 공무원, 연구원 등과 같은 통계 비전문가들에게 매우 유용한 도구이다. 결과적으로 웹 기반의 통계분석 컨텐츠를 통하여 인터넷으로 하여금 사용자들로 하여금 자료 분석을 쉽게 빠르게 할 수 있다.

포커스-e제품 - (주)모던하이테크

  • 한국광학기기협회
    • 광학세계
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    • 통권147호
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    • pp.54-54
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    • 2013
  • (주)모던하이테크가 광학 설계 프로그램인 CODE V$^{(R)}$ Rsoft$^{(R)}$ LightTools$^{(R)}$를 9월 중에 업그레이드 출시할 예정이다. 모던하이테크는 고객들이 프로그램을 구매하기 전에 한 달간 제품을 체험해 볼 수 있는 무료 평가판 및 유상 기술지원 서비스인 '프리미엄 패키지'도 함께 제공하고 있다.

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TSOP(Thin Small Outline Package) 열변형 개선을 위한 전산모사 분석 (Numerical Analysis for Thermal-deformation Improvement in TSOP(Thin Small Outline Package) by Anti-deflection Adhesives)

  • 김상우;이해중;이효수
    • 마이크로전자및패키징학회지
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    • 제20권3호
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    • pp.31-35
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    • 2013
  • TSOP(Thin Small Outline Package)는 가전제품, 자동차, 모바일, 데스크톱 PC등을 위한 저렴한 비용의 패키지로, 리드 프레임을 사용하는 IC패키지이다. TSOP는 BGA와 flip-chip CSP에 비해 우수한 성능은 아니지만, 저렴한 가격 때문에 많은 분야에 널리 사용되고 있습니다. 그러나, TSOP 패키지에서 몰딩공정 할 때 리드프레임의 열적 처짐 현상이 빈번하게 일어나고, 반도체 다이와 패드 사이의 Au 와이어 떨어짐 현상이 이슈가 되고 있다. 이러한 문제점을 해결하기 위해서는 리드프레임의 구조를 개선하고 낮은 CTE를 갖는 재료로 대체해야 한다. 본 연구에서는 열적 안정성을 갖도록 리드프레임 구조 개선을 위해 수치해석적 방법으로 진행하였다. TSOP 패키지에서 리드프레임의 열적 처짐은 반도체와 다이 사이의 거리(198 um~366 um)에서 안티-디플렉션의 위치에 따라 시뮬레이션을 진행하였다. 안티-디플렉션으로 TSOP 패키지의 열적 처짐은 확실히 개선되는 것을 확인 했다. 안티-디플렉션의 위치가 inside(198 um)일 때 30.738 um 처짐을 보였다. 이러한 결과는 리드프레임의 열적 팽창을 제한하는데 안티-디플렉션이 기여하고 있기 때문이다. 그러므로 리드프레임 패키지에 안티-디플렉션을 적용하게 되면 낮은 CTE를 갖는 재료로 대체하지 않아도 열적 처짐을 향상시킬 수 있음을 기대할 수 있다.

휨을 고려한 칩 패키지의 EMC/PCB 계면 접합 에너지 측정 (Measurement of EMC/PCB Interfacial Adhesion Energy of Chip Package Considering Warpage)

  • 김형준;안광호;오승진;김도한;김재성;김은숙;김택수
    • 마이크로전자및패키징학회지
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    • 제26권4호
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    • pp.101-105
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    • 2019
  • 칩 패키지에는 생산 공정 및 운송, 보관 과정에서 발생하는 외부 환경 변화로부터 인쇄 회로 기판(printed circuit board, PCB)을 보호하기 위해 에폭시 몰딩(epoxy molding compound, EMC)이 사용된다. PCB와 EMC의 접합 신뢰성은 제품의 품질 및 수명에 중요한 요소이며 이를 보증하기 위해 제품 설계 및 생산 단계에서 그 접합 에너지를 정밀하게 측정하고, 이에 영향을 끼치는 요소를 통제하여 공정을 최적화 시켜야 한다. 본 논문은 이중 외팔보(double cantilever beam, DCB) 시험을 이용하여 휨(warpage)이 있는 칩 패키지의 EMC와 PCB의 계면 접합 에너지를 측정하고 보정하는 방법에 대해 소개한다. DCB 시험법은 이종 재료의 계면 접합 에너지를 측정하는 전통적인 방법이며 정밀한 접합 에너지 측정을 위해 평평한 기판이 필수적이다. 그러나 칩 패키지는 내부 구성 요소들의 열팽창 계수 차이로 인해 휨이 발생하기 때문에 평평한 기판을 제작하여 정밀한 접합 에너지를 측정하는데 어려움이 있다. 이를 극복하고자 본 연구에서는 휨이 있는 칩 패키지로 DCB 시험법을 위한 시편을 제작하고, 기판의 복원력을 보정하여 접합 에너지를 계산하였다. 보정된 접합에너지는 동일 조건에서 제작된 칩 패키지 중 휨이 없는 시편을 선별하여 측정한 접합 에너지와 비교, 검증하였다.

R 패키지를 이용한 토모그라피 지도 제작 (Preparation of Tomographic Maps Based on the R Package)

  • 정태웅
    • 지구물리와물리탐사
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    • 제11권4호
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    • pp.373-378
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    • 2008
  • 현재 전세계적으로 지구과학 분야의 지도제작은 Generic Mapping Tools (GMT) 소프트웨어가 사용되고 있으나, 사용자가 그 내용을 이해하기 쉽지 않고, 마이크로소프트 (MS) 윈도우 PC에서의 구동이 잘 되지 않은 단점이 있다. R언어는 패키지 'GEOmap'을 사용하면 MS윈도우상에서 GMT와 같은 지도작업이 잘 될 뿐 아니라, GMT에 비해 명령어가 이해하기 쉬우며, 명령에 대한 Help 기능이 컴퓨터 상에서 대화형으로 잘 구비되어 있다. 여기서는 'GEOmap'을 이용한 지도제작의 대강을 설명하고, 본 연구팀이 최근 발표한 토모그라피 지도제작에대한 적용례를 소개하였다.