In this paper, we propose a new structure that improves the on-state voltage drop and switching speed in Insulated Gate Bipolar Transistors(IGBTs), which can be widely used in high voltage semiconductors. The proposed structure is unique in that the collector area is divided by $SiO_2$, whereas the conventional IGBT has a planar P+ collector structure. The process and device simulation results show remarkably improved on-state and switching characteristics. Also, the current and electric field distribution indicate that the segmented collector structure has increased electric field near the $SiO_2$ corner, which leads to an increase of electron current. This results in a decrease of on-state resistance and voltage drop to $30%{\sim}40%$. Also, since the area of the P+ region is decreased compared to existing structures, the hole injection decreases and leads to an increase of switching speed to 30 %. In spite of some complexity in process procedures, this structure can be manufactured with remarkably improved characteristics.
Yang, Seung-Dong;Oh, Jae-Sub;Yun, Ho-Jin;Jeong, Kwang-Seok;Kim, Yu-Mi;Lee, Sang Youl;Lee, Hi-Deok;Lee, Ga-Won
Transactions on Electrical and Electronic Materials
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제14권3호
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pp.139-142
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2013
Silicon nanowire (SiNW) silicon-oxide-nitride-oxide-silicon (SONOS) flash memory devices were fabricated and their electrical characteristics were analyzed. Compared to planar SONOS devices, these SiNW SONOS devices have good program/erase (P/E) characteristics and a large threshold voltage ($V_T$) shift of 2.5 V in 1ms using a gate pulse of +14 V. The devices also show excellent immunity to short channel effects (SCEs) due to enhanced gate controllability, which becomes more apparent as the nanowire width decreases. This is attributed to the fully depleted mode operation as the nanowire becomes narrower. 3D TCAD simulations of both devices show that the electric field of the junction area is significantly reduced in the SiNW structure.
A thyristor switch circuit for capacitor discharge application, of which the equivalent circuit includes a resistor between cathode and gate of a reverse-conducting thyristor and an avalanche diode anti-parallel between its anode and gate to set thyristor tum-on voltage, is monolithically integrated by planar process with AVE double-implantation method. To ensure a lower breakdown voltage of the avalanche diode for thyristor tum-on than the break-over voltage of the thyristor, $p^+$ wells on thyristor p base layer are made by boron implantation/drive-in for a steeper doping profile with higher concentrations while rest p layers of thyristor and free-wheeling diode parts are formed with Al implantation/drive-in for a doping profile of lower steepness. The free-wheeling diode part is isolated from the thyristor part by formation of separated p-well emitter for suppressing commutation between them, which is achieved during the formation of thyristor p-base layer.
본 연구는 IGBT 구조에서 JFET 영역의 드라이브 인 확산거리 및 JFET영역의 윈도우의 크기에 따라서 항복전압과 온상태 전압강하 특성을 분석하였다. 시간은 동일하게 하면서 온도를 상승시켜 확산거리를 조정하였으며, 그 결과 항복전압은 감소되나, 온 상태 전압 강하 특성은 현저하게 좋아지는 것을 알 수 있었다. 따라서 드리프트 층의 비저항을 변화시켜 항복전압을 1440V로 고정하여 1.15V의 낮은 온 상태 전압 강하 값을 얻을 수 있었다. 따라서 본 연구결과를 토대로 Planar Gate IGBT에서는 JFET 영역의 공정 및 설계 파라미터를 효율적으로 조절한다면 같은 항복전압을 기준으로 상당히 낮은 온 상태 전압 강하 값을 확보할 수 있어, 소비전력의 측면에서 충분히 활용할 수 있을 것으로 판단된다.
A power device is a component used as a switch or rectifier in power electronics to control high voltages. Consequently, power devices are used to improve the efficiency of electric-vehicle (EV) chargers, new energy generators, welders, and switched-mode power supplies (SMPS). Power device designs, which require high voltage, high efficiency, and high reliability, are typically based on MOSFET (metal-oxide-semiconductor field-effect transistor) and IGBT (insulated-gate bipolar transistor) structures. As a unipolar device, a MOSFET has the advantage of relatively fast switching and low tail current at turn-off compared to IGBT-based devices, which are built on bipolar structures. A superjunction structure adds a p-base region to allow a higher yield voltage due to lower RDS (on) and field dispersion than previous p-base components, significantly reducing the total gate charge. To verify the basic characteristics of the superjunction, we worked with a planar type MOSFET and Synopsys' process simulation T-CAD tool. A basic structure of the superjunction MOSFET was produced and its changing electrical characteristics, tested under a number of environmental variables, were analyzed.
Journal of Electrical Engineering and information Science
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제3권2호
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pp.239-244
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1998
Piezoelectric pressure sensors and pyroelectric infrared detectors based on ZnO thin film have been integrated with GaAs metal-semiconductor field effect transistor (MESFET) amplifiers. Surface micromachining techniques have been applied in a GaAs MESFET process to form both microsensors and electronic circuits. The on-chip integration of microsensors such as pressure sensors and infrared detectors with GaAs integrated circuits is attractive because of the higher operating temperature up to 200 oC for GaAs devices compared to 125 oC for silicon devices and radiation hardness for infrared imaging applications. The microsensors incorporate a 1${\mu}$m-thick sputtered ZnO capacitor supported by a 2${\mu}$m-thick aluminum membrane formed on a semi-insulating GaAs substrate. The piezoelectric pressure sensor of an area 80${\times}$80 ${\mu}$m2 designed for use as a miniature microphone exhibits 2.99${\mu}$V/${\mu}$ bar sensitivity at 400Hz. The voltage responsivity and the detectivity of a single infrared detector of an area 80${\times}$80 $\mu\textrm{m}$2 is 700 V/W and 6${\times}$108cm$.$ Hz/W at 10Hz respectively, and the time constant of the sensor with the amplifying circuit is 53 ms. Circuits using 4${\mu}$m-gate GaAs MESFETs are fabricated in planar, direct ion-implanted process. The measured transconductance of a 4${\mu}$m-gate GaAs MESFET is 25.6 mS/mm and 12.4 mS/mm at 27 oC and 200oC, respectively. A differential amplifier whose voltage gain in 33.7 dB using 4${\mu}$m gate GaAs MESFETs is fabricated for high selectivity to the physical variable being sensed.
This paper presents a cell-based motion control strategy for soccer playing mobile robots. In the central robot motion planner, the planar ground is divided into rectangular cells with variable sizes and motion indices to which direction the mobile robot should move. At every time the multiple objects-the goal gate, ball, and robots-detected, integer values of motion indices are assigned to the cells occupied by mobile robots. Once the indices being calculated, the most desirable state-action pair is chosen from the state and action sets to achieve successful soccer game strategy. The proposed strategy is computationally simple enough to be used for fast robotic soccer system.
본 논문은 2500V급 planar type의 NPT(Nun-Punch Through)형 IGBT설계 및 제작에 앞서 IGBT(Insulated Gate Bipolar Transistor)소자가 갖는 구조적 변수가 전기적 특성 (Breakdown Voltage, Turnoff Time, Saturation Voltage, 등)결과에 미치는 영향을 분석하여 IGBT 소자가 갖는 구조적 손실을 최적화 하는데 목표를 두었다. 최적화의 진행은 공정 시뮬레이터인 Tsuprem4와 디바이스 분석 시뮬레이터인 MEDICI를 이용하여 소자가 갖는 각각의 parameter값이 전기적 특성에 미치는 영향을 분석함으로 진행 되어졌으며, 향후 고속철 등과 같은 대용량 산업에 기여할 것으로 판단된다.
To relize the future intelligent robot the development of a special-purpose processor for a coordinate transformation is evidently challenging task. In this case the complexity of a hardware architecture strongly depends on the adopted algorithm. In this paper we have used an inverse kinemetics algorithm based on incremental unit computation method. This method considers the 3-axis articulated robot as the combination of two types of a 2-axis robot: polar robot and 2-axis planar articulated one. For each robot incremental units in the joint and Cartesian spaces are defined. With this approach the calculation of the inverse Jacobian matrix can be realized through a simple combinational logic gate. Futhermore, the incremental computation of the DDA integrator can be used to solve the direct kinematics. We have also designed a hardware architecture to implement the proposed algorithm. The architecture consists of serveral simple unitsl. The operative unit comprises several basic operators and simple data path with a small bit-length. The hardware architecture is realized byusing the EPLD. For the straight-line motion of the KAIST arm we have obtained maximum end effector's speed of 12.6 m/sec by adopting system clock of 8 MHz.
This paper was proposed the theoretical research and optimal design 3000V super junction NPT IGBT for using electrical automotive and power conversion. Because super junction IGBT was showed ultra low on resistance, it was structure that can improve the thermal characteristics of conventional NPT IGBT. The electrical characteristics of super junction NPT IGBT were 2.52 V of on state voltage drop, 4.33 V of threshold voltage and 2,846 V breakdown voltage. We did not obtaing 3,000 V breakdown voltage but we will obtain 3,000 V breakdown voltage through improving p pillar layer. If we are carried this research, This device will be used electrical automotive, power conversiton and high speed train.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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