Modeling of the Minimum nNise Figure and the Optimum Source Impedance of FETs using the Steady-state Nyquist Theorem for Multi-Terminal Semiconductor Devices (다단자 반도체 소자에서의 steady-state Nyquist 정리를 이용한 FET의 회소 잡음 지수 및 최적 소오스 임피던스 모델링)
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- Journal of the Korean Institute of Telematics and Electronics A
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- v.32A no.3
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- pp.110-117
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- 1995