$Pb_{1-x}Sr_x(Mg-{1}2}W_{1}2})O_3$$ ceramics for application in the microwave frequency range were investigated by dielectric constant and X-ray diffraction measurements. The dielectric constant curves showed two concentration dependent characteristics in the $$Pb(Mg-{1}2}W_{1}2})O_3$-rich$ region. As the Sr constant further increases to x=0.3 the dielectric curve levels off. In the concentration range between x=0.4 and x=1 in which dielectric constant dependence on temperature is negligible, it decreases and Qf value increases in the microwave frequency with increasing Sr. The temperature coefficient (${\tau}_{\varepsilon} $) of the dielectric constant changes from the negative to positive value between x=0.9 and x=1. The dielectric constant, Qf and $\tau\varepsilon$ are correlated with tolerance factor(t). From the X-ray diffraction results for $0.1{\le}x{\le}1$ the cell parameter is found to decrease as x increases and B-site ordering is observed in all the composition ranges.
PTFE composites for use of microwave substrate were fabricated by impregnation and heat treatment fabrication with glass fabric. This study shows dielectric properties such as dielectric constant and loss can be controlled by thickness of PTFE composite with change of pressure condition in heating press process. The dielectric constant of the PTFE composites has decreasing tendency as given higher pressure condition. The dielectric loss has similar result too. Especially, the case of the dielectric loss was affected by the condition of pressure at heating press and had the best performance under 3 MPa. In order to see the reason why thickness conditions make different, their microstructures were also observed.
A cavity perturbation technique is employed to determine the dielectric property of thin samples. Substrates in microwave integrated circuits are fabricated in sheet form and are expected to have a dielectric constant less than 10 and a dielectric loss better than 10**-3. This research aimed to determine both dielectric constant and dielectric loss with good accuracy. The tecynique makes use of thin circular disk samples placed in a right circular cylindrical cavity. The accuracy of measurements is within \ulcorner% for dielectric constnat and 3x10**-4 for dielectric loss.
Microwave dielectric properties of 0.15(B $a_{x}$S $r_{0.05}$)O-0.15(S $m_{2}$(1-y)N $d_{2y}$) $O_{3}$-0.7Ti $o_{2}$(x=o.9~0.1[mol.], y=6[m/o]) ceramics were investigated with BaO compositional ratio. Sintered density and resistivity of specimens were independent on the BaO compositional ratio. In the specimen with x=0.975[mol.], dielectric constant, quality factor and temperature coefficient of resonant frequency had good values of 76.52, 3001(at 3[GHz]) and +0.71[ppm/.ceg. C], respectively. By comparing with the stoichiometric compositions of 78.14, 2938(at 3[GHz])+14.19[ppm/.ceg. C], dielectric constant and quality factor showed similar properties, but the temperature coefficient of resonant frequency was highly improved. (author). refs., figs., tabs.s.s.
Microwave dielectric properties and far infrared reflectivity spectra of the (Zr0.8Sn0.2)TiO4 ceramics were inves-tigated with the various cooling rate. Dielectric constant was nearly same value while the unloaded Q value was largely affected by cooling rate. The Q.f of 42,140 at 7 GHz was obtained for the specimens with cooling rate of 1$^{\circ}C$/min. The effect of the cooling rate on the change of the ionic the electronic polarization and the intrinsic microwave loss of the specimens were investigated by the infrared reflectivity spectra from 50 to 4000cm-1 which were calculated by Kramers-Kroning analysis and the classical oscillator model. The relative tendency of microwave dielectric properties of the specimens calculated from the relfectivity data were in good agreement with the results by the post resonant method.
The dielectric resonators(DRs) with dielectric properties are widely used in microwave integrated circuit(MICs) and monolithic microwave integrated circuits(MMICS). The variational method as numerical simulation scheme would be applied to calculate the resonant frequencies(fr) and Q-factors of microwave dielectric resonators. The dielectric resonator with a cylindrical “puck” structure of high dielectric material is modeled in this simulation. The parameters, such as the diameter, the height, and the dielectric constant of dielectric resonator, would determine the resonant frequency and the Q-factor. The relationship between these parameters would effect each other to evaluate the approximate resonant frequency. This simulation method by the variational formula is very effective to calculate fr, and Q-factor. in high frequency microwave dielectric resonator The error rate of the simulation results and the measured results would be considered to design the microwave dielectric resonators.
The effects of an amphiphilic agent and the orientation of BN on the microwave dielectric properties of BN / polyvinyl butyral (PVB) composites were investigated as a function of the BN content in volume fractions from 0.1 to 0.5 ($V_f$). The plate-shaped BN samples were oriented in the PVB matrix by physical processes, in this case tape casting and laminate methods. With an increase in the BN content, the dielectric constant (K) increased because the K of BN was higher than that of the PVB. At the same BN content, composites with an in-plane orientation of the BN showed a higher dielectric constant than that of composites with a transverse orientation of the BN because the ceramics were oriented parallel to the electric field. All of the composites showed nearly constant K values ranging from 1 to 9.4 GHz, indicating good frequency stability over a wide frequency range. At the same frequency, the K values of the composites increased with an increase in the BN content.
High temperature dielectric constants of the various ceramic materials have been measured using cavity perturbation method. The measurements were applied to refractory, traditional and fine ceramic powder compacts from room temperature to $1200^{\circ}C$. Calibration constant in the equation suggested by Hutcheon et al., was determined from the dielectric constants of reference specimen (teflon and alumina) at room temperature. From these results, informations on the refectory materials were obtained for the microwave kiln design and understanding of the microwave heating effects of ceramics have been improved.
In this study, microwave dielectric properties of 0.182BaO-0.818TiOS12T ceramics were investigated with sintering temperature and annealing time, and the application for the microwave dielectric resonator was studied. In the specimen simtered at 1400[$^{\circ}C$], dielectric constant, unloaded Q and temperature coefficient of resonant frequency had good values of 35.36, 5692, -4.43[ppm/$^{\circ}C$], respectively. The specimen which temperature coefficient of resonant frequency($\tau$f) was vared positive to negative value was selected, thereafter microwave dielctric properties was investigated with annealing time(0~4[hr]) in the fixed annealing temperature of 1350[$^{\circ}C$]. Increasing the annealing time, dielectric constant and unloaded Q were increased and temperature coefficient of resonant frequency was decreased.
Microwave dielectric properties of $ZnWO_4$ ceramic were investigated with calcination and sintering temperatures. The dielectric properties required for such application are high dielectric constant$(\varepsilon_r)$, high $Q{\times}f_o$ value and low temperature coefficient of resonant frequency$(\tau_f)$. These requirement correspond to necessities for size reduction, excellent frequency selectivity, good temperature stability of devices. $ZnWO_4$ ceramics could be sintered at low $1075^{\circ}C$, which was comparatively low temperature for microwave dielectrics. As a result, $ZnWO_4$ showed the dielectric constant of 13, quality factor($Q{\times}f_o$ value) of 22000 and 'temperature coefficient of resonant frequency$(\tau_f)$ of $-65{\pm}5ppm/^{\circ}C$.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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