• 제목/요약/키워드: LCD Equipment

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LCD 기판 검사 광학계의 MTF 측정장치 제작 (MTF Measuring Equipment of Optical System for LCD Substrate Inspection)

  • 홍성목;김희남;조재흥;이윤우;이회윤;양호순;이인원;정진호
    • 한국광학회지
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    • 제18권1호
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    • pp.37-43
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    • 2007
  • LCD(liquid crystal display) 기판의 표면검사용 광학장치의 성능평가를 위한 변조전달함수 측정장치를 설계하고 제작하였다. 이 장치에는 3개의 막대물체 모양의 USAF(United States Air Force) 해상도 물체와 적분구로 구성한 물체발생장치와 2차원 CCD(charge coupled device)의 상분석 장치를 사용하였다. 시험렌즈의 변조전달함수는 물체와 상의 명암비를 나눈 명암전달함수를 구한 후 변조 전달함수로 보정하여 변환시켰다. 제작된 평가장치를 이용하여 배율 2.6배, F/13.65의 시험 광학계를 평가하였으며, 공간주파수 62.5 1p/mm에서 자오면에 대해서 30.6 %, 구결면에 대해서 26.1 %의 값을 얻었다.

TFT-LCD 생산공장 내 유틸리티 가동으로 인한 정밀장비 과도진동 현상 및 평가 (An analysis and assessment of transient vibration phenomenon for precision equipment due to adjacent utility operation in TFT-LCD Fab)

  • 백재호;이홍기;손성완;전종균
    • 한국소음진동공학회:학술대회논문집
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    • 한국소음진동공학회 2007년도 춘계학술대회논문집
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    • pp.993-999
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    • 2007
  • 반도체나 TFT-LCD등을 생산하는 정밀산업 공장구조물에는 진동에 민감한 수많은 정밀장비(검사 및 생산용 장비)가 청정실(Clean Room)에 설치되어 운용된다. 정밀장비는 정상운용을 위하여 주변에 각종 유틸리티 설비가 설치된다. 이러한 수많은 유틸리티 설비들과 그 밖의 많은 장비들로 인하여 공장 내 청정실에는 각종 수 많은 소음/진동원들이 산재해 있다. 이러한 소음/진동원으로 인하여 청정실 내에는 소음/진동의 환경을 저하시킨다. 이에, 본 연구에서는 정밀장비 주변에 설치 된 유틸리티의 가동으로 인하여 발생하는 진동으로 인하여 간헐적으로 정밀장비에 영향을 미치는 과도진동의 현상을 확인하고, 과도진동 현상에 대하여 정밀장비에서 제시한 진동허용규제치와 비교/평가하고, 진동허용규제치의 유효성에 대하여 확인하였다.

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TFT-LCD 생산공장 내 유틸리티 가동으로 인한 정밀장비 과도진동 현상 및 평가 (An Analysis and Assessment of Transient Vibration Phenomenon for Precision Equipment Due to Adjacent Utility Operation in TFT-LCD Fab)

  • 백재호;이홍기;손성완;전종균
    • 한국소음진동공학회논문집
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    • 제17권8호
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    • pp.726-735
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    • 2007
  • Inside the factory buildings of aprecision industry (which produces semiconductors or TFT-LCD), thousands of vibration-sensitive precision equipments operate in the clean rooms. Various utility equipments that are installed around them for proper operation cause various sources of noise and of vibration to exist inside the clean rooms and thus deteriorate the noise and the vibration environment within. In this study, we check if the existing transient vibration phenomenon is caused by the vibrations that arise from operating the utility installed near these equipments; compare and evaluate the vibration criteria of precision equipments regarding the transient vibration phenomenon; and check the efficiency of these criteria.

차세대 반도체, TFT-LCD Fab 구조설계를 위한 PC형 격자보에 대한 동적 특성 평가 및 개선방안 (A Dynamic Structure Design of PC type Sub-structure for next Semi-conduct, TFT-LCD Fab based on Dynamic Test and Simulation)

  • 손성완;김강부;전종균
    • 한국소음진동공학회:학술대회논문집
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    • 한국소음진동공학회 2004년도 춘계학술대회논문집
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    • pp.237-242
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    • 2004
  • In design stage of high precision manufacture/inspection FAB building, it is necessary to investigate the vibration allowable limits of high precision equipment and to study a structure dynamic characteristics of C/R and Sub-structure in order to provide a structure vibration environment to satisfy thess allowable limits. The aim of this study is to investigate the dynamic characteristics of PC-Type mock-up structures designed for next TFT LCD FAB through vibration measurement and analysis procedure, therefore, to provide a proper dynamic structure design for high precision manufacture/inspection work process, which satisfy thess allowable limits.

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In-line Critical Dimension Measurement System Development of LCD Pattern Proposed by Newly Developed Edge Detection Algorithm

  • Park, Sung-Hoon;Lee, Jeong-Ho;Pahk, Heui-Jae
    • Journal of the Optical Society of Korea
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    • 제17권5호
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    • pp.392-398
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    • 2013
  • As the essential techniques for the CD (Critical Dimension) measurement of the LCD pattern, there are various modules such as an optics design, auto-focus [1-4], and precise edge detection. Since the operation of image enhancement to improve the CD measurement repeatability, a ring type of the reflected lighting optics is devised. It has a simpler structure than the transmission light optics, but it delivers the same output. The edge detection is the most essential function of the CD measurements. The CD measurement is a vital inspection for LCDs [5-6] and semiconductors [7-8] to improve the production yield rate, there are numbers of techniques to measure the CD. So in this study, a new subpixel algorithm is developed through facet modeling, which complements the previous sub-pixel edge detection algorithm. Currently this CD measurement system is being used in LCD manufacturing systems for repeatability of less than 30 nm.

TFT-LCD 생산공장의 유틸리티 진동으로 인한 공장 구조물과 정밀장비로의 영향성 (A Study on the of influence to precision equipment by utility vibration of TFT-LCD fab)

  • 박해동;임정빈;류국현;백재호
    • 한국소음진동공학회:학술대회논문집
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    • 한국소음진동공학회 2006년도 춘계학술대회논문집
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    • pp.886-892
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    • 2006
  • 반도체 및 TFT-LCD등을 생산하는 공장 구조물에는 C/R이 있으며, 여기에는 외부 진동에 엄격한 특성을 갖고 있는 각종 수 많은 정밀장비가 설치되어 있다. 더구나, 이러한 정밀장비등의 정상운용을 위하여 각종 UT(유틸리티)등이 병행하여 C/R내 산재해 설치되어 있다. 이러한 UT는 정밀장비와 각종 배관들로 연결되어 설치되어 있다. 또한 C/R의 항온/항습등을 유지하기 위하여 공조등 부대 유틸리티도 또한 설치되어 있으며, 이러한 각종 유틸리티는 진동은 유발하는 진동원이 되며, 여기서 발생하는 진동은 C/R의 진동환경을 열악하게 만들 수 있다. 이에, 본 연구에서는 TFT-LCD 생산 공장에서 UT와 배관등에서 발생하는 진동이 공장 구조물(격자보)와 공진현상을 일으켜 인접하여 설치 된 정밀장비에 악영향을 끼치고 있음을 현장 진동 측정과 구조물 동적 해석을 통하여 확인하였고, 제안한 저감대책을 수행 후 진동 영향성의 감소됨을 확인하였다.

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모델기반의 전자부품 FAB설비 생산기준정보 추정 (Model-based Estimation of Production Parameters of Electronics FAB Equipment)

  • 강동훈;김민규;최병규;박범철
    • 대한산업공학회지
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    • 제33권2호
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    • pp.166-173
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    • 2007
  • In this paper, we propose a model-based approach to estimating production parameters of semiconductor FAB equipment. For FAB scheduling, for example, we need to know equipment's production parameters such as flow time, tact time, setup time, and down time. However, these data are not available, and they have to be estimated from material move data such as loading times and unloading times that are automatically collected in modern automated semiconductor FAB. The proposed estimation method may be regarded as a Bayes estimation method because we use additional information about the production parameters. Namely, it is assumed that the technical ranges of production parameters are known. The proposed estimation method has been applied to a LCD FAB, and found to be valid and useful.

승객서비스 향상을 위한 새로운 여객정보안내시스템 (New Train Information Display System for Visibility Improvement of Passenger Service)

  • 황종규;이재호;조현정
    • 대한전자공학회:학술대회논문집
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    • 대한전자공학회 2006년도 하계종합학술대회
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    • pp.949-950
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    • 2006
  • Currently, most of TIDS(Train Information Display System) is operated colored-LED type equipment in Korea. This current TIDS equipment has not graceful display and causes passengers' fatigues, high operating and maintenance costs, and et al. To address these several, we are developed new colored-LCD type TIDS equipment. According to our developed new TIDS equipment, we can achieve high resolution and graceful color stone of information display.

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제조 공정의 개선을 통한 백색 LED 칩의 성능 개선 (The Improvement for Performance of White LED chip using Improved Fabrication Process)

  • 류장렬
    • 한국산학기술학회논문지
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    • 제13권1호
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    • pp.329-332
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    • 2012
  • LED는 저 전력, 긴 수명, 고 휘도, 빠른 응답, 친환경적인 특성의 여러 장점을 갖고 있기 때문에 청색과 녹색 LED는 교통신호, 옥외 디스플레이, 백색 LED는 LCD 후면광 등의 응용 제품에 사용되고 있다. 여기서 LED의 성능을 향상하기 위하여 출력전력과 소자의 신뢰성을 높이고, 동작전압을 낮추어야 LED 칩의 고효율화가 이루어져야 하는데, 이는 에피택셜층, 표면요철, 패턴이 있는 사파이어 기판, 칩 설계의 최적화, 특수 공정의 개선 등의 기술이 우수해야 한다. 본 연구에서는 측면 에칭 기술과 절연층 삽입기술을 이용하여 사파이어 에피 웨이퍼 위에 GaN-기반 백색 LED 칩을 제작하여 그 성능을 조사하였다. LED 칩의 성능을 개선하기 위한 최적화 설계와 CBL(current blocking layer) 삽입 기술의 개선된 공정을 통하여 LED 칩 성능의 향상을 확인할 수 있었으며, 출력 전력은 광 출력 7cd, 순방향 인가전압 3.2V의 값을 얻었다. 현재의 LCD 후면광원으로 사용되고 있는 LED 칩의 출력에 비하여 성능이 개선되었으며, 의료기기 및 LCD LED TV의 후면광원으로 사용할 수 있을 것으로 기대된다.

임베디드 시스템 기반의 OLED/TFT LCD 컨트롤러 설계 (A Design of an OLED/TFT LCD controller based on Embedded System)

  • 조용성;신경욱;이용환
    • 한국정보통신학회:학술대회논문집
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    • 한국해양정보통신학회 2005년도 춘계종합학술대회
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    • pp.1030-1033
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    • 2005
  • 기존의 임베디드 시스템 장비는 간단한 메뉴화면, 배경화면 등의 디스플레이 환경을 제공하였다. 하지만, 임베디드 시스템 장비의 사용범위가 점차 확대대고, 사용자의 요구가 증가되면서 멀티미디어 콘텐츠 및 동영상의 지원 여부가 장비의 주요 성능으로 부각되고 있다. 하지만 기존 임베디드 시스템 장비에서는 소프트웨어로 디스플레이 환경을 구현하므로 멀티미디어 콘텐츠 및 동영상 지원에 대한 충분한 데이터 전송 대역을 확보하기 어려우며 메인 프로세서의 실행에 많은 부담을 주어 시스템 성능을 저하시키는 주요 원인이 되었다. 본 논문에서는 임베디드 시스템에 적합한 OLED/TFT-LCD 컨트롤러 모델을 제안하고 이를 Verilog-HDL을 이용하여 설계하여 기존의 임베디드 시스템 장비의 디스플레이 성능과 비교 평가한다.

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