Choi, Hae Young;Lee, Tae Sang;Lee, Jong;Lee, Seung Goo
Journal of Adhesion and Interface
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v.12
no.1
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pp.26-33
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2011
Phosphoric acid treatments were conducted to improve the adhesion property of polyketone film to rubber. The effects of phosphoric acid treatments were characterized by using a contact angle analyzer and a XPS (X-ray photoelectron spectroscopy). Morphological changes were observed by using a scanning electron microscope (SEM) and an atomic force microscope (AFM) as the acid treatment condition varied in concentration and time. The contact angle was found to significantly decrease with the acid treatment. According to the XPS, increased wettability was attributed to the inclusion of oxygen containing groups such as hydroxyl, carbonyl and carboxyl by acid treatments. Cracks and pores were produced on the polyketone film surface and thus, roughness increased with the acid treatment. Interfacial adhesion strength between polyketone and natural rubber was largely improved by acid treatment due to the increased wettability and roughness of the polyketone surface. However, the higher level of acid treatment caused the degradation of the polyketone surface, and thus, its interfacial adhesion consequently decreased.
We present a theoretical study of the non-symmetrical A/BC polymeric system. The polymer blends consist of two phases, a pure polymeric phase A on one side and a mixture of polymers B as a compatibilizer and C on the other. The adsorption of homopolymer B to the interface improves the interfacial adhesion between two phases. By employing the functional integral techniques, we derive the mean-field equations and solve them numerically to obtain the interfacial properties including the concentration profiles in the limit of infinite molecular weight for the polymers. Thecalculations of the interfacial properties are performed for typical values of the Flory X parameters and the volume fraction of polymer B in the asymptotic mixture phase. The interfacial adsorption of polymer B and the degrees of the specific interaction between the polymers play an important role in modification of the interfacial properties.
Kim, Jae-Won;Kim, Kwang-Seop;Lee, Hak-Joo;Kim, Hee-Yeon;Park, Young-Bae;Hyun, Seung-Min
Journal of the Microelectronics and Packaging Society
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v.18
no.4
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pp.11-18
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2011
The quantitative interfacial adhesion energy of the Cu-Cu direct bonding layers was evaluated in terms of the bonding temperature and Ar+$H_2$ plasma treatment on Cu surface by using a 4-point bending test. The interfacial adhesion energy and bonding quality depend on increased bonding temperature and post-annealing temperature. With increasing bonding temperature from $250^{\circ}C$ to $350^{\circ}C$, the interfacial adhesion energy increase from $1.38{\pm}1.06$$J/m^2$ to $10.36{\pm}1.01$$J/m^2$. The Ar+$H_2$ plasma treatment on Cu surface drastically increase the interfacial adhesion energy form $1.38{\pm}1.06$$J/m^2$ to $6.59{\pm}0.03$$J/m^2$. The plasma pre-treatment successfully reduces processing temperature of Cu to Cu direct bonding.
Journal of the Microelectronics and Packaging Society
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v.21
no.1
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pp.45-50
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2014
Effects of wet chemical treatment and thermal cycle conditions on the quantitative interfacial adhesion energy of $Cu/SiN_x$ thin film interfaces were evaluated by 4-point bending test method. The test samples were cleaned by chemical treatment after Cu chemical-mechanical polishing (CMP). The thermal cycle test between Cu and $SiN_x$ capping layer was experimented at the temperature, -45 to $175^{\circ}C$ for 250 cycles. The measured interfacial adhesion energy increased from 10.57 to $14.87J/m^2$ after surface chemical treatment. After 250 thermal cycles, the interfacial adhesion energy decreased to $5.64J/m^2$ and $7.34J/m^2$ for without chemical treatment and with chemical treatment, respectively. The delaminated interfaces were confirmed as $Cu/SiN_x$ interface by using the scanning electron microscope and energy dispersive spectroscopy. From X-ray photoelectron spectroscopy analysis results, the relative Cu oxide amounts between $SiN_x$ and Cu decreased by chemical treatment and increased after thermal cycle. The thermal stress due to the mismatch of thermal expansion coefficient during thermal cycle seemed to weaken the $Cu/SiN_x$ interface adhesion, which led to increased CuO amounts at Cu film surface.
Journal of the Korean Society for Nondestructive Testing
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v.29
no.6
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pp.534-549
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2009
As the thin film technology has emerged in various fields, adhesion of the film interface becomes an important issue in terms of the longevity and durability of thin film devices. Diverse nondestructive methods utilizing acoustic techniques have been developed to assess the interfacial integrity. As an effective technique based on the ultrasonic wave focusing and the surface acoustic wave(SAW) generation, scanning acoustic microscopy(SAM) has been investigated for adhesion evaluation. Visualization of film microstructures and quantification of adhesion weakness levels by SAW dispersion are the recent achievements of SAM. To overcome the limitations in the theoretical dispersion model only suitable for perfectly elastic and isotropic materials, a new model has been more recently developed in consideration of film anisotropy and viscoelasticity and applied to the adhesion evaluation of polymeric films fabricated on semiconductive wafers.
The adhesion effect between the oxide layer and the metal layer has been studied by RTP anneal. Two types of oxides, BPSG and P-TEOS, were used as a bottom layer under multi-layered metal film. We observe the interface between oxide and metal layer using SEM (scanning electron microscopy), TEM (transmission electron microscopy), AES (auger electron spectroscopy). Adhesion failure was occurred by interfacial reaction between the BPSG oxide and the multi-layered metal film at 650"C RTP anneal. The phosphorus rich layer was observed at interface between BPSG oxide and metal layer by AES and TEM measurements. On the other hand adhesion was a)ways good in the sample used P-TEOS oxide as a bottom layer. We have known that adhesion between BPSG and multi-layered metal film was improved when the sample was annealed below $650^{\circ}C$.TEX>.
We introduce an understanding of silver (Ag) inkjet overlap-printing characteristics from the viewpoints of cohesion between ink droplets and adhesion between an ink droplet and a surface. The printing characteristics were closely monitored by changing the surface energy to elucidate the effect of adhesion and cohesion on printing instability, such as droplet merging and line bulging. The surface energy of the substrate was changed through the hydrophilization of a hydrophobic fluorocarbon-coated surface. The surface energy and ink wettability of the prepared surfaces were characterized using sessile drop contact angle analysis, and printing instability was observed using an optical microscope after drop-on-demand inkjet printing with a 50% overlap in diameter of deposited singlet patterns. We found that the surface energy is not an appropriate indicator based on the experimental results of Ag ink printing on a hydrofluoric-treated silicon surface. The analytical approach using adhesion and cohesion was helpful in understanding the instability of the inkjet overlap-printing, as adhesion and cohesion represent the direct interfacial relationship between the Ag inks used and the substrate.
Silicon carbide films were deposited by low pressure chemical vapor deposition(LPCVD) using MTS(CH3SICl3) in hydrogen atmosphere on (100) Si substrate. To prevent the unstable interface from being formed on the substrate, the experiments were performed through three deposition processes which were the deposition on 1) as received Si, 2) low temperature grown SiC, and 3) carbonized Si by C2H2. The microstructure of the interface between Si substrates and SiC films was observed by SEM and the adhesion between Si substrates and SiC films was measured through scratch test. The SiC films deposited on the low temperature grown SiC thin films, showed the stable interfacial structures. The interface of the SiC films deposited on carbonized Si, however, was more stable and showed better adhesion than the others. In the case of the low temperature growth process, the optimum condition was 120$0^{\circ}C$ on carbonized Si by 3% C2H2, at 105$0^{\circ}C$, 5 torr, 10 min, showed the most stable interface. As a result of XRD analysis, it was observed that the preferred orientation of (200) plane was increased with Si carbonization. On the basis of the experimental results, the models of defect formation in the process of each deposition were compared.
In order to investigate the interfacial structure between TiN and iron nitride, an AISI 4140 steel was nitrided to form a layer of thickness 15$\mum$ by DC ion nitriding, then the surface was bombarded with Ti ions and subsequently coated a TiN film of 5$\mum$ by arc ion plating method. The interfacial microstructure between TiN and iron nitride was characterized by optical microscope, SEM and XRD. So called black layer was observed in the duplex treatment. It was resulted from the decomposition of iron nitride during the bombardment. Its thickness was increased with increasing bombardment time at high bias voltage. But the thickness was greatly decreased when the iron nitride was bombarded with a nitrogen gas or at a reduced bias voltage. The adhesion strength of the top TiN coating was decreased with increasing thickness of the black layer. Furthermore, the reduced adhesion strength in this system was discussed in view of the interfacial structural relationship between TiN and iron nitride.
Proceedings of the Korean Society For Composite Materials Conference
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2002.05a
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pp.143-146
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2002
Unsized AS-4 carbon fibers were etched by RF plasma and then coated via plasma polymerization in order to enhance adhesion to vinyl ester resin. The gases utilized for the plasma etching were Ar, $N_2 and O_2$, while the monomers used for the plasma polymerization coating were acetylene, butadiene and acrylonitrile. The conditions for the plasma etching and the plasma polymerization were optimized by measuring interfacial adhesion with vinyl ester resin via micro-droplet tests. Among the treatment conditions, the combination of Ar plasma etching and acetylene plasma polymerization provided greatly improved interfacial shear strength (IFSS) of 69MPa compared to 43MPa with as-received carbon fiber. Based on the SEM analysis of failure surface and load-displacement curve, it was assume that the failure might be occurred at the carbon fiber and plasma polymer coating. The plasma etched and plasma polymer coated carbon fibers were subjected to analysis with SEM, XPS, FT-IR or Alpha-Step, and dynamic contact angles and tensile strengths were also evaluated. Plasma polymer coatings did not change tensile strength and surface roughness of fibers, but decreased water contact angle except butadiene plasma polymer coating, possibly owing to the functional groups introduced, as evidenced by FT-IR and XPS.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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