Comparison of Stability on the Nano-crystalline Embedded InGaZnO and Amorphous InGaZnO Oxide Thin-film Transistors (나노결정 InGaZnO 산화물 박막트랜지스터와 비결정 InGaZnO 산화물 박막트랜지스터의 소자 신뢰성에 관한 비교 연구)
-
- Journal of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers
- /
- v.24 no.6
- /
- pp.473-479
- /
- 2011