Sub-micrometer size gold particles were electrodeposited on a transparent fluorine-doped tin oxide (FTO) from acetonitrile solution containing $AuCl_4{^-}$ and tetramethylammonium tetraflouroborate (TMATFB) for detecting $NO_2{^-}$. A series of two-electron ($2e^-$) and one-electron ($1e^-$) reductions of the $AuCl_4{^-}-AuCl_2{^-}-Au$ redox systems were observed at FTO and a highly stable and homogeneous distribution of Au on FTO (Au/FTO) was obtained by stepping the potential from 0 to -0.55 V (vs. Ag/$Ag^+$). The Au/FTO electrode exhibited sufficiently high catalytic activity toward the oxidation of $NO_2{^-}$ with a detection limit (S/N = 3) and sensitivity of 2.95 ${\mu}M$ and 223.4 ${\mu}A{\cdot}cm^{-2}{\cdot}mM^{-1}$, respectively, under optimal conditions. It exhibited an interference-free signal for $NO_2{^-}$ detection with excellent recoveries from real samples.
Aluminum-doped zinc oxide (AZO) thin films were prepared by dc magnetron sputtering at room temperature and the effect of heat treatment on the structural, electrical and optical properties of the films were examined. As the annealing temperature and time increased, the resistivity decreased and the transmittance improved. All AZO films had c-axis oriented (002) plane of ZnO, regardless of the annealing process employed. As the annealing temperature and time increased, the crystallinity of AZO thin films increased due to the formation of a new ZnO phase in which Al was substituted for Zn. However, at the high annealing temperature of $400^{\circ}C$, the resistivity of the films increased via separation of Zn and Al from ZnO phase due to their low melting points. X-ray diffraction, field emission scanning electron micrograph and Hall effect measurement confirmed the formation of uniformly distributed new grains of ZnO substituted with Al. The variation of Al contents in AZO films was shown to be the primary factor for the changes in resistivity and carrier concentration of the films.
Kim, Jun-Dong;Yun, Ju-Hyeong;Ji, Sang-Won;Park, Yun-Chang;Anderson, Wayne A.;Han, Seok-Gyu;Kim, Yeong-Guk;Kim, Jae-Hyeon;Anderson, Wayne A.;Lee, Jeong-Ho;Lee, Jun-Sin
Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference
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2011.02a
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pp.90-90
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2011
Transparent conducting oxide (TCO) films have been intensively utilized in the electric applications, such as, displays, lightings and solar cells due to the good electric conductivity with an excellent transmittance of the visible light. We, herein present an excellent Al-doped ZnO film (AZO), which has been fabricated by co-sputtering method. An as-deposited AZO film had an optical transmittance of 84.78% at 550 nm and a resistivity of $7.8{\times}10^{-3}{\Omega}cm$. A rapid annealing process significantly improved the optical transmittance and electrical resistivity of the AZO film to 99.67% and $1{\times}10^{-3}{\Omega}cm$, respectively. The fabricated AZO film was fabricated for a metal-semiconductor-metal (MSM) structure. The AZO film-embedding MSM device was highly responsive to a UV light.
Kim, Hyo-Jin;Kim, Hyoun-Soo;Kim, Do-Jin;Ihm, Young-Eon;Choo, Woong-Kil;Hwang, Chan-Yong
Journal of Magnetics
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v.13
no.3
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pp.88-91
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2008
This study examined the effect of Sn co-doping on the transport and magnetic properties of Cr-doped $In_2O_3$ thin films grown on (100) silicon substrates by pulsed laser deposition. The experimental results showed that Sn co-doping enhances the magnetization and appearance of the anomalous Hall effect, and increases the carrier (electron) concentration. These results suggest that the conduction carrier plays an important role in enhancing the ferromagnetism of a laser-deposited Cr-doped $In_2O_3$ film, which may have applications in transparent oxide semiconductor spin electronics devices.
Park, Ji-Hyeon;Lee, Min-Jeong;Lee, Tae-Il;Myeong, Jae-Min
Proceedings of the Materials Research Society of Korea Conference
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2012.05a
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pp.111.2-111.2
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2012
정보 기술 시대에 맞춰 광전소자의 연구가 활발해지면서 투명전극으로 사용될 수 있는 Transparent Conductive Oxide (TCO) 재료에 대한 관심이 높아지고 있다. 하지만 TCO의 대표적인 물질인 Indium Tin Oxide (ITO)의 경우 In의 가격 상승으로 인해 최근에는 낮은 전도도와 높은 투과도를 가질 수 있는 대체 물질에 대한 연구가 활발히 진행되고 있다. 그 중에서 3.2 eV 의 높은 밴드갭을 갖는 ZnO 는 가시광선 영역에서 높은 투과율을 나타낼 뿐만 아니라 Al, Ga을 도핑함으로써 낮은 전도도를 가질 수 있다. 이러한 TCO 재료는 surface texturing을 통하여 optical region 에서 반사를 억제 시킴으로서 빛을 모으는 역할을 하여 태양전지의 효율을 향상 시킬 수 있기 때문에 PV (Photovoltaics) Cell의 anti-reflective coating에 적용 할 수 있다. 본 연구에서는 pulsed DC magnetron sputtering을 이용하여 Ga-doped ZnO (GZO) 박막을 증착하였고, HCl 0.5 wt %로 wet etching을 통하여 surface texturing을 진행하였다. 결정성은 X-ray diffractometer (XRD)로 분석하였으며, 표면 형상은 Scanning Electron Microscope (SEM)을 통해 확인하였다. Van der Pauw 방법을 통해 resistivity, carrier concentration, hall mobility 등의 전기적 특성을 분석하였고 UV-Vis spectrophotometer 를 통해 투과도 및 반사도를 측정하였다.
Journal of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers
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v.21
no.9
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pp.863-867
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2008
In this paper, to increase the light current efficiency of photodiode, we fabricated aluminum-doped zinc oxide(AZO) thin films by RF magnetron sputtering. AZO thin films were deposited at low temperature of 100 $^{\circ}C$ and different RF powers of 50, 100, 150 and 200 W due to selective process technology. Then the AZO thin films were annealed at 400 $^{\circ}C$ for 1 hr in vacuum ambient to increase crystalline. The lowest resistivity of 1.35 ${\times}$$10^{-3}$${\Omega}cm$ and a high transmittance over 90 % were obtained under the conditions of 3 mTorr, 100 'c and 150 W. The optimized AZO thin films were deposited as anti-reflection coating on PN junction of silicon photodiode. It was confirmed by the result of $V_r-I_{ph}$ curve that the efficiency of photodiode with AZO thin film was enhanced 17 % more than commercial photodiode.
Seo, Jae-Keun;Ko, Ki-Han;Cho, Hyung-Jun;Choi, Won-Seok;Park, Mun-Gi;Seo, Kyung-Han;Park, Young;Lim, Dong-Gun
Transactions on Electrical and Electronic Materials
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v.11
no.1
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pp.29-32
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2010
In this study, transparent and conductive Al-doped zinc oxide (AZO) films were prepared on a glass substrate by an radio frequency (RF) magnetron sputtering method using a 150-nm-thick AZO target (Al: 2 wt.%) at room temperature. We investigated the effects of RF power between 100-350 W (in steps of 50 W) on the structural, electrical, and optical properties of the AZO films. The thickness and cross-sectional images of the films were observed by field emission scanning electron microscopy. The thicknesses of all films were kept constant at 150 nm and grown on a glass substrate. The grain sizes of the AZO films were determined with the X-ray diffraction by using the Scherrer' equation, and their electrical properties were investigated using a Hall effect electronic transport measurement system. The transmittance of the AZO films was also measured by an ultraviolet-visible spectrometer.
Oxygen-evolution reaction (OER) in alkaline media has been considered as a key process for various energy applications. Many types of catalysts have been developed to reduce high overpotential in OER, such as metal alloys, metal oxides, perovskite, or spinel. Nickel oxide (NiO) has high potential to increase OER activity according to volcano plots. The exact mechanisms for OER has not been discovered, but defects such as cation or anion vacancy typically act as an active site for diverse electrochemical reactions. In this study, nitrogen was doped into NiO by using ethylenediamine for formation of Ni vacancy, and the effects of N doping on OER activity and stability was studied.
Top emission organic EL devices were fabricated by using metal-doped cathode interface layer to achieve low drive voltages. Also, facing-targets-type sputtering was used to sputter indium-tin oxide layer on top of organic active layer. The devices fabricated in this study showed reasonably high external quantum efficiency of about 1 % which is comparable to that of bottom-emission-type devices.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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