Symmetric high voltage MOSFET의 extended source/drain 길이에 따른 전기적 특성의 고온영역 신뢰성 분석 (A study on the reliability test of Symmetric high voltage MOSFET under the extended source/drain length)
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- 대한전자공학회:학술대회논문집
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- 대한전자공학회 2003년도 통신소사이어티 추계학술대회논문집
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- pp.309-312
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- 2003