Proceedings of the Korean Nuclear Society Conference
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1996.05a
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pp.515-520
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1996
Since the conventional Westinghouse DNB (Departure from Nucleate Boiling) protection logic is implemented on analog circuits, the logic must be very simple. However, if the DNB protection logic is implemented in a digital processor, a little bit of complexity can be allowed to increase the thermal (or operation) margin. The Westinghouse OTΔT DNB protection logic heavily restricts the operation region by applying the same logic for a full range of pressure in order to maintain its simplicity. In this work, the different DNB protection logic is used for several regions of pressure. The proposed method is applied to Yonggwang 1&2 nuclear power plants and it is calculated that the improved OTΔT can have 5.07% percent more thermal margin than the conventional OTΔT trip logic.
In order to implement the integrated capacitive pressure sensors, which contains integrated interface circuits to detect the electrical output signal, several main factors that have a bad effect on the characteristics of sensors must be improved, such as parasitic capacitance effects, temperature/thermal drift, and the leakage current of a readout circuitry. This paper describes the novel design of the dedicated CMOS readout circuitry that is consists of two capacitance to frequency converters and 4 bit digital logic compensating circuits. Dividing the oscillation frequency of a sensing sensor by that of reference sensor, this circuit is designed to eliminate the thermal/temperature drift and the effect of the leakage currents, and to access a digital signals to obtain a high signal-to-noise(S/N)ratio. Therefore, the resolution of this circuit can be increased by increasing the number of the digital bits. Digital compensated circuits of this circuits, except for the C-F converters, are fabricated on a FPGA chip, and fundamental performance of the circuits are evaluated.
JSTS:Journal of Semiconductor Technology and Science
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v.12
no.1
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pp.1-9
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2012
A 10-b 500 MS/s A/D converter (ADC) with a hybrid calibration and error correction logic is described. The ADC employs a single-channel cascaded folding-interpolating architecture whose folding rate (FR) is 25 and interpolation rate (IR) is 8. To overcome the disadvantage of an offset error, we propose a hybrid self-calibration circuit at the open-loop amplifier. Further, a novel prevision digital error correction logic (DCL) for the folding ADC is also proposed. The ADC prototype using a 130 nm 1P6M CMOS has a DNL of ${\pm}0.8$ LSB and an INL of ${\pm}1.0$ LSB. The measured SNDR is 52.34-dB and SFDR is 62.04-dBc when the input frequency is 78.15 MHz at 500 MS/s conversion rate. The SNDR of the ADC is 7-dB higher than the same circuit without the proposed calibration. The effective chip area is $1.55mm^2$, and the power dissipates 300 mW including peripheral circuits, at a 1.2/1.5 V power supply.
In this paper, the simplification procedure of Karnaugh Map, which is essential to design digital logic circuits, was implemented as web-based educational Java applets. The learners will be able to experience interesting learning process by executing the proposed Java applets. In addition, since the proposed Java applets were designed to contain educational technologies by step-by-step procedure, the maximization of learning efficiency can be obtained. The learners can make virtual experiments on the simplification of digital logic circuits by clicking on some buttons or filling out some text fields. Furthermore, the Boolean expression and its schematic diagram occurred in the simplification process will be displayed on the separate frame so that the learners can learn effectively. The schematic diagram enables them to check out if the logic circuit is correctly connected or not. Finally, since the simplification algorithm used in the proposed Java applet is based on the modified Quine-McCluskey minimization technique, the proposed Java applets will show more encouraging result in view of learning efficiency if it is used as assistants of the on-campus offline class.
Proceedings of the Korean Institute of Intelligent Systems Conference
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2003.09a
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pp.58-61
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2003
This paper proposes e-Learning environments far digital circuit experiment. The e-Learning environments are implemented as a WBT system that includes the circuits monitoring system and the students management system. In the WBT client-server system, the instructor represents the server and students represent clients. The client computers are equipped with a digital circuit training board and connected to the server on the World Wide Web. The training board consists of a Programmable Logic Device (PLD) and measuring instruments. The instructor can reconfigure the PLD with various circuit designs from the server so that students can investigate signals from the training board. The instructor can monitor the progress of the students using Joint Test Action Grouo(JTAG) technology. We implement the WBT system and a courseware fo digital circuits and evaluation the environments.
Journal of the Korean Institute of Telematics and Electronics A
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v.33A
no.2
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pp.173-183
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1996
In this paper, a new structure that can do fault detection and location of digial logic circuits more efficiently using current testing techniques is proposed. In the conventional method, observation point for steady state power supply current was only one, but in the proposed method more fault classes are divided for fault detection and location through the ovservation of steady state power supply current at two points. Also, it is shown that this structure can be easily applied in detection of stuck-open fault which is not easy to do testing with conventional current testing techniques. In the presented mehtod, an extra trasnistor is used, and current path is made compulsorily in the CMOS circuits in which no current path can be established in steady state, then it can be known that stuck-open tault is in the MOS transistor on the considering current path, if this path disappears due to stuck-open fault. The validity and the effectiveness is shwon, thorugh the SPICE simulation of circuits with fault and the current path search experiment using current path search program based on transistor short model wirtten in C language on SUN sparc workstation.
This paper describes a 64 channel signal generator/analyzer module that is useful for verification and testing of digital circuits. It can perform logic analyzer function and signal generator function at the same time. The 64 Channel module is implemented with single FPGA chip for miniaturization, and an USB interface is used to increase portability of the module. Multiple modules can be used in parallel for the verification of large scale circuits. Moreover, since the module is implemented as a PC based system, one can configure convenient GUI(Graphic User Interface) environment.
It is possible to perform the digital fuzzy logical high-speed and high-precision computation by the use of redundantly-represented binary positive-digit number arithmetic operation. In this paper, as basic operation circuits in the fuzzy logic new voltage-mode 4-valued binary parallel processing operation circuits using positive redundantly-expressed binary-coded numbers is discussed.
In this paper, we have space vector PWM(Pulse Width Modulation) circuits on the FPGA(Field Programmable Gate Arry) chip designed by VHDL(Very high speed integrated circuit Hardware Description Language). This circuit parts was required at controlling the AC servo motor system and should have been designed with many discrete digital logics. In the result of this study, peripheral circuits are to be simple and the designed logic terms are robust and precise. Because of it's easy verification and implementation, we could deduced that the customize FPGA chip show better performance than that of circuit modules parts constituted of discrete IC.
Kwon, Yu-Mi;Kang, Hee-Sung;Lee, Jung-Hee;Lee, Yong Soo
Journal of Sensor Science and Technology
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v.23
no.2
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pp.73-81
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2014
Silicon PIN diode radiation sensors and CMOS readout circuits were designed and fabricated in this study. The PIN diodes were fabricated using a 380-${\mu}m$-thick 4-inch n+ Si (111) wafer containing a $2-k{\Omega}{\cdot}cm$ n- thin epitaxial layer. CMOS readout circuits employed the driving and signal processes in a radiation sensor were mixed with digital logic and analog input circuits. The primary functions of readout circuits are amplification of sensor signals and the generation of the alarm signals when radiation events occur. The radiation sensors and CMOS readout circuits were fabricated in the Institute of Semiconductor Fusion Technology (ISFT) semiconductor fabrication facilities located in Kyungpook National University. The performance of the readout circuit combined with the Si PIN diode sensor was demonstrated.
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