• 제목/요약/키워드: Chuck Mechanism

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나노급 정밀 구동을 위한 스핀들 모터-척 시스템 설계 (Design of Spindle Motor-chuck System for Ultra High Resolution)

  • 김경호;김하용;신부현
    • 한국소음진동공학회논문집
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    • 제19권6호
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    • pp.614-619
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    • 2009
  • The STW(servo track writing) system which is the process of writing servo signals on disks before assembling in drives uses the spindle motor-chuck mechanism to realize low cost because the spindle motor-chuck mechanism has merit which can simultaneously write multi-disk by piling up disks in hub. Therefore, when the spindle motor-chuck mechanism of horizontal type operates in high rotation speed it is necessary to reduce the effect of RRO(repeatable run-out) and NRRO(non-repeatable run-out) to achieve the high precision accuracy of nano-meter level during the STW process. In this paper, we analyzed that the slip in assembly surfaces can be caused by the mechanical tolerance and clamping force in hub-chuck mechanism and can affect NRRO performance. We designed springs for centering and clamping considering centrifugal force by the rotation speed and assembly condition. The experimental result showed NRRO performance improves about 30 % than case of weak clamping force. The result shows that the optimal design of the spindle motor-chuck mechanism can effectively reduce the effect of NRRO and RRO in STW process.

반도체 기판 교차 파지 방법 (Chucking Method of Substrate Using Alternating Chuck Mechanism)

  • 안영기;최중봉;구교욱;조중근;김태성
    • 반도체디스플레이기술학회지
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    • 제8권1호
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    • pp.1-5
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    • 2009
  • Typically, single-wafer wet etching is done by dispensing chemical onto the front and back side of spin wafer. The wafer is fixed by a number of chuck pins, which obstruct the chemical flow and would result in the incomplete removal of the remaining film, which can become a source of contamination in the next process. In this paper, we introduce a novel design of wafer chuck, in which chuck pins are groupped into two and each group of pins fixes the substrate alternatively. Two groups of chuck pins fix the high-speed spin substrate with non contact method using a magnetic material. The actual process has been executed to observe the effectiveness of this new wafer chuck. It was found that the new wafer chuck performed better than the conventional wafer chuck for removing the remaining film from the bevel and edge side of substrate.

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진공척 흡착패드 형태에 따른 대면적 임프린팅 균일 접촉 향상 연구 (Study on the Enhancement of the Uniform Contact Technology for Large Scale Imprinting with the Design of Vacuum Gripping Pad)

  • 장시열
    • Tribology and Lubricants
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    • 제24권6호
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    • pp.326-331
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    • 2008
  • The contact surfaces between mold and target should be in parallel for a proper imprinting process. However, large size of contacting area makes it difficult for both mating surfaces (mold and target planes) to be in all uniform contact with the expected precision level in terms of thickness and position. This is caused by the waviness of mold and target although it is very small relative to the area scale. The gripping force for both mold and target by the vacuum chuck is other major effect to interrupt the uniform contact, which must be avoided in imprinting mechanism. In this study, the cause of non-conformal contact mechanism between mold and target is investigated with the consideration of deformation due to the vacuum gripping for the size $470{\times}370\;mm^2$ LCD panel.

LCD 팬널의 임프린트 공정을 위한 접촉 평평도 증진 연구

  • 강윤석;장시열;임홍재;신동훈;정재일
    • 한국반도체및디스플레이장비학회:학술대회논문집
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    • 한국반도체및디스플레이장비학회 2006년도 춘계학술대회
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    • pp.269-272
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    • 2006
  • Surface contacts between mold and target should be in parallel for the imprinting mechanism. However, the size of contacting area makes it difficult for both mating surfaces to be in all contact because of precision level of the imprinting machine and the waviness of mold and target. The gripping force for both mold and target with the vacuum chuck is also major effect to interrupt the full contact, which must be avoided in imprinting mechanism. In this study, the preliminary study for the causes of non-uniformity of contacting surfaces such as mold and target is performed with $470{\times}370mm^2$ LCD panel size.

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초정밀 플립칩 접합기용 고성능 가열기의 열적 설계 및 시험 (Thermal Design and Experimental Test of a High-Performance Hot Chuck for a Ultra Precision Flip-Chip Bonder)

  • 이상현;박상희;류도현;한창수;곽호상
    • 대한기계학회논문집B
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    • 제30권10호
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    • pp.957-965
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    • 2006
  • A high-performance hot chuck is designed as a heating device for an ultra-precision flip-chip bonder with infrared alignment system. Analysis of design requirements for thermal performance leads to a radiative heating mechanism employing two halogen lamps as heating source. The heating tool is made of silicon carbide characterized by high thermal diffusivity and small thermal expansion coefficient. Experimental tests are performed to assess heat-up performance and temperature uniformity of the heating tool. It is revealed that the initial design of hot chuck results in a good heat-up speed but there exist a couple of troubles associated with control and integrity of the device. As a means to resolve the raised issues, a revised version of heating tool is proposed, which consists of a working plate made of silicon carbide and a supporting structure made of stainless steel. The advantages of this two-body heating tool are discussed and the improved features are verified experimentally.

공정변수에 따른 microwave plasma CVD 다이아몬드/Ti 박막 증착 양상 조사 (Parametric study of diamond/Ti thin film deposition in microwave plasma CVD)

  • 조현;김진곤
    • 한국결정성장학회지
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    • 제15권1호
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    • pp.10-15
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    • 2005
  • Microwave plasma CVD 다이아몬드/Ti 박막 성장 시 CH₄/H₂ 가스의 유량비율, chuck bias, microwave power 등이 다이아몬드 박막의 구조적 특성과 입자밀도에 미치는 영향에 대하여 조사하였다. 2∼3 CH₄ Vol.% 조건일 때 sp³-결합성의 탄소 neutral 들이 우선적으로 형성되고 sp²-결합성의 탄소 neutral 들이 선택적으로 제거됨에 따라 양질의 다이아몬드 박막을 얻을 수 있었으며, 다이아몬드 입자 증착 기구를 해석하였다. Ti 기판에 걸어준 negative chuck bias가 증가함에 따라 다이아몬드 핵생성이 증진되어 다이아몬드 입자 밀도가 증가하였고, 임계 전압은 약 -50V 임을 확인하였다. 또한, microwave power가 증가함에 따라 미세결정질(micro-crystalline) graphite 층 생성이 제어되고 다이아몬드 층이 형성됨을 확인하였다.

인라인 캐핑머신용 오실레이팅 암 기구부의 개발

  • 오상엽;배용환
    • 한국정밀공학회:학술대회논문집
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    • 한국정밀공학회 2004년도 춘계학술대회 논문요약집
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    • pp.219-219
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    • 2004
  • 지금까지 식품, 약품 및 음료 산업 등에서 내용물을 충전 후 밀봉하기 위한 방법이 다양하게 개발되어 사용되고 있으며, 특히 뚜껑을 체결하는 인라인 캐핑머신(In-line capping machine)은 포장 공정에 필수적인 장치이다. 이와 같은 장치의 설계 시 고려되어야 할 사항으로서 작업 공정이 연속적인데 있다. 또한, 어느 한 제품을 용기에 채운 후 완전한 상품으로 조립하기까지, 캐핑머신의 신뢰성은 공정의 연속성과 생산성을 좌우하기 때문에 매우 중요한 요소이다.(중략)

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함수 단위 동적 커널 업데이트를 위한 보안 정책 및 기법의 설계 (Policy and Mechanism for Safe Function-level Dynamic Kernel Update)

  • 박현찬;유혁
    • 한국정보과학회논문지:컴퓨팅의 실제 및 레터
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    • 제14권8호
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    • pp.808-812
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    • 2008
  • 최근 시스템의 복잡도가 증가함에 따라 보안 취약점 문제가 더욱 많이 발생하고 있다. 이를 해결하기 위해 보안 패치가 배포되고 있지만, 시스템 서비스의 중단이 필요하고 패치 자체의 안정성이 검증되지 못해 패치의 적용이 늦어지는 문제가 발생한다. 우리는 이러한 문제를 해결하기 위해 업데이트성이 없는 커널을 위한 함수 단위 동적 업데이트 시스템인 DUNK를 설계하였다. DUNK는 서비스 중단 없는 업데이트를 가능케 하고, 보안 기법인 MAFIA를 통해 안전한 업데이트를 수행한다 MAFIA는 바이너리 패치 코드의 접근 행위를 분석함으로써 패치된 함수가 기존 함수의 접근 권한을 상속받도록 하고, 이를 검증하는 기술을 제공한다. 본 논문에서는 DUNK의 설계와 MAFIA의 알고리즘 및 수행에 대해 기술한다.

함수 단위 동적 커널 업데이트를 위한 보안 정책 및 기법의 설계 (Design of safety policy and mechanism for dynamic kernel update with function-granularity)

  • 박현찬;유혁
    • 한국정보과학회:학술대회논문집
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    • 한국정보과학회 2008년도 한국컴퓨터종합학술대회논문집 Vol.35 No.1 (A)
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    • pp.343-344
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    • 2008
  • 최근 시스템의 복잡도가 증자함에 따라 보안 취약점 문제가 더욱 많이 발생하고 있다. 이를 해결하기 위해 보안 패치가 배포되고 있지만, 시스템 서비스의 중단이 필요하고 패치 자체의 안정성이 검증되지 못해 패치의 적용이 늦어지는 문제가 발생한다. 우리는 이러한 문제를 해결하기 위해 업데이트성이 없는 커널을 위한 함수 단위 동적 업데이트 시스템인 DUNK를 설계 하였다. DUNK는 서비스 중단 없는 업데이트를 가능케 하고, 보안 기법인 MAFIA를 이용해 안전한 업데이트를 수행한다. MAFIA는 바이너리 패치 코드의 접근 행위를 분석함으로써 패치된 함수가 기존 함수의 접근 권한을 상속받도록 하고, 이를 검증하는 기술을 제공한다. 본 논문에서는 DUNK의 설계와 MAFIA의 알고리즘 및 수행에 대해 기술한다.

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