Kim, Do-Youne;Kim, Hyoung-Jae;Jeong, Hae-Do;Lee, Eun-Sang
Journal of the Korean Society for Precision Engineering
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v.19
no.5
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pp.149-158
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2002
Recently, the minimum line width shows a tendency to decrease and the multi-level increases in semiconductor. Therefore, a planarization technique is needed and chemical mechanical polishing(CMP) is considered as one of the most suitable process. CMP accomplishes a high polishing performance and a global planarization of high quality. However there are several defects in CMF, such as micro-scratches, abrasive contaminations and non-uniformity of polished wafer edges. Wet etching process including spin-etching can eliminate the defects of CMP. It uses abrasive-free chemical solution instead of slurry. On this study, ILD(Interlayer-Dielectric) was removed by CMP and wet etching process using DHF(Diluted HF) in order to investigate the possibility of planrization by wet etching mechanism. In the thin film wafer, the results were evaluated from the viewpoint of material removal rate(MRR) and within wafer non-uniformity(WIWNU). And the pattern step heights were also compared for the purpose of planarity characterization of the patterned wafer. Moreover, Chemical polishing process which is the wet etching process with mechanical energy was introduced and evaluated for examining the characteristics of planarization.
Recently, the demand for the miniaturization of package substrates has been increasing. Technical innovation has occurred to move package substrate manufacturing steps into CMP applications. Electroplated copper filled trenches on the substrate need to be planarized for multi-level wires of less than $10{\mu}m$. This paper introduces a chemical mechanical planarization (CMP) process as a new package substrate manufacturing step. The purpose of this study is to investigate the effect of surfactant on the dishing and erosion of Cu patterns with the lines and spaces of around $10/10{\mu}m$ used for advanced package substrates. The use of a conventional Cu slurry without surfactant led to problems, including severe erosion of $0.58{\mu}m$ in Cu patterns smaller than $4/6{\mu}m$ and deep dishing of $4.2{\mu}m$ in Cu patterns larger than $14/16{\mu}m$. However, experimental results showed that the friction force during Cu CMP changed to lower value, and that dishing and erosion became smaller simultaneously as the surfactant concentration became higher. Finally, it was possible to realize more globally planarized Cu patterns with erosion ranges of $0.22{\mu}m$ to $0.35{\mu}m$ and dishing ranges of $0.37{\mu}m$ to $0.69{\mu}m$ by using 3 wt% concentration of surfactant.
Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference
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2008.06a
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pp.114-114
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2008
반도체 device의 성능을 향상시키기 위하여 패턴은 더욱 더 고 집적화 되고 배선 또한 다층배선 구조를 가지게 되었으며 요구되는 선폭 또한 더욱 미세화 되어 CMP 공정이 도입되게 되었다. 이러한 CMP 공정에 사용되는 소모품으로는 크게 세 가지의 중요한 부분으로 나눌 수 있다. 그것은 slurry와 pad, conditioner이다. 그중에 pad conditioning 공정은 CMP 공정시 pad의 마모에 따라 감소하는 removal rate(RR)값을 회복시키기 위한 공정으로 마모된 pad의 표면을 활성화 시켜주는 중요한 공정이다. 하지만 pad conditioning 공정을 장시간 진행하게 되면 conditioner 표면에 오염물이 발생하게 되며, 오염물로 인하여 wafer표면에 scratch 및 defect을 발생시키는 원인이 될 수 있다. 이러한 문제점을 보완하기 위하여 conditioner의 표면을 변화시켜 공정중의 오염이 발생하지 않도록 하는 것이 중요하다. 본 논문에서는 oxide CMP 실험을 통하여 conditioner표면에 오염물이 발생함을 확인하였으며 energy dispersive spectroscopy(EDS) 분석을 통하여 주오염물의 성분이 oxide slurry중 silica임을 확인하였다. Conditioner의 표면을 소수성으로 만들기 위하여 self assembled monolayer(SAM) 방법을 이용하여 표면에 코팅을 하였으며, 소수성 박막이 코팅된 conditioner와 코팅되지 않은 conditioner의 비교 실험을 통하여 오염 정도를 비교하였다.
Chemical Mechanical Polishing of chemically stable sapphire substrates is dominantly affected by the mechanical processing of abrasives, in terms of the material removal rate. In this study, we investigated the effect of electrostatic force between the abrasives and substrate, on the polishing. If potassium chloride (KCl) is added to slurry, water molecules are decomposed into $H^+$ and $OH^-$ ions, and the amount of ions in the slurry changes. The zeta potential of the abrasives decreases with an increase in the amount of $H^+$ ions in the stern layer; consequently, the electrostatic force between the abrasives and substrate decreases. The change in zeta potential of abrasives in the slurry is affected by the slurry pH. In acidic zones, the amount of ions bound to the abrasives increases if the amount of $H^+$ ions is increased by adding KCl. However, in basic zones, there is no change in the corresponding amount. In acidic zones, zeta potential decreases as molar concentration of potassium increases; however, it does not change significantly in basic zones. The removal rate tends to decrease with increase in molar amount of potassium in acidic zones, where zeta potential changes significantly. However, in basic zones, the removal rate does not change with zeta potential. The tendencies of zeta potential and that of the frictional force generated during polishing show strong correlation. Through experiments, it is confirmed that the contact probability of abrasives changes according to the electrostatic force generated between the abrasives and substrate, and variation in removal rate.
Transactions on Electrical and Electronic Materials
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v.8
no.2
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pp.53-57
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2007
In this study, a novel slurry containing ceria as the abrasive particles was analyzed in terms of its frictional, thermal and kinetic attributes for interlayer dielectric (ILD) CMP application. The novel slurry was used to polish 200-mm blanket ILD wafers on an $IC1000_{TM}$ K-groove pad with in-situ conditioning. Polishing pressures ranged from 1 to 5 PSI and the sliding velocity ranged from 0.5 to 1.5 m/s. Shear force and pad temperature were measured in real time during the polishing process. The frictional analysis indicated that boundary lubrication was the dominant tribological mechanism. The measured average pad leading edge temperature increased from 26.4 to $38.4\;^{\circ}C$ with the increase in polishing power. The ILD removal rate also increased with the polishing power, ranging from 400 to 4000 A/min. The ILD removal rate deviated from Prestonian behavior at the highest $p{\times}V$ polishing condition and exhibited a strong correlation with the measured average pad leading edge temperature. A modified two-step Langmuir-Hinshelwood kinetic model was used to simulate the ILD removal rate. In this model, transient flash heating temperature is assumed to dominate the chemical reaction temperature. The model successfully captured the variable removal rate behavior at the highest $p{\times}V$ polishing condition and indicates that the polishing process was mechanical limited in the low $p{\times}V$ polishing region and became chemically and mechanically balanced with increasing polishing power.
Various peptides derived from food are among the most potent physiologically active agents known, and include anticancer peptides, angiotensin converting enzyme(ACE) inhibitor exhibiting antihypertension action, opioid peptides, antithrombotic peptides, hypocholesterolemic peptides, immunomodulators, calcium absorption enhancers, and other peptides. Hydrophobic peptides extracted from a Cheddar-type cheese slurry were fractionated by gel chromatography and repeated HPLC. A peptide fraction from HPLC showed high cytotoxicity on the tumor cell lines such as a human colon carcinoma, and comprised of Tyr, Ser, Leu, Gly, and others. Hypocholesterolemic peptides were isolated from peptic hydrolyzates of casein and soy proteins. Macropeptides of 1,000${\sim}$5,000 dalton were effective on reducing the cholesterol level of mouse serum. Peptides showing high Krigbaum hydrophobicity and ANS surface hydrophobicity resulted in high hypocholesterolemic effect and fecal steroid concentrations. Caseinomacropeptides(CMP) were isolated from whey powder and treated with soluble and immobilized trypsin to obtain antithrombotic peptides. One fraction from the CMP hydrolyzed with immobilized trypsin for 24h exhibited high antithrombotic activity with 52.5% inhibition of platelet aggregation. These result suggested that peptides from various milk products could be utilized as a good bioactive agents for developing health functional foods.
Transactions on Electrical and Electronic Materials
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v.8
no.1
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pp.26-31
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2007
The goal of this study is to determine if High Pressure Micro Jet (HPMJ) conditioning can be used as a substitute for, or in conjunction with, conventional diamond pad conditioning. Five conditioning methods were studied during which 50 ILD wafers were polished successively in a 100-mm scaled polisher and removal rate (RR), coefficient of friction (COF), pad flattening ratio (PFR) and scanning electron microscopy (SEM) measurements were obtained. Results indicated that PFR increased rapidly, and COF and removal rate decreased significantly, when conditioning was not employed. With diamond conditioning, both removal rate and COF were stable from wafer to wafer, and low PFR values were observed. SEM images indicated that clean grooves could be achieved by HPMJ pad conditioning, suggesting that HPMJ may have the potential to reduce micro scratches and defects caused by slurry abrasive particle residues inside grooves. Regardless of different pad conditioning methods, a linear correlation was observed between temperature, COF and removal rate, while an inverse relationship was seen between COF and PFR.
Various peptides derived from food are among the most potent physiologically active agents known, and include anticancer peptides, angiotensin converting enzyme(ACE) inhibitor exhibiting antihypertension action, opioid peptides, antithrombotic peptides, hypocholesterolemic peptides, immunomodulators, calcium absorption enhancers, and other peptides. Hydrophobic peptides extracted from a Cheddar-type cheese slurry were fractionated by gel chromatography and repeated HPLC. A peptide fraction from HPLC showed high cytotoxicity on the tumor cell lines such as a human colon carcinoma, and comprised of Tyr, Ser, Leu, Gly, and others. Hypocholesterolemic peptides were isolated from peptic hydrolyzates of casein and soy proteins. Macropeptides of 1,000${\sim}$5,000 dalton were effective on reducing the cholesterol level of mouse serum. Peptides showing high Krigbaum hydrophobicity and ANS surface hydrophobicity resulted in high hypocholesterolemic effect and fecal steroid concentrations. Caseinomacropeptides (CMP) were isolated from whey powder and treated with soluble and immobilized trypsin to obtain antithrombotic peptides. One fraction from the CMP hydrolyzed with immobilized trypsin for 24h exhibited high antithrombotic activity with 52.5% inhibition of platelet aggregation. These results suggested that peptides from various milk products could be utilized as a good bioactive agents for developing health functional foods.
Journal of the Korean Society for Precision Engineering
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v.32
no.1
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pp.69-74
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2015
Cadmium telluride (CdTe) is being developed for thin film of the X-Ray detector recently. But a rough surface of the CdTe should be improved for resolution and signal speed. This paper shows the study on the improvement of surface roughness and removal rate by applying Chemical Mechanical Polishing. The conventional potassium hydroxide (KOH) based colloidal silica slurry could not realize a mirror surface without physical defects, resulting in low material removal rate and many scratches on surface. In order to enhance chemical reaction such as form oxidized layer on the surface of cadmium telluride, we used hydrogen peroxide ($H_2O_2$) as an oxidizer. Consequently, in case of 3 wt% concentration of hydrogen peroxide, the highest MRR (938 nm/min) and the lowest surface roughness ($R_{p-v}=10.69nm$, $R_a=0.8nm$) could be obtained. EDS was also used to confirm the generated oxide of cadmium telluride surface.
Kim, In-Kwon;Kang, Young-Jae;Hong, Yi-Kwan;Kim, Tae-Gon;Park, Jin-Goo
Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference
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2005.07a
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pp.42-43
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2005
본 연구에서는 Cu 슬러리에 부식방지제인 BTA를 첨가하여 슬러리내의 과수의 농도, pH 의 변화, 연마입자의 종류에 따라 연마거동에 미치는 영향과 각 chemical 변화에 따른 Cu surface의 변화를 살펴보았다. BTA (Benzotriazole, $C_6H_4C_3H$)를 첨가함으로써 본 연구에서 시행된 pH 와 과수의 변화에 상관없이 Cu-BTA film을 형성하여 Cu의 dissolution을 최대한 억제하는 것을 확인할 수 있었다. 또 그로인해 BTA를 첨가하지 않았을 때보다 얇은 passivation layer를 형성함을 알 수 있었고 contact angle도 더 높았다. 연마율의 경우에도 BTA가 첨가됨으로써 감소됨을 확인할 수 있었고 연마입자로 alumina particle을 사용한 경우에는 pH6, 과수 10vol%이상에서는 오히려 연마율이 증가하였다. fumed silica의 경우에는 hardness가 작아 mechanical적인 제거력이 낮아 BTA가 첨가되어도 연마율에는 큰 영향이 없었다.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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