• Title/Summary/Keyword: 측정전류원

Search Result 254, Processing Time 0.025 seconds

Current Saturation in the Electrical Resistivity Method (전기비저항탐사에서 전류포화현상)

  • Kang, Hye-Jin;Cho, In-Ky
    • Geophysics and Geophysical Exploration
    • /
    • v.13 no.4
    • /
    • pp.370-377
    • /
    • 2010
  • In this study, we investigated the current saturation which forces the apparent resistivity to converge when the conductivity contrast between the anomalous body and background medium is greater than a specific value. Analizing theoretical and numerical solutions for some simple models, we studied the behavior of the surface charge, and how the surface charge cause the current saturation and finally lead to the convergence of the apparent resistivity in the resistivity method. As a consequence of above analysis, we verified that the current saturation makes the apparent resistivity converge to a specific value and the magnitude of the apparent resistivity anomaly be less than that of the ideal conductor or insulator in the resistivity method. In general, current saturation is considered to occur when the conductivity contrast becomes larger than 100.

A 10-Bit 210MHz CMOS D/A Converter (WLAN용 10bit 210MHz CMOS D/A 변환기 설계)

  • Cho, Hyun-Ho;Yoon, Kwang-Sub
    • Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea TC
    • /
    • v.42 no.11
    • /
    • pp.61-66
    • /
    • 2005
  • This paper describes a 10-bit 210MHz CMOS current-mode Digital-to-Analog Converter (DAC) consisting of 6 bit MSB current cell matrix Sub-DAC, 2 bit mSB unary current source Sub-DAC, and 2 bit LSB binary weighting Sub-DAC for Wireless LAN application. A new deglitch circuit is proposed to control a crossing point of signals and minimize a glitch energy. The proposed 10-bit CMOS current mode DAC was designed by a $0.35{\mu}m$ CMOS double-poly four-metal technology rate of 210MHz, DNL/INL of ${\pm}0.7LSB/{\pm}1.1LSB$, a glitch energy of $76pV{\cdot}sec$, a SNR of 50dB, a SFDR of 53dB at 200MHz sampling clock and power dissipation of 83mW at 3.3V

A Design on High Frequency CMOS VCO for UWB Applications (UWB 응용을 위한 고주파 CMOS VCO 설계 및 제작)

  • Park, Bong-Hyuk;Lee, Seung-Sik;Choi, Sang-Sung
    • The Journal of Korean Institute of Electromagnetic Engineering and Science
    • /
    • v.18 no.2 s.117
    • /
    • pp.213-218
    • /
    • 2007
  • In this paper, we propose the design and fabrication on high frequency CMOS VCO for DS-UWB(Direct-Sequence Ultra-WideBand) applications using 0.18 ${\mu}m$ process. The complementary cross-coupled LC oscillator architecture which is composed of PMOS, NMOS symmetrically, is designed for improving the phase noise characteristic. The resistor is used instead of current source that reduce the 1/f noise of current source. The high-speed buffer is needed for measuring the output characteristic of VCO using spectrum analyzer, therefore the high-speed inverter buffer is designed with VCO. A fabricated core VCO size is $340{\mu}m{\times}535{\mu}m$. The VCO is tunable between 7.09 and 7.52 GHz and has a phase noise lower than -107 dBc/Hz at 1-MHz offset over entire tuning range. The measured harmonic suppression is 32 dB. The VCO core circuit draws 2.0 mA from a 1.8 V supply.

The Reliability Evaluation about the Triode-Type CNT Emission Source (삼극형 CNT 전자원에 대한 신뢰성 평가)

  • Kang, J.T.;Kim, D.J.;Jeong, J.W.;Kim, D.I.;Kim, J.S.;Lee, H.R.;Song, Y.H.
    • Journal of the Korean Vacuum Society
    • /
    • v.18 no.2
    • /
    • pp.79-84
    • /
    • 2009
  • The electron emission source of triode type has been fabricated using CNT paste. The nano Ag particle and photosensitive polymers were added to the CNT paste. The surface roughness of the CNT emitter was uniform by the back exposure method. The added nano Ag particle improves the adhesion and the electric conductance with small variation in the CNTs and between electrode. After the aging with heat-exhausting, the reliability of the triode CNT electron source was secured in the high voltage and current operation for 12 hours. At this time, the gate leakage current was about 10 % less than.

Development of a voltage-controlled output current source for zenor diode degradation analysis (제너다이오드의 열화평가를 위한 전압제어 출력 전류원 개발)

  • Kim, Jong-ho;Chang, Hong-ki;Kwon, Young-mok;Che, Gyu-shik
    • Journal of Advanced Navigation Technology
    • /
    • v.21 no.5
    • /
    • pp.501-507
    • /
    • 2017
  • When zenor diode load current is necessary to be controlled by input voltage as a circuit load, existing voltage controlling method cannot be applied to it because the output current of zenor diode is changed due to breakdown voltage variations. We propose input voltage controlled output current source regardless of zenor breakdown voltage variation due to degradation resulted from severe current applied electronic component life test as a circuit load in this paper. We show breakdown voltage characteristics of this zenor diode circuit through simulation, applying adequate values for each component in order to verify the circuit composed of that method, and then show the result in which output current is controlled by input voltage. We confirmed the output current varies proportional to input voltage, and developed circuit shows a constant value independent of zenor diode breakdown voltage variations due to component degradations.

청색과 녹색 GaN계 LED 및 LD소자를 이용한 자발 발광 시 효율 감소 현상에 대한 연구

  • Jeong, Gyu-Jae;Lee, Jae-Hwan;Han, Sang-Hyeon;Lee, Seong-Nam
    • Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference
    • /
    • 2014.02a
    • /
    • pp.311-311
    • /
    • 2014
  • III-N계 물질로 이루어진 GaN 기반의 광 반도체는 직접 천이형 넓은 밴드갭 구조를 갖고 있기 때문에 적외선부터 가시광선 및 자외선까지를 포함한 폭 넓은 발광파장 조절이 가능하여 조명 및 디스플레이 관련 차세대 광원으로 많은 관심을 받고 있다. 하지만, GaN기반의 발광 다이오드는 많은 연구기관들의 오랜 연구에도 불구하고 고출력을 내는데 있어 여전히 많은 문제들이 존재한다. 그 중, 주입전류 증가에 따른 효율감소 현상은 출력을 저해하는 대표적인 요소로 알려져 있는데, 이전의 연구 결과에서 알려진 효율감소 현상의 원인으로 결정결함에 의한 누설전류, Auger 재결합, 이송자 넘침 현상 그리고 p-n접합부의 온도 상승 등의 현상이 알려져 있다 [1-2]. 하지만 여전히 주입 전류 증가에 따른 효율 감소 현상의 원인에 대해 명확한 해답은 없으며 아직도 많은 논의가 이루어 지고 있다. 따라서, 본 연구에서는 GaN기반의 청색 및 녹색 LD와 LED소자를 이용하여 주입전류 밀도의 변화에 따른 자발 발광 영역에서의 효율감소 현상의 원인을 규명하고 한다. 유기금속화학증착법(MOCVD)를 이용하여 c면 사파이어 위에 서로 다른 발광파장을 가지는 InGaN/GaN 다중양자우물구조의 질화물계 LED와 LD 박막을 제작하였으며 성장 구조에 의한 특성으로 인해 발생하는 효율 저하 현상을 방지하고자 InGaN/GaN으로 이루어진 다중양자우물층의 조성만 제어하여 청색과 녹색으로 발광하도록 하였다. 청색 및 녹색 LD 웨이퍼들을 이용하여 주입전류 증가에 따른 발광특성을 조사하기 위해 LD와 LED는 표준 팹 공정에 의해 제작되었다. 전계 발광 측정을 위해 상온에서 직류 전류를 주입하여 GaN계 청색 및 녹색 LED와 LD에 각 5 mA/cm2에서 50 mA/cm2까지 전류밀도를 증가시킴에 따라 LD 및 LED칩 형태에 상관없이 청색 LD와 LED의 파장은 약 465nm에서 약 458nm로 감소하였고 녹색 LD와 LED의 파장은 약 521nm에서 약 511~513 nm까지 단파장화가 발생했다. 이는 동일한 웨이퍼에 동일한 전류 밀도를 주입하였기 때문에 발생하는 것으로 판단된다. 그러나, 청색 LED의 효율은 50 mA/cm2에서 약 70%정도로 감소하고 반면 녹색 LED의 경우 동일한 전류밀도 하에 약 52%정도로 감소하였지만, 청색과 녹색 LD의 경우 동일한 전류 밀도의 범위 내에서 더욱 낮은 효율저하 현상을 나타내었다. 또한, 접합 온도를 측정한 바 청색소자가 녹색 소자에 비하여 낮은 접합 온도를 나타낼 뿐아니라, 청색 및 녹색 LD의 경우 LED 보다 낮은 접합 온도를 나타내고 있었다. 이는 InGaN 활성층의 In 조성이 증가할수록 비발광 센터에 의한 접합온도 상승 뿐 아니라, LD ridge 구조에서 더 많은 열이 방출되어 접합 온도가 감소될 수 있는 것으로 판단된다. 우리는 동일한 웨이퍼에 LED와 LD를 제작하였고, 동일한 전류 주입밀도를 인가하였기 때문에 LD와 LED의 효율 감소 현상의 차이는 이송자 넘침 현상, 결정 결함, 오제 재결합 등이 원인보다 활성층의 접합 온도 상승이 가장 큰 영향이 될 수 있을 것으로 판단된다.

  • PDF

The study of beam characteristics for Ga LMIS and In LMIS (갈륨액체금속 이온원과 인듐액체금속 이온원의 빔 특성에 대한 연구)

  • Hyun Jeong Woo;Yim Youn Chan;Jung Kang Won;Jung Won Hee;Park Cheol Woo;Lee Jong Hang;Kang Seung Oun
    • Proceedings of the Korean Society of Machine Tool Engineers Conference
    • /
    • 2005.05a
    • /
    • pp.360-363
    • /
    • 2005
  • 본 연구에서는 인듐 액체금속이온원을 제작하여 빔 특성에 대해 연구를 하였으며, 기존의 연구를 하였던 갈륨 액체금속 이온원의 빔특성과 비교분석 하였다. 빔특성 분석을 위해 빔 안정도, 전류-전압특성곡선, 에너지 퍼짐을 측정하였다. 액체금속이온원에 사용되는 액체금속 저장소 및 바늘전극(tip)은 $500{\mu}m$의 직경을 갖는 텅스텐을 사용하였으며, 국내에서 제작된 제품을 사용하였다. 액체금속 저장소의 구조는 이전에 구상하여 연구가 이루어진 6개의 pre-etching된 텅스텐와이어(wire)가 묶여진 형태를 사용하였다.

  • PDF

Design and Implementation of Digital Electrical Impedance Tomography System (디지털 임피던스 영상 시스템의 설계 및 구현)

  • 오동인;백상민;이재상;우응제
    • Journal of Biomedical Engineering Research
    • /
    • v.25 no.4
    • /
    • pp.269-275
    • /
    • 2004
  • Different biological tissues have different values of electrical resistivity. In EIT (electrical impedance tomography), we try to provide cross-sectional images of a resistivity distribution inside an electrically conducting subject such as the human body mainly for functional imaging. However, it is well known that the image reconstruction problem in EIT is ill-posed and the quality of a reconstructed image highly depends on the measurement error. This requires us to develop a high-performance EIT system. In this paper, we describe the development of a 16-channel digital EIT system including a single constant current source, 16 voltmeters, main controller, and PC. The system was designed and implemented using the FPGA-based digital technology. The current source injects 50KHz sinusoidal current with the THD (total harmonic distortion) of 0.0029% and amplitude stability of 0.022%. The single current source and switching circuit reduce the measurement error associated with imperfect matching of multiple current sources at the expense of a reduced data acquisition time. The digital voltmeter measuring the induced boundary voltage consists of a differential amplifier, ADC, and FPGA (field programmable gate array). The digital phase-sensitive demodulation technique was implemented in the voltmeter to maximize the SNR (signal-to-noise ratio). Experimental results of 16-channel digital voltmeters showed the SNR of 90dB. We used the developed EIT system to reconstruct resistivity images of a saline phantom containing banana objects. Based on the results, we suggest future improvements for a 64-channel muff-frequency EIT system for three-dimensional dynamic imaging of bio-impedance distributions inside the human body.

Design and Fabrication of a Risk Voltage Measurement Device (위험전압 측정장치의 설계 및 제작)

  • Park, Dae-Won;Kim, Il-Kwon;Cha, Hyeon-Kyu;Jin, Chang-Hwan;Kil, Gyung-Suk
    • Proceedings of the Korean Society of Marine Engineers Conference
    • /
    • 2011.10a
    • /
    • pp.71-71
    • /
    • 2011
  • 본 논문에서는 접지시스템에서 접촉 및 보폭전압을 분석할 수 있는 위험전압 측정장치를 설계 제작하였다. 시제작 측정장치는 대지에 최대 300 V까지 전압을 인가할 수 있으며 주파수를 45 Hz~1 kHz까지 가변할 수 있다. 대지에 인가되는 전류와 접지시스템에서 발생하는 접촉 및 보폭전압의 측정에는 12bit, 8채널 데이터 수집모듈을 사용하였다. 또한, 디지털 필터를 적용한 외부 노이즈 제거 알고리즘을 적용하였다. 제작된 위험전압 측정장치의 측정오차는 1 % 이내로 나타났다.

  • PDF

Design and Fabrication of Portable Dissolved Oxygen Measurement System (휴대용 용존산소 측정 시스템의 설계 및 제작)

  • Chang, Choong-Won;Lee, Sung-Pil
    • Journal of the Institute of Convergence Signal Processing
    • /
    • v.9 no.3
    • /
    • pp.219-223
    • /
    • 2008
  • The dissolved oxygen (DO) sensors were fabricated by screen printing method, and potable dissolved oxygen measurement system was fabricated for low cost products. The fabricated sensors had high current change and fast response according to dissolved oxygen concentrations in the applied voltage of 0.7 V. The DO measurement system was consisted of MCV, amplifier, filter, power supply and display. DO concentrations were programed to display as digital percentages by converting the analog value. It is expected that the fabricated DO measurement system can replace the expensive commercial DO meter, because it reveals the high accuracy of ${\pm}0.5%$ to the standard solution and the response time of about 100 sec like the commercial DO meter.

  • PDF