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The Reliability Evaluation about the Triode-Type CNT Emission Source

삼극형 CNT 전자원에 대한 신뢰성 평가

  • Kang, J.T. (Electronics and Telecommunications Research Institute) ;
  • Kim, D.J. (Electronics and Telecommunications Research Institute) ;
  • Jeong, J.W. (Electronics and Telecommunications Research Institute) ;
  • Kim, D.I. (Electronics and Telecommunications Research Institute) ;
  • Kim, J.S. (Electronics and Telecommunications Research Institute) ;
  • Lee, H.R. (Department of Physics, Kyungpook national University) ;
  • Song, Y.H. (Electronics and Telecommunications Research Institute)
  • Published : 2009.03.31

Abstract

The electron emission source of triode type has been fabricated using CNT paste. The nano Ag particle and photosensitive polymers were added to the CNT paste. The surface roughness of the CNT emitter was uniform by the back exposure method. The added nano Ag particle improves the adhesion and the electric conductance with small variation in the CNTs and between electrode. After the aging with heat-exhausting, the reliability of the triode CNT electron source was secured in the high voltage and current operation for 12 hours. At this time, the gate leakage current was about 10 % less than.

삼극형(triode type) 전자 방출원을 프린팅된 CNT(Carbon Nanotube) 에미터를 이용하여 제작하였다. 후면노광(Back Exposure)방법으로 CNT 에미터의 높이를 균일하게 하고, 나노 Ag를 첨가하여 CNT와 전극 사이의 접착력 및 전기전도성을 높임으로써 고전압, 고전류 구동 시 신뢰성을 확보하였다. 게이트 높이가 에미터 길이에 비해 비교적 높은 매크로 게이트 구조를 사용하여 누설 전류가 적고 안정적인 구동이 가능하였다. 제작된 삼극형 전자 방출원은 DC 전압이 인가된 상태에서 일정시간동안 전계방출 전류를 측정하여 신뢰성을 평가하였다. 가열 배기 에이징(Aging) 과정을 거친 경우 약 12 시간동안 안정적인 전계방출 특성을 보였다. 이 때 게이트 누설전류는 약 10 % 미만이었다.

Keywords

References

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