• Title/Summary/Keyword: 전자 빔

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Development of an electron source using carbon nanotube field emittes for a high-brightness X-ray tube (탄소나노튜브를 이용한 고휘도 X-선원용 전자빔원 개발)

  • Kim, Seon-Kyu;Heo, Sung-Hwan;Cho, Sung-Oh
    • Journal of the Korean Vacuum Society
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    • v.14 no.4
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    • pp.252-257
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    • 2005
  • A high-brightness electron beam source for a microfocus X-ray tube has been fabricated using a carbon-nanotube (CNT) field emitter. The electron source consists of cathode that includes a CNT field emitter, a beam-extracting grid, and an anode that accelerates that electron beam. The microfocus X-ray tube requires an electron beam with the diameter of less than 5 $\mu$m and beam current of higher than 30 $\mu$A at the position of the X-ray target. To satisfy the requirements, the geometries of the field emitter tips and the electrodes of the gun was optimized by calculating the electron trajectories and beam spatial profile with EGUN code. The CNT tips were fabricated with successive steps: a tungsten wire with the diameter of 200 $\mu$m was chemically etched and was subsequently coated with CNTs by chemical vapor deposition. The experiments of electron emission at the fabricated CNT tips were performed. The design characteristics and basic experimental results of the electron source are reported.

알루미늄 합금제 진공 챔버의 용접 기술

  • 최만호;홍만수;박주식;홍만수
    • Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference
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    • 2000.02a
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    • pp.44-44
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    • 2000
  • 포항가속기 저장링 진공 챔버의 진공도는 전자빔을 10시간 이상 저장하기 위하여 10-10torr 이하의 초고진공이 유지되고 있다. 전자빔이 지나는 궤도를 구성하는 챔버와 부품수는 대략 170여종 이상이며, 원주길이는 약 280 m이다. 진공 챔버의 재질은 가스 방출률이 낮고 가공성, 접합성 등이 우수한 알루미늄 합금, 스텐레스 스틸, 무산소동, 세라믹 등이다. 이러한 많은 수의 챔버와 부품들은 초고진공을 유지하기 위하여 진공기밀이 요구되며, 여기서 필수적인 것이 접합이다. 저장링 챔버에 적용된 접합방법은 주로 티그 용접이고 그 외에 진공 브레이징과 전자빔 용접이다. 저장링 챔버에 적용된 접합방법은 주로 티그 용접이고 긔 외에 진공 브레이징과 전자빔 용접이다. 저장링 챔버에 요구되는 접합기술은 완벽한 기밀유지와 함께 용접열에 의한 변형 최소화가 요구되기 때문에 이것이 초고진공을 얻기 위한 핵심기술이라고 할 수 있다. 따라서, 본 소개에서는 주로 적용된 알루미늄 합금제 섹터 챔버를 중심으로 용접 시공시 주요 사항인 용접설계, 용접균열, 용접환경 및 변형 등에 대하여 소개하고자 한다.

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홀 방식 이온빔 소스의 채널 및 자기장 구조에 따른 플라즈마 특성 연구

  • Kim, Ho-Rak;Im, Yu-Bong;Park, Ju-Yeong;Seon, Jong-Ho;Lee, Hae-Jun;Choe, Won-Ho
    • Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference
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    • 2014.02a
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    • pp.245.2-245.2
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    • 2014
  • 홀 방식 이온빔 소스는 방전 채널 내부에 중성기체 및 전자를 주입하여 플라즈마를 생성하며, 생성된 이온들은 자기장에 의해 구속된 전자들과 양극이 만드는 전기장에 의해 가속되어 이온 빔을 발생시킨다. 홀 방식 이온빔 소스에는 고리형 소스와 원통형 소스가 있으며, 기하학적 구조 및 자기장 구조가 달라 발생되는 이온전류, 가속효율, 연료효율, 이온화 비율 등 플라즈마 특성이 다르다. 특히, 플라즈마의 이온화 비율은 이온빔 소스의 방전 전류 및 연료효율에 영향을 미치며, 다중전하를 띤 이온의 높은 에너지는 채널벽의 침식 문제를 야기하는 등 이온빔의 전하량 분석 연구는 물리적 연구측면 뿐만 아니라 실용적인 측면에서도 매우 중요하다. 원통형 소스의 경우 연료효율이 100% 이상으로, 이온화 효율이 매우 높아 발생되는 이온의 가속효율도 높게 나타난다. 본 연구에서는, 이를 통해 다중이온을 진단할 수 있는 ExB 탐침을 개발하여, 다중이온의 생성 비율과 연료 효율과의 관계를 살펴보았다. 이온전위지연 탐침과 패러데이 탐침을 이용하여 채널 및 자기장 구조에 따른 전류 분포 및 이온에너지분포를 측정하였으며, 이온 빔의 효율 및 플라즈마 특성을 분석하였다.

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Electron Beam Properties of Microcolumn Based on the Structure of Electrostatic Lens Apertures (전자 렌즈 Aperture 구조에 따른 마이크로칼럼의 전자빔 특성)

  • Choi, Sang-Kuk;Yi, Cheon-Hee
    • Korean Journal of Optics and Photonics
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    • v.16 no.5
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    • pp.428-432
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    • 2005
  • Microlens precisely fabricated by MEMS process, is a key component of the Microcolumn, Since, miniaturization can reduces aberrations, microcolumn is expected to have better performance than conventional columns. Depending on the fabrication techniques, the sectional view of micro lens has different shape. In the paper, the effect of the sectional shape of extractor lens and limiting aperture on the focusing property of microcolumns have been studied.

Imaging Plate Technique for the Electron Diffraction Study of a Radiation-sensitive Material under Electron Beam (전자 빔 조사 민감 물질의 전자회절분석을 위한 Imaging Plate 기술)

  • Kim, Young-Min;Kim, Yang-Soo;Kim, Jin-Gyu;Lee, Jeong-Yong;Kim, Youn-Joong
    • Applied Microscopy
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    • v.38 no.3
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    • pp.185-193
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    • 2008
  • An experimental comparison of the detection properties between imaging plate and film for recording the electron diffraction pattern was carried out on a radiation-sensitive material, an aluminum trihydroxide(gibbsite, ${\gamma}-Al(OH)_3$), through the electron beam irradiation. Because the imaging plate has a wide dynamic range sufficient for recording extremely low- and high-electron intensities, the range of spatial frequency for the diffraction pattern acquired by the imaging plate was extended to two times larger than the range by the film, especially at a low electron dose condition(${\leq}0.1\;e^-/{\mu}m^2$). It is also demonstrated that the imaging plate showed better resolving power for discriminating fine intensity levels even in saturated transmitted beam. Hence, in the respect of investigating the structures of radiation-sensitive materials and cryo-biological specimens, our experimental demonstrations suggest that the imaging plate technique may be a good choice for those studies, which have to use an extremely low electron intensity for recording.

Comparison Study of Beam Pattern for FDD downlink CDMA Signals (FDD에서 하향링크 CDMA신호의 빔패턴 비교 연구)

  • Kim, Sang-Choon;Son, Kyung-Soo;Ha, Joo-Young;Lee, Sung-Mok;Jang, Won-Woo
    • Journal of the Korea Institute of Information and Communication Engineering
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    • v.11 no.2
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    • pp.358-365
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    • 2007
  • In this paper, the effects of transmit beamforming on downlink performance in DS-CDMA communication systems are investigated. The uplink and downlink in FDD systems use different carrier frequencies. If the downlink uses the same weighting vectors as the uplink, the antenna beam for downlink is formed with certain DOA shift and it thus affects the beamforming gain. So, the impacts of different frequencies on the downlink beam patterns are studied. One possible algorithm to convert uplink beamforming weights to downlink, which is called frequency-calibrated processing, is also evaluated to reduce the degradation of downlink performance due to different frequencies. Under frequency selective channels, the downlink chooses a PUPW beamforming scheme when the uplink employs a PPPW vectors. To form a beam pattern for a PUPW after combining the downlink PPPWs converted from the uplink PPPWs, three approaches are studied. One method is to consider only one dominant path and thus obtain a single main-beam. In the others, multiple-beams weighted with the magnitudes of all paths and equally weighted with all paths are constructed.

The Status and prospect of Pohang Synchrotron Light Source at PAL on its 25th Anniversary

  • Jo, Mu-Hyeon
    • Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference
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    • 2013.08a
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    • pp.61.2-61.2
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    • 2013
  • 우리나라 최초의 거대과학 장치인 포항방사광가속기(PLS)는 지난 16년(1994~2010) 동안 국내외 이용자에게 제3세대 방사광을 제공했다. 최초 2기의 빔라인을 시작으로 꾸준하게 빔라인 증설과 성능개선을 위해 노력해 왔다. 지속해서 늘어나는 방사광 이용자 수와 더욱더 좋은 수준의 방사광 요구에 부응하기 위하여 2009년부터 3년 동안 가속장치의 성능향상사업(PLS-II)을 마쳤다. PLS-II는 PLS 대비에너지와 빔전류는 3 GeV, 400 mA로 늘리는 반면 빔의 크기는 크게 줄이고 빔안정성을 개선한 고품질 X-선 방사광 발생장치이다. 2012년부터 16기의 삽입장치 빔라인을 포함한 30기의 빔라인을 가동하여 이용자 지원을 하고 있으며 초전도케비티 설치를 포함한 목표 성능의 확보에도 많은 노력을 기울이고 있다. 현재는 6 nm-rad의 빔에 미턴스, 3-GeV전자빔, 약 0.5 ${\mu}m-rms$ 빔안정도를 가진 200 mA Top-up 운전으로 빔을 제공 하고 있으며 2014년 말에는 저장전류 400 mA급의 PLS-II 목표치로 운전할 계획이다. 본 발표에서는 포항가속기의 25년 역사를 돌아보고 가속장치의 건설에 얽힌 이야기, 중요장치 그리고 운전과 빔제공에 관한 내용, 특히 핵심 운전가치인 빔안정성을 개선하고 유지하기 위한 노력을 빔운전 측면과 진공을 포함한 엔지지어링 측면에서 언급하고자 한다. PLS 건설부터 현재 운용 중인 30기의 빔라인에서 수행된 연구 성과의 통계에 대하여 훑어보고 X-선 산란과 광전자분광을 이용한 구조, 성분 및 물성분석, 그리고 이미징 등의 분야에서 나온 탁월한 연구 결과를 살펴본다. 앞으로 건설될 신규 빔라인과 빔라인의 향후 운영 방향을 소개한다. 마지막으로 지금 포항가속기연구소에서 건설 중인 제4세대 가속기(X-선 자유전자레이저) 프로젝트의 개요 및 건설 현황과 함께 앞으로 기대되는 새로운 과학에 대하여도 소개하고자 한다.

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Creation of Electron Beam Probe in Scanning Electron Microscopy (주사 전자 현미경에서 전자빔 프르브 생성)

  • Lim, Sun-Jong;Lee, Chan-Hong
    • Transactions of the Korean Society of Machine Tool Engineers
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    • v.17 no.5
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    • pp.52-57
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    • 2008
  • Most of the electrons emitted from the filament, are captured by the anode. The portion of the electron current that leaves the gun through the hole in the anode is called the beam current. Electron beam probe is called the focused beam on the specimen. Because of the lenes and aperture, the probe current becomes smaller than the beam current. It generate various signals(backscattered electron, secondary electron) in an interaction with the specimen atoms. Backscattered electron provide an useful signal for composition and local specimen surface inclination. Secondary electron is used far the formation of surface imagination. The steady electron beam probe is very important for the imagination formation and the brightness. In this paper, we show the results of developed elements that create electron beam probe and the measured beam probe in various acceleration voltages by Faraday cup. These data are used to analysis and improve the performance of the system in the development.