• Title/Summary/Keyword: 전극접촉저항

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The DC Characteristics of InP/InGaAs HPT′s with ITO Emitter Contacts (ITO 에미터 전극을 갖는 InP/InGaAs HPT의 DC 특성)

  • 강민수;한교룡
    • Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea SD
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    • v.39 no.10
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    • pp.16-24
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    • 2002
  • In this paper, we fabricated heterojunction phototransistors(HPT's) with optically transparent ITO emitter contacts. Heterojunction transistors(HBT's) having the same device layout were fabricated to compare with HPT's. The model parameters of the devices were extracted and compared. Emitter contact resistance(RE) of the HPT was about 6.4$\Omega$, which was very similar to that of HBT and the other DC model parameters of the Inp/InGaAs HPT showed the similarities to those of the HIBT.

Effects of Annealing on Ni/Au Ohmic Contact to Nonpolar p-type GaN

  • Lee, Dong-Min;Kim, Jae-Gwan;Yang, Su-Hwan;Kim, Jun-Yeong;Lee, Seong-Nam;Lee, Ji-Myeon
    • Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference
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    • 2012.02a
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    • pp.358-359
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    • 2012
  • 최근 분극 특성이 상이한 무분극 GaN 에피성장에 관한 심도 있는 연구와 함께 전자-전공 캐리어의 주입 및 캐리어의 거동, 방출되는 편광 특성 및 다양한 물리적 특성들에 대해 보고되고 있으며, 광학적 특성 및 물리적 특성의 확보를 위한 많은 연구가 활발히 진행 중이다 [1]. GaN의 ohmic 접촉(ohmic contact)의 형성은 발광 다이오드(light emitting diode), 레이저 다이오드(Laser), 태양전지(solar cell)와 같은 고신뢰도, 고효율 광전자 소자를 제조하기 위해서는 매우 중요하다 [2]. 그러나 이와 함께 병행 되어야 할 무분극 p-GaN 의 ohmic contact에 관한 연구는 많이 이루어지고 있지 않는 실정이다. 따라서 본 논문에서는 r-plane 사파이어 기판 상에 성장된 p-GaN에서의 ohmic 접촉 형성 연구를 위하여 Ni/Au ohmic 전극의 접촉저항 특성을 연구하였다. 본 실험에서는 성장된 a-plane GaN의 Hole농도가 $3.09{\times}1017cm3$ 인 시편을 사용하였다. E-beam evaporation 장비를 이용하여 Ni/Au를 각각 20 nm 그리고80 nm 증착 하였으며 비접촉저항을 측정하기 위해 Circle-Transfer Length Method (C-TLM) 패턴을 사용하였다. 샘플은 RTA (Rapid Thermal Annealing)를 사용하여 $300^{\circ}C$에서 $700^{\circ}C$까지 온도를 변화시키며 전기적 특성을 비교하여 그림 1(a) 나타내었다. 그림에서 알 수 있듯이 $400^{\circ}C$에서 가장 낮은 비접촉저항 값인 $6.95{\times}10-3{\Omega}cm2$를 얻을 수 있음을 발견하였다. 이 때의 I-V curve 도 그림1(b)에 나타낸 바와 같이 열처리에 의해 크게 향상됨을 알 수 있다. 그러나, $500^{\circ}C$ 이상 온도를 증가시키면 다시 비접촉 저항이 증가하는 것을 관찰하였다. XRD (x-Ray Diffraction) 분석을 통하여 $400^{\circ}C$ 이상열처리 온도가 증가하면 금속 표면에 $NiO_2$가 형성되며, 이에 따라 오믹특성이 저하 된다고 사료된다. 또한 $Ni_3N$의 존재를 확인 하였으며 이는 nonpolar surface의 특성으로 인해 nitrogen out diffusion 현상이 동시에 발생하여 계면에는 dopant로 작용하는 질소 공공을 남기고 표면에 $Ni_3N$을 형성하여 ohmic contact의 특성이 저하되기 때문인 것으로 사료된다.

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Fabrication of flexible organic solar cells on Roll-to-Roll sputter grown flexible indium tin oxide electrode (Roll-to-Roll 스퍼터로 성장시킨 플렉시블 ITO 전극을 이용한 플렉시블 유기태양전지 제작)

  • Choi, Kwang-Hyuk;Kang, Jae-Wook;Kim, Han-Ki
    • Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference
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    • 2008.11a
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    • pp.64-64
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    • 2008
  • 연속공정이 가능한 Roll to Roll sputter system을 이용하여 플렉시블 indium tin oxide(ITO) 투명전극을 PET(polyethlyene terephthalate) 기판위에 성막하였다. 연속 성막공정을 위해 Roll to Roll sputter system에서의 unwinder roller와 rewinder roller를 이용한 servomotor의 rolling으로 기판의 움직임이 완벽히 제어되었으며, 외부 응력으로 부터의 안정성 및 성막 공정 시의 PET 기판의 열적 변형을 최소화하기 위한 접촉식 냉각방식의 cooling system을 main drum으로 사용하였다. 또한 고분자 기판과 투명전극 사이의 adhesion을 향상시키기 위한 전처리 공정으로 gridless linear ion beam source를 pretreatment system으로 구축하였다. 이렇게 제작된 Roll to Roll sputter system을 이용하여 PET 기판위에 연속공정을 통해 ITO 투명전극을 성막하였다. 성막된 플렉시블 ITO/PET 투명전극은 XRD, HREM, SEM 분석을 통하여 main drum의 cooling에 의해 완전한 비정질 구조를 나타내었음을 확인할 수 있었으며, 비록 Roll to Roll sputter system을 통하여 상온에서 성막 되었음에도 불구하고 최적화 된 조건에서 가시광선 영역 83.46 %의 높은 광투과도 값과 47.4 Ohm/square의 비교적 낮은 먼저항 값을 얻을 수 있었다. 또한 Bending test 결과를 통하여 ion source의 전처리 공정으로 굽힘/평의 반복적 응력에 따른 전기적 특성 열화를 최소화 할 수 있음을 보였다. 최적화된 플렉시블 투명전극을 이용하여 P3HT:PCBM 기반의 플렉시블 유기태양전지를 제작하였으며, 제작된 유기태양전지로부터 1.88%의 power conversion efficiency (PCE)을 확보함으로써 플렉시블 유기태양전지 제작을 위한 ITO/PET 투명전극 성막 공법으로써 Roll to Roll sputter system의 적용가능성을 확인할 수 있었다.

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A Study on the C.T.I in Phenolic Resin (Phenolic Resin의 C.T.I에 관한 연구)

  • 이보호;박동화
    • The Proceedings of the Korean Institute of Illuminating and Electrical Installation Engineers
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    • v.1 no.2
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    • pp.62-69
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    • 1987
  • In the thesis research on the C.T.I for the borne by tracking phenolic resin, electolytic errosion appearance of electrode materials causes the part of electrode to increase the failure of tracking. $\circled1$ In the material of insulation in which C.T.I has 350 degree or so, We can obtain the constant value by Cu.Zn electrode than Pt electrode. $\circled2$ C.T.I value has noting to do with resistance rate of electrolyte. $\circled3$ As the contact angle of interface grow, the starting electric stress of corona and the value of C.T.I increase.

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A Study on the Electrometric Measurement of the pH of Acid Rain (산성비의 pH 측정에 대한 연구)

  • Lee, Hwa-Shim;Kim, Myung-Soo
    • Journal of the Korean Chemical Society
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    • v.44 no.1
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    • pp.10-16
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    • 2000
  • In general, acid rain is unbuffered solution with low ionic strength and high resistance. Therefore during the pH measurement of acid rain, error can be occurred due to the liquid junction potential difference between the sample and the standard solution. Actually the average conductivity of rain in Taeduk Science Town during 1998 is 12.8 ${\mu}S/cm$, while that of pH standmd solutions is about 5,980 ${\mu}S/cm$. There is a large difference in ionic strength. To compensate the bias due to residual liquid junction potentials, a quality control standard(QCS) of dilute sulfuric acid, which has the conductivity and pH values simikw to rain, was prepared. The pH of QCS solution was determined using the hydrogen electrode system without liquid junction, and compensation has been made for the bias terms by performing the pH measurements with glass electrode. On the basis of this compensation method, the pH vaiues of rain in Taeduk Science Town during 1998 were measured.

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Capacitively-coupled Resistivity Method - Applicability and Limitation (비접지식 전기비저항 탐사 - 적용성과 한계)

  • Lee Seong Kon;Cho Seong-Jun;Song Yoonho;Chung Seung-Hwan
    • Geophysics and Geophysical Exploration
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    • v.5 no.1
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    • pp.23-32
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    • 2002
  • Capacitively-coupled resistivity (CCR) system is known to be very useful where galvanic contact to earth is impossible, such as the area covered with thick ice, snow, concrete or asphalt. This system injects current non-galvanically, i.e., capacitively to earth through line antenna and measures potential difference in a same manner. We derived geometric factor for two types of antenna configuration and presented the method of processing and converting the data obtained with CCR system suitable to conventional resistivity inversion analysis. The CCR system, however, has limitations on use at conductive area or electrically noisy area since it is very difficult to inject sufficient current to earth with this system as with conventional resistivity system. This causes low SM ratio when acquiring data with CCR system and great care must be taken in acquiring data with this system. Additionally the uniform contact between line antennas and earth is also crucial factor to obtain good S/N ratio data. The CCR method, however, enables one to perform continuous profiling over a survey line by dragging entire system and thus will be useful in rapid investigation of conductivity distribution in shallow subsurface.

A Study on the Safety Characterization Grounding Design of the Inner Photovoltaic System (태양광 발전단지 내부 그리드의 안전 특성화 접지 설계에 관한 연구)

  • Kim, Hong-Yong;Yoon, Suk-Ho
    • Journal of the Society of Disaster Information
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    • v.14 no.2
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    • pp.130-140
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    • 2018
  • Purpose: In this paper, we propose a design technique for the safety characterization grounding in the construction of the photovoltaic power generation complex which can be useful and useful as an alternative power energy source in our society. In other words, we will introduce the application of safety grounding for each application, which can improve and optimize the reliability of the internal grid from the cell module to the electric room in the photovoltaic power generation complex. Method: We analyze the earth resistivity of the soil in the solar power plant and use the computer program (CDEGS) to analyze the contact voltage and stratospheric voltage causing the electric shock, and propose the calculation and calculation method of the safety ground. In addition, we will discuss the importance of semi-permanent ground electrode selection in consideration of soil environment. Results: We could obtain the maximum and minimum value of ground resistivity for each of the three areas of the data measured by the Wenner 4 - electrode method. The measured data was substituted into the basic equation and calculated with a MATLAB computer program. That is, it can be determined that the thickness of the minimum resistance value is the most favorable soil environment for installing the ground electrode. Conclusion: Through this study, we propose a grounding system design method that can suppress the potential rise on the ground surface in the inner grid of solar power plant according to each case. However, the development of smart devices capable of accumulating big data and a monitoring system capable of real-time monitoring of seismic changes in earth resistances and grounding systems should be further studied.

AFM을 이용한 나노급 $Ge_2Sb_2Te_5$의 전기적 특성

  • Bae, Byeong-Ju;Hong, Seong-Hun;Jo, Jung-Yeon;O, Sang-Cheol;Hwang, Jae-Yeon;Lee, Heon
    • Proceedings of the Materials Research Society of Korea Conference
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    • 2009.05a
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    • pp.21.1-21.1
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    • 2009
  • 상변화 메모리는 비휘발성 메모리이면서 빠른 동작 속도, 낮은 동작 전압 등 다양한 장점을 지니고 있어 차세대 메모리로 주목 받고 있다. 최근 상변화 메모리의 동작 전류를 감소시키기 위해 상변화 물질 및 전극 물질에 대한 연구를 진행하고 있으며, 소자의 크기를 최소화 하기 위한 연구가 진행되고 있다. 본 연구에서는 나노 임프린트 리소그래피와 전도성 AFM을 이용하여 나노급 상변화 물질의 특성을 평가하였다. 나노급 상변화 물질을 형성하기 위해 열경화성 나노 임프린트 리소그래피를 이용하여 $Ge_2Sb_2Te_5$(GST)/Mo/SiO2 기판 위에 200nm급 홀 패턴을 형성하였다. 홀 패턴에 Cr을 증착하여 리프트 오프 한 뒤 Cr을 하드 마스크로 사용하여 GST를 식각하였다. 그 결과, Mo 하부 전극 위에200nm 지름과 100nm 높이를 가지는 GST 나노 기둥을 형성하였다. GST 나노 기둥의 전기적 특성 평가를 위해 저항 측정 장비 및 펄스 발생기와AFM을 사용하였다. AFM은 접촉 모드로 설정하였으며, Pt가 코팅된 AFM tip을 사용하여 Cr 하드 마스크와 함께 상부 전극으로 사용하였다. GST 나노 기둥을 초기화 시키기 위해 I-V sweep을 하였으며, 그 결과 $1M\Omega$에서 $10\;k\Omega$으로 저항이 변화함을 확인하였다. GST 나노 기둥은 2V, 5ns의 리셋 펄스에서 비정질로 변화하였으며, 1.3V, 150ns의 셋 펄스에서 결정질로 변화하였다. 이 동작 전압으로 5번의 스위칭 특성을 평가하였으며, 이 결과는 소자 형태의 200nm 급GST의 특성과 유사하여 나노급 상변화 물질을 테스트하는 새로운 방법으로 사용될 수 있을 것이다.

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Technology of Non-destructive Stress Measurement in Spot Welded Joint using ESPI Method (ESPI법에 의한 스폿 용접부의 비파괴적 응력측정 기술)

  • 김덕중;국정한;오세용;김봉중;유원일;김영호
    • Journal of the Korea Academia-Industrial cooperation Society
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    • v.1 no.1
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    • pp.23-26
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    • 2000
  • In spot welded joint. Electronic Speckle Pattern Interferometry(ESPI) method using the Model 95 Ar laser a video system and an image processor was applied to measure the stress Unlike traditional strain gauges or Moire method, ESPI method has no special surface preparation or attachments and can be measured in-plane displacement with non-contact and real time. In this experiment, specimens are loaded in parallel with a load cell. The specimens are made of the cold rolled steel sheet with 1mm thickness, are attached strain. gauges. This study Provides an example of how ESPI has been used to measure stress and strain inspecimen. The results measured by ESPI are compared with the data which was measured by strain gauge method under tensile testing.

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Electrochemical Characteristics of $LaNi_5$ Electrode Fabricated by Ni and Cu Electroless Plating Techniques (Ni 및 Cu무전해 도금법에 의해 제조한 $LaNi_5$ 전극의 전기화학적 특성)

  • Yi Su Youl;Lee Jae-Bong
    • Journal of the Korean Electrochemical Society
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    • v.3 no.2
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    • pp.121-126
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    • 2000
  • The effect of electroless Ni and Cu plating on $LaNi_5$, $AB_5$ type hydrogen storage alloy was investigated by the various electrochemical techniques such as constant current charge-discharge test, cyclic voltammeoy, and a.c. impedance spectroscopy. Scanning electron microscopy and X-ray diffraction test were conducted for phenomenological logical analyses. Cyclic Voltammetry results show that activation characteristics, cycle life and reaction ,rate were improved through electroless Ni and Cu plating. Compared with bare $LaNi_5$ the charge transfer resistance of electrode was greatly reduced as charge-discharge cycle increases. Therefore, electroless Ni and Cu plating on $LaNi_5$ alloy tends to accelerate the early activation, increasing the cyclic lift of electrode.