• Journal of the Institute of Electronics and Information Engineers
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• v.51 no.12
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• pp.72-82
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• 2014

Recently, the size of semiconductor industry market is constantly growing, due to the increase in diffusion of smart-phone, tablet PC and SSD(Solid State Drive). Also, it is expected that the demand for TLC NAND-type flash memory would gradually increase, with the recent release of TLC NAND-type flash memory in the SSD market. There have been a lot of studies on SLC NAND flash memory, but no research on TLC NAND flash memory has been conducted, yet. Also, a test of NAND-type flash memory is depending on a high-priced external equipment. Therefore, this study aims to suggest a structure for an autonomous test with no high-priced external test device by modifying the existing SLC NAND flash memory and MLC NAND flash memory test algorithms and patterns and applying them to TLC NAND flash memory.

• Journal of IKEEE
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• v.18 no.3
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• pp.435-441
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• 2014

The V2X cooperative communication system is fusion technology which makes vehicle manuver safer. To evaluate and anticipate effect of these kind of technology, it requires real-car based road construction, implementation of communication devices, hiring inspection specialized personnel. For this reason, many laboratories and universities experience difficulties to test their technology results. Also, the need of implementing reliable testbed for testing vehicle safety applications and V2X communication technology is increasing as V2X device development is being accelerated. In this paper, we implemented a system which synchronizes traffic and network simulators via developing External interface to set simulation based testing environment in order to solve the difficulties.

• Journal of IKEEE
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• v.18 no.1
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• pp.77-95
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• 2014

In general, image acquisition characteristics tests of image sensors and modules vary widely according to the characteristics of image sensors and modules under test, the application purpose of target devices where image sensors and modules are mounted, and the functions of test equipments. However, some de facto standard tests are frequently used in industry fields. They differ only in several parameters e.g. thresholds for fault detection, and they can be applied to most image sensors and modules. In this paper, 11 typical tests are explained in detail, and they are described in a simple and clear form under single framework, which significantly reduces errors and saves efforts.

• 전자공학회논문지 IE
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• v.45 no.3
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• pp.5-12
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• 2008

We propose efficient scan testing method capable of reducing the test data and power dissipation for digital logic circuits. The proposed testing method is based on a hybrid run-length encoding which reduces test data storage on the tester. We also introduce modified Bus-invert coding method and scan cell design in scan cell reordering, thus providing increased power saving in scan in operation. Experimental results for ISCAS'89 benchmark circuits show that average power of 96.7% and peak power of 84% are reduced on the average without fault coverage degrading. We have obtained a high reduction of 78.2% on the test data compared the existing compression methods.

• KIPS Transactions on Software and Data Engineering
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• v.6 no.8
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• pp.401-410
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• 2017

This paper proposes a method to generate test cases in an automatic manner, based on checklist containing test cases used for testing embedded systems. In general, the items to be tested are defined in a checklist. However, most test case generation strategies recommend to test a system with not only the defined test items but also various mutated test conditions. The proposed method parses checklist in Korean file and figures out the system inputs and outputs, and operation information. With the found information and the user defined test case generation strategy, the test cases are automatically generated. With the proposed method, the errors introduced during manual test case generation may be reduced and various test cases not defined in checklist can be generated. The proposed method is implemented and the experiment is performed with the checklist for an medical embedded system. The feasibility of the proposed method is shown through the test cases generated from the checklist. The test cases are adequate to the coverages and their statistics are correct.

• Proceedings of the Korean Society of Broadcast Engineers Conference
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• 2014.11a
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• pp.256-258
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• 2014

현재 우리나라 무대조명 업계내의 시장은 시간이 흐르면서, 조명개발이 더욱 화려하고 실용적인 장비들로 개발되고 있다. 다양한 개발에 앞서 무대조명 등기구의 광학적, 상용적 그리고 구체적인 테스트 방법의 기준이 전무한 상태이다. 업체별로 많은 기준들을 선보이고 있지만, 선택하는 이용자에게 혼란만 야기되므로 통일되고 규범화 시킬 필요성이 있다고 생각한다. 그래서 무대 등기구 가운데 무빙라이트에 대하여 국내외적인 등기구 측정방법과 시스템 구조기술에 대한 내용 중 광학적 성능, 소음제어, 온도제한의 조건 등 대하여 간략하게 제시하고자 하며, 이를 바탕으로 무대조명 장비의 표준화 형성에 도움이 될 수 있도록 제안하였다.

• Proceedings of the Korean Institute of Navigation and Port Research Conference
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• 2014.10a
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• pp.289-290
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• 2014

DGPS 서비스를 위한 기존 송신기는 노후화로 인한 잦은 장애가 발생하여 효율적인 관리 및 운영에 많은 애로사항이 있으며 장애가 발생하였을 시, 외국산 장비로 인하여 이를 신속하게 대처하기가 힘들고 비용이 많이 지출되는 문제가 있다. 이러한 문제점을 해결하고 기존의 송신기를 대체하기 위해 성능을 향상시킨 국산화 송신기를 개발중에 있다. 현재 개발중인 국산화송신기의 성능을 점검하고 위성항법중앙사무소의 기반시스템을 이용하여 국산화 송신기의 테스트 자료를 분석 후, 기존 송신기와의 데이터 대비를 통해 사용 적합성과 성능 향상으로 인한 이점을 알아본다.

• Proceedings of the Korea Information Processing Society Conference
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• 2017.11a
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• pp.839-841
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• 2017

일반적으로 자율 주행에 딥러닝을 적용하기 위해서 실제 차량에 관련 장비를 설치하고 테스트 한다. 본 논문에서는 The Open Racing Car Simulator(TORCS)에서 다양한 신경망 구조를 적용하도록 Convolutional Neural Network(CNN)을 통하여 학습 및 테스트할 수 있는 시스템을 제안한다. 가상 환경에서 테스트함으로써 하드웨어를 구매하거나 제작하지 않아도 되며 신경망 구조를 선택후 학습함으로써 다양한 데이터에 적합한 신경망 구조를 적용할 수 있다.

• Proceedings of the Korean Society of Broadcast Engineers Conference
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• 2019.06a
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• pp.334-337
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• 2019

본 논문은 2016 년 제정된 "개방형 클라우드 기반 스마트 방송 플랫폼" 표준(TTAK.KO-07.0129)을 준용하여 개발된 클라우드 방송 플랫폼이 표준의 기술 요구사항을 준수하여 적합하게 구현되었는지 테스트 하기 위한 시험환경 구현에 대해 다룬다. 적합성 시험을 위한 시험항목, 기준, 절차 등이 정의되어 있는 "개방형 클라우드 기반 스마트 방송 플랫폼 표준 적합성 시험" 표준(TTAK.KO-07.0135) 은 2017 년 제정되었으며 이를 기반으로 130 여 개의 테스트케이스가 함께 개발되었다. 테스트케이스를 실제 클라우드 방송 환경과 유사한 조건에서 실행시키기 위하여 방송 송출서버, 이미지 클라우드 서버, 비디오 클라우드 서버, 관리서버 등의 장비로 시험환경을 구축하였다. 그리고 표준기반으로 개발된 클라우드 방송 표준기반 테스트 플랫폼을 통하여 클라우드 방송 적합성 시험환경의 유효성을 검증하였다.

• Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea SD
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• v.44 no.11
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• pp.65-73
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• 2007

This paper introduces design-for-test (DFT) techniques for low-cost system-on-chip (SoC) test. We present a Scan-Test method that controls IEEE 1500 wrapper thorough IEEE 1149.1 SoC TAP (Test Access Port) and design an at-speed test clock generator for delay fault test. Test cost can be reduced by using small number of test interface pins and on-chip test clock generator because we can use low-price automated test equipments (ATE). Experimental results evaluate the efficiency of the proposed method and show that the delay fault test of different cores running at different clocks test can be simultaneously achieved.