• 제목/요약/키워드: 스캔효율

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스캔체인의 레이아웃 거리를 고려한 Test Wrapper 설계 (Efficent Test Wrapper Design Considering Layout Distance of Scan Chain)

  • 정준모
    • 한국산학기술학회:학술대회논문집
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    • 한국산학기술학회 2008년도 춘계학술발표논문집
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    • pp.189-191
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    • 2008
  • 본 논문에서는 스캔 체인의 레이아웃 거리를 고려한 효율적인 Test Wrapper 설계 방식을 제안한다. SoC내의 스캔체인들을 테스트 하기 위해서는 외부 TAM line에 각 스캔체인들을 할당해야 한다. IP 내에 존재하는 스캔체인들은 스캔체인간 레이아웃 거리를 갖게 되며 이 거리가 클럭주기를 넘어가는 경우 체인의 타이밍 위반(Timing violation)이 발생될 수 있다. 본 논문에서는 타이밍 위반이 발생하지 않도록 체인간 거리를 고려하여 스캔체인을 할당하는 새로운 test wrapper 설계 방식을 제안하였다.

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SoC 내의 효율적인 Test Wrapper 설계 (Efficient Test Wrapper Design in SoC)

  • 정준모
    • 한국산학기술학회논문지
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    • 제10권6호
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    • pp.1191-1195
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    • 2009
  • 본 논문에서는 스캔 체인의 레이아웃 거리를 고려한 효율적인 Test Wrapper 설계 방식을 제안한다. SoC내의 스캔체인들을 태스트하기 위해서는 외부 TAM 라인(line)에 각 스캔체인들을 할당해야 한다. IP 내에 존재하는 스캔체인들은 정상모드에서는 타이밍 위반(Timing Violation)이 발생하지 않도록 레이아웃이 되지만, 테스트 모드에서는 TAM 라인(line)과 연결되는 스캔체인들 간에 부가적인 레이아웃 거리를 갖게 되므로 스캔체인에서 타이밍 위반이 발생될 수 있다. 본 논문에서는 타이밍 위반이 발생하지 않도록 체인간 레이아웃거리를 고려하여 스캔체인을 할당하는 새로운 test wrapper 설계 방식을 제안하였다.

안전한 포트 스캔 탐지 시스템의 설계 및 구현 (Design and Implementation of Safe Port Scan Detection System)

  • 강진석;윤종철;강흥식
    • 한국정보과학회:학술대회논문집
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    • 한국정보과학회 2002년도 가을 학술발표논문집 Vol.29 No.2 (1)
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    • pp.640-642
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    • 2002
  • 오늘날 포트 스캔과 같은 취약점 분석 도구들의 보급 확대로 인해 공공의 호스트나 개인 호스트들의 침입 사례가 증폭되고 있는 실정이다. 더욱이, 포트 스캔의 공격 형태 또한 나날이 그 기법이 지능화와 더불어 서비스 거부 공격을 이용한 시스템 무력화라는 형태로 발전하고 있어 기존의 시스템으로는 탐지와 대응에 어려움이 가중되고 있다. 따라서 본 논문에서는 이러한 지능적이면서 공격적인 포트 스캔에 대응하여 호스트를 효율적으로 유지할 수 있는 안전한 포트 스캔 탐지 시스템을 제안한다. 본 시스템은 기존의 NIDS 탐지 기법과는 달리 IP와 TCP 소켓 정보를 동시에 활용하여 포트 스캔을 이용한 서비스 거부 공격시에 적절한 대응책으로 동일 IP 주소에 따른 선택적 로그 파일 저장 기법과 해시 알고리즘을 이용한 데이터 저장 기법이라는 제반 사항들을 구현함으로써 현재 대부분의 탐지 시스템들이 간과하고 있는 포트스캔을 통한 서비스 거부 공격에 대한 일정 수준의 보호를 가능하게 하였다.

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효율적인 테스트 데이터 압축 방법 (Efficient Test Data Compression Method)

  • 정준모
    • 한국정보통신학회:학술대회논문집
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    • 한국정보통신학회 2012년도 춘계학술대회
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    • pp.690-692
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    • 2012
  • 본 논문에서는 IP 코어(core)의 스캔 테스트(scan test)에 있어서 테스트 전력소모를 고려한 효율적인 테스트 데이터 압축방법을 제안한다. 스캔 슬라이스(Scan slice)의 선택적 부호화를 이용한 테스트 데이터 압축에 대한 연구는 많이 진행되어 왔으나 전력소모를 고려하진 않았다. 스캔 슬라이스의 don't care에 값을 할당할 때, 이웃한 슬라이스와 해밍거리가 최소화 되도록 값을 할당하여 스위칭 전력소모가 최소가 되도록 하였다. 테스트 회로에 적용하여 알고리즘을 검증하였다.

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ALS의 스캔라인 특성을 이용한 효율적인 포인트 클라우드의 분리

  • 한수희;유기윤
    • 한국GIS학회:학술대회논문집
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    • 한국GIS학회 2006년도 GIS/RS 공동춘계학술대회
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    • pp.223-226
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    • 2006
  • 본 연구에서는 ALS의 스캔라인 특성을 이용하여 포인트 클라우드를 효율적으로 분리하는 기법을 제시하였다. 이전 연구에서 제시하였던 방식에서 포인트 분류를 위한 쿼리 영역의 제한 기능을 강화시키고 효율적인 메모리 관리를 위하여 쿼리에 사용되지 않는 포인트를 영구 저장하여 메모리로부터 해제하는 기능을 추가하였다. 결과적으로 대용량의 포인트 데이터를 처리하는 동안 속도 저하 현상이 발생하지 않았으며 높은 정확도로 건물 포인트를 분리할 수 있었다.

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라인스캔 카메라 시스템을 이용(利用)한 스크랩 자동선별(自勳選別) 연구(硏究) (Automated scrap separating research using a line-scan camera system)

  • 김찬욱;김정수
    • 한국자원리싸이클링학회:학술대회논문집
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    • 한국자원리싸이클링학회 2006년도 춘계임시총회 및 제27회 학술발표대회
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    • pp.74-77
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    • 2006
  • 본 연구에서는 스크랩의 선별처리를 고속화하기 위한 방안으로 라인스캔 카메라를 이용한 색도인식 스크랩 선별시스템을 설계 제작하고 제작한 시스템을 이용하여 철 스크랩에 혼합되어 있는 Cu 스크랩을 자동으로 분리하는 시험연구를 행하였다. 스크랩선별 시스템은 크게 측정부, 이송부 및 ejector로 구분되며 이송되어 오는 스크랩 표면의 색도를 인식함으로써 임의로 지정한 특정한 표면색상의 스크랩만을 분리 하도록 되어 있다. 또한 본 연구에서는 선별처리의 고속화에 대응하기 위한 최적의 광원을 도출하기 위하여 주파수 가변 광원시스템을 제작하고 이를 이용하여 최적의 광원을 도출하였다. 도출된 최적의 광원조건하에서 철스크랩중에 혼입되어 있는 Cu 스크랩을 분리하는 선별시험을 행한 결과, 스크랩 이송속도가 15 m/min.에서 90% 이상의 인식효율과 약 75%이상의 분리효율을 나타내어 향후 고효율의 ejecting 시스템이 구현된다면 산업적으로 적용가능성이 매우 높은 것으로 판단되었다.

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System-On-a-Chip(SOC)에 대한 효율적인 테스트 데이터 압축 및 저전력 스캔 테스트 (Low Power Scan Testing and Test Data Compression for System-On-a-Chip)

  • 정준모;정정화
    • 대한전자공학회논문지SD
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    • 제39권12호
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    • pp.1045-1054
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    • 2002
  • System-On-a-Chip(SOC)에 대하여 테스트 데이터 압축 및 저전력 스캔테스팅에 대한 새로운 알고리즘을 제안하였다. 스캔벡터내의 don't care 입력들을 저전력이 되도록 적절하게 값을 할당하였고 높은 압축율을 갖도록 적응적 인코딩을 적용하였다. 또한 스캔체인에 입력되는 동안 소모되는 scan-in 전력소모를 최소화하도록 스캔벡터의 입력 방향을 결정하였다. ISCAS 89 벤치마크 회로에 대하여 실험한 결과는 평균전력 소모는 약 12% 감소되었고 압축율은 약 60%가 향상됨을 보였다.

Signal Integrity 연결선 테스트용 다중천이 패턴 생성방안 (An Effective Multiple Transition Pattern Generation Method for Signal Integrity Test on Interconnections)

  • 김용준;강성호
    • 대한전자공학회논문지SD
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    • 제45권10호
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    • pp.39-44
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    • 2008
  • 스캔 테스트 기법은 효과적인 테스트 성능 향상 기법이지만, 이를 위한 테스트 수행 시간이 너무나 길어진다는 단점이 있다. 본 논문에서는 동일한 테스트 입력을 이용하는 Illinois 스캔 기법을 기반으로 한 효율적인 스캔 테스트 기법을 제안한다. 제한하는 방안은 다수의 스캔 입력에 선택적으로 접근하여 다중 스캔 기법의 효과를 최대한으로 이용한다. 실험 결과는 제안하는 방안이 입력을 공유하기 위한 효율을 극대화 하여 매우 적은 테스트 시간과 테스트 데이터만을 필요로 함을 보여준다.

SOC(System-On-a-Chip)에 있어서 효율적인 테스트 데이터 압축 및 저전력 스캔 테스트 (Efficient Test Data Compression and Low Power Scan Testing for System-On-a-Chip(SOC))

  • 박병수;정준모
    • 한국콘텐츠학회논문지
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    • 제5권1호
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    • pp.229-236
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    • 2005
  • System-On-a-Chip(SOC)을 테스트하는 동안에 요구되는 테스트 시간과 전력소모는 SOC내의 IP 코어의 개수가 증가함에 따라서 매우 중요하게 되었다. 본 논문에서는 수정된 스캔 래치 재배열을 사용하여 scan-in 전력소모와 테스트 데이터의 양을 줄일 수 있는 새로운 알고리즘을 제안한다. 스캔 벡터 내의 해밍거리를 최소화하도록 스캔 래치 재배열을 적용하였으며 스캔 래치 재배열을 하는 동안에 스캔 벡터 내에 존재하는 don't care 입력을 할당하여 저전력 및 테스트 데이터 압축을 하였으며 ISCAS 89 벤치마크 외호에 적용하여 모든 경우에 있어서 테스트 데이터를 압축하고 저전력 스캔 테스팅을 구현하였다.

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