The Effect of Ar/H2 Plasma Hydrogenation on the Surface Roughness and Resistivity Variation of Poly-SiGe Thin Film (Ar/H2 플라즈마 수소화 처리가 Poly-SiGe 박막의 표면거칠기 및 비저항 변화에 미치는 영향)
-
- Proceedings of the Materials Research Society of Korea Conference
- /
- 1997.05a
- /
- pp.109-109
- /
- 1997