• 제목/요약/키워드: 번인(burn in)

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동적 존 할당이 가능한 번인 시험 시스템 (A Burn-in Test System with Dynamic Bone Allocation)

  • 오삼권;신중한
    • 한국산학기술학회논문지
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    • 제10권1호
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    • pp.75-80
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    • 2009
  • 번인 시험(burn-in test)은 초기 장애가 예측되는 반도체 소자들을 제거하기 위한 시험으로서, 보통 소자에 전압, 온도 및 시간 등의 가혹 조건을 가하며 행해진다. 이런 번인 시험을 위해서는 시험할 소자들을 가진 번인 보드들을 해당 슬롯(slot)들에 삽입할 필요가 있다. 이런 슬롯들의 집합을 존(zone)이라 부른다. 한 존을 구성하는 슬롯들은 동종 반도체 소자들을 가진 번인 보드들만을 가질 수 있다. 따라서 많은 이종 반도체 소자들의 시험을 위해서는 존 수가 많도록 번인 시험 시스템을 구성하는 것이 바람직하다 존을 제어하는 존 컨트롤러는 번인 시험을 수행하고 결과를 수집하는 장치이다. 기존 시스템의 경우, 각 존 컨트롤러는 일정 수의 슬롯들로 구성된 한 존의 시험을 담당한다. 대개, 존 컨트롤러는 번인 시험의 전반을 통제하는 한 워크스테이션 내에 내장되어 있으므로 이들의 추가는 물리적 공간의 제약을 받는다. 본 논문은 이런 문제들의 해결이나 완화를 위한 한 방법으로서 존의 슬롯 수를 동적으로 할당할 수 있는 동적 존 시스템을 제안한다. 이 시스템은 존의 슬롯 수를 가변시켜 빈 슬롯을 최소화함으로써 시스템의 운영 효율을 극대화한다. 또한 기존 시스템의 경우에는 정비를 위해 진행 중인 시험을 모두 중지시켜야 하지만, 동적 존 시스템의 경우에는 시스템에 전력을 공급하는 주 전원이 문제가 되지 않는다면 슬롯별로 개별적인 유지보수가 가능하다.

우주 발사체용 부품의 번인시험 적용방안 (Application Method of Burn-In Test to the Components for Space Launch Vehicle)

  • 박종찬;전영두;정의승;박정주
    • 항공우주기술
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    • 제6권1호
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    • pp.165-172
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    • 2007
  • 우주 발사체는 수많은 부품으로 이루어져 있기 때문에 개발 성공을 위해서는 사소한 부품 하나라도 그 기능을 제대로 발휘하고 고장이 없어야 한다. 이를 위해서 우주 발사체용 부품 및 시스템 개발에는 수많은 시험을 수행하게 된다. 일반적으로 번인시험(burn-in test)은 생산된 제품이 재질이나 작업자의 미숙에 의해 초기 사용기간 중 발생될 수 있는 고장요인을 찾아내기 위한 시험을 통칭한다. 해외 선진국의 경우 번인시험에 대해 규격으로 기술하고 있으며 이에 따라 시험을 수행한다. 본 논문에서는 KSLV-I과 같이 국내에서 개발될 우주 발사체용 부품에 대한 번인시험 적용방법에 대해 고려해 보고자 한다.

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수율과 신뢰도의 상충효과를 고려한 번인 (Burn-in Considering a Trade-Off of Yield and Reliability)

  • 김경미
    • 산업공학
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    • 제20권1호
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    • pp.87-93
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    • 2007
  • Burn-in is an engineering method for screening out products containing reliability defects which would cause early failures in field operation. Previously, various burn-in models have been proposed mainly focused on the trade-off of shop repair cost and warranty cost ignoring manufacturing yield. From the view point of a manufacturer, however, burn-in decreases warranty cost at the expense of yield reduction. In this paper, we provide a general model quantifying a trade-off between product yield and reliability, in which any defect distribution from previous yield models can be used. A profit function is expressed in burn-in environments for determining an optimal burn-in time. Finally, the method is illustrated with gate oxide failures which is an important reliability concerns for VLSI CMOS circuits.

비 직렬 시스템의 신뢰도 최적화를 위한 시스템 번인 (Optimal System Burn-in for Maximizing Reliability of Non-series Systems)

  • 김경미
    • 대한산업공학회지
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    • 제33권2호
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    • pp.273-281
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    • 2007
  • The decision of how long performing system burn-in must be answered with a probabilistic model of a system lifetime at which infant mortality failures created during assembly processes are quantified. In this paper, we propose such a model which is modified from previous results. Using the system model, we derived system reliability in terms of component and system burn-in times for the two cases of minimal repair at system failure and of component replacement and connection repair at their failure times. The procedure is illustrated with a bridge system and the optimal system burn-in times are obtained for maximizing system reliability. The result suggests that an assumption of minimal repair at system failure may underestimate the optimal burn-in time in practice.

중정비 신뢰성 향상을 위한 Burn-in 시험 적용 사례연구 (Burn-in Test Case Study for Heavy Maintenance to Improve the Reliability)

  • 김한영;이진춘
    • 한국철도학회논문집
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    • 제15권6호
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    • pp.566-571
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    • 2012
  • 도시철도차량의 출입문 장치는 중정비 6년 검사에서 총 75종 단위부품 중 34종 75개의 부품을 정기적으로 교체하며, 나머지 비정기 교환부품인 40종 68개 부품도 필요 시 교체하고 있어 사실상 초기제품에 가까운 상태가 되며, 한편으로는 기존 부품과 다수의 교환된 부품이 혼용 사용되면서 완전한 신품과는 또 다른 제품특성을 가지게 된다. 본 연구는 이러한 출입문 장치의 정비 후 특징을 고려하여 도시철도차량의 신뢰성을 향상하는 방법으로 번인시험을 제안하며 시험에 적합한 조건과 목표 값을 새롭게 제시하였다.

비용을 극소화하는 최적 번인시간 결정 (Cost Optimizing Burn-in Time Determination)

  • 이상용;박해근
    • 품질경영학회지
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    • 제21권2호
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    • pp.102-108
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    • 1993
  • The purpose of burn-in is to eliminate the early failures of the products before they are delivered for customer use. Therefore burn-in should he continued until one is reasonally sure that all the weak items have failed, thus leaving the remaining items in a healthy state of reliability. From this point of view, burn-in time dependent costs such as a cost per product per burn-in time, and cost of repair of the product per failure occurred during burn-in time will he increased. Conversely, the cost of field repair of the product per failure occurred during the guarantee period will be decreased since the early failure of the product is fully eliminated during burn-in. Hence, this paper intend to determine optimal burn-in time which minimize the total of above costs associated with burn-in.

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분포형 모형을 이용한 홍수량 산정방법의 국내유역 적용성 검토 (The Application of Distributed Model in Rainfall-Runoff)

  • 박진원;이진우;조용식
    • 한국방재학회:학술대회논문집
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    • 한국방재학회 2010년도 정기 학술발표대회
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    • pp.60.2-60.2
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    • 2010
  • 본 연구에서는 분포형 강우-유출 모델을 이용한 홍수량 산정방법을 국내 유역에 도입하여 그 적용성을 검토하였다. 대상지역은 강우-유출 자료가 체계적으로 관리되고 있는 평창강 유역으로 선정하였으며, 하천도와 흐름경로도는 수치지도상의 하천성을 이용하여 수치고도모델에서 하도의 번인(Burn-In)기능을 사용하여 생성하였다. 1983년부터 2006년까지 관측된 호우사상중 1,000이상의 첨두홍수량을 발생시킨 6개의 주요 호우사상들에 대해 모의하였으며, 모형의 결과는 실측치와 비교하여 잘 일치하였다. 분포형 모형을 적용하게 되면 매우 작은 지방2급 하천까지의 계획의 수립이 가능하기에 본 모형을 통한 홍수량 산정의 품질이 크게 업그레이드 될 것이라 판단된다.

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하드웨어 번인과 소프트웨어 시험 (Hardware Burn-in and Software Testing)

  • 유영관;이종무
    • 대한안전경영과학회:학술대회논문집
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    • 대한안전경영과학회 2001년도 춘계학술대회
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    • pp.77-81
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    • 2001
  • Burn-in is a test procedure to find and eliminate the inherent initial failure of a product during or at the final stage of production process. Software testing is the validation and verification process which is used to cut off the faults from a software. The two have the common function and objective of "debugging". This article summarizes some significant models on the optimal hardware and software burn-in time, and provides the relevant paper lists. The need for the development of the unified burn-in policy of a hardware-software system is addressed.addressed.

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셀룰로오스 혼방 니트 편포의 착색번아웃 날염복합기술에 관한 연구 (A Study on the Cellulose Blend Knit Fabrics using Burn-out Printing Convergence Technology)

  • 조호현;정명희;이종렬
    • 한국의상디자인학회지
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    • 제16권4호
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    • pp.229-235
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    • 2014
  • This study conducted a research on burn-out printing convergence technology for cellulose blend knit fabrics. Printing technology, which forms color pattern on the fabric, can be generally classified into four according to printer or printing method, e.g. screen printing, roller printing, rotary printing, digital printing. However, these printing methods are flat in design or pattern, which have limitation to overcome monotonousness of fabric, so that recently burn-out process method, which expresses three-dimensional pattern effect by treating chemical on the surface of fabric as the method to appeal its esthetics to the customers. Particularly, in case of cellulose/polyester composite material, first, it is proceeded in 2 processes, by dyeing cellulose or polyester fabric and burning out cellulose fabric, in this process, due to pollution caused by disperse dye migration, color of polyester fabric part could be discolored, which has high falt risk. This research considered coloring burn-out technique, which simultaneously proceed dyeing and burn-out by reducing dyeing and burn-out process to 1 stage, which were proceeded in 2 stages previously. As the research result, it was confirmed that reasonable depth of roller was 0.04~0.06mm in roller printing process, heat treatment condition of burn-out far-infrared radiation was $185^{\circ}C{\times}30m/min$. Color fastness to washing was confirmed to be 4-5 grade, color fastness to rubbing, 3-4 grade, color fastness to light, 4 grade. Also, it was confirmed that energy reduction effect appeared 38.19%, in case of energy cost per yard compared to the existing production, also, 19.74%, in case of production cost.

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공간적 확률 과정 기반의 수율 정보를 이용한 번인과 신뢰성 검사 정책 (Differential Burn-in and Reliability Screening Policy Using Yield Information Based on Spatial Stochastic Processes)

  • 황정윤;심영학
    • 산업경영시스템학회지
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    • 제35권4호
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    • pp.1-9
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    • 2012
  • Decisions on reliability screening rules and burn-in policies are determined based on the estimated reliability. The variability in a semiconductor manufacturing process does not only causes quality problems but it also makes reliability estimation more complicated. This study investigates the nonuniformity characteristics of integrated circuit reliability according to defect density distribution within a wafer and between wafers then develops optimal burn-in policy based on the estimated reliability. New reliability estimation model based on yield information is developed using a spatial stochastic process. Spatial defect density variation is reflected in the reliability estimation, and the defect densities of each die location are considered as input variables of the burn-in optimization. Reliability screening and optimal burn-in policy subject to the burn-in cost minimization is examined, and numerical experiments are conducted.