• 제목/요약/키워드: 단차 측정

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굴절률 차이와 디지털 홀로그래피를 이용한 큰 단차측정 (Height Measurement by Refractive Index Difference and Digital Holography)

  • 조형준;김두철;유영훈;신상훈;이혁수
    • 한국광학회지
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    • 제20권2호
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    • pp.81-86
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    • 2009
  • 디지털 홀로그램과 굴절률 차이를 이용하여 사용된 광원의 파장보다 큰 단차를 측정하는 연구를 하였다. 위상차를 측정하여 단차를 측정하는 방식에서는 위상차가 $2{\pi}$보다 큰 경우에는 원리상 단차를 구하기 어렵다. 이를 보완하기 위하여 굴절률 차이를 이용하여 인위적으로 광경로차를 줄여 파장보다 큰 단차를 측정할 수 있는 디지털 홀로그래피 시스템을 구성하였고, 실험적으로 파장의 약 3배 이상의 단차를 측정하였다.

표면 형상측정을 위한 큰 등가파장 회절격자 간섭계

  • 황태준;이혁교;김승우
    • 한국광학회:학술대회논문집
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    • 한국광학회 2000년도 제11회 정기총회 및 00년 동계학술발표회 논문집
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    • pp.178-179
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    • 2000
  • 표면 형상측정은 산업계에서 요구되는 고부가가치 기계부품들의 표면 정보의 확보와 향상에 반드시 필요하다. 이는 정밀부품의 정상적인 기능 수행에 대한 판별과 예측에 중요한 위치를 차지한다. 광원파장의 1/4 이상의 단차를 측정할 수 없는 기존의 간섭계는 이러한 큰 단차와 거친 표면을 가지고 있는 기계가공된 표면들을 측정하는데 어려움이 있다. (중략)

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두 파장 백색광 간섭계를 이용한 금속물질의 단차 측정 (Self-compensation of the phase change upon reflection in two-wavelength white light interferometry for step height measurement)

  • 김승우
    • 한국광학회지
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    • 제11권5호
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    • pp.317-322
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    • 2000
  • 본 논문에서는 두 파장 백색광 간섭법을 이용하여 금속물질을 단차 측정 시 발생하는 오차를 최소화하는 새로운 자가 보정법을 제안한다. 금속 물질의 파장에 대한 위상 변화율은 백색광 간섭무늬의 가시도 정점에 오차로 작용하는데, 자가 보정법은 위상 변화율을 일차 직선으로 가정하고 이를 추출하여 단차 값에 보상한다. 본 자가 보정법은 두 파장 백색광 간섭무늬가 갖는 두 개의 위상 정점과 한 개의 가시도 정점으로부터 위상 변화율 오차를 추출하므로, 별도의 실험이 필요하지 않다. 실험을 통하여 두 개의 금속 물질로 이루어진 단차를 $\pm2nm$ 이내의 오차로 측정함을 보인다.

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수정된 화인 맵을 이용한 2-파장 홀로그래피와 잡음 제거 연구 (Study on Error Reduction in Dual Wavelength Digital Holography Using Modified Fine Map)

  • 유영훈
    • 한국광학회지
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    • 제22권3호
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    • pp.129-133
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    • 2011
  • 2-파장 홀로그래피에서 수정된 화인 맵을 이용하여 2-파장 홀로그래피에서 발생하는 잡음 증폭현상을 줄이는 연구를 수행하였다. 일반 적인 화인 맵은 측정체의 단차가 2-파장 홀로그래피에 사용되는 광원의 파장보다 작은 경우에는 잡음을 잘 줄일 수 있으나, 단차가 파장 보다 큰 경우에는 측정 결과에 영향을 주어 잘못 된 측정 결과를 보인다. 이러한 오차를 줄이기 위하여 수정된 화인 맵을 이용하였으며, 그 결과 측정체의 단차가 파장 보다 큰 경우에도 측정에 영향을 주지 않고 잡음을 줄일 수 있음을 확인 하였다.

패턴 빔을 이용한 BGA 단차 측정 (BGA Height Measurement Using Pattern Beam)

  • 신상훈;유영훈
    • 한국광학회지
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    • 제20권6호
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    • pp.361-365
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    • 2009
  • 본 연구에서는 패턴 빔을 이용하여 표면이 거친 물체의 단차를 비접촉 방식으로 측정 하는 방법에 대하여 연구하였다. 본 연구에 사용된 방법은 장치가 매우 간단하고 스페클 노이지가 영상에 미치는 영향이 작아 재현성 면에서 매우 우수하였다. 특히 기준면에 문양이 없는 경우에는 기존의 자동 초점 측정 장치로는 측정하기 어려우나, 본 연구 방법에 의해 측정이 가능함을 보였다. 그리고 측정 시간이 매우 짧고 재현성이 좋으며 장치가 간단하여 산업 현장에서 응용하기 적절한 방법이다.

디지털 홀로그래피를 이용한 포토리소그래피 공정 제품 패터닝의 폭과 단차 측정 (Measurement of Width and Step-Height of Photolithographic Product Patterns by Using Digital Holography)

  • 신주엽;강성훈;마혜준;권익환;양승필;정현철;홍정기;김경석
    • 비파괴검사학회지
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    • 제36권1호
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    • pp.18-26
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    • 2016
  • 반도체 산업은 우리나라 주력산업중 하나로 매년 꾸준한 성장세를 보이며 지속적인 성장을 하고 있다. 이러한 반도체 산업에서의 중요한 기술은 소자의 고 집적화이다. 이는 면적당 메모리 용량을 증가시키는 것으로 핵심역할을 하는 것이 바로 포토리소그래피 기술이다. 포토리소그래피란 마스크의 표면에 빛을 쬐어 생기는 그림자를 웨이퍼 상에 인쇄하는 기술이며 반도체 제조공정에서의 가장 중요한 공정이다. 이러한 공정을 통해 나온 패터닝을 분석 시에 폭과 단차의 균일성을 측정한다. 이에 따라 본 논문은 포토리소그래피 공정이 적용된 시험편 패터닝에 폭과 판 사이와의 단차를 투과형 디지털 홀로그래피를 구성하여 측정하고자 한다. 투과형 디지털 홀로그래피 간섭계를 구성하고 시험편에 임의의 9포인트를 설정하여 각 포인트를 측정하고 상용장비인 SEM (scanning electron microscopy)과 alpha step으로 측정한 결과와 비교하고자 한다. 투과형 디지털 홀로그래피는 측정시간이 타 기법에 비에 짧다는 장점과 배율렌즈를 사용하기 때문에 저 배율에서 고 배율로 변경하여 측정할 수 있는 장점을 가지고 있다. 실험 결과로부터 투과형 디지털 홀로그래피가 포토 리소그래피가 적용된 패터닝 측정에 유용한 기술임을 확인할 수 있었다.

시멘트 콘크리트 포장확장시 포장하부지반의 강성과 변위발생의 상관성 분석 (Analysis of Relation between Foundation Stiffness and Deformation below Widening Portland Cement Concrete Pavement Sections)

  • 양성철;임유진
    • 한국방재학회 논문집
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    • 제9권6호
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    • pp.41-49
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    • 2009
  • 콘크리트 포장 확장공사시 하부지반의 다짐도 부족과 이로 인한 강성 및 지내력 발생차이는 접속부에서의 벌어짐, 단차, 밀림 등을 발생시키지만 이들 상호간의 연관성에 대한 국내연구는 매우 부족하였다. 본 연구에서는 평판재하시험(PBT)과 공내재하시험(PMT)을 이용하여 확장부 및 기존포장부에서 하부기초 강성측정을 각각 시도하고 그 시험결과를 바탕으로 확장부 및 기존도로부의 강성차이의 크기발생 차이를 분석하였으며 아울러 확장구간과 기존구간의 지내력과 강성 차이 및 접속부의 처리방안의 차이에 의한 포장슬래브의 거동을 평가하기 위해 고안된 변위계를 현장에 설치하여 벌어짐, 단차, 밀림의 발생현상을 관찰하고 이들 사이의 상호연관성과 발생 원인을 분석하여 그 원인을 규명하였다.

스퍼터링 공법으로 제작한 ITO 박막의 디지털 홀로그래피를 이용한 단차에 대한 측정 (Measurement of Step Difference using Digital Holography of ITO Thin Film Fabricated by Sputtering Method)

  • 정현일;신주엽;박종현;정현철;김경석
    • 한국기계가공학회지
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    • 제20권9호
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    • pp.84-89
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    • 2021
  • Indium tin oxide (ITO) transparent electrodes, which are used to manufacture organic light-emitting diodes, are used in light-emitting surface electrodes of display EL panels such as cell phones and TVs, liquid crystal panels, transparent switches, and plane heating elements. ITO is a major component that consists of indium and tin and is advantageous in terms of obtaining sheet resistance and light transmittance in a thin film. However, the optical performance of devices decreases with an increase in its thickness. A digital holography system was constructed and measured for the step measurement of the ITO thin film, and the reliability of the technique was verified by comparing the FE-SEM measurement results. The error rate of the step difference measurement was within ±5%. This result demonstrated that this technique is useful for applications in advanced MEMS and NEMS industrial fields.