Kim Sang Hyun;Choi Sun Rock;Hong Jonggan;Kim Dongsik
Transactions of the Korean Society of Mechanical Engineers B
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v.29
no.9
s.240
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pp.1065-1073
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2005
The thermal conductivity of water- and ethylene glycol-based nanofluids containing alumina $(Al_2O_3)$, zinc oxide (ZnO) and titanium dioxide $(TiO_2)$ nanoparticles is measured by varying the particle diameter and volume fraction. The transient hot-wire method using an anodized tantalum wire for electrical insulation is employed for the measurement. The experimental results show that nanofluids have substantially higher thermal conductivities than those of the base fluid and the ratio of thermal conductivity enhancement increases linearly with the volume fraction. It has been found that the ratio of thermal conductivity enhancement increases with decreasing particle size but no empirical or theoretical correlation can explain the particle-size dependence of the thermal conductivity. This work provides, for the first time to our knowledge, a set of consistent experimental data over a wide range of nanofluid conditions and can therefore serve as a basis for developing theoretical models to predict thermal conduction phenomena in nanofluids.
In this papaer, 7-segment was implemented using AC powder EL. ZnS:Cu and $BaTiO_3$ was used as a phosphor and dielectric respectively. The preparation of phosphor and dielectic layer was performed with screen printing. The implemented system of 7-segment was divided as following; EL display. driving circuit. software for driving. The properties of fabricated devices was measured with EL spectrum. brightness and J-V.
In this study,$ 5{\times}5$ dot-matrix display was implemented with powder electroluminescent device (PELD). Generally PELD which have a luminance from powder phosphor with electric field, inserted phosphor and dielectric layer between electrodes is basic structure. To make high brightness PELD compared to conventional device, new type of PELD was proposed as follows. New PELD had only one layer, which was mixed phosphor (ZnS:Cu) and dielectric (BaTiO3) material appropriately between electrodes. To compare and estimate the conventional and new type of PELD, the EL spectrum, transferred charge density, brightness and decay time was measured. As above result, we fabricated a hish brightness $ 5{\times}5$ dot-matrix display with new type of PELD. Its brightness was 6400 $cd/m^2$ at 200 V, 400Hz.
Journal of the Korean Institute of Telematics and Electronics A
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v.31A
no.5
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pp.101-105
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1994
The EL lamp have been fabricated by screen printing method. the thickness of BaTiO$_3$ dielectric layer and ZnS:Cu phosphor layer was 20 $\mu$m and 40 $\mu$m, respectively. The threshold voltage of green El lamp was 50 $V_{p-p}$ and the maximum brightness was 13.5 $\mu$ W/cm$^2$ at frequency of 700 Hz and the input voltage of 250 $V_{p-p}$. Also when the Rodamin G6 of 0.02 g was doped, the threshold voltage of white EL lamp was 70 $V_{p-p}$ and the maximum brightness was 34 $\mu$W/cm$^2$.
The geology of the Samdeok Mo deposit consists of Paleozoic Hwajeonri formation, Kowoonri formation, Suchangri formation, Iwonri formation, Hwanggangri formation, Cretaceous, leucocratic porphyritic granite and granitic porphyry. This deposit consists of three quartz veins that filled NS oriented fractured zones in Suchangri formation. Quartz veins vary from 0.05 m to 0.3 m in thickness and extend to about 400 m in strike length. Quartz veins occur as massive, breccia, and cavity textures. Wallrock alteration has silicification, sericitization, argillitization and chloritization. The mineralogy of the quartz veins consists of quartz, fluorite, white mica, biotite, apatite, monazite, rutile, ilmenite, molybdenite, chalcopyrite, Fe-Mg-Mn oxide and Fe oxide. White mica from Samdeok Mo deposit occurs as fine or coarse grains in quartz vein and hostrock and has four mineral assemblages (I type: quartz, molybdenite, Fe oxide and Fe-Mg-Mn oxide, II type: quartz, Fe oxide and Fe-Mg-Mn oxide, III type: quartz and biotite, and IV type: quartz). The structural formular of white mica from quartz vein is $(K_{0.89-0.60}Na_{0.05-0.00}Ca_{0.01-0.00}Sr_{0.02-0.00})_{0.94-0.62}(Al_{1.54-1.12}Mg_{0.36-0.18}Fe_{0.26-0.09}Mn_{0.04-0.00}Ti_{0.02-0.00}Cr_{0.02-0.00}Zn_{0.01-0.00})_{1.91-1.72}(Si_{3.40-3.11}Al_{0.92-0.60})_{4.00}O_{10}(OH_{1.68-1.42}F_{0.58-0.32})_{2.00}$, but white mica of I type has higher FeO content, and lower $SiO_2$ and MgO contents than white micas of other types. Also, compositional variations in white mica from the Samdeok Mo deposit are caused by phengitic or Tschermark substitution ($(Al^{3+})^{VI}+(Al^{3+})^{IV}{\leftrightarrow}(Fe^{2+}{\text{ or }}Mg^{2+})^{VI}+(Si^{4+})^{IV}$) and direct $(Fe^{3+})^{VI}{\leftrightarrow}(Al^{3+})^{VI}$ substitution.
Kim, Jang-Han;Kim, Hong-Ki;Jang, Ki-Hyun;Bae, Tae-Eon;Cho, Won-Ju;Chung, Hong-Bay
Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference
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2014.02a
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pp.373-373
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2014
Resistive-change random access memory (ReRAM) device is one of the promising candidates owing to its simple structure, high scalability potential and low power operation. Many resistive switching devices using transition metal oxides materials such as NiO, Al2O3, ZnO, HfO2, $TiO_2$, have attracting increased attention in recent years as the next-generation nonvolatile memory. Among various transition metal oxides materials, HfO2 has been adopted as the gate dielectric in advanced Si devices. For this reason, it is advantageous to develop an HfO2-based ReRAM devices to leverage its compatibility with Si. However, the annealing temperature of these high-k thin films for a suitable resistive memory switching is high, so there are several reports for low temperature process including microwave irradiation. In this paper, we demonstrate the bipolar resistive switching characteristics in the microwave irradiation annealing processed Ag/HfO2/Pt ReRAM device. Compared to the as-deposited Ag/HfO2/Pt device, highly improved uniformity of resistance values and operating voltage were obtained from the micro wave annealing processed HfO2 ReRAM device. In addition, a stable DC endurance (>100 cycles) and a high data retention (>104 sec) were achieved.
The Janggun Pb-Zn deposit has been known one of the four largest deposits (Yeonhwa, Shinyemi, Uljin) in South Korea. The geology of this deposit consists of Precambrian Weonnam formation, Yulri group, Paleozoic Jangsan formation, Dueumri formation, Janggum limestone formation, Dongsugok formation, Jaesan formation and Mesozoic Dongwhachi formation and Chungyang granite. This Pb-Zn deposit is hydrothermal replacement deposit in Paleozoic Janggum limestone formation. The wallrock alteration that is remarkably recognized with Pb-Zn mineralization at this deposit consists of mainly rhodochrositization and dolomitization with minor of pyritization, sericitization and chloritization. Wallrock alteration is divided into the five zones (Pb-Zn orebody -> rhodochrosite zone -> dolomite zone -> dolomitic limestone zone -> limestone or dolomitic marble) from orebody to wallrock. The white mica from wallrock alteration occurs as fine or medium aggregate associated with Ca-dolomite, Ferroan ankerite, sideroplesite, rutile, apatite, arsenopyrite, pyrite, sphalerite, galena, quartz, chlorite and calcite. The structural formular of white mica from wallrock alteration is (K0.77-0.62Na0.03-0.00Ca0.03-0.00Ba0.00Sr0.01)0.82-0.64(Al1.72-1.48Mg0.48-0.20Fe0.04-0.01Mn0.03-0.00Ti0.01-0.00Cr0.00As0.01-0.00Co0.03-0.00Zn0.03-0.00Pb0.05-0.00Ni0.01-0.00)2.07-1.92 (Si3.43-3.33Al0.67-0.57)4.00O10(OH1.94-1.80F0.20-0.06)2.00. It indicated that white mica from wallrock alteration has less K, Na and Ca, and more Si than theoretical dioctahedral micas. The white micas from wallrock alteration of Janggun Pb-Zn deposit, Yeonhwa 1 Pb-Zn deposit and Baekjeon Au-Ag deposit, and limestone of Gumoonso area correspond to muscovite and phengite and white mica from wallrock alteration of Dunjeon Au-Ag deposit corresponds to muscovite. Compositional variations in white mica from wallrock alteration of these deposits and limeston of Gumoonso area are caused by mainly phengitic or Tschermark substitution mechanism (Janggun Pb-Zn deposit), mainly phengitic or Tschermark substitution and partly illitic substitution mechanism (Yeonhwa 1 Pb-Zn deposit, Dunjeon Au-Ag deposit and Baekjeon Au-Ag deposit), and mainly phengitic or Tschermark substitution and partly illitic substitution or Na+ <-> K+ substitution mechanism (Gumoonso area).
Journal of Nuclear Fuel Cycle and Waste Technology(JNFCWT)
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v.4
no.1
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pp.59-64
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2006
Ion exchange resin particles should not be found in steam generator(S/G) sludge. The suspicious spherical resin particles observed in S/G sludge sample were characterized for particle size distribution under optical microscope using the micro-technique, for element analysis by the electron probe micro analysis (EPMA), and for molecular identification by the IR spectroscopy. The particle sizes are distributed from 1 to $200{\mu}m$ for the sludge, while 40 to $500{\mu}m$ for the spherical resin particles. The results of the elemental analysis showed different major impurities: Si, Al, Mn, Cr, Ni, Zn and Ti for the sludge particles, while Si, Cu, Zn for the spherical resin particles. However, both particles contain Fe as a matrix of magnetite $(Fe_3O_4)$. IR spectrum of the spherical particles was not quite similar to the IR spectrum of ion exchange resins used in S/G system. These results indicate that the spherical particles are not related to ion exchange resin particles and may be formed by the process of the sludge formation.
Proceedings of the Korean Radioactive Waste Society Conference
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2005.06a
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pp.129-136
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2005
There should not be ion exchange resin particles in S/G sludge. The suspicious spherical resin particles observed in S/G sludge sample were characterized for particle size distribution under optical microscope using the micro-technique, for element analysis by the electron probe micro analysis (EPMA), and for molecular identification by the IR spectroscopy The particle sizes are distributed from 1 to 200 ${\mu}m$ for the sludge, while 40 to 500 ${\mu}m$ for the spherical resin particles. The results of the elemental analysis showed different major impurities: Si, Al, Mn, Cr, Ni, Zn and Ti for the sludge particles, while Si, Cu, Zn for the spherical resin particles. However, both particles contain Fe as a matrix of hematite ($Fe_{3}O_4$). IR spectrum of the spherical particles was quite different from that of ion exchange resins used in S/G system. These results indicate that the spherical particles are not related to ion exchange resin particles and formed by the process of the sludge formation.
Transactions on Electrical and Electronic Materials
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v.18
no.4
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pp.181-184
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2017
Multilayer ceramics in which piezoelectric layers of $0.90Pb(Zr_{0.48}Ti_{0.52})O_3-0.05Pb(Mn_{1/3}Sb_{2/3})O_3-0.05Pb(Zn_{1/3}Nb_{2/3})O_3$ (0.90PZT-0.05PMS-0.05PZN) stack alternately with silver electrode layers were prepared by an advanced low-temperature co-fired ceramic (LTCC) method. The electrical properties and bonding strength of the multilayers were associated with the interface morphologies between the piezoelectric and silver-electrode layers. Usually, the inner silver electrodes are fabricated by sintering silver paste in multi-layer stacks. To improve the interface bonding strength, piezoelectric powders of 0.90PZT-0.05PMS-0.05PZN with an average particle size of $23{\mu}m$ were added to silver paste to form a gradient interface. SEM observation indicated clear interfaces in multilayer ceramics without powder addition. With the increase of piezoelectric powder addition in the silver paste, gradient interfaces were successfully obtained. The multilayer ceramics with gradient interfaces present greater bonding strength as well as excellent piezoelectric properties for 30~40 wt% of added powder. On the other hand, over addition greatly increased the resistance of the inner silver electrodes, leading to a piezoelectric behavior like that of bulk ceramics in multilayers.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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