• Title/Summary/Keyword: ${Y_2}{SiO_5}$

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Charge Pumping 방법을 이용한 비휘발성 SNOS FET기억소자의 Si-SiO$_2$계면상태 특성에 관한 연구 (A Study on the Si-SiO$_2$Interface State Characteristics of Nonvolatile SNOS FET Memories using The Charge Pumping Method)

  • 조성두;이상배;문동찬;서광열
    • 한국전기전자재료학회:학술대회논문집
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    • 한국전기전자재료학회 1992년도 춘계학술대회 논문집
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    • pp.82-85
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    • 1992
  • In this study, charge pumping method was used to investigate the Si-SiO$_2$interface characteristics of the nonvolatile SNOSFET memory devices, fabricated using the CMOS 1 Mbit processes (1.2$\mu\textrm{m}$ design rule), with thin oxide layer of 30${\AA}$ thick and nitride layer of 525${\AA}$ thick on the n-type silicon substrate (p-channel). Charge pumping current characteristics with the pulse base level were measured for various frequencies, falling times and rising times. By means of the charge dynamics in a non-steady state, the average Si-SiO$_2$interface state density and capture cross section were determined to be 3.565${\times}$10$\^$11/cm$\^$-2/eV$\^$-1/ and 4.834${\times}$10$\^$-16/$\textrm{cm}^2$, respectively. However Si-SiO$_2$ interface state densities were disributed 2.8${\times}$10$\^$-11/~5.6${\times}$10$\^$11/cm$\^$-2/~6${\times}$10$\^$11/cm$\^$-2/eV$\^$-1/ in the lover half of energy gap.

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강유전성 박막의 형성 및 수소화 된 비정질실리콘과의 접합 특성 (The Contact Characteristics of Ferroelectrics Thin Film and a-Si:H Thin Film)

  • 허창우
    • 한국정보통신학회논문지
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    • 제7권3호
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    • pp.468-473
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    • 2003
  • 본 연구에서는 박막트랜지스터의 특성 향상을 위하여 강유전성 박막을 게이트 절연층으로 사용하기 위하여 강유전성 박막과 a-Si:H의 계면특성을 조사하였다. 먼저 강유전성 박막 중에 대표적인 SrTiO$_3$를 I-BEAM 증착기로 박막을 형성시켰다. 형성된 박막은 N2 분위기에서 $150^{\circ}C∼600^{\circ}C$로 1시간 ANNEALING하여 전자현미경으로 표면을 측정하였다. SrTiO$_3$의 유전상수는 50∼100 정도였으며 항복전계는 1∼l.5 MV/cm로 매우 우수한 유전특성을 갖고 있었다. 강유전체 박막 위에 a-SiN:H,a-Si:H(n-type a-Si:H) 등을 PECVD로 증착하여 MFNS구조를 형성하였다. 계면특성을 C-V PLOTTER로 측정한 결과 SrTiO$_3$ 박막은 SiN과의 접합이 매우 안정되어 있었고 C-V특성은 SiN/a-Si:H과 유사하였다. 그러나 FERROELECTRIC/a-S:H의 경우가 훨씬 CAPACITANCE 값이 컸으며, 이는 강유전체 박막의 높은 유전상수에 기인 된 것이라 생각된다.

나노다공성 NiO-SiO2 가교화 점토의 합성 및 가교물질의 표면개질 연구 (Synthesis of Nanoporous NiO-SiO2 Pillared Clays and Surface Modification of the Pillaring Species)

  • 윤주영;심광보;문지웅;오유근
    • 한국세라믹학회지
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    • 제41권1호
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    • pp.81-85
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    • 2004
  • 점토를 이용한 나노 다공성 촉매 제조를 목적으로 $Ni^{2+}$ 이온으로 피복된 $SiO_2$ 나노 졸 입자를 2차원 충상점토 화합물의 층간에 삽입, 가교화 시켜 비표면적 및 다공도가 우수한 $NiO-SiO_2$ 가교화 점토($NiO-SiO_2$-PILM)를 합성하였다. 나노 크기의 실리카 졸 입자는 tetraethyl orthosilicate(TEOS)를 가수분해하여 합성하였고, 여기에 $Ni^{2+}$ 수용액을 첨가한 다음 NaOH 용액을 적정하여 $Ni^{2+}-SiO_2$ 혼합 나노 졸입자를 완성하였다. 이렇게 제조된 혼합 졸 용액을 1wt%의 점토 수분산액에 첨가하여 $60{\circ}C$에서 5h 이온교환 반응을 통해 층간에 삽입, 수세, 건조 후 $40^{\circ}C$에서 2시간 열처리 하므로써 다공성 가교화 점토를 제조하였다. 나노 졸 입자의 가교화에 따라 점토의 층간거리($d_{001}$)는 $45{\AA}$ 정도 크게 증가하였고 $600^{\circ}C$까지도 다공구조가 안정하게 유지되었다. 또한 질소 흡착-탈착 등온선 분석 결과 비표면적($S_{BET}$)이 최대 $760m^2/g$으로 다공 구조가 매우 잘 발달되어 있음을 확인하였고, $NiO-SiO_2$ 졸 가교화 점토의 경우 $NiO-SiO_2$ 나노입자가 층간에 이중층으로 배열되어 있음을 알 수 있었다.

P2O5-ZnO-SiO2-R2O Glass Frit Materials for Hermetic Sealing of Dye-Sensitized Solar Cells

  • Lee, Hansol;Lee, Choon Yeob;Hwang, Jae Kwun;Chung, Woon Jin
    • 한국세라믹학회지
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    • 제54권5호
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    • pp.400-405
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    • 2017
  • $P_2O_5-ZnO-SiO_2-R_2O$ glasses were synthesized as a sealing material for large scale dye-sensitized solar cells (DSSC). Compositional effects of $P_2O_5$ and ZnO were examined by varying their contents. Their viscosity and glass stability at sintering temperatures of less than $550^{\circ}C$ were examined by flow button test. Glass transition temperature and structural change upon compositional change were investigated. Chemical stability against electrolyte was also examined by immersing the glasses in the electrolyte for 72 h at $85^{\circ}C$.

O2/FTES-ICPCVD 방법에 의한 Fluorocarbonated-$SiO_2$ 박막형성

  • 오경숙;강민성;최치규;이광만;김건호
    • 한국진공학회:학술대회논문집
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    • 한국진공학회 1999년도 제17회 학술발표회 논문개요집
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    • pp.105-105
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    • 1999
  • 차세대 기억소자에서는 집접도의 증가, 고속화, 그리고 미세화에 따라 배선간으 최소선폭이 작아지고, 새로운 다층 배선기술이 요구되는 가운데 층간절연막의 재료와 형성기술은 소자의 특성을 향상시켜주는 중요한 요소로서 열적안정성, 저유전율, 평탄화특성 등에 핵심을 두고 연구되고 있다. 본 연구에서는 5인치 p-Si(100) 위에 FTES와 O2를 precursor로 하고 carrier gas를 Ar gas하여 ICP CVD 방법으로 저유전율의 Fluorocarbonated-SiO2 박막을 형성하였다. 0.1-1kW, 13.56MHz인 rf power를 사용하였으며, 증착은 RT에서 5~10분으로 하였다. 형성된 박막은 FTIR(fourier transform infrared), XPS(x-ray photoelectron spectroscopy), 그리고 ellipsopsometer 등을 이용하여 결합모드와 F농도, 균일도 등을 측정하고, I-V와 C-V 측정장치, 그리고 SERM(scanning electrion microscopy) 등을 이용하여 유전상수, 누설전류, dielectric breakdown voltage, 그리고 박막의 stepcoverage를 측정하였다. 제작된 박막의 신뢰성은 열처리에 따른 전기적 특성으로부터 조사하였다. 형성된 fluorocarbonated 박막 결합모드는 Si-F, Si-O, O-C, C-C와 C-F였고 O2:FTES:Ar 유량을 1sccm:10sccm:6sccm으로 하여 증착한 시료에서 유전율은 2.8이었으며, 누설전류밀도는 8$\times$10-9A/cm2, Breakdown voltage는 10MV/cm 이상, 그리고 stepcoverage는 91%로 측정되었다.

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저온 선형 PECVD를 이용한 OLED용 Encapsulation 특성 연구

  • 윤승진;김성진;최정수;조병성;정석철
    • 한국진공학회:학술대회논문집
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    • 한국진공학회 2016년도 제50회 동계 정기학술대회 초록집
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    • pp.180-180
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    • 2016
  • 최근 디스플레이 시장의 주요 키워드는 flexible organic light emitting diode (OLED) 이다. OLED 소자의 수명을 결정하는 가장 큰 요인 중의 하나는 공기 중의 O2와 H2O에 의한 유기물의 열화이다. 따라서 공기 중의 O2나 H2O가 유기물에 쉽게 침투하는 것을 막는 것은 소자의 수명 향상을 위하여 필수적이라 할 수 있다[1-3]. SiNx 박막은 경질로 투과성이 우수하며, 화학적 불활성인 특성으로 이러한 Barrier 역할로 연구되어 산업분야에 다양하게 응용되고 있다[4]. SiNx 박막은 일반적으로 plasma enhanced chemical vapor deposition (PECVD) 기술을 이용하여 증착되는데 기존의 PECVD 기술을 이용한 SiNx 박막은 낮은 water vapor transmission rate (WVTR) 등의 문제점들로 인해 한계점이 들어났다. 본 연구에서는, flexible display의 thin film encapsulation (TFE) 공정에서의 적용을 알아보기 위해 $370{\times}470$ size를 증착할 수 있는 In-line 장비를 이용하였으며, 기존의 PECVD 기술의 문제점으로 지적되고 있는 낮은 WVTR을 해결하기 위하여 저온 (<$100^{\circ}C$) 선형 PECVD 기술을 이용하여 WVTR을 개선하고자 하였다. 공정가스로는 SiH4와 NH3를 사용하였으며, SiH4 Carrier 가스로 He을 추가적으로 사용하였다. 또한 공정 압력은 100mTorr를 유지하였다. 증착된 SiNx 박막의 물리적, 화학적 특성 분석을 위해 분광엘립소메타, field emission electron microscopy (FESEM), X-ray diffraction (XRD), Rutherford backscattering spectrometry (RBS) 등을 이용하여 측정하였으며, 박막에 투습되는 수분의 양은 MOCON사의 AQUATRAN 2(W)로 측정하였다. OLED 소자를 구현하기 위해서는 기본적으로 봉지층에 투습되는 양을 $10-6g/m2{\cdot}day$ 이하로 막아줘야 한다고 알려져 있으나, 기존의 PECVD 기술을 이용하여 제작된 SiNx 박막의 WVTR은 $10-2{\sim}10-3g/m2{\cdot}day$ 레벨의 WVTR 결과를 보이고 있다. 본 연구에서 사용된 저온 선형 PECVD 기술을 이용하여 제작된 SiNx 박막의 WVTR은 $5.0{\times}10-5g/m2{\cdot}day$ 이하의 개선된 결과를 확인 할 수 있었다. 또한 flexible display에 적용하기 위해 SiNx 박막의 두께를 최소화한 100nm의 두께에서도 WVTR은 $5.0{\times}10-5g/m2{\cdot}day$ 이하의 결과가 유지됨을 알 수 있었다.

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제천규석으로부터 제조한 $\beta$-SiC분말 및 소결체의 특성 (Properties of Powders and Sintered Bodies of $\beta$-SiC Prepared from Jecheon Quartzite)

  • 이홍림;신석호;배철훈;김무경
    • 한국세라믹학회지
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    • 제24권2호
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    • pp.139-146
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    • 1987
  • ${\beta}$-SiC powders were prepared by the simultaneous reduction and carbiding of Jecheon quartzite at 1400$^{\circ}C$ for 7 hours in hydrogen atmosphere, using graphite or carbon black as the reducing and carbiding reagent. The prepared SiC powder was acid-treated with the mixture of fluoric acid and hydrochloric acid at room temperature and also by heating on an alcohol lamp for one hour, respectively. The impurities were mostly eliminated and the purity of SiC became 98.5% after hot acid treatment. The specific surface area of SiC powder was also increased up to 115㎡/g by hot acid treatment. This pure and fine SiC powder was hot-pressed at 1900$^{\circ}C$ for 30min, using 5wt% Al2O3 as a sintering aid. The density, M.O.R., KIC and hardness of the hot-pressed SiC ceramics were 3.195g/㎤, 48.7Kgf/$\textrm{mm}^2$, 5.4MN/㎥/2 and 2,182Kgf/$\textrm{mm}^2$, respectively.

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몬테칼로 시뮬레이션에 의한 AES 및 SIMS 깊이방향 분석

  • 이형익
    • 한국진공학회:학술대회논문집
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    • 한국진공학회 1999년도 제17회 학술발표회 논문개요집
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    • pp.186-186
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    • 1999
  • 시뮬레이션 모델 및 AES, SIMS에 의한 깊이방향 분석의 유용성을 확인하기 위해 이체 충돌모델에 기초한 몬테칼로 시뮬레이션을 수행하였다. 이를 위해, 현 시뮬레이션에서는 충돌 캐스캐이드에 의한 interstitial 및 vacancy 원자의 발생과 각 원자 층이 일정한 원자농도를 유지하도록 interstitial에 의한 vacancy의 소멸을 고려하였다. 이 모델은 AES 깊이 방향 분석에서는 AsAs/GaAs 초격자에, SIMS 깊이 방향 분석에는 Ta2O5/SiO2 초격자에 적용되었고, 실험으로부터 얻어진 결과들을 잘 나타냈다. 0.5keV Ar+ 이온 스퍼터링에 의한 AES 깊이방향 분석의 경우 AlAs 층에서 Al의 선택 스퍼터링에 의해 AlAs 층에서 As(MVV-32eV)의 Auger 강도는 GaAs 층에서보다 약 1.2배 크게 나타났다. 이 시뮬레이션은 Ta2O5(18nm)/SiO2(0.5nm)에 대한 SIMS 깊이방향 분석에서 표면 쪽으로의 1-3nm 정도의 피크(SiO+) 이동 및 decay length도 또한 잘 설명할 수 있었다. 이때, 낮은 에너지에서 보다 더 깊은 이온빔 믹싱이 발생하기 때문에 높은 에너지에서 오히려 더 좋은 분해능을 얻을 수 있었다.

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CoO를 함유한 Na2O-B2O3-SiO2 계 유리의 유전적 특성 (Dielectric Properties in Na2O-B2O3-SiO2 Glass Containing CoO)

  • 이찬구;이수대;정맹식
    • 한국안광학회지
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    • 제5권1호
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    • pp.49-53
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    • 2000
  • Sodium borate silicate 유리는 $10Na_2O-39B_2O_3-50SiO_2-CoO$ mol%와 $20Na_2O-14B_2O_3-65SiO_2-CoO$ mol%의 조성비로 혼합한 후 전기로에서 $1210^{\circ}C$ 온도로 2시간 동안 용융하여 공기 중에서 급냉 시켜 제작하였다. 급냉한 유리의 유전적 거동을 조사하기 위하여 온도와 주파수 함수로 유전상수와 비저항을 측정하였다. 유전율 스펙트럼에서 유리전이온도는 $Na_2O$ 20 mol%시료가 낮아졌으며 $Na_2O$ 함량이 증가함에 따라 유전상수는 크게 나타났다. 유리의 비저항 주파수 의존성은 non-Debye형 완화를 보였다.

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반도성 $BaTiO_3$ 세라믹스의 미세구조 및 PTCR 특성에 미치는 $Si_3N_4$ 첨가효과 (Effect of $Si_3N_4$ Addition on the Microstructure and PTCR Characteristics in Semiconducting $BaTiO_3$ Ceramics)

  • 김준수;정윤해;이병하
    • 한국세라믹학회지
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    • 제31권10호
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    • pp.1089-1098
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    • 1994
  • The effect of Si3N4 addition on the microstructure and PTCR characteristics of BaTiO3 was studied. When 0.1 mol% Sb2O3-doped BaTiO3 codoped with Si3N4 (0.1, 0.25, 0.5, 0.75, and 1 wt%, respectively) were sintered, their microstructures were changed by the amount of the liquid phase as a result of eutectic reaction at 126$0^{\circ}C$. By these microstructural changes, the specific resistivity ratio($\rho$max/$\rho$min) with Si3N4 content variation of 0.1 mol% Sb2O3-doped BaTiO3 ceramics sintered at 130$0^{\circ}C$ for 1 hour varied between 3.70$\times$102(0.1 wt% Si3N4) to 1.16$\times$103 (1wt% Si3N4).

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