• 대한전기학회논문지
• /
• 제43권4호
• /
• pp.580-586
• /
• 1994

The equivalent circuit of linear induction motor is generally expressed as the same that of rotary induction motor. However, it is almost impossible to perform the no-load test for LIM, because it needs a special equipment for synchronous speed. Therefore, a new method is reqnired to calculate the performance of the LIM without the no-load test. In this paper, The new method which does not need no-load test for the chanracteristics analysis of LIM is proposed. The equivalent circuit of LIM is chosen and the method if determining its constants from results of the lock test is discussed. The calculated results were satisfied by compare with experimental and conventional method results.

• 전자공학회논문지B
• /
• 제32B권11호
• /
• pp.1434-1444
• /
• 1995

Current test has recently been known to be a promising testing method in CMOS VLSI because conventional voltage test can not make sure of the complete detection of bridging, gate-oxide shorts, stuck-open faults and etc. This paper presents a new BIC(built-in current sensor) for the internal current test in CMOS logic circuit. A single phase clock is used in the BIC to reduce the control circuitry of it and to perform a self- testing for a faulty current. The BIC is designed to detect the faulty current at the end of the clock period, so that it can test the CUT(circuit under test) with much longer critical propagation delay time and larger area than conventional BICs. The circuit is composed of 18 devices and verified by using the SPICE simulator.

• 정보통신설비학회논문지
• /
• 제8권1호
• /
• pp.36-39
• /
• 2009

In this paper, we propose a 4-wire type driving circuit for resistive touch panel which was manufactured at the lab. The circuit is designed by using the touch panel controller ADS7846 and AVR microcontroller board. The test result shows that the designed circuit can give and transmit the position information of touch panel to the computer.

• 한국정보통신학회논문지
• /
• 제8권8호
• /
• pp.1705-1712
• /
• 2004

본 논문에서는 5.25GHz 저잡음 증폭기(LNA)에 대해 전압이득, 잡음지수 및 입력 임피던스를 측정할 수 있는 새로운 형태의 저가 고주파 BIST(Built-In Self-Test, 자체내부검사)회로 설계 및 검사 기술을 제안한다. 이러한 BIST 회로는 0.18$\mu\textrm{m}$ SiGe 공정으로 제작되어 있다. 이러한 접근방법은 입력 임피던스 정합과 출력 전압 측정원리를 이용한다. 본 논문에서 제안하는 방법은 측정이 간단하고 비용이 저렴하다는 장점이 있다. BIST 회로가 차지하는 면적은 LNA가 차지하는 전체면적의 약 18%에 불과하다.

• 한국정보통신학회:학술대회논문집
• /
• 한국해양정보통신학회 2004년도 춘계종합학술대회
• /
• pp.635-641
• /
• 2004

본 논문에서는 802.113 무선 근거리 통신망(wireless LAM)용 5.25GHz 저잡음 증폭기(LNA)에 대해 고가 장비를 사용하지 않고도 전압이득, 잡음지수 및 입력 임피던스를 측정할 수 있는 새로운 형태의 고주파 81ST(Built-In Self-Test, 자체내부검사)회로 설계 및 검사 기술을 제안한다. 본 연구에서 제작된 BIST 회로는 기존의 고가 검사 장비 대신 고주파 회로의 결함검사나 성능검사에 적용될 수 있다. 이러한 BIST 회로는 1V의 공급전압에서 동작하며, 0.18$\mu\textrm{m}$ SiGe 공정으로 제작되어 있다. 이러한 접근방법은 입력 임피던스 정합과 출력 전압 측정을 이용한다. 본 방법에서는 DUT(Device Under Test: 검사대상이 되는 소자)와 BIST 회로가 동일 칩 상에 설계되어 있기 때문에 측정할 때 단지 디지털 전압계와 고주파 전압 발생기만이 필요하며, 측정이 간단하고 비용이 저렴하다는 장점이 있다. BIST 회로가 차지하는 면적은 LNA가 차지하는 전체면적의 약 18%에 불과하다.

• 조명전기설비학회논문지
• /
• 제22권12호
• /
• pp.36-46
• /
• 2008

본 논문은 대전력시험설비를 이용한 특고압 가스 절연 부하 개폐기의 대전력 시험회로의 구성과 통합형 시험 방법에 관하여 연구하였다. 대전력시험설비는 전기기기의 전기적 및 기계적인 성능을 검증하는 설비로서 단락발전기, 보호차단기, 투입스위치, 임피던스, 고압변압기, 저압변압기, 측정 및 보호시스템 등으로 구성되며, 이 시스템을 이용하여 단시간전류시험, 전류개폐용량시험, 단락투입 및 차단시험 등을 실시한다. 특고압 가스 절연 부하 개폐기의 규격으로는 국내 배전계통에 적용되는 ES(한국전력공사 표준규격) 5925-0002가 있으며, 국제 규격으로는 IEC 60265-1, 62271-1 및 IEEE C 37.74 등이 있다. 본 논문에서는 여러 규격에 각각 규정되어 있는 시험 절차, 시험회로 구성 및 시험 방법 등을 통합하여 600[MVA]급 대전력 시험설비에 적용하였다.

• 대한전자공학회:학술대회논문집
• /
• 대한전자공학회 1999년도 하계종합학술대회 논문집
• /
• pp.723-728
• /
• 1999

In this paper, we designed a Circular Path Built-In Self Test circuit and embedded it into a simple 8-bit microprocessor. Register cells of the microprocessor have been modified into Circular Path register cells and each register cells have been connected to form a scan chain. A BIST controller has been designed for controlling BIST operations and its operation has been verified through simulation. The BIST circuit described in this paper has increased size overhead of the microprocessor by 29.8% and delay time in the longest delay path from clock input to output by 2.9㎱.

• 대한전기학회:학술대회논문집
• /
• 대한전기학회 2002년도 추계학술대회 논문집 전기기기 및 에너지변환시스템부문
• /
• pp.36-38
• /
• 2002

Low voltage circuit breakers which interrupt rapidly and raise the reliability of power supply are widly used in power distribution systems. In the paper, it was investigated how much Interrupting capability was improved by correcting the shape of the contact system in molded case circuit breaker(below MCCB), Prior to the interrupting testing, it was necessary for the optimum design to analyze magnetic forces on the contact system, generated by current and flux density. This paper presents both our compuational analysis and test results contact system in MCCB.

• 대한전기학회:학술대회논문집
• /
• 대한전기학회 2001년도 하계학술대회 논문집 D
• /
• pp.2193-2195
• /
• 2001

This paper proposes test strategy detecting the faulted digital device or the faulted digital circuit on the digital circuit board using signature analysis technique based on the polynoimal division theory. SSA(serial Signature Analysis) identifies the faults by comparing the reminder from good device and reminder from the tested device, which reminder is obtained by enforcing the data stream outputed from output pins of tested device on LFSR(Linear Feedback Shift Resister) representing the characteristic equation.

• 한국컴퓨터정보학회논문지
• /
• 제4권1호
• /
• pp.28-37
• /
• 1999

본 논문에서는 클록 입력을 갖는 대표적인 회로인 5비트 카운터를 대상회로로 선정하여 경계면 스캔 구조를 적용하고, 대상회로에 대한 지연시험을 위한 새로운 시험 구조와 지연시험 절차를 개발하였다. 지연시험 대상회로가 클록 입력을 갖는 경우, 기존의 경계면 스캔 구조에서는 동일한 패턴의 중복 입력, 클록 입력과 데이터 입력과의 시간 간격과, 패턴 입력과 응답값 캡쳐까지의 시간 문제에 의해 적절치 않음을 보였다. 본 논문에서 제안하는 지연 시험 구조는 클록 계수 발생기를 사용하여 연속 발생시킬 클록의 개수를 입력받아 이를 대상회로의 클록 입력에 적용하여 대상회로에 대한 입력 패턴의 중복문제를 해결하였다. 또한 시스템 클록을 TCK로 사용하여 대상회로를 정상 속도에서 동작할 수 있도록 하였다. 연속적인 클록 발생에 TCK를 사용함으로써 대상회로를 정상 속도에서 검증할 수 있다. 제안된 시험 구조와 절차는 대상회로에 대한 타이밍 시뮬레이션을 통해 동작의 정확성을 확인하였다.