Tail Electron Hydrodynamic Model for Consisten Modeling of Impact Ionization and Injection into Gate Oxide by Hot Electrons (고온전자의 충돌 이온화 및 게이트 산화막 주입 모델링을 위한 Tail 전자 Hydrodynamic 모델)
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- Journal of the Korean Institute of Telematics and Electronics A
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- v.32A no.3
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- pp.100-109
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- 1995