• 전자공학회논문지A
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• 제32A권12호
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• pp.198-208
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• 1995

BiCMOS circuit consist of CMOS part which constructs logic function, and bipolar part which drives output load. Test to detect stuck-open faults in BiCMOS circuit is important, since these faults do sequential behavior and are represented as transition faults. In this paper, proposes a method for efficiently detecting transistor stuck-open faults in BiCMOS circuit by transforming them into slow-to=rise transition and slow-to-fall transition. In proposed method, BiCMOS circuit is transformed into equivalent gate-level circuit by dividing it into pull-up part which make output 1, and pull-down part which make output 0. Stuck-open faults in transistor are modelled as transition fault in input line of gate level circuit which is transformed from given circuit. Faults are detceted by using pull-up part gate level circuit when expected value is '01', or using pull-down part gate level circuit when expected value is '10'. By this method, transistor stuck-open faults in BiCMOS circuit are easily detected using conventional gate level test generation algorithm for transition fault.

• 대한전기학회논문지:전기기기및에너지변환시스템부문B
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• 제49권2호
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• pp.85-92
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• 2000

30 kVA rotating-field type Super-Conducting Generator is built and tested with intensive FE(Finite Element) analysis. The generator is driven by VVVF inverter-fed induction motor. Open Circuit Characteristic(OCC) and Short Circuit Characteristic(SCC) are presented in this paper. Also, the test result under the light load(up to 3.6 kW) are given. From the design stage, 2-D FE analysis coupled with the external circuit has been performed. The external circuit includes the end winding resistance and reactance as well as two dampers. When compared with the test data, the FE analysis results show a very good agreement.

• 전기학회논문지P
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• 제53권1호
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• pp.22-27
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• 2004

BiCMOS circuit consist of CMOS part which constructs logic function, and bipolar part which drives output load. In BiCMOS circuits, transistor stuck-open faults exhibit delay faults in addition to sequential behavior. In this paper, proposes a method for efficiently generating test pattern which detect stuck-open in BiCMOS circuits. In proposed method, BiCMOS circuit is divided into pull-up part and pull-down part, using structural property of BiCMOS circuit, and we generate test pattern using set theory for efficiently detecting faults which occured each divided blocks.

• 전자공학회논문지C
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• 제34C권1호
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• pp.1-11
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• 1997

A BiCMOS circuit consists of the CMOS part which performs the logic function, and the bipolar part which drives output load. In BiCMOS circuits, transistor stuck-open faults exhibit delay faults in addition to sequential beavior. Also, stuck-on faults enhanced IDDQ (quiscent power supply current) at steady state. In this paper, a method is proposed which efficiently generates test patterns to detect stuck-open faults and stuck-on faults in BiCMOS circuits. The proposed method divides the BiCMOS circuit into pull-up part and pull-down part, and generates test patterns detect faults occured in each part by structural property of the BiCMOS circuit.

• 대한전자공학회논문지
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• 제21권6호
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• pp.78-84
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• 1984

CMOS 논리회로에서 부가회로없이 time skew와 무관하게 stuck-open(이하 s-op) 고장을 검출할 수 있는 새로운 알고리즘을 제안한다. 즉, CMOS회로 구성요소로서 Domino CMOS 이 회로를 채택하여 회로의 클럭킹 게이트를 하나의 branch로 간주 모델화하고, transition test를 이용하여 테스트 시이퀸스를 구한다. 또한 이 알고리즘을 VAXII/780상에서 임의의 CMOS회로에 적용시켜 보므로써, 종래의 방법에서 time skew로 인하여 검출될 수 없었던 모든 s-op 고장이 검출됨을 보였다.

• 한국초전도ㆍ저온공학회논문지
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• 제3권2호
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• pp.32-38
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• 2001

A 30[kVA] superconducting generator (SCG) is built and tested at Korea Electrotechnology Research Institute (KERI) in Korea. This superconducting generator has an air-gap winding instead of the typical steel teeth structure. The rotor has 4 field coils of race-track type with NbTi superconducting wired. The rotor is composed of two dampers and a liquid helium composed of two dampers and a liquid helium container in which the field poles reside. The space between the outermost damper and the container is vacuum insulated. A ferrofluid seal is used between the stationary part connected to the couping and the rotor. A helium transfer coupling(HTC) has 3 passages of the recovered heilum gas and a gas flow control system. The open circuit test and sustained short circuit test are preformed to obtain the open circuit characteristics (OCC) and short circuit characteristics (SCC) Also. the test results usder the light load (up to 3.6[kW]) are given. The structure, manufacturing and basis test of the 30[kVA]SCG are discussed.

• 대한전자공학회논문지
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• 제27권11호
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• pp.42-48
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• 1990

본 논문에서는 CMOS 회로의 stuck-open 고장 검출을 위한 로브스트(robust)테스트 생성방법을 제안한다. CMOS 회로에 대한 입력 벡터들간의 비트(bit)위치와 해밍중(Hamming weight)의 관계를 고려하여 초기화 패턴을 구함으로써 stuck-open 고장검출을 위한 테스트 생성 시간을 감소시킬 수 있으며, 고장검출을 어렵게하게 하는 입력변이지연(input transition skew)의 문제를 해결하고, 테스트 사이퀸스의 수를 최소화시킨다. 또한 회로에 인가할 초기화 패턴과 테스트 패턴간의 해밍거리(hamming distance)를 고려하여 테스트 사이퀸스를 배열하므로써 테스트 사이퀸스의 수를 감소시킨다.

• The Journal of the Acoustical Society of Korea
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• 제14권2E호
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• pp.43-49
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• 1995

인공지능(AI)의 한기법인 Space Search 기법을 이용하여 회로의 단선 결함의 유무 및 결함위치를 찾아내는 방법을 제시하였다. 보통 회로의 결함은 단선 및 단락의 구조적 결함으로 나뉘어진다. 두가지 결함 모두 회로의 기능에 중대한 이상을 초래한다. 그중 단선에 의한 회로의 결함에 대하여 다루었다. 우선 회로를 net와 net의 연결 path에 따라 tree 구조로 변환하였다. 서로 독립된 net들은 서로 다른 tree의 node를 이루며 각각의 tree는 적기적으로 연결됨이 없다. 각 tree의 최상단부의 root node에 test vector를 입력하고 최하단부의 leaf node에서 vector를 관찰하여 입력된 test vector와 비교한다. 그 비교 결과 동일 유무에 따라 결함의 유무를 판정한다. 결함이 있다고 판정된 leaf node는 depth search 방법에 의하여 root node쪽으로 test vector를 관찰하여, 전기적 신호에 의하여 회로의 서놔 단선된 위치를 찾아내도록 하는 방법을 제시하였다.

• 한국마린엔지니어링학회:학술대회논문집
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• 한국마린엔지니어링학회 2002년도 춘계학술대회논문집
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• pp.147-152
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• 2002

This paper was studied on corrosion of heat exchanger tube for absorption refrigeration machine. In the 62 % lithium bromide solution at $60^{\circ}C$, polarization test of Cu, Al-brass, 10 % cupro nickel(90-10 % Cu-Ni) and 30 % cupronickel(70-30 % Cu-Ni) tube was carried out. And polarization behavior, polarization resistance characteristics, open circuit potential, anodic polarization of heat exchanger tube for absorption refrigeration machine were considered. The main results are as following: The open circuit potential of Al-brass tube becomes less noble than that of Cu tube, corrosion current density of that becomes lower than Cu tube. The open circuit potential of cupronickel tube is more noble than that of Cu tube, corrosion current density of that is controlled than Cu tube. The passivation critical current of 30 % Cu-Ni tube is lower than that of 10 % Cu-Ni tube, potential of passive region of that is more wide than 10 % Cu-Ni tube.

• 한국산학기술학회논문지
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• 제16권12호
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• pp.8306-8313
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• 2015

개방형 전류측정기는 DC 모터 콘트롤러, AC 가변 콘트롤러, UPS(Uninterruptible Power System)에 주로 사용되며 최근 신재생 에너지의 성장과 전력망의 스마트 그리드화로 인하여 활용성이 점차 확대되고 있다. 이러한 신재생 에너지의 성장으로 관련 핵심기술의 보유여부가 중요해지고 있으며 대부분 수입에 의존하고 있는 개방형 전류측정기의 국산화 및 관련 기술의 확보를 필요로 한다. 본 논문에서는 일반 산업용 개방형 전류측정기의 제작과정과 특성을 측정한 결과를 기술하였다. 개방형 전류측정기를 구성하는 C형 철심의 공극자장분포 해석 및 형상 설계, 홀센서의 선정 및 특성시험, 정전류 전원공급회로와 신호처리회로의 회로설계 과정을 기술하며 DIP(Dual In-line Package) type과 SMD (Surface Mount Device) type의 100A급 개방형 전류측정기를 제작하고 특성을 측정했다. 제작된 전류측정기로 0~100A 범위에서 통전 실험을 실시한 했고 직류전류와 60Hz의 교류전류에서 특성을 측정한 결과 정밀도 오차 2% 이내, 선형도 오차 2% 이내의 성능을 만족하였다. 또한 부 특성 온도계수를 갖는 NTC(Negative Temperature Coefficient) 서미스터를 이용한 온도보상회로를 사용하여 $-35{\sim}100^{\circ}C$의 범위에서 온도보상 효과를 확인하였다.