본 논문에서는 근역장 측정에 사용되는 이중 리지드 도파관 구조 광대 역 프로브를 설계 및 제작하였다. 광대역 임피던스 정합을 위해 구형 도파관 내에 지수함수 테이퍼 리지를 삽입시킨 구조를 이용하여 구현하였다. 프로브는 $VSWR\leq2.2$를 기준으로 하한 주파수 8.2 GHz에서 상한 주파수 18 GHz까지 2.2:1의 대 역비를 갖는 광대역 특성을 보였으며 대역폭 내에 왜곡 없는 안정된 복사 패턴을 가지면서 4.5 dBi 이상의 이득을 가졌다. 설계한 광대역 프로브를 이용하여 근역장 측정 시스템을 적용하여 정확한 측정 결과를 얻을 수 있었다.
근역장 측정 알고리즘 유도를 간략화하기 위하여 심플렉틱 공간에 기반을 둔 심플렉틱 형태를 근역장 탐침 교정 방정식에 도입한다. 근역장 탐침 교정 방정식 유도를 위해 로렌츠 상호작용 원리를 이용한다. 심플렉틱 형태를 이용하면 복잡한 이중적분에 대한 고려가 필요 없으므로 근역장 탐침 교정 방정식이 간략화 된다.
최근 전자파 적합성(EMC: electromagnetic compatibility)의 중요성이 매우 높아짐에 따라 칩 수준에서의 전자파 간섭(EMI: electromagnetic interference) 측정이 자주 요구되고 있다. IEC 61967 및 IEC 62508에서 규정된 근거리 전자장 스캐닝(NFS: near-field scanning) 시스템은 칩 레벨에서의 전자파 간섭을 분석하는 대표적인 방법이다. 칩이 점점 고속화되면서 근거리 전자장 스캐닝 시스템의 측정 주파수는 광대역화되어야 하지만 근거리 전자장 탐침(NFP: near-field probe)의 신호 대 잡음 비(SNR: signal-to-noise ratio)가 저하된다는 문제가 있다. 본 논문에서는 근거리 전자장 스캐닝 시스템에서 광대역 특성을 가지면서도 잡음 대 성능 비를 향상시키는 기술에 대해 살펴본다.
근접장 마이크로파 현미경의 핵심 부품인 H-형태 소형 개구를 가진 도파관 탐침에 대해 등가회로를 표현하고 해석하였다. 파장에 비해 작은 사각형 또는 원형의 소형 개구는 유도성 성분인데, 여기에 리지 구조를 부착하는 것은 용량성 성분을 연결하여 이로 인해 투과 공진을 일으키는 것으로 볼 수 있다. 이러한 해석을 입증하기 위해 리지가 있는 소형 개구에서 용량 성분에 해당되는 리지 부분을 분리하여 대략 반파장 떨어진 지점에 세워 두고 구한 등가회로적 표현에 의한 계산 결과와 전자파 해석에 의한 계산 결과와 비교하여 거의 일치된 모습을 확인하였다. 또한, 도파관 탐침을 제작하여 반사손실을 측정하고, 계산 결과의 정확성을 확인하여 이론의 타당성을 검증하였다.
The magnetic flux profiles in SmBCO and YBCO coated conductors(CC) in the presence of the external field were comparatively investigated by magneto-optic image and scanning hall probe measurements. The current distributions calculated by using the inversion method from measured field profiles show that the decrease of current densities near the edges of SmBCO CC is more significant than those of YBCO CC. Through the comparison of the numerical analysis based on Kim's critical state model and the Brandt and Indenbom's solution, we found that this feature is related to their different field dependant properties of the critical current densities.
본 연구에서는 높은 투과 효율은 유지하면서 스팟 면적을 보다 획기적으로 줄일 수 있도록 가느다란 두 개의 짧은 도체 봉이 리지(H-형태) 개구의 중심에 부착된 근접장 마이크로웨이브 주사 탐침 구조를 제안하였다. 여기서 두 개의 짧은 도체 봉은 H-형태 개구를 통과하는 투과 전자파 에너지를 집속하게 하여, 고 해상도를 위해 스팟 면적을 극히 작게 줄어들게 하는데 중요한 역할을 한다. 제안된 이론의 타당성을 확인하기 위해 모의실험 결과에 따라 근접장 도파관 탐침을 제작하고, 반사손실을 측정하여 계산결과와 비교적 일치된 결과를 얻었다.
Kim, Jeong-Yong;Song, Ki-Bong;Park, Kang-Ho;Lee, Hyo-Won;Kim, Eun-Kyoung
ETRI Journal
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제24권3호
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pp.205-210
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2002
This paper describes our high-density near-field optical recording using bent cantilever fiber probes installed in an atomic force microscope. We conducted a near-field reading of nano-scale hole patterns with a 100 nm spatial resolution and a 25 ${\mu}m$/s scan speed; this implies a capability of a data reading density of 60 Gb/$in^2$ with a 0.25 kbps data transfer rate. In addition, we investigated re-writable near-field recording on photochromic diarylethene films. We successfully recorded erasable memory bits having a minimum width of 600 nm in a writing time as short as 30ms. We found that using a cantilever probe simplifies the setup and operation of the near-field optical recording system and may offer multifunctional recording capabilities.
근접장 주사 광학 현미경(Near-field scanning optical microscope)에서 가장 중요한 부분은 바로 근접장 탐침(Near-field optical probe)이다. 가간 널리 사용되는 근접장 탐침은 끝 부분에 매우 작은 구멍만 남기고 나머지 부분은 금속으로 코팅한 뾰족한 광섬유(Metal-clad tapered optical fiber)이다. 탐침의 끝에 형성된 작은 구멍은 진행하지 못하는 근접장(Near-field)을 진행하는 먼장(Far-field)으로 바꾸어줌으로서 회절한계를 뛰어넘는 분해능을 가능하게 한다. 그러나, 이러한 작은 구멍은 매우 작은 투과 효율(Transmission efficiency)을 가지기 때문에 고밀도 광기록(High-density optical recording)등에 이용하는데 큰 어려움이 있었다.$^{(1).(3)}$ 따라서 금속이 코팅된 뾰족한 광섬유 내에서 빛이 어떻게 진행되는지에 대한 연구를 통해 보다 높은 효율을 가지는 근접장 탐침을 개발하는 것이 중요한 과제가 되고 있다. 본 연구에서는 금속이 코팅된 뾰족한 광섬유 도파로 내에서 구멍의 크기와 빛의 투과 효율의 관계를 보고한다. (중략)
본 논문에서는 근거리장에서 NFS(near field scanning)를 사용한 차폐효율 평가 방법을 통해 CNT(carbon nanotube) 필름의 차폐 특성을 분석하였다. 차폐 특성 평가는 농도 5%와 1mm의 두께를 가지는 CNT 필름과 실제 IC package를 모사한 테스트쿠폰을 사용하여 CNT 필름과 테스트쿠폰과의 거리에 따른 전자파 차폐효율 및 측정 위치에 따른 차폐효율을 측정하였다. 그 결과 근거리장에서 측정된 차폐효율은 주파수에 따라 차폐효율이 달랐다. 테스트쿠폰의 중심에서 측정된 전기장 차폐효율은 fringing effect의 영향을 받는 패턴경계보다 전기장 차폐효율이 좋은 것으로 측정되었다. 이는 근거리장에서 측정된 차폐효율은 주파수뿐만 아니라 CNT 필름과 측정 프로브의 높이, 측정 위치와 같은 측정 환경에 영향을 받는 것을 보여준다. 결론적으로 근거리장에서 제안된 방법을 사용하여 측정한 차폐효율과 ASTM D 4935-10에 의해 측정된 차폐효율은 연관성을 찾기 어렵기 때문에 전장 시스템의 거리 영역에 따라 적절한 측정 방법을 고려하여 측정해야 한다.
한국초전도학회 1999년도 High Temperature Superconductivity Vol.IX
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pp.189-195
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1999
We have studied the vortex dynamics in YBa$_2Cu_3O_7$ single crystals with columnar defects using micro Hall-probe array. The Hall-probe array technique allowed a simultaneous measurement of the time and spatial dependence of the vortex density so that more detailed information on flux dynamics could be obtained. We found that field profiles inside sample were similar to the Bean's critical state model from the magnetic hysteresis measurement. Normalized relaxation rates were maximum near the center and decreased toward the edge if applied field H$_{app}$ is greater than the penetration field H. But applied magnetic field H$_{app}$ is less than H, relaxation rates were minimum near the center and increased toward edge. We found that glassy exponent ${\mu}$ has the value of ${\sim}$ 1 whose corresponding vortex motion is half-loop excitation. However, single vortex creep, ${\mu}$${\sim}$ 1/7, was also found at 30 K and H$_{app}$${\cong}$ H'. Calculation of activation energy, U, was possible from direct analysis of the local relaxation data using the basic diffusion equation. From these results, we found that U increases logarithmically with time and U around center was lower than that at the edge.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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