High Power Laboratory is the facility for building to simulate the various phenomena generated from electric systems of the real world and to test making and breaking capability, switching capability and durability of circuit breaker, switchgear and other electric utilities, moreover, load equipments which contain capacitor bank is installed for studying the diverse effects originated from the constituent of load through entire systems or receiving end. Such factors, abnormal voltage or current, can be serious in electrical systems, especially, in the case caused by capacitive components such as overvoltage or inrushcurrent, the problems may be more fatal to the systems. In this paper, the optimal design of capacitor bank which will be equipped in High Power Laboratory, which is for simulating as closely as the practical phenomena resulted from the capacitive currents, and the verification aided by computer simulations are presented. For this, analysis of the circuit characteristics according to the standards which can be criteria of the capacitive current tests and the test circuit configuration in accordance with the analysis are proposed in prelude. In the body of the paper the optimal design of capacitor bank has been obtained on the basis of all conditions mentioned above and the test circuit configuration with LGIS test requirements. furthermore, analysis and verification for the design are derived by EMTP. finally, evaluation for the capacitor bank design and further study plan are concluded.
The commercial contract was made firstly in the world for one set of high temperature superconducting(HTS) cable system between buyer, Korea Electric Power Research Institute and seller, Sumitomo Electric Industries, Ltd. in August 2004. After fabrication, test and examination, the HTS cable system will be installed at the KEPRI's test field in Gochang, Jeonbuk province from the time of July 2005. KEPRI is preparing measurement and test facilities for field test of the HTS cable system and carrying out researches into the design and construction of superconducting cable test building, evaluation of cooling performance, measurement of AC loss, analysis of the quench phenomena due to excess current and means of linking the HTS cable system to the existing electric power supplying system. The constitution of, the method to install and the plan of test operation of the HTS cable system will be presented in this paper.
This paper describes test method though low voltage power system implementation for high impedance fault relay test before its operation in real power system. Through this test, relay tested its function and algorithm. In this paper, we will provides test method using low voltage power system and its results.
Encouragement of DER from Korean government with several policies boosts DER installation in power system. When the penetration of DER in the grid is getting high, loss of generation with break-away of DER by abnormal grid conditions should be considered, because loss of high generation causes abnormal low frequency and additional operations of protection system. Therefore, KEPCO where is Korean power utility is preparing improvement in regulations for DERs connected to the grid to support abnormal grid conditions such as low and high frequencies or voltages. This is called 'Ride Through' because the requirement is for DER to maintain grid connection during required periods when abnormal grid conditions occur. However, it is not easy to have a test for ride through capability in reality because emulation of abnormal grid conditions is not possible in real power system in operation. Also, it is not easy to have a study on grid effect when ride through capability fails with the same reason. PHILs (Power Hardware In the Loop System) makes it possible to analyze power system and hardware performance at once. Therefore, this paper introduces PHILs test methods and presents verification of ride through capability especially for low voltage grid conditions.
Journal of the Korea Academia-Industrial cooperation Society
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v.15
no.11
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pp.6821-6829
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2014
The use of semiconductor devices as a component of eco-friendly motor vehicles has increased and their widespread use as high voltage switches is expected. On the other hand, in the case of high-voltage switches, reliability test equipment is not localized. To test high voltage switches, this paper analyzed the relevant test standards for developing power supplies. In particular, for the automotive semiconductor reliability test, the AEC (Automotive Electronic Council) Q101 was analyzed. Based on that, the standard specifications of the power supply were determined. For the main power circuit, the pull bridge converter was adopted and based on the specification, the circuit parameters were determined and verified by simulation. The interface for the parallel and pattern operation was designed. The characteristics of the power supply were tested.
This paper describes the development and testing results of a high density High Voltage Power Supply (HVPS) that drives microwave Traveling Wave Tubes (TWTs) of phased array transmitters for airborne EW systems. The HVPS is designed to consist of a number of modules connected in series. Among them, especially, the high-density pulse transformer module including the resonant circuit is newly designed to make the HVPS much more reliable. In addition, this paper describes the development of high voltage solid-state modulation using fast switching devices (FETs) and also represents the test results of a modulator module.
Boiler high-temperature pipelines such as main steam pipe, header and steam drum in fossil power plants are degraded by creep damage due to severe operationg conditions which are high temperature and high pressure for an extended period time. Such material degradation leads to various component failures causing serious accidents at the plants. Conventional measurement techniques such as replica method, electric resistance method, and hardness test method have such disadvantages as complex preparation and measurement procedures, too many control parameters, and therefore, low practicality and they were applied only to component surfaces with good accessibility. In this paper, artificial creep degradation test and ultrasonic measurement for their creep degraded specimens have been carried out for the purpose of evaluation for creep damage which can occur in high-temperature pipeline of fossil power plant. Absolute measuring method of quantitative ultrasonic measurement for material degradation was established, and long term creep degradationtests using life prediction formula were carried out. As a result of ultrasonic tests for crept specimens, we confirmed that the sound velocity decreased and the attenuation coefficient linearly increased in proportion to the increase of creep fractiin(${\phi}$c).
It is necessary to improve the time efficiency in the high power testing station because tests are mainly performed by high-priced equipment. Minimizing a human error through building the database of relevant standards is possible to expect reliable tests. And also, application program that is properly customized for the certain laboratory's power system will help test engineer to easily analyze the phenomenon that is happened in short-circuit and load switching tests. This paper introduces the several functions of the application program that is developed in order to realize these requirements.
This paper is purpose to introduce the database management program of insulation tests for high voltage rotating machines. KEPRI has carried out insulation tests for high voltage equipment since 1998, the number of tests grow larger every year. It is difficult to manage the numerous test results, so we developed the insulation diagnostic database program. The features of this program are an easy-search test result and making a graph of AC, tan${\Delta}$ test. the most useful function is the trend management. Using the trend function, we can find the aging deterioration for high voltage machines easily.
The increasing size of very large scale integration (VLSI) circuits, high transistor density, and popularity of low-power circuit and system design are making the minimization of power dissipation an important issue in VLSI design. Test Power dissipation is exceedingly high in scan based environments wherein scan chain transitions during the shift of test data further reflect into significant levels of circuit switching unnecessarily. Scan chain or cell modification lead to reduced dissipations of power. The ETC algorithm of previous work has weak points. Taking all of this into account, we therefore propose a new algorithm. Its name is RE_ETC. The proposed modifications in the scan chain consist of Exclusive-OR gate insertion and scan cell reordering, leading to significant power reductions with absolutely no area or performance penalty whatsoever. Experimental results confirm the considerable reductions in scan chain transitions. We show that modified scan cell has the improvement of test efficiency and power dissipations.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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