• 대한전자공학회논문지SD
• /
• 제44권12호
• /
• pp.61-70
• /
• 2007

메모리 기술이 발달함에 따라 메모리의 집적도가 증가하게 되었고, 이러한 변화는 구성요소들의 크기를 작아지게 만들고, 고장의 감응성이 증가하게 하였다. 그리고 고장은 더욱 복잡하게 되었다. 또한, 칩 하나에 포함되어있는 저장 요소가 늘어남에 따라 테스트 시간도 증가하게 되었다. 그리고 SOC 기술의 발달로 대용량의 내장 메모리를 통합할 수 있게 되었지만, 테스트 과정이 복잡하게 되어 외부 테스트 환경에서는 내장 메모리를 테스트하기 어렵게 되었다. 본 논문에서 제안하는 테스트 구조는 내장 테스트를 사용하여 외부 테스트 환경 없이 테스트가 가능하다. 제안하는 내장 테스트 구조는 다양한 알고리즘을 적용 가능하므로, 생산 공정의 수율 변화에 따른 알고리즘 변화에 적용이 가능하다. 그리고 메모리에 내장되어 테스트하므로, At-Speed 테스트가 가능하다. 즉, 다양한 알고리즘과 여러 형태의 메모리 블록을 테스트 가능하기 때문에 높은 효율성을 가진다.

• 정보처리학회논문지A
• /
• 제16A권4호
• /
• pp.245-254
• /
• 2009

임베디드 프로세서 사용이 증가함에 따라 임베디드 프로세서를 위한 컴파일러를 시기 적절히 개발해야 할 필요성이 증가하고 있다. 컴파일러 후단부를 수정하여 새로운 컴파일러를 구성하는 재겨냥 기법이 이에 적합한 기법으로 채택되고 있다. 이 논문에서는 재겨냥성 C 컴파일러를 테스트하기 위한 테스트 집합 생성 시스템을 제안한다. 제안한 시스템은 문법 커버리지 개념을 이용하여 테스트 집합을 생성한다. 일반적으로 원시 프로그래밍 언어의 문법을 이용하여 테스트 집합을 생성하면 방대한 크기의 테스트 집합이 얻어진다. 그러나 신속히 컴파일러를 출시해야하는 상황에서는 방대한 테스트 집합 크기가 문제가 될 수 있다. 이에 이 논문에서 제안한 시스템은 중간 코드를 고려하여 테스트 집합을 축약하는 기능을 탑재하고 있다. 실험 결과에 따르면, 비록 축약된 테스트 집합 크기는 원본 테스트 집합 크기의 평균 10%에 불과하지만 원본 테스트 집합이 검출할 수 있는 컴파일러 오류의 75% 정도를 검출할 수 있음을 알 수 있었다. 이는 본 논문에서 제시한 축약 기법이 임베디드 컴파일러 개발 초기 단계에서 효과적으로 사용될 수 있음을 의미한다.

• 정보처리학회논문지D
• /
• 제15D권4호
• /
• pp.505-512
• /
• 2008

임베디드 시스템에 대한 RBT(Requirement-Based Testing)를 수행하기 위하여 정확한 요구사항 명세서가 존재해야 한다. 그러나 고객이 자연어로 작성하는 요구사항은 모호성, 부정확성, 불일치성을 가지고 있다. 이를 해결하기 위해서 UML, Simulink등의 모델링 언어를 이용하여 요구사항을 다시 모델링 하지만, 이 과정에서 요구사항을 use-case단위로 조합하고 재해석하는 단점이 생겨나게 되었다. 본 논문에서는 임베디드 시스템에 대한 고객의 요구사항을 use-case단위의 조합이나 재해석이 필요 없이 곧바로 모델로 표현할 수 있는 그래픽 언어를 이용한 1:1 요구사항 모델링 기법을 소개한다. 제안한 방법은 1) 임베디드 시스템의 요구사항을 자연어가 아닌 의미가 분명한 그래픽 언어를 이용하여 표현하고, 2) 하나의 요구사항을 하나의 그래픽 모델로 표현한다. 또한 제안한 방법은 시스템의 입출력을 기반으로 "what-to-do"만을 기술하기 때문에 상위레벨의 요구사항이나 하위레벨의 요구사항 모두에 적용할 수 있는 기법이다. 이 기법이 적용된 REED라는 도구를 통하여 실제 프로젝트에 적용한 예를 살펴본다.

• 한국정보처리학회논문지
• /
• 제6권11호
• /
• pp.3086-3096
• /
• 1999

To declare conformance of multi-protocol Implementation Under Test(IUT), every layer of the multi-protocol IUT should be tested. According to ISO9646, single-layer test method is applied to testing the highest layer of multi-protocol IUT and single-layer embedded test method is used for the layers by layer all the protocols in a multi-protocol IUT. This paper proposes a new method for testing a multi-protocol IUT. The proposed test method assumes that a multi-protocol IUT is under test and that the interfaces between the layers cannot be controlled or observed by the tester. We apply the proposed test method to TCP/IP and compare the application results with those of the existing test turns out that the proposed test method significantly reduces the number of test cases as well as the number of test events while providing the same test coverage. In addition, the proposed test method shows the capability to locate the layer that is source of failure in testing multi-protocol IUTs.

• 전자공학회논문지C
• /
• 제36C권8호
• /
• pp.22-34
• /
• 1999

본 논문에서는 내장된 이중-포트 메모리를 위한 효율적인 테스트 알고리듬을 제안하였다. 제안된 테스트 알고리듬은 기존의 멀티-포트 메모리 테스트 알고리듬들보다 훨씬 빠르게 이중-포트 메모리를 테스트할 수 있으며, 고착 고장, 천이 고장 및 결합 고장을 완벽하게 검출할 수 있다. 또한, 본 연구에서는 제안된 알고리듬을 수행할 수 있는 BIST 회로를 Verilog-HDL을 이용하여 설계하고 시뮬레이션과 합성을 수행하였으며, BIST로 구현된 제안된 테스트 알고리듬의 높은 효율성을 다양한 크기의 내장 메모리에 대한 실험을 통하여 확인할 수 있었다.

• 한국복합재료학회:학술대회논문집
• /
• 한국복합재료학회 2005년도 춘계학술발표대회 논문집
• /
• pp.17-20
• /
• 2005

In-situ structural health monitoring of filament wound pressure tanks were conducted during water-pressurizing test using embedded fiber Bragg grating (FBG) sensors. We need to monitor inner strains during working in order to verify the health condition of pressure tanks more accurately because finite element analyses on filament wound pressure tanks usually show large differences between inner and outer strains. Fiber optic sensors, especially FBG sensors can be easily embedded into the composite structures contrary to conventional electric strain gages (ESGs). In addition, many FBG sensors can be multiplexed in single optical fiber using wavelength division multiplexing (WDM) techniques. We fabricated a standard testing and evaluation bottle (STEB) with embedded FBG sensors and performed a water-pressurizing test. In order to increase the survivability of embedded FBG sensors, we suggested a revised fabrication process for embedding FBG sensors into a filament wound pressure tank, which includes a new protecting technique of sensor heads, the grating parts. From the experimental results, it was demonstrated that FBG sensors can be successfully adapted to filament wound pressure tanks for their structural health monitoring by embedding.

• 한국정보과학회논문지:컴퓨팅의 실제 및 레터
• /
• 제13권7호
• /
• pp.462-475
• /
• 2007

임베디드 시스템은 정보, 교육, 산업, 서비스 등의 많은 분야에서 인간 중심의 서비스를 제공하고 있으며 이러한 임베디드 시스템의 관리, 제어, 통제 및 테스트를 위한 모니터링 프로그램이 다양하게 개발되고 있다. 모니터링을 하기 위해서는 여러 가지 커널 추적 도구를 사용하는데 본 논문에서는 기존의 커널 추적 도구와 비교하여 임베디드 시스템에 초점을 맞춘 커널 추적 도구인 $ETT^{plus}$를 제시하며, 임베디드 타겟과 호스트와의 추적 데이타 전송 방법을 제시하고자 한다. $ETT^{plus}$는 기존의 추적 도구가 가지고 있는 어려운 커널 패치 문제, 파일 시스템 사용 의존성 문제 등에 대한 해결 방안을 제공하고 있으며 $ETT^{plus}$를 이용하여 시스템 콜 수행 시간이나 네트워크 데이타 전송 시간과 같은 임베디드 시스템의 성능 측정 비교에 대한 설계 및 분석 결과를 제시한다.

• 한국지능시스템학회:학술대회논문집
• /
• 한국퍼지및지능시스템학회 2003년도 ISIS 2003
• /
• pp.296-299
• /
• 2003

This paper presents the implementation of an integrated messaging gateway (IMG) based on the open services gateway initiative (OSGi) specification to deliver home messages between home and some telecommunication devices. The IMG has four service agents to support a diverse communication channel. In this paper, we describe a software architecture for a seamless messaging and device layouts in the IMG. And then, we detail each components allowing users to be notified automatically through a cellular phone, a telephone, and the Internet.

• Advanced Composite Materials
• /
• 제16권2호
• /
• pp.115-134
• /
• 2007

This study proposes two new approaches for identifying damage patterns in a holed CFRP cross-ply laminate using an embedded fiber Bragg grating (FBG) sensor. It was experimentally confirmed that the reflection spectrum from the embedded FBG sensor was significantly deformed as the damage near the hole (i.e. splits, transverse cracks and delamination) extended. The damage patterns were predicted using forward analysis (a damage analysis and an optical analysis) with strain estimation and the proposed damage-identification method as well as the forward analysis only. Forward analysis with strain estimation provided the most accurate damage-pattern estimation and the highest computational efficiency. Furthermore, the proposed damage identification significantly reduced computation time with the equivalent accuracy compared to the conventional identification procedure, by using damage analysis as the initial estimation.

• 전자공학회논문지B
• /
• 제30B권4호
• /
• pp.85-91
• /
• 1993

In this paper, we propose the test pattern generation algorithm of the embedded faulty MUX for the prevention of misdiagnosis of digital systems. When the system is partitioned with a large number of functional blocks, if the faults are exsisted in a embedded MUX then it can not diagnose the wanted observation of functional block. The proposed test pattern generstion algorithm can apply the MUXs that designd 2-level and multi-level both. Fault coverage becomes 100% and so it is no necessary of the additional fault simulation and the proposed algorithm that have the regulary and easily generated 2d test patterns. And we confirmed that the reduction of test cost becomes 85%, compared with the conventional segmentation testing scheme.