Photo-imageable thick-film lithography technology was developed for the fabrication of embedded passives such as inductors and capacitors. In this study, photo-imageable dielectric and conductor pastes have apoted a negative type. Sodalime glass wafer, alumina substrate and zero-shrinkage LTCC green tapes were used as substrates. In result, The lithographic patterns were designed as lines and spaces for conductor material, or via-holes for ceramic, LTCC, materials. The scattering and reflection of UV-beam on the substrate had negative effects on fine patterning. The patterning performance was varied with the exposing and developing process conditions, and also varied with the substrate materials. Fine resolution of less then $50/50{\mu}m$ in line and space was obtained, which is difficult in screen printing method.
At first the $Ba_{0.5}Sr_{0.5}TiO_{3}$-MgO powder with $B_{2}O_{3}-Li_{2}CO_{3}$ were made by the Sol-Gel method. And then the thick films of BST-MgO with $B_{2}O_{3}-Li_{2}CO_{3}$ were fabricated on the $Al_{2}O_{3}$ substrates coated with Pt by the screen printing method. The structural and dielectric properties of the BST-MgO thick film with $B_{2}O_{3}-Li_{2}CO_{3}$ addition were investigated. The structure of the BST-MgO with $B_{2}O_{3}-Li_{2}CO_{3}$ thick films were dense and homogeneous with no pores. The dielectric constant and dielectric loss were increased with decreasing the $B_{2}O_{3}-Li_{2}CO_{3}$ addition ratio.
$BaTiO_3$(BT) has high permittivity so that has been applied to dielectric and insulator materials in 3D system-level package integration. In order to achieve excellent performance of device, the BT layer should be highly dense. In this study, BT thick films were prepared by the inkjet printing method. And these films were cured at $280^{\circ}C$ after infiltration of polymer resin. As a result, we have successfully fabricated not only the inkjet-printed hybrid BT film but also metal-insulator-metal(MIM) capacitor without sintering process. Changes in the dielectric constant of BT hybrid film with particle size and packing density were investigated. The dielectric constant was increased with increasing packing density and particle size. Further, the BT hybrid film using two different size particles had even higher packing density and dielectric constant.
Noh, Hyun-Ji;Lee, Sung-Gap;Ahn, Byeong-Lib;Lee, Ju
Transactions on Electrical and Electronic Materials
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제8권6호
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pp.241-245
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2007
[ $(Ba_{0.9-x}Sr_xCa_{0.10})TiO_3$ ] (x=0.33, 0.36) powders were prepared by sol-gel method. $(Ba,Sr,Ca)TiO_3$(BSCT) thick films, undoped and doped with $MnCO_3$ and $Yb_2O_3(0.1{\sim}0.7mol%)$, were fabricated by the screen printing method on the alumina substrate. The coating and drying procedure was repeated 6-times. The Pt bottom electrode was screen printing method on the alumina substrate. These BSCT thick films were annealed at $1420^{\circ}C$ for 2 hr in atmosphere. The upper electrodes were fabricated by screen printing the Ag paste and then firing at $590^{\circ}C$ for 10 min. And then the structured and dielectric properties as a function of the doping amount of $Yb_2O_3$ were studied. As a result of the TG-DTA, exothermic peak was observed at around $670^{\circ}C$ due to the formation of the polycrystalline perovskite phase. All BSCT thick films showed XRD patterns of typical cubic peroveskite structure. The average thickness of BSCT thick films was about $70^{\mu}m$. The curie temperature and the dielectric constant decreased with increasing $Yb_2O_3$ doped content and the relative dielectric constant of the specimen, doped with 0.5 mol% $Yb_2O_3$ at BSCT(54/36/10), showed a best value of 5018 at curie temperature.
Ferroelectric BaTiO3 thin film was produced using BaTi-ethoxide sol. This sol was prepared from BaTi-ethoxide by a partial hydrolysis with ammonia as a basic catalyst and ethylene glycol as a chelating agent. BaTiO3 thin film was prepared from three continuous spin-coating layers of the sol on bare Si(100) wafer at 2500 rpm followed by pyrolysis at $700^{\circ}C$ for 30 min. After the heat treatment, the film was 0.200$\pm$0.010 ${\mu}{\textrm}{m}$ thick and its grain size was 0.059 ${\mu}{\textrm}{m}$. On the other hand, electrical properties were measured for BaTiO3 thin film separately prepared on Au-deposited silicon wafer. The dielectric constant and loss of the BaTiO3 thin film at room temperature was 150~160 and 0.04 respectively, which was measured at 10 kHz and oscillation level of 0.1 V. In the measurements of the dielectric properties at high temperatures, it was observed that the capacitance of the thin film increases steeply, while the dielectric loss reaches maximum around 1$25^{\circ}C$, which corresponds a phase transition from tetragonal to cubic BaTiO3.
Convectional PZT based piezoelectric ceramics have to sinter at high temperature about $1,200^{\circ}C$ for their suitable electrical properties. However, some issues: low temperature sintering piezoelectric ceramic composition and reliable internal electrode, have recently attracted a great deal of interest as a highly efficient multi-layered piezoelectric ceramics. In order to optimize low temperature sintering conditions of thick-film PMN-PZ-PT ceramic, it was investigated sintering and piezoelectric properties according to the change of $LiBiO_2$ contents. Thus, the superior piezoelectric properties were found at the pallet type PMN-PZ-PT optimized with low sintering processing at $925^{\circ}C$ including 7 wt% $LiBiO_2$ sintering aid. Consequentially, we successfully manufactured thick-film PMN-PZ-PT ceramics, which had superior piezoelectric and dielectric properties, with 5 wt% of $LiBiO_2$ sintering aid at temperature of $900^{\circ}C$.
Transactions on Electrical and Electronic Materials
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제8권4호
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pp.149-152
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2007
[ $(Ba_{0.6}Sr_{0.3}Ca_{0.1})TiO_3$ ](BSCT) thick films doped with 0.1 mol% $MnCO_3\;and\;Yb_2O_3(0.1{\sim}0.7mol%)$ were fabricated by the screen printing method on the alumina substrates. And the structural and electrical properties as a function of $Yb_2O_3$ amount were investigated. The exothermic peak was observed at around $680^{\circ}C$ due to the formation of the poly crystalline perovskite phase. The lattice constants of the BSCT thick film doped with 0.7 mol% is 0.3994 nm. The specimen doped with 0.7 mol% $Yb_2O_3$ showed dense and uniform grains with diameters of about $4.2{\mu}m$. The average thickness of all BSCT thick films was approximately $70{\mu}m$. Relative dielectric constant and dielectric loss of the specimen doped with 0.7 mol% $Yb_2O_3$ were 2823 and 3.4%, respectively. The Curie temperature of the BSCT thick films doped with 0.1 mol% $Yb_2O_3$ was $46^{\circ}C$.
It is known that amorphous BaTiO$_3$ thin films have good insulating properties[1][2]. In this investigation, amorphous BaTiO$_3$ thin films were deposited by rf magnetron sputtering on thick BaTiO$_3$ films of AC powder EL devices which were fabricated by screen-printing. The electrical and optical properties of the EL devices were then investigated. Adding amorphous BaTiO$_3$ thin film, it showed that leakage current density was decreased. Especially, leakage current density was decreased more with he sample of 0.5-hour deposition than the sample of 4-hours deposition. This result led to the improvement of luminous efficiency by 11%. It could be concluded that proper amorphous BaTiO$_3$ thin film deposition improved the surface property of dielectric layer.
Polymer thick film capacitors were successfully fabricated by using ink-jet printing and screen printing technology. First, a bottom electrode was patterned by ink-jet printing of a nano-sized silver ink. Next, a dielectric layer was formed by the screen printing, then a top electrode was pattern by ink-jet printing of a nano-sized silver ink. The printed area of the dielectric layers were changed into $2{\times}2m^2$and $4{\times}2m^2$, and also the area of the electrodes were patterned with $1{\times}1mm^2$ and $1{\times}3mm^2$. The thickness of the printed dielectric layer was ranged from 1.1 to $1.4{\mu}m$. The analysis of capacitances verified that the capacitances was proportional to the area of the printed electrode. The capacitances of the fabricated capacitors resulted in one third of the calculated capacitances.
In this study, measurement of thermal conductivity of multilayer thin dielectric film has been conducted via differential $3\omega$ method. Also, verification of differential $3\omega$ method has been accomplished with various proposed criteria. The target film for the measurement is 300 nm thick silicon dioxide which is covered with upper protective layer of various thicknesses. The upper protective layer is inserted between the target film and the heater line for purpose of electrical insulator or anti-oxidation barrier since the target film may be a good electrical conductor or a well-oxidizing material. Since the verification of differential $3\omega$ method has not been conducted yet, we have shown that the measurement of thermal conductivity of thin films with upper protective layer via differential $3\omega$ method is verified to be reliable as long as the proposed preconditions of the samples are satisfied. Experimental results show that the experimental errors tend to increase with aspect ratio between thickness of the upper protective layer and width of the heater line due to heat spreading effect.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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