Electrical Properties with Varying CuPc Thickness and Channel Length of the Field-effect Transistor (CuPc 두께 변화 및 채널 길이 변화에 따른 전계 효과 트랜지스터의 전기적 특성 연구)
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- Journal of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers
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- v.20 no.1
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- pp.47-52
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- 2007