Cu films were plated in an eco-friendly electroless bath (No-Formaldehyde) on Ni/screen printed Ag pattern/PET substrate. For electroless Cu plating, we used sodium-phosphinate ($NaH_2PO_2{\cdot}H_2O$) as reducing agent instead of Formaldehyde. All processes were carried out in electroless solution of pH 7 to minimize damage to the PET substrate. According to the increase of sodium-phosphinate, the deposition rate, the granule size, and rms roughness of the electroless Cu film increased and the Ni content also increased. The electroless Cu films plated using 0.280 M and 0.575 M solutions of sodium-phosphinate were made with Cu of 94 at.% and 82 at.%, respectively, with Ni and a small amount P. All electroless Cu plated films had typical FCC crystal structures, although the amount of co-deposited Ni changed according to the variation of the sodium-phosphinate contents. From these results, we concluded that a formation of higher purity Cu film without surface damage to the PET is possible by use of sodium-phosphinate at pH 7.
We investigated the effects of DMAB (Borane dimethylamine complex, C2H10BN) in electroless Ni-B film with addition of DMAB as reducing agent for electroless Ni plating. The electroless Ni-B films were formed by electroless plating of near neutral pH (pH 6.5 and pH 7) at $50^{\circ}C$. The electroless plated Ni-B films were coated on screen printed Ag pattern/PET (polyethylene terephthalate). According to the increase of DMAB (from 0 to 1 mole), the deposition rate and the grain size of electroless Ni-B film increased and the boron (B) content also increased. In crystallinity of electroless Ni-B films, an amorphization reaction was enhanced in the formation of Ni-B film with an increasing content of DMAB; the Ni-B film with < 1 B at.% had a weak fcc structure with a nano crystalline size, and the Ni-B films with > 5 B at.% had an amorphous structure. In addition, the Ni-B film was selectively grown on the printed Ag paste layer without damage to the PET surface. From this result, we concluded that formation of electroless Ni-B film is possible by a neutral process (~green process) at a low temperature of $50^{\circ}C$.
In this report, polyoxometalte (POM)-doped polypyrrole (Ppy) was deposited on surface of three-dimensional carbon cloth (CC) using an electrodeposition method and its pseudocapacitive behavior was investigated using cyclic voltammetry and galvanostatic charge-discharge. The POM-Ppy coating was thin and conformal which can be controlled by electrodeposition time. As-prepared POM-Ppy/CC was characterized using scanning electron microscope and energy-dispersive X-ray spectroscopy. The unique 3D nanocomposite structure of POM-Ppy/CC was capable of delivering excellent charge storage performances: a high areal capacitance ($561mF/cm^2$), a high rate capability (85%), and a good cycling performance (97% retention).
Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference
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2015.08a
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pp.175.1-175.1
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2015
CuSn thin films were deposited by rf magnetron co-sputtering method with pure Cu and Sn metal targets with a variety of rf powers. CuSn thin films were studied with a surface profiler (alpha step), X-ray photoelectron spectroscopy (XPS), X-ray induced Auger electron spectroscopy (XAES), X-ray diffraction (XRD), and contact angle measurement. The thickness of CuSn thin films was fixed at $200{\pm}10nm$ and deposition rate was calculated by the measured with a surface profiler. From the survey XPS spectra, the characteristic peaks of Cu and Sn were observed. Therefore, CuSn thin films were successfully synthesized on the Si (100) substrate. The oxidation state and chemical environment of Cu and Sn were investigated with the binding energy regions of Cu 2p XPS spectra, Sn 3d XPS spectra, and Cu LMM Auger spectra. Change of the crystallinity of the films was observed with XRD spectra. Using contact angle measurement, surface free energy (SFE) and wettability of the CuSn thin films were studied with distilled water (DW) and ethylene glycol (EG).
Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference
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2015.08a
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pp.203-203
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2015
Gallium Oxide (Ga2O3) has been widely investigated for the optoelectronic applications due to its wide bandgap and the optical transparency. Recently, with the development of fabrication techniques in nanometer scale semiconductor materials, there have been an increasing number of extensive reports on the synthesis and characterization of Ga2O3 nano-structures such as nano-wires, nano-belts, and nano-dots. In contrast to typical vapor-liquid-solid growth mode with metal catalysts to synthesis 1-dimensional nano-wires, there are several difficulties in fabricating the nano-structures by using sputtering techniques. This is attributed to the fact that relatively low growth temperatures and higher growth rate compared with chemical vapor deposition method. In this study, Ga2O3 nanowires (NWs) were synthesized by using radio-frequency magnetron sputtering method. The NWs were then coated by Au thin films and annealed under Ar or N2 gas enviroment with no supply of Gallium and Oxygen source. Several samples were prepared with varying the post annealing parameters such as gas environment annealing time, annealing temperature. Samples were characterized by using XRD, SEM, and PL measurements. In this presentation, the details of fabrication process and physical properties of branched Ga2O3 NWs will be reported.
Decorative properties of chromium depositions from oxalic acid bath containing chromium oxide and ammonium sulfate have been examined over a wide range of bath compositions and plating conditions. The obtained results from this experiment are summarized as follow: The followings were determined as a optimum conditions, bath compositions; $CrO_3\;200{\sim}250\;g/{\ell},\;H_2C_2O_4{\cdot}2H_2O\;500{\sim}700\;g/{\ell},\;(NH_4)_2SO_4\;40{\sim}120\;g/{\ell}$, and operation conditions; pH $2.0{\sim}2.5$, current density $15{\sim}250\;A/dm^2$ at bath temperature range of $30{\sim}80^{\circ}C$. Bright chromium deposits were obtained over a wide range of ammonium sulfate concentration and bath temperature. Decorative property for chromium deposition was adopted to apply stoichiometric ratio of $CrO_3$ concentration and $H_2C_2O_4{\cdot}2H_2O$.
Journal of the Korean Crystal Growth and Crystal Technology
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v.8
no.4
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pp.587-591
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1998
AZO transparent conducting thin film were fabricated by DC magnetron sputtering using the Zn: Al (2% aluminu contained ) alloy target with inducing microwave to the plasma, and the effect of microwave was studied. The optical transmittance, the resistivity and dynamic deposition rate at the applied voltage to target of 420 V was 50~70%, $ 5.5{\times}10^{-3}{\Omega}$cm and 6,000 $\AA\textrm{mm}^2$/J, respectively. After annealing AZO coated glass at $400^{\circ}C$ for 30 minutes, the light transmittance was increased to 80% and electrical conductivity was also increased two times, reached to resistivity of $2.0{\times}10^{-3}{\Omega}$cm.
MOCVD is one of the major deposition techniques for Cu thin films and Ta-Si-N is one of promising barrier metal candidates for Cu with high thermal stability. Effects of hydrogen plasma pretreatment of the underlying Ta-Si-N film surface on the Cu nucleation in Cu MOCVD were investigated using scanning electron microscopy, X-ray photoelectron spectroscopy and Auger electron emission spectrometry analyses. Cu nucleation in MOCVD is enhanced as the rf-power and the plasma exposure time are increased in the hydrogen plasma pretreatment. The optimal plasma treatment process condition is the rf-power of 40 Wand the plasma exposure time of 2 min. The hydrogen gas flow rate in the hydrogen plasma pretreatment process does not affect Cu nucleation much. The mechanism through which Cu nucleation is enhanced by the hydrogen plasma pretreatment of the Ta-Si-N film surface is that the nitrogen and oxygen atoms at the Ta-Si-N film surface are effectively removed by the plasma treatment. Consequently the chemical composition was changed from Ta-Si-N(O) into Ta-Si at the Ta-Si-N film surface, which is favorable for Cu nucleation.
The main objective of this research was to estimate the total mass of nitrogen discharged from various sources in paddy field area of South Korea in 2010 and 2013. Input and output budgets for nitrogen were estimated by mass balance approach. The mass balance approach reduces the effect of flow variations, and the large scale approach minimizes local effects, resulting in easier and faster establishment of strategy for nonpoint pollution problems. Nitrogen inputs were chemical fertilizer, compost, atmospheric deposition, biological fixation, and agricultural water, while crop uptake, denitrification, volatilization, and infiltration were nitrogen outputs. The estimated total nitrogen inputs for paddy field in South Korea were $266,211ton\;yr^{-1}$, $260,729ton\;yr^{-1}$, while those of total nitrogen outputs were $168,463ton\;yr^{-1}$, $164,994ton\;yr^{-1}$ in 2010 and 2013, respectively. Annual amounts of potential nitrogen outflow from paddy field were $97,748ton\;yr^{-1}$, $95,735ton\;yr^{-1}$ in 2010 and 2013. Also, annual rate of potential nitrogen outflow were 36.7%, 36.7% in 2010 and 2013, respectively.
Kim, Jin-Seob;Kim, Yu-Mi;Jeong, Kwang-Seok;Yun, Ho-Jin;Yang, Seung-Dong;Kim, Seong-Hyeon;An, Jin-Un;Ko, Young-Uk;Lee, Ga-Won
Transactions on Electrical and Electronic Materials
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v.15
no.6
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pp.315-319
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2014
In this paper, we investigate visible light stress instability in radio frequency (RF) sputtered a-IGZO thin film transistors (TFTs). The oxygen flow rate differs during deposition to control the concentration of oxygen vacancies, which is confirmed via RT PL. A negative shift is observed in the threshold voltage ($V_{TH}$) under illumination with/without the gate bias, and the amount of shift in $V_{TH}$ is proportional to the concentration of oxygen vacancies. This can be explained to be consistent with the ionization oxygen vacancy model where the instability in $V_{TH}$ under illumination is caused by the increase in the channel conductivity by electrons that are photo-generated from oxygen vacancies, and it is maintained after the illumination is removed due to the negative-U center properties.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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