Positive Shift of Threshold Voltage in short channel (L=$1.5{\mu}m$ ) P-type poly-Si TFT under Off-State Bias Stress
(P형 짧은 채널(L=1.5 um) 다결정 실리콘 박막 트랜지스터의 오프 상태 스트레스 하에서의 신뢰성 분석)
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- Proceedings of the KIEE Conference
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- 2009.07a
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- pp.1225_1226
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- 2009