• 제목/요약/키워드: Zinc-Tin Oxide

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접착형 구조 금 인레이의 접착 형태, 강도 및 파절 양태에 관한 실험적 연구 (AN EXPERIMENTAL STUDY ON ADHESION PATTERN, ADHESION STRENGTH AND FRACTURE PATTERN OF THE ADHESIVE CAST GOLD INLAY)

  • 한승렬;홍찬의
    • Restorative Dentistry and Endodontics
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    • 제19권1호
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    • pp.64-72
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    • 1994
  • Zinc Phosphate Cement hand been used for about more than 100 years in luting of cast gold inlay. But many scientists had been trying to develop the new form of luting agent because the ZPC hand shown the lack of adhesiveness on the tooth structure and the toxicity to the pulp tissue. Recently many researches about the surface treatment of the cast body are being done to increase the adhesion of cement to it. The conventional Class I gold inlays were fabricated in the 20 permanent molars. After the internal surface of the cast body was sandblasted with $Al_2O_3$ particles and was tin-plated, the inlays were cemented with adhesive cement [G I cement and resin cement(Super-Bond & $Panavia_{EX}$)] and the evaluation on the adhesion pattern, adhesive strength and the fracture pattern of the adhesive cast gold inlay was compared to that of the cast gold inlay cemented conventionally with ZPC. The results were as follows : 1. The surface roughness of the cast body was increased significantly after sandblasting with the $Al_2O_3$ particles and the tin oxide layer, which was consisted of round particles, came into being. 2. The bond strength was in the order of Super-Bond, ZPC, Fuji I, $Panavia_{EX}$ group. The group cemented with Super-Bond showed statistically greater strength than the other groups(p<0.05). 3. The group cemented with ZPC was fallen apart by principal adhesion failure and that with Fuji I was by complete adhesion failure. But the group with Super-Bond showed pricncipal cohesive failure pattern and in the group with $Panavia_{EX}$, complete cohesive fracture pattern was shown and small protion of tooth structure was fractured out with cast body and the fractured surface showed the figure just as the enamel prism. 4. Various gaps were shown at the pulpal side regardless of little gap at the side walls of the cavity in all groups. Only the Super-Bond was attached to the tooth structure and the other cements were detached from both the tooth and the cast body.

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Al 도핑 및 열처리 온도에 따른 용액 공정 기반 AlZnSnO TFT의 특성 향상 연구

  • 김현우;최병덕
    • 한국진공학회:학술대회논문집
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    • 한국진공학회 2015년도 제49회 하계 정기학술대회 초록집
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    • pp.216.1-216.1
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    • 2015
  • 본 연구에서는 용액 공정 기반 AZTO (Aluminum-Zinc-Tin Oxide, AlZnSnO) 박막 트랜지스터를 제작하여 Al (Aluminum) 도핑과 열처리 온도의 가변을 통한 특성 향상을 확인하였다. ZTO 용액의 Zn:Sn 비율(4:7)을 고정하고 Al 도핑(0~8.3%)과 열처리 온도($350{\sim}550^{\circ}C$)를 가변하였다. 실험 결과 Al 도핑이 증가할수록 드레인 전류는 감소하고 문턱 전압이 양의 방향으로 이동하면서 포화 이동도와 아문턱 기울기가 감소하였다. 열처리 온도가 증가할 때는 드레인 전류가 증가하고 문턱 전압은 음의 방향으로 이동하며 이동도와 아문턱 기울기가 증가하였다. Al 도핑은 강한 금속-산소 결합에 의해 oxygen vacancy와 전자 농도가 감소하게 하여 드레인 전류, 이동도, 아문턱 기울기의 감소와 양의 방향 문턱 전압 이동을 야기한다. 열처리 온도가 높아지면 반도체 층의 분자 구조가 더 밀집되고 oxygen vacancy 가 증가하며, 이는 전자 농도의 증가로 이어져 Al 도핑의 효과와 반대의 경향을 보인다. 실험 결과를 통해 Al:Zn:Sn=0.5:4:7의 비율과 $350^{\circ}C$ 열처리 조건에서 문턱 전압과 이동도, 아문턱 기울기, 전류 온오프 비($I_{on}/I_{off}$)가 각각 3.54V, $0.16cm^2/Vs$, 0.43 V/dec, $8.1{\times}10^5$으로 우수한 특성을 확인하였다.

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상온에서 증착한 IZTO 박막의 기판 종류에 따른 특성 (Properties of IZTO Thin Film prepared by the Hetero-Target sputtering system)

  • 김대현;임유승;김상모;금민종;김경환
    • 한국전기전자재료학회:학술대회논문집
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    • 한국전기전자재료학회 2009년도 하계학술대회 논문집
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    • pp.203-204
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    • 2009
  • The Indium Zinc Tin Oxide (IZTO) thin films for flexible display electrode were deposited on poly carbonate (PC) and polyethersulfone(PES) and glass substrates at room temperature by facing targets sputtering (FTS). Two different kinds of targets were installed on FTS system. One is ITO ($In_2O_3$ 90 wt.%, $SnO_2$ 10 wt.%), the other is IZO ($In_2O_3$ 90 wt.%, ZnO 10 wt.%). As-deposited IZTO thin films were investigated by a UV/VIS spectrometer, an X-ray diffractometer (XRD), an atomic force microscope (AFM) and a Hall Effect measurement system. As a result, we could prepare the IZTO thin films with the resistivity of under $10^{-4}\;[{\Omega}{\cdot}cm]$ and IZTO thin films deposited on glass substrate showed an average transmittance over 80% in visible range (400~800 nm) in all IZTO thin films except in IZTO thin film deposited at $O_2$ gas flow rate of 0.1[sccm].

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ZTO/Ag/ZTO 다층 투명 전극 및 이를 이용한 투명 트랜지스터 특성 연구

  • 최윤영;최광혁;김한기
    • 한국재료학회:학술대회논문집
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    • 한국재료학회 2011년도 춘계학술발표대회
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    • pp.61.1-61.1
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    • 2011
  • 본 연구에서는 Zinc Tin Oxide (ZTO)/Ag/ZTO 다층 투명 전극을 제작하고 이를 비정질 ZTO (a-ZTO) 채널을 기반으로 한 TFT에 적용하여 투명 TFT의 전기적 특성을 확인하였다. 15${\times}$15 mm 크기의 ITO (gate)/Glass 기판상에 ALD법으로 투명 $Al_2O_3$절연층을 형성하고, RF sputtering법으로 50nm 두께의 a-ZTO 채널층을 형성하였다. 열처리를 위하여 Hot plate를 이용해 대기 중에서 $300^{\circ}C$의 온도로 20분간 열처리하여 채널 특성을 최적화 하였다. 이후 투명 Source/Drain으로 ZTO/Ag/ZTO 다층 투명 전극을 DC/RF sputtering법으로 패터닝하여 투명 TFT를 완성하였고, 평가를 위해 금속 (Mo)을 Source/Drain으로 사용한 TFT를 제작하여 그 성능을 비교하였다. ZTO/Ag/ZTO 다층 투명 전극은 Ag의 삽입으로 인하여 3.96ohm/square의 매우 낮은 면저항과 $3.24{\times}10-5ohm-cm$의 비저항을 나타내었으며, Antireflection 효과에 의해 가시광선 영역 (400~600 nm)에서 86.29%의 투과율을 나타내었다. ZTO/Ag/ZTO 다층 투명 전극 기반 투명 TFT는 $6.80cm^2/V-s$의 이동도와 $8.2{\times}10^6$$I_{ON}/I_{OFF}$비를 나타내어 금속 Source/Drain 전극에 준하는 특성을 나타내었다. 뿐만 아니라 전체 소자의 투과도 또한 ~73.26% 수준을 나타내어 투명 TFT용 Source/Drain 전극으로서 ZTO/Ag/ZTO 다층 투명 전극의 가능성을 확인하였다.

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용액 공정으로 형성된 n-ZTO/p-SiC 이종접합 열처리 효과 (Effects of Annealing on Solution Processed n-ZTO/p-SiC Heterojunction)

  • 정영석;구상모
    • 한국전기전자재료학회논문지
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    • 제28권8호
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    • pp.481-485
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    • 2015
  • We investigated the effects of annealing on the electrical and thermal properties of ZTO/4H-SiC heterojunction diodes. A ZTO thin film layer was grown on p-type 4H-SiC substrate by using solution process. The ZTO/SiC heterojunction structures annealed at $500^{\circ}C$ show that $I_{on}/I_{off}$ increases from ${\sim}5.13{\times}10^7$ to ${\sim}1.11{\times}10^9$ owing to the increased electron concentration of ZTO layer as confirmed by capacitance-voltage characteristics. In addition, the electrical characterization of ZTO/SiC heterojunction has been carried out in the temperature range of 300~500 K. When the measurement temperature increased from 300 K to 500 K, the reverse current variation of annealed device is higher than as-grown device, which is related to barrier height in the ZTO/SiC interface. It is shown that annealing process is possible to control the electrical characteristics of ZTO/SiC heterojunction diode.

A Protective Layer on the Active Layer of Al-Zn-Sn-O Thin-Film Transistors for Transparent AMOLEDs

  • Cho, Doo-Hee;KoPark, Sang-Hee;Yang, Shin-Hyuk;Byun, Chun-Won;Cho, Kyoung-Ik;Ryu, Min-Ki;Chung, Sung-Mook;Cheong, Woo-Seok;Yoon, Sung-Min;Hwang, Chi-Sun
    • Journal of Information Display
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    • 제10권4호
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    • pp.137-142
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    • 2009
  • Transparent top-gate Al-Zn-Sn-O (AZTO) thin-film transistors (TFTs) with an $Al_2O_3$ protective layer (PL) on an active layer were studied, and a transparent 2.5-inch QCIF+AMOLED (active-matrix organic light-emitting diode) display panel was fabricated using an AZTO TFT backplane. The AZTO active layers were deposited via RF magnetron sputtering at room temperature, and the PL was deposited via two different atomic-layer deposition (ALD) processes. The mobility and subthreshold slope were superior in the TFTs annealed in vacuum and with oxygen plasma PLs compared to the TFTs annealed in $O_2$ and with water vapor PLs, but the bias stability of the TFTs annealed in $O_2$ and with water vapor PLs was excellent.

RF 마그네트론 스퍼터링 법으로 제작한 ITZO 박막의 구조 및 광학적 특성 (Structural and Optical Properties of ITZO Deposited by RF Magnetron Sputtering)

  • 김동렬;배지환;황동현;손영국
    • 한국표면공학회지
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    • 제48권6호
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    • pp.292-296
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    • 2015
  • Indium tin zinc oxide (ITZO) thin films were deposited on glass and quartz substrates by RF magnetron sputtering. The substrate temperature varied from $100^{\circ}C$ to $400^{\circ}C$. The structural and optical properties of thin films were investigated by X-ray diffraction (XRD), Field Emission Scanning electron microscopy (FESEM) and UV-Visible transmission spectra. It has been found from X-ray diffraction patterns that increasing the substrate temperature, the amorphous structure changes into polycrystalline structure. The FESEM results showed that all ITZO thin films have a smooth surface. The average optical transmittance (400 - 800 nm) was 82% and 80% at all films deposited at $200^{\circ}C$. The band gap energy ranges 3.41 to 3.57eV and 2.81 to 3.44eV with a maximum value at $200^{\circ}C$ all substrates temperature.

Ag thickness effect on electrical and optical properties of flexible IZTO/Ag/IZTO multilayer anode grown on PET

  • 남호준;조성우;김한기
    • 한국전기전자재료학회:학술대회논문집
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    • 한국전기전자재료학회 2007년도 추계학술대회 논문집
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    • pp.379-379
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    • 2007
  • The characteristics of indium-zinc-tin-oxide (IZTO)-Ag-IZTO multilayer grown on a PET substrate were investigated for flexible organic light-emitting diodes. The IZTO-Ag-IZTO (IAI) multilayer anode exhibited a remarkably reduced sheet resistance of 4 ohm/sq and a high transmittance of 84%, despite the very thin thickness of the IZTO (30 nm) layer. In addition, it was shown that electrical and optical properties of IAI anodes are critically dependent on the thickness of the Ag layer, due to the transition of Ag atoms from distinct islands to continuous films at a critical thickness (14 nm). Moreover, the IAI/PET sample showed more stable mechanical properties than an amorphous ITO/PET sample during the bending test due to the existence of a ductile Ag layer. The current density voltage-luminance characteristics of flexible OLEDs fabricated on an IAI/PET substrate was better than those of flexible OLEDs fabricated on an ITO/PET substrate. This indicates that IAI multilayer anodes are promising flexible and transparent electrodes for flexible OLEDs.

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IZTO 애노드를 이용하여 제작한 인광 OLED 및 플랙시블 OLED 특성 (Characteristics of phosphorescent OLEDs and flexible OLED fabricated indium-zinc-tin-oxide anode)

  • 최광혁;배정혁;문종민;정진아;김한기;강재욱;김장주
    • 한국전기전자재료학회:학술대회논문집
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    • 한국전기전자재료학회 2007년도 하계학술대회 논문집 Vol.8
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    • pp.399-400
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    • 2007
  • In this work, we have investigated the characteristics of the phosphorescent OLED and flexible OLED fabricated on IZTO/glass and IZTO/PET anode film grown by magnetron sputtering, respectively. Electrical and optical characteristics of amorphous IZTO/glass anode exhibited similar to commercial ITO anode even though it was deposited at room temperature. In addition, the amorphous IZTO anode showed higher work function than that of the commercial ITO anode after ozone treatment for 10 minutes. Furthermore, a phosphorescent OLED fabricated on amorphous IZTO anode film showed improved current-voltage-luminance characteristics, external quantum efficiency and power efficiency in contrast with phosphorescent OLED fabricated on commercial ITO anode film. This indicates that IZTO anode is promising alternative anode materials for anode in OLEDs and flexible OLEDs.

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기판 온도 변화에 따른 Indium-zinc-tin-oxide(IZTO) 박막의 투명전도 특성에 관한 연구

  • 손동진;남은경;정동근;김용성
    • 한국진공학회:학술대회논문집
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    • 한국진공학회 2009년도 제38회 동계학술대회 초록집
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    • pp.215-215
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    • 2010
  • 평판디스플레이 산업의 성장에 따른 ITO 타겟의 수요가 급증하고 있는 것에 반해 고가의 인듐자원은 그 매장량이 매우 적어 고갈 위기에 처해 있다. 따라서 인듐을 절감하는 투명전극 연구가 활발히 진행되어 오고 있다. 본 연구에서는 IZTO($In_2O_3$:ZnO:$SnO_2$=80:10:10 wt.%)의 In량을 절감한 조성의 타겟을 제조하였다. 그리고 유리기판 위에 IZTO 박막을 펄스 DC 마그네트론 스퍼터링을 이용하여 기판의 온도를 변화시키며 증착하였다. 기판 온도의 변화는 플렉시블디스플레이 소자에 응용이 가능한 $RT{\sim}200^{\circ}C$ 범위에서 제어하였으며, 증착한 박막은 전기적, 광학적 및 구조적 특성 등을 조사하였다. 유리기판 위에 성장된 IZTO 박막은 기판의 온도가 증가함에 따라 전기적 특성이 향상되었지만 $200^{\circ}C$ 이상에서 결정화가 되어 전기적 특성이 급격히 떨어지는 것을 알 수 있었다. 기판 온도 $150^{\circ}C$에서 비저항은 $3.87{\times}10^{-4}\;({\Omega}{\cdot}cm)$로 가장 낮게 나타났고, 이동도는 $42.11(cm^{-2}/Vs)$, 캐리어 농도는 $3.82{\times}10^{20}(cm^{-3})$를 나타내어 가장 우수한 전기적 특성을 보였다. 박막의 투과율을 측정한 결과 평균 85% (400nm~800nm)이상의 우수한 광학적 특성을 보였다. 또한 이 IZTO 박막을 이용하여 OLED 소자를 제작하여 그 특성을 조사하였다. 조사 결과 IZTO 박막은 인듐 절감효과와 $150^{\circ}C$ 미만의 공정온도 확보로 플렉시블 디스플레이에 적용이 가능한 투명전극 물질로 가능성을 보여주었다.

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