Proceedings of the Korean Reliability Society Conference
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2000.04a
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pp.97-103
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2000
전자 산업의 발달에 따라 전자 패키지에서 소자의 소형화 및 고집적화가 가속화되고 그로 인해 interconnection 부분의 신뢰성 평가의 중요성이 나날이 증가되고 있다. 특히 이러한 interconnection 부분 중 솔더 접합부는 사용중 솔더와 UBM(Under Bump Metallurgy) 층 사이에 금속간화합물이 생성되어 접합 강도가 저하되는 것이 큰 문제로 지적되고 있다. 본 연구에서는 공정 Sn-Ag 솔더 접합부에 대해 열시효 시간에 따라 접합 강도를 측정하고 파괴 기구 및 파괴 경로의 분석을 통해 접합 강도 변화와의 연관성을 도출하고자 하였다. 그 결과 열시효 초기에는 미세 조직의 조대화 및 불균일 조대 성장이 가속화되면서 응력 및 변형 집중으로 인해 솔더 내부에서 연성 파괴가 일어나 급격한 접합 강도의 저하가 발생하였으나 금속간 화합물이 생성, 성장함에 따라 금속간 화합물 내부에서의 취성 파괴가 나타나면서 접합 강도 저하가 포화되는 경향을 보였다.
The ball shea. tests for ball grid array (BGA) and flip chip packages were carried out with different displacement rates to find out the optimum condition of the displacement rate for this test. The BGA packages consisted of two different kinds of solder balls (eutectic Sn-37wt.%Pb and Sn-3.5wt.%Ag) and electroplated Au/Ni/Cu substrate, whereas the flip chip package consisted of electroplated Sn-37Pb solder and Cu UBM. The packages were reflowed up to 10 times, or aged at 443 K up to 21 days. The variation of the displacement rate resulted in the variations of the shear properties such as shear force, displacement rate at break, fracture mode and strain rate sensitivity. The increase in the displacement rate led to the increase of the shear force and brittleness of solder joints.
Proceedings of the Korea Contents Association Conference
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2016.05a
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pp.11-12
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2016
SVM (Support Vector machine) is powerful machine-learning method, and obtains better performance than traditional methods in the applications of muti-dimension nonlinear pattern classification. For the case of SVM model training and low efficiency in large samples, this paper proposes a combination of statistical parameters of the GMM-UBM (Universal Background Model) model. It is very effective to solve the problem of the large sample for the SVM training. The experiment is carried on four special dynamic hand gestures using the EPIC sensors. And the results show that the improved dynamic hand gesture recognition system has a high recognition rate up to 96.75%.
Journal of the Korean institute of surface engineering
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v.40
no.5
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pp.209-213
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2007
Change of the plasma volume by pulse frequency in a bipolar pulsed DC unbalanced magnetron sputtering was investigated. As increasing the frequency at off duty 10% and at a constant power, the plasma volume was lengthened in vertical direction from the AZO target. When there is an electrically floated substrate, the vertical length of the plasma area was not affected by the pulse frequency. Instead, the diameter of the plasma volume was increased. We found that the temperature rise of a substrate was affected by the pulse frequency, too. As increasing it, the maximum temperature rise of a glass substrate was decreased from $132^{\circ}C\;to\;108^{\circ}C$.
Proceedings of the International Microelectronics And Packaging Society Conference
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2002.11a
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pp.55-58
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2002
The possibility of SnCuX Solder as alternative for Pb-free Solder have been investigated in this study. SnCuX Solder balls(500${\mu}{\textrm}{m}$) were placed on Si-wafer which is Al/Ni/Cu(500nm/$4{\mu}{\textrm}{m}$/$4{\mu}{\textrm}{m}$)UBM layer. After reflow soldering at $250^{\circ}C$, shear strength and microstructure were analyzed. The results showed that the shear strength(500gf) of SnCuX was higher than that of SnCuX at $230^{\circ}C$ and $Cu_6Sn_5$ intermetallic compounds were formed between Cu and SnCuX Solder layers
Proceedings of the International Microelectronics And Packaging Society Conference
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2002.11a
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pp.49-53
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2002
The Sn-Cu eutectic solder bump formation ($140{\mu}{\textrm}{m}$ diameter, $250{\mu}{\textrm}{m}$ pitch) by electroplating was studied for flip chip package fabrication. The effect of current density and plating time on Sn-Cu deposit was investigated. The morphology and composition of plated solder surface was examined by scanning electron microscopy. The plating thickness increased with increasing time. The plating rate increased generally according to current density. After the characteristics of Sn-Cu plating were investigated, Sn-Cu solder bumps were fabricated on optimal condition of 5A/dm$^2$, 2hrs. Ball shear test after reflow was performed to measure adhesion strength between solder bump and UBM (Under Bump Metallization). The shear strength of Sn-Cu bump after reflow was higher than that of before reflow.
State-of-the-art speaker recognition systems may work better for the English language. However, if the same system is used for recognizing those who speak different languages, the systems may yield a poor performance. In this work, the decisions of a Gaussian mixture model-universal background model (GMM-UBM) and a learning vector quantization (LVQ) are combined to improve the recognition performance of a multilingual speaker identification system. The difference between these classifiers is in their modeling techniques. The former one is based on probabilistic approach and the latter one is based on the fine-tuning of neurons. Since the approaches are different, each modeling technique identifies different sets of speakers for the same database set. Therefore, the decisions of the classifiers may be used to improve the performance. In this study, multitaper mel-frequency cepstral coefficients (MFCCs) are used as the features and the monolingual and cross-lingual speaker identification studies are conducted using NIST-2003 and our own database. The experimental results show that the combined system improves the performance by nearly 10% compared with that of the individual classifier.
In order to obtain high resolution images, a focusing ultrasonic transducer operated in very high frequency (VHF) range was fabricated and its characteristics were evaluated. A 9-${\mu}m$ thick PVDF film with only one metalized surface for electric ground was adhered to a CCP (Copper-clad polyimide) film by using epoxy. It was pressed by a metal ball to form a concave surface and its rear side was filled with the epoxy. The radius of curvature and the f-number of the fabricated transducer are 7.5 mm and 1.7, respectively. The pulse-echo measurement results from a target located at the focal point showed that the frequency bandwidth was 35.0 MHz and the insertion loss near the peak frequency of approximately 40 MHz was about 60 dB. Those values agreed well with the simulation results by the KLM equivalent circuit analysis including the effect of the epoxy bonding layer. When the image of thin copper lines by the 35 MHz transducer of the UBM (Ultrasonic Backscattering Microscope) system was compared with the image by the transducer fabricated in this study, the fabricated transducer was observed that the axial resolution was improved although the lateral resolution was degraded.
Journal of the Microelectronics and Packaging Society
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v.10
no.4
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pp.39-46
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2003
Sn-Cu eutectic solder bump was fabricated by electroplating for flip chip and its characteristics were studied. A Si-wafer was used as a substrate and the UBM(Under Bump Metallization) of Al(400 nm)/Cu(300 nm)/Ni(400 nm)/Au(20 nm) was coated sequentially from the substrate to the top by an electron beam evaporator. The experimental results showed that the plating ratio of the Sn-Cu increased from 0.25 to 2.7 $\mu\textrm{m}$/min with the current density of 1 to 8 A/d$\m^2$. In this range of current density the plated Sn-Cu maintains its composition nearly constant level as Sn-0.9∼1.4 wt%/Cu. The solder bump of typical mushroom shape with its stem diameter of 120 $\mu\textrm{m}$ was formed through plating at 5 A/d$\m^2$ for 2 hrs. The mushroom bump changed its shape to the spherical type of 140 $\mu\textrm{m}$ diameter by air reflow at $260^{\circ}C$. The homogeneity of chemical composition for the solder bump was examined, and Sn content in the mushroom bump appears to be uneven. However, the Sn distributed more uniformly through an air reflow.
The mechanical property and cutting performance of the cutting tools coated with nanoscale nyktukatered nitride film have been investigated. $Ti_{0.54}Al_{0.46}N-CrN$ and $Ti_{0.84}Al_{0.16}N-NlN$ systems, which showed super-lattice in nanoscale multilayered coating, were deposited on WC-Co insert by UBM sputtering, The superlattice coatings with different bilayer periods were manufactured by controlling deposition parameters. The superlattice formation and hardness of the nanoscale multilayered nitride film and the cutting performance of the insert coated with the film were examined. The hardness and cutting performance were dependent on the bilayer periods of the coatings. The flank wear of the inserts with superlattice coatings were decreased over $20\%$, compared to those of commonly used cutting tools coated with TiAIN single phase.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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