Kim, Youngjun;Jung, Hyojin;Jin, Hyungki;Chun, Sungwoo;Park, Wanjun
Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference
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2014.02a
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pp.228.2-228.2
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2014
Characteristics of high Fermi velocity, high mechanical strength, and transparency offer tremendous advantages for using graphene as a promising transparent conducting material [1] in electronic devices. Although graphene is a prospective candidate for touch sensor with strong mechanical properties [2] and flexibility, only few investigations have been carried out in the field of sensor as a device form. In this study, we suggest ultra-highly sensitive and transparent graphene touch sensor fabricated by single layer graphenes. One of the graphene layers is formed in the top panel as a disconnected graphene beam transferred on PDMS, and the other of the graphene layer is formed with line-patterning on the bottom panel of triple structure PET/PI/SiO2. The touch sensor shows characteristics of flexible. Its transmittance is approximately 75% where transmittance of the top panel and the bottom panel are 86.3% and 87%, respectively, at 550 nm wavelength. Sheet resistance of each graphene layer is estimated as low as $971{\Omega}/sq$. The results show that the conductance change rate (${\Delta}C/C0$) is $8{\times}105$ which depicts ultra-high sensitivity. Moreover, reliability characteristic confirms consistent behavior up to a 100-cycle test.
Lee, Do Yeon;Baek, Soo Jung;Ryu, Sung Yeon;Choi, Byung Joon
Journal of Applied Reliability
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v.16
no.1
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pp.1-6
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2016
Purpose: Fluorine doped tin oxide (FTO) bottom electrode for $Ta_2O_5$ based RRAM was studied to apply for transparent resistive switching memory devices owing to its superior transparency, good conductivity and chemical stability. Methods: $ITO/Ta_2O_5/FTO$ (ITF) and $ITO/Ta_2O_5/Pt$ (ITP) devices were fabricated on glass and Si substrate, respectively. UV-visible (UV-VIS) spectroscopy was used to examine transparency of the ITF device and its band gap energy was determined by conventional Tauc plot. Electrical properties, such as electroforming and voltage-induced RS characteristics were measured and compared. Results: The device with an FTO bottom electrode showed good transparency (>80%), low forming voltage (~-2.5V), and reliable bipolar RS behavior. Whereas, the one with Pt electrode showed both bipolar and unipolar RS behaviors unstably with large forming voltage (~-6.5V). Conclusion: Transparent and conducting FTO can successfully realize a transparent RRAM device. It is concluded that FTO electrode may form a stable interface with $Ta_2O_5$ switching layer and plays as oxygen ion reservoir to supply oxygen vacancies, which eventually facilitates a stable operation of RRAM device.
Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference
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2010.03b
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pp.20-20
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2010
We present a simple process for the fabrication of high performance transparent conducting films that contain single-walled carbon nanotubes (SWCNTs) noncovalently coated with an ultrathin titania layer. The hydrophobic interactions between nanotube surfaces and the acetylacetone (acac) ligands used to stabilize the $TiO_2$ precursor provide an interesting alternative method for noncovalently coating the SWCNTs with a titania layer. The ultrathin titania layer on SWCNTs prevented the oxidation of functionalized SWCNTs at high temperatures, and protected against water molecule absorption.
Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference
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2010.06a
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pp.279-279
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2010
We present a simple process for the fabrication of high performance transparent conducting films that contain single-walled carbon nanotubes (SWCNTs) noncovalently coated with an ultrathin titania layer. The hydrophobic interactions between nanotube surfaces and the acetylacetone (acac) ligands used to stabilize the $TiO_2$ precursor provide an interesting alternative method for noncovalently coating the SWCNTs with a titania layer. The ultrathin titania layer on SWCNTs prevented the oxidation of functionalized SWCNTs at high temperatures, and protected against water molecule absorption.
Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference
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2013.08a
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pp.211.1-211.1
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2013
We fabricate the conductive zinc oxide(ZnO) thin film using UV-enhanced atomic layer deposition. ZnO is semiconductor with a wide band gap(3.37eV) and transparent in the visible region. ZnO can be deposited with various method, such as metal organic chemical vapour deposition, magnetron sputtering and pulsed laser ablation deposition. In this experiment, ZnO thin films was deposited by atomic layer deposition using diethylzinc (DEZ) and D.I water as precursors with UV irradiation during water dosing. As a function of UV exposure time, the resistivity of ZnO thin films decreased dramatically. We were able to confirm that UV irradiation is one of the effective way to improve conductivity of ZnO thin film. The resistivity was investigated by 4 point probe. Additionally, we confirm the thin film composition is ZnO by X-ray photoelectron spectroscopy. We anticipate that this UV-enhanced ZnO thin film can be applied to electronics or photonic devices as transparent electrode.
Transparent conducting ZnO/Ti/ZnO tri-layer films deposited on glass substrate with DC and RF magnetron sputtering were rapid thermal annealed at 150, 300 and 450℃ for 5 minutes and then effect of annealing temperature on the structural and optoelectronics properties of the films were investigated. The structural properties are strongly related to annealing temperature and the largest grain size is observed in the films annealed at 450℃. The electrical resistivity also decreases as low as 7.7 × 10-4 Ωcm. The visible transmittance also depends on the annealing temperature. The films annealed at 450℃ show a higher transmittance of 80.6% in this study.
Pandey, Rina;Lim, Ju Won;Lim, Keun Yong;Hwang, Do Kyung;Choi, Won Kook
Journal of Sensor Science and Technology
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v.24
no.1
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pp.15-21
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2015
Transparent and conductive multilayer thin films consisting of three alternating layers FZTO/Ag/$WO_3$ have been fabricated by radio-frequency (RF) sputtering for the applications as transparent conducting oxides and the structural and optical properties of the resulting films were carefully studied. The single layer fluorine doped zinc tin oxide (FZTO) and tungsten oxide ($WO_3$) films grown at room temperature are found to have an amorphous structure. Multilayer structured electrode with a few nm Ag layer embedded in FZTO/Ag/$WO_3$ (FAW) was fabricated and showed the optical transmittance of 87.60 % in the visible range (${\lambda}=380{\sim}770nm$), quite low electrical resistivity of ${\sim}10^{-5}{\Omega}cm$ and the corresponding figure of merit ($T^{10}/R_s$) is equivalent to $3.0{\times}10^{-2}{\Omega}^{-1}$. The resultant power conversion efficiency of 2.50% of the multilayer based OPV is lower than that of the reference commercial ITO. Asymmetric D/M/D multilayer is a promising transparent conducting electrode material due to its low resistivity, high transmittance, low temperature deposition and low cost components.
Kim, Hwa-Suk;Kim, Hyun-Kyoung;Kim, Yang-Bae;Hong, Jin-Who
Journal of Adhesion and Interface
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v.3
no.3
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pp.22-29
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2002
UV curable coating system described here consists of double layers, namely under layer and top laser coatings. The former consists of organic-inorganic conductive materials and the latter consists of multifunctional acrylates. Transparent double layer coatings were prepared on the transparent substrates i.e. PMMA, PC, PET etc. by the wet and wet coating procedure. Their surface resistances and film properties were measured as a function of the top layer thickness and relative humidity. As the thickness of the top layer was less than $10{\mu}m$, the surface resistance in the range of $10^8{\sim}10^{10}{\Omega}/cm^2$ was obtained. The surface properties of the two-layer coating were remarkably improved compared with the single layer coating. The effects of migration of conducting materials on the film properties of multilayer coating were investigated by using contact angle and Fourier transform infrared/attenuated total reflection(FT-IR/ATR). It was found that the migration of dopant(dodecyl benzenesulfonic acid, DBSA) molecules were occurred from film-substrate interface to film-air interface in the organic conductive coating system but not in the inorganic one.
Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference
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2013.02a
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pp.339-339
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2013
We study on the optical and electrical properties of indium-free ZTO(ZnSnO)/Ag/ZTO (ZAZ) multilayer electrodes for the low-cost transparent electrode. In the first step, each single layer was deposited using rf magnetron in-line sputter with various working pressure based on $O_2$/$Ar+O_2$ ratio (0~3%) and power at room temperature. Secondly, we studied the optical and electrical properties by analyzing the refractive index, extinction coefficient, transmittance and resistivity of each layer. Finally, we optimized the thickness of each layer using macleod simulation program based on the analyzed optical properties and fabricated the multilayer electrode. As a result, We achieved a low sheet resistance of $11{\Omega}$/sq and anaverage transmittance of 80% in the visible region of light (380~780 nm). This indicates that indium-free ZAZ multilayer electrode is a promising low-cost and low-temperature processing electrode scheme.
Journal of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers
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v.20
no.9
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pp.798-801
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2007
Multilayer transparent electrodes, having a much lower electrical resistance than the widely used transparent conducting oxide electrodes, were prepared by using radio frequency magnetron sputtering. The multilayer structure consisted of five layers, indium tin oxided (ITO)/zinc oxide (ZnO)/Ag/zinc oxide (ZnO)/ITO. With about 50 nm thick ITO films, the multilayer showed a high optical transmittance in the visible range of the spectrum and had color neutrality. The electrical and optical properties of ITO/ZnO/Ag/ZnO/ITO multilayer were changed mainly by Ag film properties, which were affected by the deposition process of the upper layer. Especially ZnO layer was improved to adhesion of Ag and ITO. A high quality transparent electrode, having a resistance as low as and a high optical transmittance of 91% at 550 nm, was obtained. It could satisfy the requirement for the flexible OLED and LCD.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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